PL62559B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL62559B1
PL62559B1 PL132862A PL13286269A PL62559B1 PL 62559 B1 PL62559 B1 PL 62559B1 PL 132862 A PL132862 A PL 132862A PL 13286269 A PL13286269 A PL 13286269A PL 62559 B1 PL62559 B1 PL 62559B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
delay
output
detectors
inputs
systems
Prior art date
Application number
PL132862A
Other languages
English (en)
Inventor
Kojemski Andrzej
Original Assignee
Instytut Maszyn Matematycznych
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Maszyn Matematycznych filed Critical Instytut Maszyn Matematycznych
Publication of PL62559B1 publication Critical patent/PL62559B1/pl

Links

Description

Opublikowano: 30.IIL1971 62559 KI. 21 e, 29/02 MKP G 01 r, 29/02 UKD 621.317.726 Twórca wynalazku: Andrzej Kojemski Wlasciciel patentu: Instytut Maszyn Matematycznych, Warszawa (Pol¬ ska) Uklad do kontroli czasów opóznien zboczy sygnalów na wyjsciach ukladów cyfrowych Przedmiotem wynalazku jest uklad do kontroli czasów opóznien zboczy sygnalów na wyjsciach ukladów cyfrowych.Jednym z podstawowych kierunków rozwoju urzadzen cyfrowych np. elektronicznych maszyn cyfrowych, jest zwiekszenie szybkosci ich pracy, co w pierwszym rzedzie uzyskiwane jest przez zwiekszanie szybkosci ukladów, z których te urza¬ dzenia sa budowane. Dla statycznych elementów logicznych, dla których wartosci logiczne sa re¬ prezentowane w postaci okreslonych poziomów sy¬ gnalów, miara ich szybkosci jest opóznienie zbo¬ cza sygnalu wyjsciowego powstajacego w wyniku przelaczenia poziomu pewnego sygnalu na wejsciu.Dla ukladów dwójkowych istnieja dwie mozliwe zmiany poziomu sygnalu na wyjsciu: z dolnego po¬ ziomu na górny poziom i wówczas mówimy, ze na wyjsciu otrzymujemy zbocze dodatnie oraz z gór¬ nego poziomu na dolny, przy której to zmianie mamy do czynienia ze zboczem ujemnym na wyj¬ sciu.Zwykle okresla sie dopuszczalne wartosci opóz¬ nien dla zbocza dodatniego i ujemnego na wyjsciu ukladu wzgledem odpowiednich zboczy wejscio¬ wych sygnalów sterujacych. Poczatek i koniec tak okreslanych czasów opóznien, zwanych czesto tez czasami propagacji, wyznaczaja momenty, w któ¬ rych zbocze sygnalu sterujacego oraz zbocze syg¬ nalu wyjsciowego osiagaja okreslone poziomy. Naj¬ czesciej poziomy te wybiera sie w poblizu progu 10 15 25 30 2 przelaczania, tj. takiej wartosci napiecia na wejs¬ ciu, przy której nastepuje gwaltowna zmiana na¬ piecia na wyjsciu ukladu.Najprostsza metoda okreslania czasów opóznien poszczególnych zboczy dla ukladów cyfrowych po¬ lega na pomiarach przeprowadzanych przy pomocy oscyloskopu. Najwygodniejsze do tego celu jest stosowanie oscyloskopu umozliwiajacego ogladanie na raz dwóch przebiegów — wejsciowego i wyjs¬ ciowego. Dla szybkich ukladów cyfrowych stoso¬ wanych obecnie w elektronicznych maszynach cy¬ frowych czasy propagacji sa od kilku do kilku¬ nastu nanosekund, a czasy zboczy, których prze¬ bieg stanowi podstawe do wyznaczenia poczatków i konców mierzonych odcinków czasowych, sa od jednej do dziesieciu nanosekund. Wywoluje to szczególnie duze wymagania z jednej strony na pasmo przenoszenia uzywanego oscyloskopu, tak by znieksztalcenia tym wywolane nie wprowadza¬ ly duzych bledów, a z drugiej strony na dostatecz¬ nie duza szybkosc podstawy czasu, tak by umoz¬ liwic dokladny pomiar czasu.Wspólczesnie stosowane oscyloskopy normalnie nie maja pasma przenoszonej czestotliwosci wiek¬ szej od stukilkudziesieciu MHz, oraz szybkosci podstawy czasu lepszej niz pare ns/cm, co umoz¬ liwia poprawne ogladanie zboczy o czasach nie mniejszych niz 10 ns.Stad widac, ze nawet oscyloskopy wyzszej klasy nie zabezpieczaja w pelni potrzeb miernictwa 625596255* szybkich ukladów. Dlatego podstawa miernictwa parametrów czasowych szybkich ukladów cyfro- -wych staly sie metody stroboskopowe wykorzysty¬ wane w oscyloskopie stroboskopowym lub wolto¬ mierzu stroboskopowym. Podstawa tych przyrza¬ dów stroboskopowych jest próbkowanie bardzo wa¬ skimi impulsami badanego przebiegu, co w efek¬ cie pozwala uzyskac staly poziom napiecia o war¬ tosci pobranej próbki. W oscyloskopie strobosko¬ powym mozemy dzieki przesuwajacemu sie wolno w czasie próbkowania okresowo powtarzajacego sie badanego przebiegu odtworzyc z duza wiernoscia bardzo szybkie zbocza. W przypadku woltomierza stroboskopowego istnieje mozliwosc pomiaru war¬ tosci chwilowej przebiegu w okreslonym momen¬ cie, poprzez odczyt tej wartosci na wskazniku wy- chylowym lub cyfrowym.Podstawowa wada pomiarów czasów opóznien przy pomocy zwyklego oscyloskopu stroboskopo¬ wego, zwlaszcza gdy nalezy przeprowadzac bada¬ nia wiekszej liczby ukladów cyfrowych, jest zmudnosc tych pomiarów wynikajaca z koniecz¬ nosci ciaglej obserwacji ekranu. Nie zawsze ma sie do dyspozycji tez oscyloskop stroboskopowy umozliwiajacy obserwacje na raz dwu przebie¬ gów. Oscyloskop stroboskopowy czesto ma tez mala opornosc wejsciowa, zwykle 50 Q, co sprawia klopoty przy dobieraniu odpowiedniego obciazenia badanego ukladu z uwzglednieniem dopasowania do tej opornosci wejsciowej.W duzych specjalizowanych automatycznych urzadzeniach do pomiarów czasów opóznien uzywa¬ ne sa glowice pomiarowe dzialajace na zasadzie próbkowania.Urzadzenia tego typu odznaczaja sie duza do¬ kladnoscia, lecz za to sa zwykle bardzo zlozone i drogie.Z innego rodzaju urzadzen do badan czasów opóznien ukladów cyfrowych nalezy wymienic roz¬ wiazania oceniajace posrednio te opóznienia na podstawie zmian czestotliwosci generacyjnej w pet¬ li zlozonej z nieparzystej liczby ukladów realizu¬ jacych inwersje poziomu sygnalu. Podobne sa do tego metody, w których wzorcowe opóznienie w ta¬ kiej petli uzyskuje sie przy przechodzeniu przez linie opózniajace. Wada tych metod jest trudnosc rozdzielenia opóznien dla zbocza dodatniego i ujemnego oraz wzrastajaca zlozonosc, jesli auto¬ matyzuje sie pomiar czestotliwosci.Dla wielu celów badawczych i produkcyjnych istnieje potrzeba kotroli czasów opóznien ukla¬ dów cyfrowych przy pomocy w miare prostych urzadzen, latwych do budowy w przecietnych wa¬ runkach laboratoryjnych i zapewniajacych w mia¬ re szybkie, skuteczne kontrolowanie parametrów czasowych ukladów na podstawie postawionych wy¬ magan.W rozwiazaniu wedlug wynalazku zastosowana jest metoda porównawcza i uklad do kontroli cza¬ sów opóznien zboczy sygnalów na wyjsciach ukla¬ dów cyfrowych zawiera generator ciagu impulsów, który jest polaczony z wejsciem badanego ukladu oraz wejsciami dwu wzorcowych ukladów opóz¬ nienia i dwu detektorami opóznienia zboczy do¬ datnich i ujemnych, przy czym wejscia detektorów opóznienia sa polaczone z wyjsciami wzorcowych ukladów opóznienia i wyjsciem badanego ukladu.Natomiast wyjscie kazdego z detektorów opóznie¬ nia jest polaczone z wskaznikiem sygnalizujacym b wynik badania.Przedstawione wedlug wynalazki! rozwiazanie odznacza sie stosunkowo prostym rozwiazaniem i zapewnia szybkie prowadzenie badan bez uzycia kosztownych oscyloskopów stroboskopowych, co 10 ulatwia obsluge.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia uklad polaczen poszczególnych czesci urzadzenia, fig. 2 jeden z wariantów przebiegów w 15 poszczególnych punktach tego urzadzenia, a fig. 3 — uklad przerzutnika z wejsciami stalopradowymi.Generator ciagu 1 dostarcza ciagu impulsów Ul sterujacych badany uklad cyfrowy 2 oraz uklad wzorcowy 3 dla zbocza dodatniego i uklad wzorco- 20 wy 4 dla zbocza ujemnego. Dodatkowo generator ciagu dostarcza ciagów U3 i U2 impulsów strobu- jacych do detektorów opóznien 6 i 7. W zaleznosci od potrzeb czasy opóznien zboczy obu ukladów wzorcowych sa dobrane wzgledem przewidzianych 26 opóznien zboczy badanego ukladu cyfrowego 2. W