RO128642A2 - Straturi subţiri de inyn pentru aplicaţii în optoelectronică - Google Patents

Straturi subţiri de inyn pentru aplicaţii în optoelectronică Download PDF

Info

Publication number
RO128642A2
RO128642A2 ROA201101213A RO201101213A RO128642A2 RO 128642 A2 RO128642 A2 RO 128642A2 RO A201101213 A ROA201101213 A RO A201101213A RO 201101213 A RO201101213 A RO 201101213A RO 128642 A2 RO128642 A2 RO 128642A2
Authority
RO
Romania
Prior art keywords
thin layers
deposited
semiconductor materials
inyn
ranging
Prior art date
Application number
ROA201101213A
Other languages
English (en)
Other versions
RO128642B1 (ro
Inventor
Mariana Braic
Viorel Braic
Original Assignee
Institutul Naţional Cercetare-Dezvoltare Pentru Optoelectronică - Inoe 2000
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institutul Naţional Cercetare-Dezvoltare Pentru Optoelectronică - Inoe 2000 filed Critical Institutul Naţional Cercetare-Dezvoltare Pentru Optoelectronică - Inoe 2000
Priority to ROA201101213A priority Critical patent/RO128642B1/ro
Publication of RO128642A2 publication Critical patent/RO128642A2/ro
Publication of RO128642B1 publication Critical patent/RO128642B1/ro

Links

Landscapes

  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Invenţia se referă la straturi subţiri semiconductoare de InYNsub formă de monostraturi depuse pe un substrat rigid sau flexibil, aderente la suportul pe care au fost depuse, care pot fi utilizate pentru realizarea diverselor dispozitive optoelectronice. Straturile subţiri conform invenţieisunt obţinute prin metoda pulverizării magnetron într-o plasmă reactivă ce conţine atomi şi ioni de indiu, ytriu şi azot, materialele din nitruri fiind realizate dintr-un strat subţire de InYN, cu grosimea cuprinsă între 100...3000 nm, unde 0,9 ≤ x ≤ 1,0, iar 0 ≤ y ≤ 0,1, cu condiţia ca 0,9 ≤ x+y ≤ 1,1, materialele astfel obţinute având aderenţă ridicată la substrat, prezentând conducţie de tip n, cu densitatea purtătorilor de sarcină cuprinsă în domeniul 10...10cm, cu mobilitatea Hall a purtătorilor de sarcină în domeniul 0,1...20 cm/Vs şi efect de fotoluminescenţă la temperatura camerei în domeniul de lungimi de undă cuprins între 350...1400 nm.

