PL76061B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL76061B2
PL76061B2 PL15760772A PL15760772A PL76061B2 PL 76061 B2 PL76061 B2 PL 76061B2 PL 15760772 A PL15760772 A PL 15760772A PL 15760772 A PL15760772 A PL 15760772A PL 76061 B2 PL76061 B2 PL 76061B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
mask
sharpness
edges
mkph0117
contour
Prior art date
Application number
PL15760772A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL15760772A priority Critical patent/PL76061B2/pl
Publication of PL76061B2 publication Critical patent/PL76061B2/pl

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

Pierwszenstwo: Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 19.05.1975 76061 KI. 21g, 11/02 MKP H01I7/00 CZYTELNIA f *i f ¦ '¦ ¦¦' 1 Twórcywynalazku: Zbigniew T. Kuznicki, Janusz Tkaczyk Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Warszawska, Warszawa (Polska) Maska mechaniczna do naparowywania cienkich warstw, zwlaszcza metalicznych, o duzej ostrosci zarysu Przedmiotem wynalazku jest maska mechaniczna do naparowywania cienkich warstw, zwlaszcza metalicz¬ nych, o duzej ostrosci zarysu.Do masek mechanicznych zalicza sie zarówno maski szklane jak i metalowe. Maski szklane wykonywane sa poprzez trawienie szkla i jest to w zasadzie jedyna opanowana technologia, stosowana jedynie przy naparowy¬ waniu cienkich warstw na podloza szklane w wysokich temperaturach. W przypadku wykonywania mechanicz¬ nych masek metalowych stosuje sie takie operacje, jak wycinanie wykrojnikiem, frezowanie lub wycinanie rylcem, zlobienie lukiem elektrycznym, trawienie, elektroformowanie, wycinanie promieniem laserowym lub wiazka elektronowa. Konstruowane sa takze maski z drucików, tworzacych odpowiednie siatki. Jedynie trzy ostatnie technologie pozwalaja na wykonywanie szczelin o szerokosci ponizej 50 /im. Bardzo czesto konieczne jest otrzymanie szczelin o szerokosci znacznie ponizej tego rozmiaru. Przykladem moga byc maski sluzace do naparowywania cienkich warstw wysokorezystywnych, poddawanych badaniom elektrycznym.Wykonywane przy pomocy lasera lub technika elektroformowania maski, poza niewatpliwymi zaletami, jak prostota konstrukcji, dowolnosc w wyborze ksztaltu szczeliny, wysoka precyzja, szybkosc wykonania maja wady które sa w pewnych przypadkach bardzo uciazliwe. Zaliczyc tu mozna ograniczenie minimalnej szerokosci szcze¬ liny poprzez grubosc blachy. Wiaze sie to z warunkiem, ze minimalna szerokosc szczeliny musi miec wymiar rzedu grubosci blachy, w której szczelina ta jest wycieta, aby naparowana warstwa miala mozliwie najbardziej jednorodna grubosc. Ze wzgledów konstrukcyjnych i wytrzymalosciowych grubosc blachy jest ograniczona od dolu do kilkudziesieciu mikrometrów i zalezy od materialu konstrukcyjnego. Ponadto w przypadku stosowania tych metod wystepuje nieregularne obrobienie krawedzi zarysu. Istnieje takze mozliwosc wybrzuszenia blachy, spowodowana wysoka temperatura powodujaca podparowania i zamazanie konturów warstwy. W efekcie, przy minimalnych rozmiarach szczeliny, przekrój poprzeczny naparowanego paska odbiega znacznie od ksztaltu prostokata. Poniewaz ksztalt geometryczny odgrywa bardzo wazna role, warstwy takie sa zwykle niedopuszcza¬ lne, a scisle okreslanie na przyklad ich grubosci praktycznie niemozliwe.Wlasciwie jedyna technologia zapewniajaca wykonanie warstwy o przekroju poprzecznym zblizonym do prostokatnego przy najmniejszych osiagalnych rozmiarach jest technologia naparowywania poprzez maski, naj-2 76 061 ogólniej mówiac, wykonane z pasków o przekroju owalnym. Przy wykorzystaniu tych pasków tworzy sie siatki stanowiace maski. Jednakze wada tak wykonanej maski jest niemozliwosc otrzymania ksztaltów bardziej skom¬ plikowanych.Celem wynalazku jest skonstruowanie takiej maski, dzieki której mozliwe byloby uzyskanie ostrych kra¬ wedzi warstwy naparowywanej przy jej pomocy, przy skrajnie malych rozmiarach w przypadku, gdy istotne sa tylko niektóre krawedzie. Maska taka moze byc prosta lub stosunkowo skomplikowana.Wytyczony cel spelnia maska mechaniczna do naparowywania cienkich warstw, zwlaszcza metalicznych, której czesc zarysu o wymaganej malej ostrosci wykonana jest z blachy metalowej dowolna metoda, na przyklad fotolitograficzna. Natomiast czesc zarysu o wymaganej duzej ostrosci, usytuowana pomiedzy krawedziami o mniejszej ostrosci zarysu lub w innym miejscu maski, stanowia naciagniete mechanicznie prety o malym prze¬ kroju. Polaczenie dwu technik, a tym samym ich zalet daje bardzo dobre rezultaty, jak na przyklad ostrosc krawedzi obszarów czynnych naparowywanych warstw przy ich minimalnych rozmiarach oraz stosunkowo skomplikowanych ksztaltach.Przedmiot wynalazku jest blizej opisany na przykladzie wykonania maski do naparowywania elektrod metalowych do pomiaru ruchliwosci nosników ladunku elektrycznego w cienkich warstwach pólprzewodniko¬ wych metoda H. F.van Heeka, pokazanej na rysunku, na którym fig. 1 przedstawiajej widok, zas fig. 2 fotografie obszaru czynnego i naparowanych przy pomocy tej maski elektrod metalowych, w powiekszeniu 226-krotnym.Na fig. 1 w dostatecznie grubej blaszce stanowiacej rame maski wykonany jest otwór 1. Do ramy tej przymocowane sa dwie blaszki 2 o grubosci rzedu kilkudziesieciu mikrometrów, zwezajac szerokosc obszaru 1 do wymaganej dlugosci 1 obszaru czynnego. Do blaszek 2 zgrzanych z rama maski przymocowane sa poprzez docisk konce preta 3, odpowiednio naprezonego. W odleglosciach w od krawedzi preta 3, takze do ramy maski przymocowane sa blaszki przeslonowe 4, stanowiace uchwyty dla konców drugiego preta 5, o srednicy mniejszej od preta 3 tak, ze oba prety sa usytuowane prostopadle wzgledem siebie.Oczywiscie opisany przyklad rozwiazania konstrukcji maski nie zaweza sie do tego tylko przypadku.W oparciu o te technike, obok innych rozwiazan konstrukcyjnych, mozna wykonywac cale paski identycznych masek. W badaniach laboratoryjnych i kontrolnych przemyslowych ograniczenie odleglosci poszczególnych obszarów czynnych nie ma podstawowego znaczenia, a istotna rzecza jest bardzo wyraznie zarysowany obszar czynny, pozwalajacy na precyzyjne okreslenie ksztaltów i rozmiarów geometrycznych oraz grubosci naparowy¬ wanych warstw. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Maska mechaniczna do naparowywania cienkich warstw, zwlaszcza metalicznych, o duzej ostrosci za¬ rysu, której czesc o wymaganej malej ostrosci wykonana jest z blachy metalowej metoda fotolitograficzna, badz innym znanym sposobem, znamienna tym, ze czesci zarysu o krawedziach o wymaganej duzej ostrosci, usytuo¬ wane pomiedzy krawedziami o mniejszej ostrosci lub w innym miejscu maski, stanowia naciagniete mechanicznie prety (3, 5) owalne o malym przekroju poprzecznym.
2. Maska wedlug zastrz. 1, znamienna tym, ze krawedzie o wymaganej malej ostrosci zarysu stanowia mocowane mechanicznie, korzystnie przez zgrzewanie, blaszki metalowe (2,4) o dostatecznie malej grubosci. I UryeHu Palent©v^qoKI. 21g, 11/02 76 061 MKPH0117/00 Rg.1 CZYTELNIA i .. i; ¦ -¦ iKl.21g.il/02 76061 MKPH0117/00 Hg.2 p^ Prac. Poligraf. UP PRL Zam. T.P. 11/M/75 Naklad 120+18 Cena 10 zl. PL PL
PL15760772A 1972-09-06 1972-09-06 PL76061B2 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15760772A PL76061B2 (pl) 1972-09-06 1972-09-06

