PL78719B2 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.09.1973 Opis patentowy opublikowano: 10.06.1975 78719 KI. 21g, 13/50 MKP H01J9/42 Twórcawynalazku: Jerzy Konecki Uprawniony z patentu tymczasowego: Zaklady Elektronowe „Unitra-Lamina', Piaseczno (Polska) Sposób wykrywania wad dielektrycznych elementów lamp elektronowych, zwlaszcza lamp nadawczych Przedmiotem wynalazku jest sposób wykrywania wad dielektrycznych elementów lamp elektronowych, zwlaszcza lamp nadawczych, przy pomocy grzania wysokoczestotliwosciowega W lampach nadawczych duzej mocy wystepowac moga trudnosci spowodowane wadami elementów diele¬ ktrycznych, stanowiacych fragment obudowy lampy wzglednie wadami wsporników izolujacych poszczególne elektrody. Wzyczyna tych trudnosci sa nadmierne straty dielektryczne w silnych polach elektrycznych, które sa wynikiem niejdnorodnosci materialu dielektrycznego pod wzgledem stratnosci.Wykrycie wad elementów dielektrycznych nastepuje najczesciej w gotowym wyrobie, powodujac koniecz¬ nosc odrzucania niektórych lamp jako bezwartosciowych.Znany dotychczas sposób wykrywania wad elementów dielektrycznych polega na pomiarze stratnosci dielektrycznej materialu izolacyjnego z którego wykonane sa elementy dielektryczne lamp. Sposób polega na wykonaniu^próbek* z partii materialu izolacyjnego i mierzeniu ich stratnosci w rezonatorach mikrofalowych.Wada stosowanego dotychczas sposobu jest usrednianie wyniku pomiaru stratnosci dielektrycznej dla calej próbki. Nie pozwala on na wykrycie lokalnych niejednorodnosci które moga stac sie przyczyna wadliwosci podzespolu dielektrycznego i w efekcie „grzania dynamicznego" lampy powodujacego jej uszkodzenie.Wada dotychczasowego sposobu jest równiez to, ze dostarcza on informacji tylko o zastosowanym ma¬ teriale izolacyjnym, anie dostarcza informacji o gotowym elemencie dielektrycznym lampy elektronowej w której wskutek dodatkowych operacji technologicznych, np. laczenia z metalem mogly powstac dodatkowe niejednorodnosci i obszary o zwiekszonej stratnosci. Oprócz tego znany sposób jest pracochlonny, wymaga zastosowania specjalnej aparatury i dokonuje pomiarów z reguly na innych czestotliwosciach niz te, przy których element dielektryczny pracuje.Celem wynalazku jest usuniecie wad dotychczasowego sposobu i umozliwienie pomiarów stratnosci goto¬ wych elementów dielektrycznych lamp elektronowych. Zagadnieniem technicznym jest^ opracowanie sposobu wykrywania wadliwosci gotowych elementów dielektrycznych w róznycMazach ich wykonywania, pozwalajacego nawykrycie lokalnych niejednorodnosci.2 78719 Zagadnienie to zostalo rozwiazane w ten sposób, ze badany element dielektryczny zostaje umieszczony w silnym polu elektromagnetycznym powodujacym grzanie obszarów elementu dielektrycznego o duzej strat- nosci, przy czym równoczesnie dokonywana jest kontrola temperatury róznych punktów powierzchni elementu dielektrycznego. Silnym polem elektromagnetycznym jest najkorzystniej pole fali stojacej rezonatora wielkiej czestotliwosci zasilanego z generatora duzej mocy, przy czym badany element umieszczony jest w obszarze maksymalnego pola elektrycznego rezonatora. Temperatura powierzchni elementu dielektrycznego okreslona jest przy pomocy termopar dotykajacych do wybranych punktów powierzchni lub droga naniesienia na powierzchnie elementu dielektrycznego farby termoczulej. Zmiana zabarwienia farby termoczulej swiadczy o nadmiernym grzaniu sie danego fragmentu elementu dielektrycznego.Sposób umozliwia szybka ocene jakosci elementów dielektrycznych na dowolnym etapie ich wykonania, co pozwala na wczesniejsze eliminowanie elementów wadliwych. Strefa wadliwosci zostaje wyraznie okreslona, co niejednokrotnie umozliwia wniesienie do procesu technologicznego poprawek, pozwalajacych na zregenerowanie dielektrycznego elementu z ujawniona wada. Sposób moze byc stosowany przy produkcji masowej do kontrolo¬ wania 100% wyrobów. Przyklad. Na obszary szklanej obudowy lampy nadawczej 2 wykonanymi zlaczami szklo-metal w których mozna sie spodziewac nadmiernego grzania sie szkla w trakcie pracy lampy nanoszona jest farba termoczula. Tak przygotowany podzespól lampowy umieszczany jest w miejscu maksymalnego pola elektromagnetycznego dostrojonego rezonatora wielkiej czestotliwosci przez .który przechodzi moc dostarczana z generatora wielkiej czestotliwosci. Badany podzespól lampowy pozostaje w zasilanym energia wielkiej czestotli¬ wosci rezonatorze w ciagu 1 do 5 minut. Równoczesnie obserwuje sie obszary pokryte farba termoczula. Wy¬ razna zmiana barwy farby termoczulej w tym okresie czasowym swiadczy o wadliwosci badanego elementu dielektrycznego. PL PL

Claims (4)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wykrywania wad dielektrycznych elementów lamp elektronowych, zwlaszcza lamp nadawczych przy pomocy grzania wysokoczestotliwosciowego, znamienny tym, ze badany element dielektryczny umieszcza sie w silnym polu elektromagnetycznym powodujacym grzanie obszarów badanego elementu o duzej stratnosci, przy czym równoczesnie dokonuje sie kontroli temperatury róznych punktów powierzchni badanego elementu dielektrycznego.

2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze silnym polem elektromagnetycznym jest pole fali stojacej dostrojonego rezonatora wielkiej czestotliwosci zasilanego zgneratora duzej mocy , przy czym badany element umieszczony jest w obszarze maksymalnego pola elektrycznego rezonatora.

3. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze temperatura wybranych punktów powierzchni badanego elementu dielektrycznego okreslana jest przy pomocy termopar.

4. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze na powierzchnie badanego elementu dielektrycznego nanosi sie farbe termoczula i obserwuje sie zmiane jej barwy pod wplywem grzania. Prac. Poligraf. UP PRL. zam. 2578/75 naklad 120+18 Cena 10zl PL PL