PL62439B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL62439B1 PL62439B1 PL133935A PL13393569A PL62439B1 PL 62439 B1 PL62439 B1 PL 62439B1 PL 133935 A PL133935 A PL 133935A PL 13393569 A PL13393569 A PL 13393569A PL 62439 B1 PL62439 B1 PL 62439B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- input
- oscilloscope
- inputs
- output
- tested
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims description 9
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 6
- 238000005282 brightening Methods 0.000 claims description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
Description
Opublikowano: 30.IV.1971 62439 KI. 42 d, 2/20 MKP G 01 d, 3/10 UKD Wspóltwórcy wynalazku: Kazimierz Bienkowski, Jan Zabrodzki Wlasciciel patentu: Politechnika Warszawska (Katedra Budowy Maszyn Matema¬ tycznych), Warszawa (Polska) Sposób otrzymywania charakterystyk przejsciowych wielowejsciowego ukladu elektrycznego z potencjalowym kodowaniem sygnalów oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób otrzymywania charakterystyk przejsciowych wielowejsciowego elek¬ trycznego ukladu logicznego z potencjalowym kodowa^ niem sygnalów oraz urzadzenie do stosowania tego spo¬ sobu.Znany sposób otrzymywania charakterystyk przejscio¬ wych ukladów elektrycznych ogranicza sie do otrzymy¬ wania charakterystyk przejsciowych jednowejsciowych ukladów elektrycznych. Polega on na wykorzystaniu ze¬ stawu konwencjonalnych urzadzen; generatora sygnalu którego wyjscie laczy sie tylko z jednym wejsciem bada¬ nego ukladu, zasilaczy wytwarzajacych napiecie zasila¬ jace badany uklad oraz oscyloskopu na którego jedno wejscie podawany jest przebieg z wyjscia generatora sygnalu wejsciowego dla badanego ukladu, a na drugie wejscie przebieg wyjsciowy z badanego ukladu.Celem wynalazku jest opracowanie sposobu otrzymy¬ wania charakterystyk przejsciowych wielowejsciowych ukladów logicznych z potencjalowym kodowaniem syg¬ nalów oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu, któ¬ ry by umozliwial otrzymanie wszystkich teoretycznie mozliwych charakterystyk przejsciowych ukladu wielo¬ wejsciowego.Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze na jedno • z wejsc oscyloskopu podaje sie przebiegi jednego z syg¬ nalów wejsciowych ukladu badanego, a na drugie wej¬ scie oscyloskopu podaje sie przebieg wyjsciowy bada¬ nego ukladu. Na wejscia badanego ukladu podaje sie równoczesnie kombinacje okresowych sygnalów zmien¬ nych (sinusoidalnych, trapezoidalnych, pilowych itd.) 10 15 20 25 St) oraz sygnalów stalych, których poziom odpowiada w szczególnym wypadku logicznemu zeru lub logicznej je¬ dynce. Do pobudzania wejsc ukladu badanego wykorzy¬ stuje sie dwa okresowe przebiegi zmienne, bedace wzgledem siebie w przeciwfazie, przy czym kazdy z nich ma niezaleznie regulowany poziom odniesienia. Na do¬ wolne wejscie badanego ukladu podaje sie jeden z do¬ wolnych przebiegów zmiennych lub napiecie stale.Urzadzenie do stosowania sposobu wedlug wynalazku polega na tym, ze wyjscie generatora przebiegów okre¬ sowych polaczone jest z wejsciem ukladu symetrycznego odwracacza fazy, a wyjscia ukladu symetrycznego od¬ wracacza fazy polaczone sa z wejsciami ukladów prze¬ suwania poziomów przebiegów okresowych, których wyj¬ scia sa polaczone z wejsciami matrycy dekodujacej. Do innych wejsc matrycy dekodujacej dolaczone sa wyjscia ukladu zasilaczy 7.Wyjscia matrycy dekodujacej sa polaczone z wejscia¬ mi ukladu badanego. Jedno z wejsc ukladu badanego jest polaczone z wejsciem toru odchylania poziomego oscyloskopu 9, natomiast wyjscie ukladu badanego jest polaczone z wejsciem toru odchylania pionowego oscy¬ loskopu.Oscyloskop posiada tory wzmacniajace zapewniajace identyczne odchylanie plamki na ekranie w dwu wza¬ jemnie prostopadlych