PL83763B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL83763B1
PL83763B1 PL16546173A PL16546173A PL83763B1 PL 83763 B1 PL83763 B1 PL 83763B1 PL 16546173 A PL16546173 A PL 16546173A PL 16546173 A PL16546173 A PL 16546173A PL 83763 B1 PL83763 B1 PL 83763B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
inputs
diagnostic
analog
voltage
testing
Prior art date
Application number
PL16546173A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL16546173A priority Critical patent/PL83763B1/pl
Publication of PL83763B1 publication Critical patent/PL83763B1/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób testowania wejsc analogowych ukladu sprzegajacego komputer z elementami automatyki i pomiarów, a zwlaszcza testowania „on-line" bloku wejsc analogowych systemu modulów automatyki.Znane sposoby testowania „on line" wejsc analogowych ukladów sprzegajacych komputer z elementami automatyki i pomiarów wykorzystuja do testowania tylko sygnaly napieciowe, przy czym testy diagnostyczne uruchamiane sa przed kazdym pomiarem lub okresowo, wedlug zapisanego w pamieci maszyny programu.W znanych rozwiazaniach nie ma opracowanego sposobu testowania prawidlowosci dzialania komutatora i ukladu adresowego. Natomiast sprawdzenie charakterystyki przetwarzania wejsciowego sygnalu analogowego na wyjsciowy sygnal cyfrowy polega na ciaglej korekcji wartosci przesuniecia poziomu odniesienia i wartosci nachylenia, informowaniu operatora o przekroczeniu granicy ostrzegawczej i odlaczeniu urzadzenia w przypadku przekroczenia granicy alarmowej.Podane znane sposoby testowania posiadaja szereg niedogodnosci, do których nalezy zaliczyc brak mozliwosci sprawdzenia dzialania ukladów przetwarzajacych sygnaly analogowe, na przyklad cisnienia lub rezystancji, na sygnaly napieciowe. Ponadto, okresowe uruchamianie testów diagnostycznych uniemozliwia operatorowi ocene sprawnosci systemu w chwili, gdy sprawnosc ta jest problematyczna, jak równiez nie pozwala na stwierdzenie, czy granica zmiennosci sygnalu przekroczona zostala w wyniku zaklócenia procesu na obiekcie, czy tez uszkodzenia ukladu sprzegajacego.Przytoczone sposoby testowania nie pozwalaja równiez na stwierdzenie uszkodzenia ukladu adresowego i komutatora, a ciagle pomiary i przeliczanie wspólczynników do kalibracji wartosci poziomu odniesienia i wartosci nachylenia pochlaniaja duzo czasu.Celem wynalazku jest opracowanie sposobu testowania wejsc analogowych ukladu sprzegajacego, który w znacznym stopniu wyeliminuje wspomniane wyzej niedogodnosci znanych ukladów testowania. Cel ten zostal osiagniety przez opracowanie sposobu testowania polegajacego na tym, ze do testowania wejsc analaogow\lch ukladu sprzegajacego komputer z elementami automatyki i pomiarów wykorzystuje sie zródlo sygnalów diagnostycznych charakteryzujace sie tym, ze wytwarza ono sygnaly diagnostyczne nie tylko w postaci napiecia,2 83 763 lecz równiez w postaci innych kategorii i klas, jakie wystepuja na obiekcie, a wiec na przyklad w postaci pradu, cisnienia, rezystancji itp.Charakterystyczna cecha sposobu testowania wedlug wynalazku jest utworzenie trzech grup testów diagnostycznych. Moment uruchomienia tych testów wyznacza sie na trzy rózne sposoby: — recznie przez operatora w dowolnej chwili czasu; — okresowo wedlug zapisanego w pamiecie maszyny programu; — automatycznie z chwila wykrycia w programie obslugi wejsc przekroczenia granic zmiennosci sygnalu.Pierwsza grupa testów przeznaczona jest do sprawdzenia prawidlowosci wybierania komutatora wejsciowe¬ go. Sposób testowania w tym przypadku polega na przydzieleniu w kazdej najnizszej grupie funkcjonalnej wejsc (na przyklad w module) jednego lub kilku wejsc przeznaczonych