przypadku, gdy urzadzenie ma sprawdzac czy cza¬ sy opóznien poszczególnych zboczy badanego ukla¬ du cyfrowego sa nie wieksze niz pewne przyjete wartosci, wówczas opóznienia odpowiednich zbo- so czy ukladów wzorcowych powinny odpowiadac tym wlasnie wartosciom. Do wyjscia badanego ukladu cyfrowego 2 dolaczony jest obwód obciazajacy 5, zapewniajacy wymagane warunki badania czasów opóznien zboczy. Wyjscie badanego ukladu cyf- 85 rowego 2 jest dolaczone do detektora opóznienia zbocza dodatniego 6 i do detektora opóznienia zbo¬ cza ujemnego 7. Do drugich wejsc tych detektorów dolaczone sa wyjscia ukladów wzorcowych 3 i 4.Zadaniem detektorów opóznien jest rozpoznanie, 40 które z dwóch porównywanych na wejsciach zbo¬ czy o tej samej polarnosci osiaga wczesniej okres¬ lony poziom i dostarczenie na wyjsciu sygnalu w postaci poziomu o wartosci logicznej „0" lub „1".Ciagi U2 i U3 doprowadzone do detektorów opóz- 45 nien z generatora ciagu 1 sluza do strobowania wyjsc detektorów celem unikniecia zaklócen na wejsciach wskaznków zbocza dodatniego 8 i ujem¬ nego 9. Wskazniki poszczególnych zboczy zawieraja uklady pamietajace wynik porównania otrzymany 50 z odpowiadajacych im detektorów opóznien oraz uklady sygnalizacyjne, np. w postaci wskazników swietlnych.W przedstawionym schemacie polaczen badany uklad cyfrowy 2 moze byc dowolnym ukladem 55 kombinacyjnym realizujacym pewne funkcje lo* giczne, ukladem pamietajacym lub ukladem typu uniwibratora itp. Liczba ukladów wzorcowych oraz detektorów opóznien wraz ze wskaznikami moze byc w urzadzeniu zwiekszona, tak ze mozna eo sprawdzac czy okreslone zbocze badanego ukladu jest wczesniejsze lub pózniejsze wzgledem okres- * lonego polozenia wzorcowego albo tez czy zawie¬ ra sie wewnatrz okreslonego przedzialu. Dobiera¬ jac liczbe ukladów wzorcowych mozna latwo ci przyrzad adoptowac do roli urzadzenia selekcjo-5 nujacego badane uklady cyfrowe wedlug zakre¬ sów czasów opóznien.Osobnego omówienia wymaga rozwiazanie detek¬ torów opóznien poszczególnych zboczy spelniaja¬ cych bardzo istotna role w dzialaniu calego urza¬ dzenia. Detektory opóznien sa ukladami pamieta¬ jacymi w postaci przerzutnika z wejsciami stalo- pradowymi, w którym wykorzystuje sie normalnie zabroniony stan wejsc, tj. taki stan, w którym oba wyjscia przerzutnika pozostaja w jednakowym sta¬ nie. Przy zachowaniu pelnej symetrii przerzutnika po zmianie stanu wejsc o jego stanie koncowym decyduje wówczas to wejscie, które ostatnie prze¬ kroczylo okreslony próg przelaczania.Dla przykladu przedstawiony jest na fig. 3 prze- rzutnik zlozony z dwóch elementów negacji iloczy¬ nów dla logiki poslugujacej sie konwencja przy¬ pisujacej wartosci logiczne „l" górnym poziomom sygnalów. Elementy te przy sygnalach o wartos¬ ciach logicznych „0" na obu_wejsciach a i b za¬ pewniaja na obu wyjsciach W i W stan logiczny o wartosci „1". Jesli na wejsciu a sygnal pozosta¬ nie bez zmiany, a na wyjsciu b przyjmie wartosc logiczna „1", wówczas na wyjsciu W pozostanie bez zmiany wartosc logiczna „1", a na wyjsciu W otrzy¬ mamy wartosc logiczna „0". Gdy natomiast na wejsciu b sygnal pozostanie o wartosci logicznej „0" a na wejsciu a zmieni swa_ wartosc logiczna na „1", wówczas na wyjsciu W pozostanie bez zmiany wartosc logiczna „1", a na wyjsciu W otrzymamy wartosc logiczna „0". Gdy zmiany syg¬ nalów odbywaja sie na wejsciach a i b z wartosci „0" na wartosc „1", wówczas przy zalozeniu pel¬ nej symetrii przerzutnika otrzymamy wartosc lo¬ giczna „0" na wyjsciu W, jesli na wejsciu b zosta¬ nie pózniej osiagniety okreslony próg przelaczenia niz na wejsciu a, i wartosc logiczna „0" na wyjs¬ ciu W, jesli na wejsciu a ten próg przelaczenia zostanie osiagniety pózniej niz na wejsciu b. Dzie¬ ki temu przedstawiony przerzutnik moze byc wy¬ korzystany jako detektor zbocza odpowiadajacego zmianie