kierunkach.Wejscie ukladu modulacji jasnosci polaczone jest z wyjsciem generatora przebiegów okresowych a wyjscie ukladu modulacji jasnosci jest polaczone z wejsciem *24393 62439 4 oscyloskopu modulujacym jasnosc plamki na ekranie oscyloskopu, Wejscie bloku obciazenia jest polaczone z wyjsciem ukladu badanego. Wyjscia ukladów zasilania sa pola¬ czone z zaciskami zasilania ukladu badanego.Przyklad urzadzenia wedlug wynalazku zostanie obja¬ sniony na podstawie rysunku. Uklad badany 1 zasilany jest z ukladów zasilania 2 dostarczajacych napiec zasila¬ jacych o zadanych wartosciach. Na wejscia xi (i = l,2,...,n) ukladu badanego 1 podawana jest kombi¬ nacja przebiegów okresowych i napiec stalych o pozio¬ mach odpowiadajacych w szczególnym wypadku logicz¬ nemu zeru lub logicznej jedynce. Do wybierania kombi¬ nacji sygnalów wejsciowych Xi (i = 1,2,...,m) ukladu ba¬ danego 1 sluzy matryca dekodujaca 3. Umozliwia ona jednoczesne podanie na wszystkie wejscia Xi (i = 1,2,... ...,n) ukladu badanego 1 dowolnej kombinacji przebie¬ gów zmiennych albo jednego z napiec stalych w szcze¬ gólnym wypadku odpowiadajacych logicznemu zeru lub logicznej jedynce.Napiecia zmienne sluzace do pobudzania ukladu ba¬ danego 1 wytwarzane sa przez generator przebiegów okresowych 4. Po przejsciu przez uklad symetrycznego odwracacza fazy 5 uzyskuje sie dwa przebiegi okresowe bedace w przeciwfazie, których poziomy potencjalów odniesienia moga byc regulowane plynnie w zakresie od napiec ujemnych do dodatnich poprzez uklady przesu¬ wania poziomów 6a i 6b.Napiecia stale sluzace do pobudzania ukladu badane¬ go 1 odpowiadajace w szczególnym wypadku logiczne¬ mu zeru lub logicznej jedynce sa wytwarzane przez uklad zasilaczy 7.Blok obciazenia 8 ukladu badanego 1 umozliwia sy¬ mulacje obciazenia typu emisyjnego lub absorbcyjnego oraz regulowanie jego wielkosci.W celu uzyskania charakterystyki przejsciowej ukladu badanego 1 jeden ze zmiennych w czasie sygnalów wej¬ sciowych Xi( i = l,2,...,m) ukladu badanego 1 podaje sie na wzmacniacz odchylania poziomego oscyloskopu 9, a przebieg wyjsciowy y ukladu badanego 1 podaje sie na wzmacniacz odchylania pionowego oscyloskopu 9.Uklad modulacji jasnosci 10 umozliwia wygaszanie badz rozjasnianie odpowiedniego wycinka przebiegu ba¬ danego, co pozwala stwierdzic, czy dany fragment prze¬ biegu odpowiada narastaniu czy opadaniu odpowiednie¬ go przebiegu wejsciowego ukladu badanego 1. PL
Claims (10)
- Zastrzezenia patentowe 1. Sposób otrzymywania charakterystyk przejscio¬ wych wielowejsciowego ukladu elektrycznego z poten¬ cjalowym kodowaniem sygnalów na ekranie oscylosko¬ pu znamienny tym, ze na co najmniej jedno z wejsc oscyloskopu (9) podaje sie przebieg sygnalu podawane¬ go, równiez na jedno z wejsc (x0 ukladu badanego (1), a na drugie wejscie oscyloskopu (9) podaje sie przebieg, wyjsciowy tego ukladu.
- 2. Sposób wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze na wszystkie wejscia badanegoi ukladu (1) podaje sie równo- 5 czesnie kombinacje skladajaca sie z okresowych sygna¬ lów zmiennych oraz sygnalów stalych, których poziom odpowiada w szczególnym wypadku logicznemu zeru lub logicznej jedynce.
- 3. Sposób wedlug zastrz. 1—2 znamienny tym, ze do pobudzania wejsc ukladu badanego (1) wykorzystuje sie dwa okresowe przebiegi zmienne bedace wzgledem sie¬ bie w przeciwfazie.
- 4. Sposób wedlug zastrz. 1—3 znamienny tym, ze do pobudzania wejsc ukladu badanego (1) wykorzystuje sie okresowe przebiegi zmienne o zmiennym regulowa¬ nym poziomie odniesienia.
- 5. Sposób wedlug zastrz. 1—4 znamienny tym, ze na dowolne wejscie (xi) badanego ukladu (1) podaje sie jeden z dowolnych przebiegów zmiennych lub napiecie stale odpowiadajace w szczególnosci poziomom logicz¬ nego zera lub logicznej jedynki.
