PL58949B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL58949B1
PL58949B1 PL119704A PL11970467A PL58949B1 PL 58949 B1 PL58949 B1 PL 58949B1 PL 119704 A PL119704 A PL 119704A PL 11970467 A PL11970467 A PL 11970467A PL 58949 B1 PL58949 B1 PL 58949B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
meter
light
amplifier
indicator
value
Prior art date
Application number
PL119704A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Mieczyslaw Banach dr
inz. Aleksan¬der Gandecki mgr
Original Assignee
Politechnika Poznanska
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Poznanska filed Critical Politechnika Poznanska
Publication of PL58949B1 publication Critical patent/PL58949B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 30.XII.1969 58949 KI. 42 h, 19 MKP GOlj UKD i« Wspóltwórcy wynalazku: dr inz. Mieczyslaw Banach, mgr inz. Aleksan¬ der Gandecki Wlasciciel patentu: Politechnika Poznanska, Poznan (Polska) Miernik tetnienia swiatla Przedmiotem wynalazku jest miernik tetnienia swiatla, przeznaczony do pomiarów parametrów swietlnych, zwlaszcza wspólczynnika tetnienia zró¬ del swiatla wzglednie powierzchni oswietlanych.Znajomosc faktu duzej szkodliwosci tetnienia promieniowania zródel swiatla dla wzroku ludz¬ kiego powoduje, ze problem pomiaru wspólczyn¬ nika tetnienia swiatla, w celu analizy warunków oswietlenia miejsc pracy ma istotny wplyw na po¬ prawe warunków bezpieczenstwa i higieny pracy oraz na wydajnosc pracy tak pod wzgledem ilos¬ ciowym jak i jakosciowym. Z uwagi na fakt, bra¬ ku urzadzenia w formie miernika parametrów swietlnych, takich jak wspólczynnik tetnienia zró¬ del swiatla stosowano metody posrednie, wymaga¬ jace zestawu skomplikowanej aparatury jak na przyklad róznego rodzaju oscylografów, sektorów wirujacych i tym podobne, co stwarzalo duze trud¬ nosci techniczne wykonania pomiaru, a poza tym wynik otrzymywano na drodze dodatkowych obli¬ czen i wykresów. Powyzszy stan ograniczal mozli¬ wosc wykonywania pomiarów jedynie do warun¬ ków laboratoryjnych i nie mógl byc praktycznie i powszechnie stosowany w warunkach przemy¬ slowych.Celem wynalazku jest zlikwidowanie dotychczas spotykanych trudnosci technicznych przy realizacji pomiarów parametrów swietlnych zródel swiatla wzglednie powierzchni oswietlanych, zwlaszcza po¬ miaru wspólczynnika swiatla, za pomoca miernika, 10 15 20 25 30 pozwalajacego na wykonywanie pomiarów bezpo¬ srednio, tak w warunkach laboratoryjnych jak i przemyslowych.Cel ten osiagnieto miernikiem wedlug wynalaz¬ ku, który pozwala na bezposredni pomiar wspól¬ czynnika tetnienia swiatla, jako wartosci wzgled¬ nej lub procentowej, okreslonej stosunkiem war¬ tosci sredniej, do chwilowej wartosci maksymal¬ nej, wielkosci mierzonej. Istote rozwiazania mier¬ nika tetnienia swiatla, stanowi wzajemny uklad polaczen, znanych ogólnie elektrycznych i elektro¬ nicznych elementów, charakteryzujacych sie tym, ze na wejsciu miernika jest umieszczony fotoele- ktryczny przetwornik, polaczony z dwustopniowym wzmacniaczem pradu stalego, na wyjsciu którego wlaczony jest pomiarowy blok wartosci srednich i równolegle z nim pomiarowy blok wartosci ma¬ ksymalnych, a wyjscia tych bloków polaczone sa przez przelacznik pomiaru z wskaznikiem mierzo¬ nej wielkosci wspólczynnika tetnienia.Miernik wedlug wynalazku eliminuje dotychczas spotykane trudnosci i niedogodnosci techniczne po¬ miaru parametrów swietlnych zwlaszcza wspól¬ czynnika tetnienia swiatla, stwarza mozliwosci do¬ konywania pomiarów bezposrednio, szybko i z do¬ kladnoscia wystarczajaca dla wymogów technicz¬ nych, przy jednoczesnej prostej konstrukcji, ma¬ lych gabarytach, co pozwala na stosowanie mier¬ nika w warunkach laboratoryjnych a nade wszy¬ stko w warunkach przemyslowych. 