dla diagnostyki, a w kazdym nadrzednym zbiorze grup funkcjonalnych (na przyklad w bloku) dodatkowo jednego lub kilku wejsc przeznaczonych równiez dla diagnostyki, przy czym adresy wejsc róznia sie od siebie, dzieki czemu przez wybranie wejscia diagnostyczne¬ go i pomiar znanych, lub w znany sposób sterowanych potencjalów i/lub pradów dolaczonych do wejsc diagnostycznych sprawdza sie czesciowo dzialanie ukladu adresowego wybierania wejsc i grup funkcjonalnych wejsc.Druga grupa testów przeznaczona jest do wykrywania ciaglych zwarc komutatora. Sposób testowania w tym przypadku polega na tym, ze sygnaly diagnostyczne podlaczone sa do wejsc diagnostycznych ukladu sprzegajacego poprzez znane szeregowe i/lub równolegle rezystory, przez co uzyskuje sie zmiane wartosci napiecia sygnalu w zaleznosci od tego, czy komutator sygnalów wejsciowych pracuje prawidlowo, czy tez wystapila awaria polegajaca na ciaglym zwarciu kontaktów komutatora. Ponadto przy znajomosci parametrów zastepczych zródel sygnalów analogowych dolaczonych do wejsc analogowych ukladu sprzezania, a wiec wydajnosci napieciowej i/lub pradowej oraz rezystancji wyjsciowej, uzyskuje sie mozliwosc stwierdzenia, w której grupie kontaktów nastapila awaria.Trzecia grupa testów przeznaczona jest do sprawdzenia rozkalibrowania sie wartosci przesuniecia poziomu odniesienia i/lub nachylenia charakterystyki przetwarzania wejsciowego sygnalu analogowego na wyjsciowy sygnal cyfrowy i polega na pomierzeniu rzeczywistych wartosci i nachylenia oraz ustalaniu granic ostrzegawczych i alarmowych, przy czym do chwili przekroczenia granicy ostrzegawczej komputer uwzglednia stale, zapisane w pamieci wartosci przesuniecia i/lub nachylenia, a po przekroczeniu granicy ostrzegawczej alarmuje operatora i wlacza podprogram korekcji uwzgledniajac rzeczywiste wartosci przesuniecia i/lub nachylenia. Natomiast po przekroczeniu granicy alarmowej uszkodzone wejscia analogowe systemu zostaja oznaczone jako niedostepne.Przy zastosowanym sposobie diagnostyki, informacje o prawidlowo pracujacym ukladzie sprzegajacym uzyskuje sie juz po jednorazowym pomiarze sygnalów diagnostycznych.Sposób testowania wedlug wynalazku pokazany jest na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy obrazujacy sposób testowania wejsc analogowych ukladu sprzegajacego komputer z elementami automatyki i pomiarów, natomiast fig. 2 przedstawia przykladowe rozwiazanie diagnostyki bloku wejsc analogo¬ wych.Pokazany na schemacie blokowym komputer 3 wspólpracuje z elementami automatyki i pomiarów 1 poprzez uklad sprzegajacy 2. Do testowania wejsc analogowych ukladu sprzegajacego 2 wykorzystane sa sygnaly analogowe wytwarzane przez zródlo 4 sygnalów diagnostycznych.W przykladzie rozwiazania diagnostyki bloku wejsc analogowych, do testowania wykorzystuje sie rezystory 7, 8, 9, 10 i 27 oraz zródla napiecia 5 i 6. Na przyklad dla centralnej rejestracji danych wymagany jest pomiar temperatury na obiekcie 24 przy uzyciu do tego celu termometrów rezystancyjnych 26. Zmiana rezystancji termometrów rezystancyjnych 26 przetwarzana jest na napiecie przy pomocy mostków rezysta¬ ncyjnych 25 zasilanych dla wszystkich termometrów 26 z jednego zródla napiecia. Blok wejsc analogowych 23, skladajacy sie z dwóch modulów komutatorów 21 i 22, modulu sterowania 20 i modulu przetwornika analogowo-cyfrowego ze wzmacniaczem 19 polaczony jest z kanalem przemyslowym 18 komputera 3 oraz z obiektem i sygnalami diagnostycznymi, przy czym wejscia 13, 14 i 17 polaczone sa z obiektem, a wejscia 11, 12, 15 i 16 polaczone ze zródlami napiec 5 i 6 poprzez rezystory 7, 8, 9 i 10. Dla wejscia 13 pokazana jest zastepcza sila elektromotoryczna 28 i zastepcza