PL75314B2 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: , _, Zgloszenie ogloszono: 31.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 23.12.1974 75314 KI. 42hf 15/01 MKP G01b9/04 ' Twórcywynalazku: Konrad Fialkowski, Mieczyslaw Watorek Uprawniony z patentu tymczasowego: Politechnika Krakowska, Kraków (Polska) Przystawka mikroskopowa Przedmiotem wynalazku jest przystawka mikroskopowa sluzaca do obserwacji zmian zachodzacych w ba¬ danym metalu lub stopie w czasie jego odksztalcania plastycznego przez rozciaganie.Dotychczas do obserwacji zmian w badanym materiale stosowane byly przyrzady konstruowane jedno¬ stkowo na wlasny uzytek laboratoryjny. Nie bylo natomiast przyrzadu produkowanego przynajmniej w malych seriach.Celem wynalazku jest opracowanie konstrukcji przystawki mikroskopowej, która mozna by bylo zastoso¬ wac w celu badania zmian zachodzacych w metalu w czasie jego odksztalcania, do kazdego mikroskopu metalo¬ graficznego.Cel ten zostal osiagniety w konstrukcji przystawki wedlug wynalazku, która przy niewielkich zmianach konstrukcyjnych jej uchwytu mozna zastosowac do kazdego typu mikroskopu metalograficznego.Istote przystawki wedlug wynalazku stanowi to, ze czesc robocza przystawki skladajaca sie z podstawy i uchwytów, na których sa zamocowane kostki majace wykonane otwory z umieszczonymi w nich walkami z mimosrodem jest polaczona z jednej strony poprzez srube z nakretka, sprzeglo, walek napedzajacy l przeklad¬ nie slimakowa ze zródlem napedu, a z drugiej strony poprzez belke pomiarowa i dzwignie jest polaczona ze znanym miernikiem mikroskopowym, przy czym podstawa czesci roboczej jest wymienna i moze byc dostoso¬ wana do kazdego typu mikroskopu metalograficznego.Przystawka wedlug wynalazku jest blizej wyjasniona na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat kinematyczny, a fig. 2 konstrukcje urzadzenia.W wymienionej podstawie 17 umocowanej do stolu mikroskopu za pomoca srub 18 jest wykonana prowad¬ nica, w której sa osadzone przesuwnie uchwyty 7 i 14. Z jednej strony podstawy 17 jest zamocowana czesc oporowa 6 sruby napedowej 5, a z drugiej strony podstawy 17 jest zamocowany uchwyt 12, w którym za pomoca radelkowanej sruby 10 jest zamocowany mikronowy czujnik 11; Koncówka czujnika 11 opiera sie o dzwignie 13 polaczona z belka pomiarowa 15. Na uchwytach 7 i 14 sa zamocowane kostki dociskowe 9, w których otworach sa umieszczone walki 8 z mimosrodem. W uchwycie 7 jest wykonany gwintowany otwór, w który wchodzi sruba napedowa 5 zamocowana w czesci oporowej 6. Z drugiej strony sruby 5 osadzone jest2 75 314 wysuwnie sprzeglo 4 zesprzegfone ze scietym koncem walka napedowego 3 polaczonego przekladnia slimakowa 2 z e! ektrycznym silnikiem 1.Po zamontowaniu urzadzenia na stole mikroskopu zaklada sie mikropróbke 16 w uchwyty 7 i 14 i zaciska kostki 9 przy pomocy mikrosrodów 8. Nastepnie wywoluje sie naprezenie wstepne w mikropróbce przekrecajac srube napedowa 5. Nastepnie mocuje sie czujnik mikronowy 11 w uchwycie 12 za pomoca sruby radelkowanej 10. Po ustawieniu ostrosci obserwowanego obrazu mikropróbki 16 na mikroskopie zaspizegla sie walek napedo¬ wy 3 w sprzeglo 4.Po wlaczeniu silnika elektrycznego do sieci nastapi powolne rozciaganie mikropróbki z predkoscia 0,4 mm/min. Mechanizm przystosowany jest do rozciagania mikropróbki z maksymalna sila wynoszaca 60 kG i na taka maksymalna sile przeliczone jest sprzeglo ubezpieczajace 4. Wielkosc sily rozciagajacej rejestrowana jest poprzez czujnik mikronowy 11, przy czym wielkosc wychylenia czujnika 11 odpowiada wielkosci sily rozciagajacej w kG.Wielkosc wydluzenia mikropróbki mierzona jest przy pomocy specjalnej sruby do poziomu przesuwu stolu mikroskopu, przy czym wielkosc wydluzenia próbki odpowiada podwójnej wielkosci przesuniecia stolu mikro¬ skopu podczas korekcji przy obserwacji. Maksymalna wielkosc wydluzenia mikropróbki wynosi 60% przy czynnej dlugosci, wynoszacej 10 mm.Istnieje mozliwosc recznego napedu urzadzenia poprzez radelkowana srube napedowa 5 po odlaczeniu czesci napedowej. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenie patentowe Przystawka mikroskopowa sluzaca do obserwacji zmian zachodzacych w badanym metalu w czasie jego plastycznego odksztalcenia, nakladana na mikroskop metalograficzny wyposazona w czujnik mikrometryczny, znamienna tym, ze czesc robocza skladajaca sie z podstawy (17), uchwytów (7 i 14), na których sa zamocowane dociskowe kostki (9) majace wykonane otwory z umieszczonymi w nich walkami (8) z mimosrodem, jest pola¬ czona zjednej strony poprzez sfutye z nakretka (5), sprzeglo (4), walek napedzajacy (3) i przekladnie slimako¬ wa (2) ze zródlem napedu (1) , a z drugiej strony poprzez belke pomiarowa (15) i dzwignie (13) jest polaczona ze znanym miernikiem mikronowym (11), przy czym podstawa (17) jest wymienna i moze byc dostosowana do róznych typów mikroskopów metalograficznych.KL. 42h,15/01 75 314 MKP GOlb 9/04 % 1 H.JL7-JLJL J- J. se n9.

2. PL PL