5894958949 3 Przedmiot wedlug wynalazku jest uwidoczniony w przykladowym rozwiazaniu na rysunku, który przedstawia schemat blokowy miernika. Budowa miernika lacznie z opisem dzialania jest omówio¬ na nizej. Po zalaczeniu miernika do pracy, foto- elektryczny przetwornik 1 umieszczony na wejsciu miernika, zamienia przebieg zmiennego w czasie promieniowania zródla swiatla, na przebiegi ele¬ ktryczne, które zostaja wzmocnione w polaczonym z przetwornikiem, dwustopniowym wzmacniaczu 2 pradu stalego, którego pierwszy stopien pracuje w ukladzie kaskadowym, a drugi w ukladzie syme¬ trycznego wtórnika katodowego.Do wyjscia wzmacniacza przylaczone sa równo¬ legle wzgledem siebie, pomiarowy blok 3 wielkosci srednich stanowiacy opornik i pomiarowy blok 4 wielkosci maksymalnych, zrealizowany na diodzie i kondensatorze, z których wykonane jest polacze¬ nie przez przelacznik 5 pomiaru, na wskaznik 6 wspólczynnika tetnienia swiatla. Na skali wskaz¬ nika 6 dokonuje sie operacji dzielenia wartosci sredniej przez chwilowa wartosc maksymalna mie¬ rzonej wielkosci. Wynik pomiaru podaje wartosc wzgledna lub procentowa mierzonej wielkosci. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe io Miernik tetnienia swiatla zawierajacy na wejsciu fotoelektryczny przetwornik polaczony ze wzmac¬ niaczem, a na wyjsciu przelacznik pomiaru ze wskaznikiem, znamienny tym, ze na wyjsciu wzmacniacza (2) pradu stalego, wlaczony jest po- 15 miarowy blok (3) wartosci srednich i równolegle z nim pomiarowy blok (4) wartosci maksymalnych, przy czym wyjscia z tych bloków, polaczone sa poprzez przelacznik (5) pomiaru z wskaznikiem (6) wielkosci wspólczynnika tetnienia swiatla. 1 » 2 i i \ 3 i i 4 i i \ 5 m 6 1 WD A-l. Zam. 3616. Nallad 250 egz. PL
PL119704A 1967-03-28 PL58949B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL58949B1 true PL58949B1 (pl) 1969-10-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2004157A4 (es) Transductor simple/multiple para la medicion de uno o varios parametros fisicos de diferentes tipos o variables electricas convencionales.
ATE119286T1 (de) Regelungsverfahren und -anordnung für die lumineszenz oder fluoreszenz.
PL58949B1 (pl)
CN110514473A (zh) 一种简易便携式底泥厚度测量及取样装置
CN213780205U (zh) 一种微电流测量装置
CN212568585U (zh) 一种活立木树干含水率检测仪
AT111802B (de) Elektrisches Meßgerät.
CN203704889U (zh) 高精尖x荧光测厚仪
CN209198583U (zh) 一种保险管检测仪电路
DE495729C (de) Elektrisches Messgeraet
SU1120175A1 (ru) Фотометр
DE565422C (de) Verfahren und Anordnung zur Analyse von Wechselstroemen mittels eines Suchstromes
SU512436A1 (ru) Измеритель параметров р цепей
RU98101088A (ru) Устройство для выявления патологических состояний молочных желез
CN208476198U (zh) 一种天然草地草本群落的检测装置
DE847470C (de) Einrichtung zum zahlenmaessigen Erfassen der Menge in einer Loesung suspendierter Teilchen
PL65245B1 (pl)
CN205537456U (zh) 一种新型测内孔台阶深尺
SU693278A1 (ru) Устройство дл подбора пар транзисторов
SU1618785A1 (ru) Устройство дл измерени электрических параметров алюминиевого электролизера
JPS53115159A (en) Multiplying equipment using hall device
GB335179A (en) Improvements in means of measuring intensity of light
GB563774A (en) Improvements in or relating to photoelectric cells
JPS57175928A (en) Adapter for photoelectric signal conversion
PL55096B1 (pl)