PL51935B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL51935B1 PL51935B1 PL106207A PL10620764A PL51935B1 PL 51935 B1 PL51935 B1 PL 51935B1 PL 106207 A PL106207 A PL 106207A PL 10620764 A PL10620764 A PL 10620764A PL 51935 B1 PL51935 B1 PL 51935B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- optical system
- photoelement
- reflective element
- photo
- reflected
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
Description
Pierwszenstwo: Opublikowano: 15.XI.1966 51935 KI. 42 d, 1/15 MKP G 01 d UKD I IBIBLIOTE-H Twórca wynalazku: mgr inz. Wieslaw Kwapinski Wlasciciel patentu: Centralne Biuro Techniczne Przemyslu Maszyn Wlókienniczych, Lódz (Polska) Uklad fotooptyczny do pomiarów bezstykowych Przedmiotem wynalazku jest uklad fotooptyczny reagujacy na strumien swietlny 'Odbity od ele¬ mentu odblasfeowego, który ma zastosowanie w róznych dziedzinach techniki w przyrzadach do bezstykowych ipomiarów.W praktyce sa znane i uzywane przyrzady do bezstykowej kontroli wyposazone w zlozone uklady optyczne róznych systemów. Znane sa uklady zlozone, w których promienie swietlne wychodzace ze zródla swiatla sa skupione przez jeden z ukla- dów optycznych na elemencie odblaskowym, a od¬ bite promienie przechodza przez drugi uklad op¬ tyczny i sa rzutowane na fotoelement.Istnieja ipoza tym uklady, w których promienie swietlne przechodza przez uklad optyczny, a na¬ stepnie ulegaja zalamaniiu na ustawionym pod katem zwierciadle pólprzepuszczalnym i zostaja przez drugi uklad optyczny, skupione na elemen¬ cie odblaskowym. Odbite od elementu odblasko¬ wego promienie powracaja przez ten sam uklad optyczny i przechodza ponownie przez zwiercia¬ dlo pólprzepuszczalne do drugiego ukladu opty¬ cznego, który skupia je na fotoelemencie.W niektórych znanych ukladach fotooptycznych zastosowano zamiast pólprzepuszozailnego zwier¬ ciadla, zwierciadlo odblaskowe z centrycznie umie¬ szczonym otworem. Przy tyim rozwiazaniu promie¬ ni^ swietlne wysylane przez zródlo swiatla prze¬ chodza przez uklad optyczny, zostaja zalamane przez ustawione pod katem zwierciadlo, nastepnie przechodza przez drugi uklad optyczny, który 10 15 20 25 30 skupia je na elemencie odblaskowym. Promienie odbite od elementu odblaskowego sa ponownie skupiane przez uklad optyczny w otworze nachy¬ lonego zwierciadla, przechodzac w ten sposób do fotoelementu.Znane i stosowane uklady fotooptyczne reagujace na strumien swietlny, odbity od elementu odbla¬ skowego wykazuja jednak zasadnicza wade pole¬ gajaca na tym, ze duza ilosc promieni swietlnych jest tracona na skutek ich pochlaniania i rozpro¬ szenia na zwierciadle zalamujacym, co powoduje, ze efektywny strumien swietlny odbity od ele¬ mentu odblaskowego jest procentowo niewielki.Dla jego zwiekszenia nalezy stosowac zródlo swia¬ tla o duzej mocy, co zwieksza wymiary geome¬ tryczne urzadzenia i powoduje grzanie sie glo¬ wicy optycznej.Zadaniem wynalazku jest opracowanie ukladu fotooptycznego, reagujacego na strumien swietlny odbity od elementu odblaskowego zgodnie z wla¬ sciwymi wymaganiami, który usunie zasadnicza wade wymienionych ukladów.Zadanie, ta „zostalo rozwiazane przez umieszcze¬ nie fotoelementu w osi ukladu optycznego i za¬ stosowanie wspólnego ukladu optycznego dla zró¬ dla swiatla i fotoelementu co pozwolilo na wyeli¬ minowanie stosowanych w znanych ukladach zwierciadel odchylajacych. Fotoelementem w ukla¬ dzie moze byc fotodioda, fototranzystor, ogniwo fotoelektryczne lub inny element przetwarzajacy strumien swietlny na sygnal elektryczny. 