Pierwszenstwo: .Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 20.12.1974 73004 KI. 42e,27 MKP GOlf 1/00 CZYTELNIA Urzedu Patentowego hUkiej IzemptsiR1 ei L Twórca wynalazku: Jerzy Kedzierski Uprawniony z patentu tymczasowego: Zjednoczone Zaklady Urzadzen Jadrowych „Polon" Zaklad Doswiadczalny, Warszawa (Polska) Uklad do pomiaru masy przesuwajacego sie materialu, metoda rozproszeniowa, przy pomocy wiazek przenikliwego promieniowania Przedmiotem wynalazku jest uklad do pomiaru masy przesuwajacego sie materialu metoda rozpro¬ szeniowa, przy pomocy wiazek przenikliwego pro¬ mieniowania. Uklad ten moze znalezc zastosowa¬ nie do pomiaru masy materialów sypkich, ziarni¬ stych i tym podobnych, które przesuwaja sie na tasmociagu.Znane sa uklady do pomiaru masy przesuwajacego sie materialu z zastosowaniem ukladów mechanicz¬ nych, tensometrycznych i innych w których pomiar masy odbywa sie metoda stykowa. Uklady te nie moga pracowac prawidlowo w trudnych warunkach srodowiskowych, przy duzym zapyleniu i wilgot¬ nosci. Znane uklady bezstykowe wykorzystujace absorpcje promieniowania jak uklad do pomiaru ilosci masy przesuwajacego sie materialu wedlug pa¬ tentu polskiego nr 46806 i patentu dodatkowego nr 48736 maja te niedogodnosc, ze przy ich stosowa¬ niu najwiekszy sygnal i jednoczesnie najwiekszy blad bezwzgledny wystepuje przy malej ilosci wazo¬ nego materialu, co jest zwiazane z duzym bledem wzglednym. Stosowane obecnie uklady bezstykowe wykorzystujace promieniowanie rozproszone posia¬ daja jedno zródlo promieniowania punktowe lub li¬ niowe.Uklad ten ma zastosowanie ograniczone do cien¬ kich warstw materialu, poniewaz przy wzroscie gru¬ bosci warstwy natezenie promieniowania rozproszo¬ nego rosnie proporcjonalnie do masy, tylko przy malej grubosci warstwy, a przy grubosciach wiek- 20 25 30 szych, material lezacy dalej od zródla promieniowa¬ nia znajduje sie w polu promieniowania o mniej¬ szym natezeniu i daje sygnal zbyt maly, niepropor¬ cjonalny do masy.Celem wynalazku jest opracowanie takiego ukla¬ du, który wykorzystujac promieniowanie rozpro¬ szone w materiale mierzonym umozliwilby pomiar masy warstw o wiekszej grubosci.Istota ukladu wedlug wynalazku jest to, ze za¬ wiera on co najmniej dwa zródla promieniowania umieszczone po jednej stronie mierzonego materia¬ lu w pojemnikach z otworami kolimacyjnymi, roz¬ mieszczone symetrycznie wzgledem plaszczyzny przechodzacej przez srodek strugi materialu i sro¬ dek detektora znajdujacego sie po przeciwnej stro¬ nie, przy czym wiazki promieniowania wychodzace ze zródel poprzez otwory kolimacyjne przecinaja sie W obszarze, w którym przesuwa sie mierzony material i omijaja detektor promieniowania, a pro¬ ste wzdluz których w wiazkach wystepuje najwiek¬ sze natezenie promieniowania przecinaja sie w punkcie lezacym na powierzchni mierzonego mate¬ rialu najbardziej odleglym od zródel promieniowa¬ nia przy najwiekszej grubosci warstwy mierzonego materialu lub ponad nim, przy czym czesc promie¬ niowania rozproszonego w mierzonym materiale poddana jest detekcji.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony na ry¬ sunkach, na których fig. 1 przedstawia uklad w pla¬ szczyznie prostopadlej do strugi materialu, a fig. 2 73 0043 73 004 4 uklad w plaszczyznie prostopadlej do prostej lacza¬ cej zródla promieniowania.Uklad wedlug wynalazku sklada sie z co naj¬ mniej dwóch zródel 1 i 2 promieniowania i detekto¬ ra 8 promieniowania, a mierzony material 3 znajdu¬ je sie miedzy tymi zródlami i detektorem. Pomiar masy wedlug wynalazku odbywa sie nastepujaco: Zródla 1, 2 promieniowania sa umieszczone z jed¬ nej strony mierzonego materialu 3 symetrycznie po obu stronach plaszczyzny przechodzacej przez sro¬ dek strugi i srodek detektora. Wyslane przez zró¬ dla 1, 2 wiazki 9, 10 promieniowania przeswietlaja mierzony material 3 i biegna dalej omijajac detek¬ tor 8. Czesc promieniowania rozproszonego w mie¬ rzonym materiale 3, którego ilosc zalezy od masy przeswietlonego materialu 3 trafia do detektora 8.Detektorem moze byc np. licznik Geigera Millera.Zmiana masy przesuwajacego sie materialu po¬ woduje zmiane natezenia promieniowania rozpro¬ szonego padajacego na detektor 8 i zmiane ilosci impulsów elektrycznych powstajacych w detekto¬ rze. Ilosc impulsów powstalych w okreslonym cza¬ sie jest proporcjonalna do masy materialu, który w tym czasie przesunal sie przez strefe pomiarowa, Wiazki 9, 10 promieniowania przecinaja sie wzajem¬ nie w obszarze mierzonego materialu 3, przy czym proste wzdluz których wystepuje najwieksze nate¬ zenie promieniowania przecinaja sie w punkcie le¬ zacym na powierzchni materialu 3 najbardziej od¬ leglym od zródel, przy maksymalnej grubosci war¬ stwy materialu lub ponad nim. Czesc 11 promienio¬ wania rozproszonego poddana jest detekcji. Przy odpowiednim wyskalowaniu miernika zamieniaja¬ cego ilosc impulsów otrzymywanych z detektora na wskazanie masy przesuwajacego sie materialu 3 uzyskuje sie mozliwosc pomiaru masy materialu 3 przesuwajacego sie ze stala predkoscia przez obszar napromieniowany. PL PL