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15760772A PL76061B2 (pl) 1972-09-06 1972-09-06

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL76061B2 true PL76061B2 (pl) 1975-02-28

Family

ID=19959872

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL15760772A PL76061B2 (pl) 1972-09-06 1972-09-06

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL76061B2 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7125678B2 (ja) 蒸着マスク、有機el基板の製造方法および有機el基板
DE4123903B4 (de) Vorrichtung einer holographischen Skala zum Herstellen
Fisher et al. Direct observation of antiphase boundaries in the AuCu3 superlattice
JP4905454B2 (ja) ワイヤーグリッド用金属板、ワイヤーグリッド、およびワイヤーグリッド用金属板の製造方法
DE69432250T2 (de) Planarer galvanospiegel und dessen herstellungsverfahren
DE4323712C2 (de) Lichtelektrische Längen- oder Winkelmeßeinrichtung
JP6756191B2 (ja) 蒸着マスクの製造方法、蒸着マスク製造装置、レーザー用マスクおよび有機半導体素子の製造方法
BR112017016967B1 (pt) Lâmina de aço elétrica orientada por grão
US3329541A (en) Method of forming fine mesh screens
US20200011899A1 (en) Current measuring device and current sensing resistor
DE19605468C2 (de) Platintemperatursensor
DE3623409A1 (de) Verfahren zur ueberwachung des bearbeitungsprozesses mit einer hochleistungsenergiequelle, insbesondere einem laser, und bearbeitungsoptik zur durchfuehrung desselben
TWI762807B (zh) 蒸鍍遮罩用基材、蒸鍍遮罩用基材的製造方法、蒸鍍遮罩的製造方法及顯示裝置的製造方法
PL76061B2 (pl)
JP2001044001A (ja) 薄膜型抵抗器の構造及び抵抗値調整方法
DE2828048C2 (pl)
JP7685566B2 (ja) 配線回路基板およびその製造方法
KR102731757B1 (ko) 증착 마스크, 증착 마스크의 제조 방법, 및, 표시 장치의 제조 방법
US3155460A (en) Fine mesh screens
CN102326215B (zh) 金属板低电阻片式电阻器及其制造方法
KR100700660B1 (ko) 마스크 및 그의 제조 방법
US4818962A (en) Waveguide obtained by selective etching method
DE112020005634T5 (de) Stromerfassungsvorrichtung
Thomas et al. Interpretation of electron diffraction patterns from thin platelets
DE2515574A1 (de) Praezisionsmasstab aus metall