wartosci logicznych „0" -*„!", a wiec przy 6*559 ft przyjetej konwencji, dla zbocza dodatniego. Dla detektora zbocza ujemnego stosuje sie podobny do powyzszego przerzutnik reagujacy na zmiane war¬ tosci logicznych na wejsciach „1" -*„0".Takie czynniki jak próg przelaczenia, symetria oraz dokladnosc porównania detektora opóznienia zbocza zaleza od jego struktury oraz budowy fi¬ zycznej i powinny byc dobierane zaleznie do wy¬ magan. W szybkich detektorach opóznien zboczy istnieje przy malej róznicy przesuniec wzajemnych porównywanych zboczy mozliwosc powstania sta¬ nów przejsciowych, odpowiadajacych pojawianiu sie niepozadanych zaklócen na tym wyjsciu detek¬ tora, które powinno pozostac bez zmiany.W takich przypadkach celowe jest zabezpieczenie sie przed szkodliwymi wplywami tych zaklócen przez strobowanie wyjsc detektora dodatkowymi impulsami w urzadzeniu, tak jak to pokazano na rysunku wedlug fig. 1. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Uklad do kontroli czasów opóznien zboczy 25 sygnalów na wyjsciach ukladów cyfrowych, zna¬ mienny tym, ze generator (1) ciagu impulsów jest polaczony z wejsciem badanego ukladu (2) oraz wejsciami dwu wzorcowych ukladów (3 i 4) opóz¬ nienia i dwu detektorami opóznienia (6 i 7) zboczy 30 dodatnich i ujemnych, przy czym wejscia detekto¬ rów opóznienia (6 i 7) sa polaczone z wyjsciami wzorcowych ukladów (3 i 4) opóznienia i wyjsciem badanego ukladu (2) a wyjscie kazdego z detekto¬ rów jest polaczone z wskaznikiem (8 i 9) sygna- 35 lizujacym wynik badania. 2. Uklad wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze detektory opóznienia (6 i 7) zboczy dodatnich i ujemnych stanowia przerzutniki z wejsciami sta- lopradowymi. 40 3. Uklad wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze na wyjsciu badanego ukladu (2) wlaczony jest obwód obciazajacy (5). \KI. 21 e, 29/02 62559 MKP G 01 r, 29/02 M»i 1 < _n^ n,1 r • ' ^ 2 3 l 5 ^ -^- l [7 6 i i 9 8 f«M <*< /Lj.
2. L^ i"' ^__^ fUl rt ' t L L M W. D. Kart. C/96/71, 250, A4 PL PL
PL132862A 1969-04-09 PL62559B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL62559B1 true PL62559B1 (pl) 1971-02-27

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100997086B1 (ko) 지터측정장치 및 시험장치
KR100724115B1 (ko) Ate 타이밍 측정 유닛 및 방법
US20130305111A1 (en) Circuit And Method For Simultaneously Measuring Multiple Changes In Delay
US7574632B2 (en) Strobe technique for time stamping a digital signal
EP4152018B1 (en) Built in self test (bist) for clock generation circuitry
US20150069994A1 (en) Timing Skew Characterization Apparatus and Method
US6128754A (en) Tester having event generation circuit for acquiring waveform by supplying strobe events for waveform acquisition rather than using strobe events specified by the test program
US8060326B2 (en) Measuring apparatus, measuring method and test apparatus
US4868512A (en) Phase detector
US7856578B2 (en) Strobe technique for test of digital signal timing
PL62559B1 (pl)
EP1927203A2 (en) Strobe technique for test of digital signal timing
JP2002006003A (ja) 位相ロック・ループ用全ディジタル内蔵自己検査回路および検査方法
US20150212128A1 (en) Rise time and fall time measurement
US3531727A (en) Sampling rate selector
SU1165135A2 (ru) Акустический уровнемер
SU382983A1 (ru) Автоматическое устройство для испытаний
SU1599812A1 (ru) Устройство измерени временных параметров сверхбыстродействующих операционных усилителей
JPH0673227B2 (ja) 磁気デイスク特性測定装置
US3173089A (en) System for pulse amplitude measurement
SU617743A1 (ru) Двухканальное устройство дл измерени частоты
JPS5984168A (ja) 測定装置
SU862112A1 (ru) Устройство дл измерени длительности фронтов импульсов
HARTENSTEIN Elements of testing technology for digital circuits(Digital circuits test equipment functional principles, considering time, instantaneous voltage and pulse height measurements)
JPH04331383A (ja) 半導体論理集積回路