rezystancja wyjsciowa 29 widoczna od strony zacisków modulu komutatorów 21.W celu sprawdzenia dzialania mostków rezystancyjnych 25 wybiera sie odpowiednie wejscia z grupy wejsc 14 i porównuje sie otrzymana wartosc napiecia z napieciem zapisanym w pamieci.Sprawdzenie dzialania ukladu adresowego polega na pomierzeniu napiec zródel 5 i 6. Prawidlowa praca charakteryzowac sie bedzie otrzymaniem napiecia zródla 5 przy wybraniu wejscia 11 w module 21 i wejscia 16 w module 22, natomiast napiecie zródla 6 pojawiac sie powinno przy wybraniu wejscia 12 w module 21 i wejscia w module 22.83763 3 Stale zwarcie kontaktów, na przyklad na wejsciu 13, spowoduje równolegle dolaczenie sie dwójnika skladajacego sie z zastepczej sily elektromagnetycznej zródla 28 oraz zastepczej rezystancji wyjsciowej 29 do rezystancji wejsciowej bloku wejsc analogowych 23. W tym przypadku po wybraniu wejsc diagnostycznych otrzymamy przeslone do komputera wartosc, bedaca superpozycja napiec zródla 28 i napiecia diagnostycznego.Wiedzac, ze wystepuja na przyklad trzy typy termometrów 26, a rezystancje wyjsciowe mostków rezystancyj- nych 25 sa rózne, natomiast zastepcze sily elektromotoryczne mostków sa takie same, mozemy wpisac do pamieci oczekiwane wartosci napiec dla kazdego ze zródel 5, 6 i po wystapieniu awarii stwierdzic, w której grupie wejsc awaria wystapila.W celu testowania napiecia zasilajacego mostki rezystancyjne 25 wprowadzony jest wzorcowy rezystor 27, który po przetworzeniu w mostku rezystancyjnym daje napiecie o wartosci uzaleznionej od wartosci napiecia zasilajacego mostki.Dla sprawdzenia wartosci przesuniecia i nachylenia, wybieramy wartosc napiecia zródla 5 równa poczatko¬ wi charakterystyki przetwarzania, natomiast wartosc napiecia zródla 6 równa 90% konca zakresu. Ze wzgledu na narzucona dokladnosc pomiaru, na przyklad ± 1% oraz narzucenie dopuszczalnej pracy bloku wejsc analogo¬ wych przy zmianie przesuniecia i nachylenia o ± 10%, wybiera sie granice ostrzegawcza przy ±1% zmiany przesuniecia i nachylenia, natomiast granice alarmowa przy ± 10% zmiany przesuniecia i nachylenia. PL

Claims (4)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób testowania wejsc analogowych ukladu sprzegajacego komputer z elementami automatyki i pomiarów, znamienny t y m, ze do testowania ukladu sprzegajacego (2) wykorzystane sa, wytwarzane przez zródlo sygnalów diagnostycznych (4), znane sygnaly analogowe nie tylko napieciowe, lecz równiez innych kategorii i klas, jakie wystepuja na obiekcie (1), to znaczy wykorzystuje sie sygnaly napieciowe, pradowe, rezystancyjne, cisnieniowe itp. przy czym utworzone sa trzy grupy testów diagnostycznych, które wyzwala sie recznie przez operatora, okresowo wedlug zapisanego w pamieci maszyny programu, lub automatycznie z chwila wykrycia przekroczenia granic zmiennosci sygnalu, a informacje o prawidlowej pracy systemu otrzymuje sie juz po jednokrotnym odczycie sygnalów diagnostycznych.
  2. 2. Sposób testowania wedlug zastrz. 1,znamienny tym, ze pierwsza grupa testów przeznaczona do sprawdzania prawidlowosci wybierania komutatora wejsciowego polega na przydzieleniu w kazdej najnizszej grupie funkcjonalnej wejsc jednego lub kilku wejsc przeznaczonych dla diagnostyki, a w kazdym nadrzednym zbiorze grup funkcjonalnych dodatkowo jednego lub kilku wejsc przeznaczonych równiez dla diagnostyki, przy czym adresy w kazdym zbiorze grup funkcjonalnych wejsc róznia sie od siebie, dzieki czemu przez wybranie wejscia diagnostycznego i pomiar znanych, lub w znany sposób sterowanych potencjalów i/lub pradów dolaczo¬ nych do wejsc diagnostycznych sprawdza sie dzialanie ukladu adresowego wybierania wejsc i grup funkcjonal¬ nych wejsc.