5193551935 3 Na rysunku przedstawiona jest schematycznie i przykladowo budowa ukladu fotooptycznego be¬ dacego przedmiotem wynalazku oraz zasada jego dzialania. Promienie swietlne wychodzace ze zró¬ dla swiatla 1 uformowane przez uklad soczewko¬ wy 2 skladajacy sie z dwóch plaskowypuklych soczewek w zbiezna wiazke promieni, przechodza przez dwustronnie wypukla soczewke 4, która sku¬ pia je na elemencie odblaskowym 5. Zadaniem soczewki 4 jest zmniejszenie ogniskowej calego ukladu. Promienie swietlne odbite od elementu odblaskowego 5 przechodza ponowoie przez so¬ czewke 4 i czesc ich pada na fotoelement 3.Fotoelement 3 umieszczony jest w osi ukladu fotooptycznego w miejscu, które umozliwia ma¬ ksymalne wykorzystanie promieni odbitych.W porównaniu z dotychczas znanymi roizwiaza- tó ,Prasa" Wr. Zam. 4 niaimi, uklad wedlug wynalazku zwieksza w wy¬ sokim stopniu sprawnosc dzialainia ukladu foto¬ optycznego przy zmniejszonej równoczesnie mocy zródla swiatla, (pozwalajac na zmniejszenie wymia- 5 rów glowicy fotooptycznej oraz uproszczenie jej konstrukcji. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe 10 Uklad fotooptyczny do bezstykowych pomiarów posiadajacy zródlo swiatla, dwa uklady soczewek skupiajacych oraz fotoelement reagujacy na stru¬ mien swietlny odbity od elementu odblaskowego, *9 znamienny tym, ze fotoelement (3) umieszczony jest w osi ukladu optycznego pomiedzy ukladami soczewek (2) oraz (4). r-\ 6740/66. Naklad 310 egz. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL51935B1 true PL51935B1 (pl) | 1966-08-25 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3947129A (en) | Apparatus for contactless measuring of the dimensions of objects | |
| US3842263A (en) | Molded opto-electronic transducer | |
| US4325612A (en) | Reflective beam concentrator | |
| RU2007115154A (ru) | Оптическое измерительное устройство для измерения характеристик нескольких поверхностей объекта измерения | |
| SE7901692L (sv) | Optisk anordning for bestemning av ljusuttredesvinkeln | |
| TWI647448B (zh) | 用於晶圓檢測之基於透鏡陣列之照明 | |
| KR102107998B1 (ko) | 자동 초점 조절 모듈 및 이를 구비한 표면 결함 검출 장치 | |
| US3604802A (en) | Wide angle photoelectric position detecting device utilizing a conical truncated optical condenser | |
| PL51935B1 (pl) | ||
| KR101232947B1 (ko) | 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 상기 조명시스템과 영상생성시스템과의 조립구조 | |
| US3474252A (en) | Mirror arrangement light source and photocell located on a common axis | |
| US3210688A (en) | Optical coupling means for lasers | |
| KR101936821B1 (ko) | 레이저 서치라이트 | |
| CN116297121A (zh) | 一种多次反射增强光敏区光强的方法及光路系统 | |
| US20210041372A1 (en) | Apparatus for inspecting object surface | |
| JPS54101389A (en) | Foreign matter inspecting method | |
| US20080316474A1 (en) | Optical Apparatus and an Observation Apparatus Having the Same For Observing Micro Particles | |
| SU1326004A1 (ru) | Устройство дл контрол дефектов оптических поверхностей | |
| KR102085601B1 (ko) | 발광 소자의 지향 각 측정 장치 | |
| SU1080076A1 (ru) | Многоходовой газоанализатор | |
| SU373519A1 (ru) | Интерферометр для контроля качества оптических | |
| SE8801704L (sv) | Anordning vid maetanordningar utnyttjande laserstraalar | |
| JPS56152249A (en) | Image pickup device for inspection | |
| JPS6238312A (ja) | 距離検出装置 | |
| JP2019128169A (ja) | 光伝送体、外観検査装置、及び外観検査方法 |