Description

STRATURI SUBȚIRI DE InxYyN —
PENTRU APLICAȚII ÎN OPTOELECTRONICĂ
DESCRIERE
Invenția se referă la materiale semiconductoare din straturi subțiri pe bază de InxYyN, sub formă de monostraturi depuse pe un substrat rigid sau flexibil, aderente la suportul pe care au fost depuse și care sunt utilizate pentru realizarea de dispozitive optoelectronice diverse.
în prezent sunt cunoscute metode de obținere a nitrurii de indiu și nitrurii de ytriu, depuse pe diferite substraturi rigide, cu aplicabilitate în industria optoelectronică, ca materiale pentru fabricarea LED-urilor, a senzorilor, a celulelor solare sau a dispozitivelor emițătoare și/sau detectoare pentru radiația din domeniul undelor THz-iene.
Se cunosc straturi subțiri din nitrură de indiu (de exemplu brevet european WO 2008/009805 Al) pentru obținerea de nitrură de indiu pe substraturi rigide prin procedee tipice depunerii de straturi prin depunere din faza chimică de vapori (CVD) și anume prin epitaxie moleculară din fază metalo-organică.
Problema tehnică pe care își propune să o rezolve invenția constă în obținerea unor straturi semiconductoare pe bază de nitrură de indiu și ytriu, atât pe suporturi rigide cât și pe suporturi flexibile, de tip kapton, pentru creșterea ariei de aplicabilitate a dispozitivelor optoelectronice.
Materialele straturi subțiri semiconductoare din nitrură de indiu și ytriu sunt realizate dintr-un strat subțire de InxYyN, cu grosimi cuprinse între 100 și 3000 nm, unde 0,9 < x < 1,0, iar 0 < y < 0,1, cu condiția ca 0,9 < x+y <1,1.
Materialele, conform invenției, au grosimi cuprinse între 110 și 3050 nm, prezintă aderență ridicată la substrat, conducție de tip n și efect de fotoluminiscență la temperatura camerei, în domeniul de lungimi de undă cuprins între 350 și 1400 nm.
Materialele semiconductoare pentru aplicații în optoelectronică, conform invenției, prezintă următoarele avantaje:
- se caracterizează prin conducție de tip n;
- se caracterizează prin aderență ridicată la substrat;
- se caracterizează prin grosime totală cuprinsă de la zeci de nanometri până la câțiva microni.
Pentru obținerea de materiale semiconductoare utilizabile pentru fabricarea a diferite dispozitive optoelectronice pe bază de nitrură de indiu, până în prezent sunt utilizate pagina - 1 ΰ- 2 7 1 ' ~ ? '7 ' 3 - ϊ 6 -11- ?Ο1Ι tehnologi de tip CVD (MOVPE, MBE) sau PVD (pulverizare magnetron), nefiind cunoscute straturi cu structură mono sau policristalină de nitrură de indiu și ytriu. Ca materiale semiconductoare alese pentru actuala invenție, s-au utilizat nitrura de indiu și ytriu, depuse pe substrat rigid sau flexibil, de tip kapton.
Proprietățile superioare ale materialelor semiconductoare care fac obiectul invenției sunt generate de obținerea unui nou tip de material, depus atât pe substrat rigid cat si flexibil, ceea ce lărgește considerabil aria de aplicabilitate a noului material în domeniul optoelectonicii.
Materialele semiconductoare, conform invenției, sunt obținute printr-o metodă de tip depunere din fază fizică de vapori (pulverizare magnetron) într-o plasmă reactivă. Un exemplu de realizare a unui materialul semiconductor este cea constituită dintr-un strat cvasistoichiometric (0,96<N//(In+Y)/l,04) de Ino^sYo.osN, care prezintă un raport al concentrațiilor atomice ale metalelor componente In și Y de (In/Y) = 0,95.
Materialul semiconductor este aderent la substrat, rezultatele obținute în urma testului de aderență prin zgâriere (realizat conform cu ANSI/ASTM B 571-79) fiind bune, nefiind pusă în evidență desprinderea stratului de pe substrat.
In continuare, este prezentat un exemplu concret de realizare a invenției.
Materialul semiconductor este obținut într-o plasmă reactivă care conține atomi și ioni de indiu, ytriu și azot, la presiuni cuprinse între 5xl0'2 și 1 Pa, la temperaturi ale substratului pe care se face depunerea cuprinse între 350°C și 500°C, timpul de depunere fiind cuprins în intervalul 60 și 480 min. Obținerea straturilor prin pulverizare magnetron, care poate fi în curent continuu, în radio frecvență sau pulsată bipolar, se poate face până la temperaturi ale substratului de maximum 500°C, pentru a nu apare disocierea noului materialul sitetizat pe substrat.
Materialul utilizat ca substrat pentru depunerea straturilor subțiri semiconductoare este spălat și degresat în baie de ultrasunete cu solvenți organici, apoi este introdus în incinta tehnologică. Pentru obținerea materialului semiconductor, se utilizează un suport de substrat cu temperatura controlabilă, pe care sunt plasate piesele ce urmează a fi acoperite. Catozii pe care sunt amplasate țintele de In și Y sunt amplasați în exteriorul suportului de substrat. In incinta tehnologică de depunere se introduce azot, având atât rolul de a pulveriza țintele metalice cât și rol de gaz reactiv ce se va combina cu ionii și atomii metalici ajunși la substrat și va crea straturile semiconductoare. Prin controlul curenților de alimentare a catozilor se poate controla compoziția elementală și grosimea stratului depus. Este posibilă și aplicarea unui potențial negativ de polarizare a substratului, cuprins între 20 și 1000 V, care pagina - 2 2 9 V - O ' A - 2 4 -II- 2W poate duce la creșterea aderenței straturilor depuse la substrat, la reducerea tensiunilor mecanice în straturi și la creșterea densității acestora.