  3. 3. Sposób testowania wedlug zastrz, 1, znamienny tym, ze druga grupa testów przeznaczona do wykrywania ciaglych zwarc komutatora polega na tym, ze sygnaly diagnostyczne podlaczone sa do wejsc diagnostycznych ukladu sprzegajacego poprzez znane szeregowe i/lub równolegle rezystory, przez co uzyskuje sie zmiane wartosci sygnalu napieciowego i/lub pradowego w zaleznosci od tego, czy komutator sygnalów wejsciowych pracuje prawidlowo, czy tez wystapila awaria polegajaca na ciaglym zwarciu kontaktów komutato¬ ra, a ponadto przy znajomosci parametrów zastepczych zródel sygnalów analogowych dolaczonych do wejsc analogowych systemu sprzezenia, a wiec wydajnosci pradowej i/lub napieciowej oraz rezystancji wyjsciowej, uzyskuje sie mozliwosc stwierdzenia, w której grupie kontaktów nastapila awaria.
  4. 4. Sposób testowania wedlug zastrz. 1,znamienny tym, ze trzecia grupa testów, przeznaczona do sprawdzania rozkalibrowania sie wartosci przesuniecia poziomu odniesienia i/lub nachylenia charakterystyki przetwarzania wejsciowej wartosci analogowej na cyfrowa wartosc wyjsciowa polega na pomierzeniu rzeczywis¬ tych wartosci przesuniecia, przy czym do przekroczenia granicy ostrzegawczej komputer uwzglednia stale, zapisane w pamieci maszyny, wartosci przsuniecia i/lub nachylenia, po przekroczeniu granicy ostrzegawczej alarmuje operatora i wlacza podprogram korekcji uwzgledniajac rzeczywiste wartosci przesuniecia i/lub nachyle¬ nia, natomiast po przekroczeniu granicy alarmowej uszkodzone wejscia analogowe ukladu zostaja oznaczone jako niedostepne.83 763 Figi 26 25 2U 15 16 17 23 22 21 20 19 1YV x .9 \ 10 i\r- — Fig. 2 Prac. Poligraf. UP PRL Naklad 120 + 18 Cena 10 zl PL
PL16546173A 1973-09-27 1973-09-27 PL83763B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16546173A PL83763B1 (pl) 1973-09-27 1973-09-27

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL16546173A PL83763B1 (pl) 1973-09-27 1973-09-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL83763B1 true PL83763B1 (pl) 1976-01-31

Family

ID=19964199

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL16546173A PL83763B1 (pl) 1973-09-27 1973-09-27

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL83763B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900001466B1 (ko) 반도체 시험장치
US3535637A (en) Calibration of electrical measuring transducer devices
US4403297A (en) Process control system prover
US5171091A (en) Temperature measuring circuit
US5874790A (en) Method and apparatus for a plurality of modules to independently read a single sensor
PL83763B1 (pl)
US4629976A (en) Method and circuit for evaluating an analog voltage
US7511504B2 (en) Method and device for monitoring a reference half cell
GB2256051A (en) Temperature measuring apparatus.
SU1420552A2 (ru) Устройство дл контрол печатных плат и электрического монтажа
RU68690U1 (ru) Устройство для измерения температуры
JPS6319811Y2 (pl)
KR100310408B1 (ko) 감지 장치내 자체 이상점검 장치
RU2028643C1 (ru) Устройство для контроля цифровых блоков
SU808997A1 (ru) Устройство дл контрол разоб-щЕННыХ цЕпЕй элЕКТРичЕСКОгО MOH-ТАжА
KR200225512Y1 (ko) 회로보드 어셈블리의 신호선 에러 검출 장치
JPH0152797B2 (pl)
CN120778268A (zh) 一种齿根应力测试系统的检验方法、装置和介质
KR100497039B1 (ko) 필름 정보 판독장치
Cappa et al. Zero-shift evaluation of automatic strain-gage systems based on direct and reverse current method
SU805264A1 (ru) Устройство дл поиска неисправного логическогоМОдул B диСКРЕТНОй СиСТЕМЕ упРАВлЕНи
CN116755002A (zh) 连接器焊接状态的测试方法、装置以及电子设备
SU773797A1 (ru) Устройство дл диагностировани кислотного свинцового аккумул тора
SU853509A1 (ru) Устройство дл контрол качестваМЕТАллизАции СКВОзНыХ ОТВЕРСТийпЕчАТНыХ плАТ
Brown Paper 12: Data Collection and Reduction for Steam Power Plant