Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 31.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 15.06.1976 83316 MKP G01b 15/02 Int. Cl.2 G01B 15/02 Twórcawynalazku: Andrzej Nowak Uprawniony z patentu tymczasowego: Zjednoczone Zaklady Urzadzen Jadrowych „Polon" Zaklad Doswiadczalny, Warszawa (Polska) Sposób pomiaru gramatury lub grubosci, zwlaszcza plyt oraz uklad do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru gramatury lub grubosci zwlaszcza plyt oraz uklad do stosowania tego sposobu, przeznaczony do pomiaru róznego rodzaju materialów w postaci plyt, arkuszy itp. w czasie procesu produkcyjnego lub kontroli.Znane sposoby pomiaru gramatury lub grubosci materialów, oparte na zjawisku absorpcji promieniowania przez mierzony material, wykorzystuja zmiennosc sygnalu otrzymywanego z detektora dla okreslonych grubosci lub gramatur i stalosci sygnalu z detektora dla braku materialu w przestrzeni pomiarowej, co w ukladach z automatyczna korekcja wyraza sie stalym napieciem wzorcowym, z którym porównywany jest sygnal z detektora. W przypadku mierników wskazujacych odchylki od zadanej gramatury lub grubosci powoduje to przy wykladniczym charakterze krzywej kalibracji zmienna czulosc wskazania odchylek dla róznych wartosci zadanej gramatury lub grubosci. Niedogodnoscia wynikajaca ze stosowania tych ukladów jest koniecznosc stosowania dodatkowych ukladów korekcyjnych dla otrzymania stalej czulosci ukladu pomiarowego.Wynalazek ma na celu opracowanie sposobu pomiaru gramatury lub grubosci oraz ukladu do stosowania tego ukladu pozwalajacego przy odchylkowym wskazniku na utrzymanie stalej czulosci ukladu pomiarowego przy róznych wartosciach nominalnych i wyeliminowanie wplywu zmian aktywnosci zródla, odleglosci zródlo- detektor itp. » Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze pomiar odchylek prowadzi sie na stalym poziomie sygnalu otrzymywanego z detektora dla róznych gramatur lub grubosci. Przy pomiarze tym korekcje czulosci detektora prowadzi sie przy pustej przestrzeni pomiarowej przez zrównanie sygnalów z detektora z wybranym napieciem wzorcowym róznym dla zadanych gramatur lub grubosci.Istota sposobu wedlug wynalazku polega na wykorzystaniu wykladniczego charakteru krzywych kalibracji i poprzez zadana zmiane czulosci detektora rózna dla róznych gramatur lub grubosci mierzonego materialu, uzyskanie pracy miernika odchylkowego na stalym poziomie sygnalu. Daje to w efekcie stale nachylenie krzywych kalibracji i mozliwosc wyskalowania wskaznika odchylek bezposrednio w jednostkach grubosci lub gramatury. •2 83 316 Uklad do stosowania sposobu wedlug wynalazku posiada jedno z wejsc ukladu automatycznej korekcji polaczone z wyjsciem detektora. Drugie wejscie ukladu automatycznej korekcji polaczone jest z cechowanym dzielnikiem napiecia ustawianym na wartosc odpowiadajaca przewidywanej grubosci materialu.Zaleta sposobu i ukladu wedlug wynalazku jest zwiekszenie dokladnosci pomiaru i polepszenie dlugookre¬ sowej stabilnosci wskazan.Sposób pomiaru zostal bizej objasniony w oparciu o rysunek, na którym fig. 1 przedstawia zaleznosc grubosci od wielkosci sygnalu pomiarowego. Na przedstawionym wykresie dt id2 oznaczaja rózne zadane grubosci mierzonego materialu, Ki i K2 odpowiadajace im krzywe kalibracji, 11 t\2 zalezne od zadanej grubosci rózne wartosci sygnalu dla pustej przestrzeni pomiarowej, Adt iAd2 odchylki grubosci lub gramatury i Al przyrost sygnalu spowodowany odchylka grubosci materialu mierzonego.Sposób wedlug wynalazku opiera sie na znanym prawie absorpcji, które wyraza sie wzorem A • Kr • Kd I= • e*M m • p •d « r2 gdzie: I — wielkosc sygnalu z detektora.A — aktywnosc zródla radioizotopowego K — stala jonizacji Kd — czulosc detektora r — odleglosc zródla od detektora Mm — masowy wspólczynnik oslabienia promieniowania P — gestosc materialu d — grubosc materialu.Zakladajac stala wartosc sygnalu I przy róznych grubosciach d lub gramaturach p * d, przy zmiennej odleglosci r uzyskuje sie stale nachylenie krzywej, co powoduje, ze okreslona zmiana grubosci Ad lub gramatury Alp • d) wywoluje stala zmiane sygnalu Al.Przedstawiony sposób przewiduje dla okreslonej zadanej wartosci gramatury lub grubosci ustawienie czulosci detektora Kd na taka wartosc, przy której sygnal \lt \2 otrzymany z detektora przy braku materialu w przestrzeni pomiarowej bylby równy odpowiedniemu napieciu wzorcowemu, róznemu dla róznych grubosci dt, d2. Napiecie wzorcowe podawane moze byc z cechowanego, ustawianego np. recznie dzielnika napiecia.Uklad do stosowania sposobu wedlug wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku, * na którym fig. 2 przedstawia schemat blokowy. W czasie braku materialu 1 w przestrzeni pomiarowej na detektorze 2 wystepuje pelna moc dawki promieniowania jonizujacego, powodujaca sygnal z detektora 2 o wartosci zaleznej od aktywnosci zródla 3, czulosci detektora 2 i geometrii pomiaru. Sygnal z detektora 2 podawany jest do jednego z wejsc ukladu automatycznej korekcji 4, gdzie jest porównywany z napieciem wzorcowym doprowadzonym do drugiego z wejsc ukladu 4. Napiecie wzorcowe otrzymane z cechowanego dzielnika napiecia 5 ustawiane jest recznie na odpowiednia wartosc. Dzielnik napiecia 5 zasilany jest z wzorcowego zródla napiecia 6.Przy zalaczonym wylaczniku 7 uklad automatycznej korekcji 4 skladajacy sie ze wzmacniacza róznicowe¬ go, sijnika i regulowanego potencjometru przeregulowuje napiecie zasilacza 8, a tym samym czulosc detektora 2 az do zrównania sygnalu z detektora 2 z ustawionym napieciem wzorcowym. W czasie pomiaru przy odlaczo¬ nym wylaczniku 7 mierzony material 1 powoduje oslabienie promieniowania, a tym samym i sygnalu z detektora 2 do wartosci zaleznej od grubosci materialu 1. Konwencjonalny wskaznik odchylek 9 wyskalowany moze byc w jednostkach grubosci lub gramatury i wskazuje odchylke od spodziewanej wartosci.Zalaczany automatycznie wylacznik 7 powoduje automatyczna korekcje miernika w kazdym okresie braku materialu 1 w przestrzeni pomiarowej. PL PL