- 6. Urzadzenie do stosowania sposobu wedlug zastrz. 1—5 znamienne tym, ze zawiera generator przebiegów okresowych (4), którego wyjscie polaczone jest z wej¬ sciem ukladu symetrycznego odwracacza fazy (5), a wyj¬ scia ukladu symetrycznego odwracacza fazy (5) polaczo¬ ne sa z wejsciami ukladów przesuwania poziomów (6a) i (6b) natomiast wyjscia z ukladów przesuwania pozio¬ mów (6a) i (6b) oraz wyjscia ukladu zasilaczy (7) pola¬ czone sa z wejsciami matrycy dekodujacej (3), zas wyj¬ scia z matrycy dekodujacej (3) polaczone sa z wejsciami (xi) ukladu badanego (1), przy czym jedno z tych wejsc (xi) ukladu badanego (1) jest polaczone z wejsciem toru odchylania poziomego oscyloskopu (9), natomiast wyj¬ scie (y) ukladu badanego (1) jest polaczone z wejsciem toru odchylania pionowego oscyloskopu (9).
- 7. Urzadzenie wedlug zastrz. 6 znamienne tym, ze oscyloskop (9) posiada tory wzmacniajace zapewniajace identyczne odchylanie plamki na ekranie w dwu wza¬ jemnie prostopadlych kierunkach.
- 8. Urzadzenie wedlug zastrz. 6 i 7 znamienne tym, ze zawiera uklad modulacji jasnosci (10) zapewniajacy wy¬ gaszanie lub rozjasnianie okreslonego odcinka charakte¬ rystyki przejsciowej ogladanej na ekranie oscyloskopu (9), przy czym wejscie ukladu modulacji jasnosci (10) polaczone jest z wyjsciem generatora przebiegów okre¬ sowych (4) a wyjscie ukladu modulacji jasnosci (10) jest polaczone z wejsciem oscyloskopu (9) modulujacym jasnosc plamki na ekranie oscyloskopu (9).
- 9. Urzadzenie wedlug zastrz. 6—8 znamienne tym, ze zawiera blok obciazenia (8), którego wejscie jest pola¬ czone z wyjsciem (y) ukladu badanego (1).
- 10. Urzadzenie wedlug zastrz. 6—9 znamienne tym, ze w jego sklad wchodza uklady zasilania (2) których wyjscia sa polaczone z zaciskami zasilania (zj) (j = 1,2, ,...n) ukladu badanego (1). 15 20 25 30 35 40 45 50KI. 42 d, 2/20 62439 MKP G 01 d, 3/10 i-(iX-^) PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL62439B1 true PL62439B1 (pl) | 1971-02-27 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH04213212A (ja) | 高速パターン発生器 | |
| CN110596568A (zh) | 运放测试电路和系统 | |
| PL62439B1 (pl) | ||
| JPH0746127B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
| US3189747A (en) | Circuit for controlling thyratron type devices either individually or as a group | |
| KR101886804B1 (ko) | 모듈러 멀티레벨 컨버터의 동작 확인 시험 장치 및 방법 | |
| CN211014537U (zh) | 运放测试电路和系统 | |
| US3879651A (en) | Undulator | |
| KR920021995A (ko) | Ic 시험장치 | |
| US7394234B2 (en) | Power supply circuit and test apparatus | |
| JPS6199876A (ja) | Icテスタ− | |
| SU746441A1 (ru) | Устройство дл контрол статических параметров микросхем | |
| Kherif et al. | On the performance of a 21-level asymmetrical multilevel voltage inverter | |
| JP2740167B2 (ja) | 半導体集積回路の加速試験方法 | |
| JP3433568B2 (ja) | 終端回路 | |
| SU641345A1 (ru) | Устройство дл испытани вентил | |
| Biswas et al. | Harmonic reduction in single phase AC-AC converter | |
| SU1023352A2 (ru) | Устройство дл моделировани цепей электрических нагрузок | |
| SU945765A1 (ru) | Устройство дл электромагнитного контрол | |
| DE102022133326A1 (de) | Testanordnung zur emulation der phasenströme eines elektromotors und verfahren zum prüfen eines leistungselektronischen steuergeräts | |
| Albatran et al. | Switching function notation for hybrid 2D-3D space vector modulation | |
| SU838679A1 (ru) | Астатический импульсный стабилизаторпОСТО ННОгО НАпР жЕНи | |
| SU932431A1 (ru) | Устройство дл контрол стабилитронов | |
| SU805478A1 (ru) | Генераторное устройство | |
| SU587571A1 (ru) | Устройство контрол проводимости тиристоров реверсивного преобразовател частоты |