Claims (5)

  1. REVENDICĂRI
    1. Materialele semiconductoare straturi subțiri de InxYyN caracterizate prin aceea că sunt realizate dintr-un strat subțire sub formă de monostrat depus pe un substrat rigid sau flexibil, cu grosimi cuprinse între 100 și 3000 nm, unde 0,9 < x < 1,0, iar 0 < y < 0,1, cu condiția ca 0,9 < x+y < 1,1.
  2. 2. Materiale semiconductoare straturi subțiri de InxYyN, conform revendicării 1, caracterizate prin aceea că sunt depuse pe un substrat flexibil.
  3. 3. Materiale semiconductoare straturi subțiri de InxYyN, conform revendicării 1, caracterizate prin aceea că sunt obținute prin metoda pulverizării magnetron.
  4. 4. Materiale semiconductoare straturi subțiri de InxYyN, conform revendicării 1, caracterizate prin aceea că prezintă efect de fotoluminiscență la temperatura camerei, în domeniul de lungimi de undă cuprins între 350 și 1400 nm.
  5. 5. Materiale semiconductoare straturi subțiri de InxYyN, conform revendicării 1, caracterizate prin aceea că prezintă conducție de tip n, cu densitate a purtătorilor de sarcină în domeniul IO17 - IO21 cm'3 și mobilitate Hali a purtătorilor de sarcină în domeniul 0,1 - 20 cm'2/Vs.
ROA201101213A 2011-11-24 2011-11-24 Material semiconductor realizat din strat subţire pe bază de inyn pentru aplicaţii în optoelectronică RO128642B1 (ro)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ROA201101213A RO128642B1 (ro) 2011-11-24 2011-11-24 Material semiconductor realizat din strat subţire pe bază de inyn pentru aplicaţii în optoelectronică

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
ROA201101213A RO128642B1 (ro) 2011-11-24 2011-11-24 Material semiconductor realizat din strat subţire pe bază de inyn pentru aplicaţii în optoelectronică

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RO128642A2 true RO128642A2 (ro) 2013-07-30
RO128642B1 RO128642B1 (ro) 2017-09-29

Family

ID=48868871

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
ROA201101213A RO128642B1 (ro) 2011-11-24 2011-11-24 Material semiconductor realizat din strat subţire pe bază de inyn pentru aplicaţii în optoelectronică

Country Status (1)

Country Link
RO (1) RO128642B1 (ro)

Also Published As

Publication number Publication date
RO128642B1 (ro) 2017-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SG160345A1 (en) System and process for high-density,low-energy plasma enhanced vapor phase epitaxy
CN104136652A (zh) 利用预稳定等离子体的工艺的溅镀方法
US8697249B1 (en) Coated article
WO2019090144A1 (en) Y2O3-SiO2 PROTECTIVE COATINGS FOR SEMICONDUCTOR PROCESS CHAMBER COMPONENTS
US20140117120A1 (en) Coating packaged showerhead performance enhancement for semiconductor apparatus
CN103346073B (zh) 一种β-碳化硅薄膜的制备方法
EP4130332A3 (en) Spallation resistant thermal barrier coating
WO2014083218A1 (es) Procedimiento para la preparación de una capa o multicapa barrera y/o dieléctrica sobre un sustrato y dispositivo para su realización
RU2018140962A (ru) TiCN С СОКРАЩЕННЫМИ ДЕФЕКТАМИ РОСТА С ПОМОЩЬЮ HiPIMS
JP4979442B2 (ja) Gaスパッタターゲットの製造方法
JP6364079B2 (ja) 少なくとも1つの機能層を有する複合体を生産するための方法、または電子もしくは光電子部品をさらに生産するための方法
KR101441991B1 (ko) 반도체 기판, 반도체층의 제조 방법, 반도체 기판의 제조 방법, 반도체 소자, 발광 소자, 표시 패널, 전자 소자, 태양 전지 소자 및 전자 기기
US20150345010A1 (en) Methods of magnetically enhanced physical vapor deposition
KR100760336B1 (ko) 화학적 기상 반응 방법을 이용하여 흑연의 표면 특성을개질하는 방법
RO128642A2 (ro) Straturi subţiri de inyn pentru aplicaţii în optoelectronică
CN104409341B (zh) 碳化硅衬底上制备欧姆接触电极的方法
KR101472409B1 (ko) 화학적 증착법을 이용한 cis 박막 태양전지의 제조방법
RO127021B1 (ro) Material semiconductor pe bază de inznn pentru aplicaţii în optoelectronică
JP2007332024A (ja) 還元性雰囲気炉用炭素複合材料
CN116555734A (zh) 一种在金刚石表面异质外延的氧化镓薄膜及其制备方法
Kavitha et al. Effect of nitrogen content on physical and chemical properties of TiN thin films prepared by DC magnetron sputtering with supported discharge
RO123559B1 (ro) Material semiconductor pe bază de inaln pentru aplicaţii în optoelectronică
CN108538970A (zh) 一种发光二极管的制备方法
Li et al. Fabrication of ZnO thin film and nanostructures for optoelectronic device applications
RU2333300C2 (ru) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ ПЛЕНОК РАСТВОРОВ (SiC)1-x(AlN)x