PL51935B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL51935B1
PL51935B1 PL106207A PL10620764A PL51935B1 PL 51935 B1 PL51935 B1 PL 51935B1 PL 106207 A PL106207 A PL 106207A PL 10620764 A PL10620764 A PL 10620764A PL 51935 B1 PL51935 B1 PL 51935B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
optical system
photoelement
reflective element
photo
reflected
Prior art date
Application number
PL106207A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Wieslaw Kwapinski mgr
Original Assignee
Centralne Biuro Techniczne Przemyslu Maszynwlókienniczych
Filing date
Publication date
Application filed by Centralne Biuro Techniczne Przemyslu Maszynwlókienniczych filed Critical Centralne Biuro Techniczne Przemyslu Maszynwlókienniczych
Publication of PL51935B1 publication Critical patent/PL51935B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 15.XI.1966 51935 KI. 42 d, 1/15 MKP G 01 d UKD I IBIBLIOTE-H Twórca wynalazku: mgr inz. Wieslaw Kwapinski Wlasciciel patentu: Centralne Biuro Techniczne Przemyslu Maszyn Wlókienniczych, Lódz (Polska) Uklad fotooptyczny do pomiarów bezstykowych Przedmiotem wynalazku jest uklad fotooptyczny reagujacy na strumien swietlny 'Odbity od ele¬ mentu odblasfeowego, który ma zastosowanie w róznych dziedzinach techniki w przyrzadach do bezstykowych ipomiarów.W praktyce sa znane i uzywane przyrzady do bezstykowej kontroli wyposazone w zlozone uklady optyczne róznych systemów. Znane sa uklady zlozone, w których promienie swietlne wychodzace ze zródla swiatla sa skupione przez jeden z ukla- dów optycznych na elemencie odblaskowym, a od¬ bite promienie przechodza przez drugi uklad op¬ tyczny i sa rzutowane na fotoelement.Istnieja ipoza tym uklady, w których promienie swietlne przechodza przez uklad optyczny, a na¬ stepnie ulegaja zalamaniiu na ustawionym pod katem zwierciadle pólprzepuszczalnym i zostaja przez drugi uklad optyczny, skupione na elemen¬ cie odblaskowym. Odbite od elementu odblasko¬ wego promienie powracaja przez ten sam uklad optyczny i przechodza ponownie przez zwiercia¬ dlo pólprzepuszczalne do drugiego ukladu opty¬ cznego, który skupia je na fotoelemencie.W niektórych znanych ukladach fotooptycznych zastosowano zamiast pólprzepuszozailnego zwier¬ ciadla, zwierciadlo odblaskowe z centrycznie umie¬ szczonym otworem. Przy tyim rozwiazaniu promie¬ ni^ swietlne wysylane przez zródlo swiatla prze¬ chodza przez uklad optyczny, zostaja zalamane przez ustawione pod katem zwierciadlo, nastepnie przechodza przez drugi uklad optyczny, który 10 15 20 25 30 skupia je na elemencie odblaskowym. Promienie odbite od elementu odblaskowego sa ponownie skupiane przez uklad optyczny w otworze nachy¬ lonego zwierciadla, przechodzac w ten sposób do fotoelementu.Znane i stosowane uklady fotooptyczne reagujace na strumien swietlny, odbity od elementu odbla¬ skowego wykazuja jednak zasadnicza wade pole¬ gajaca na tym, ze duza ilosc promieni swietlnych jest tracona na skutek ich pochlaniania i rozpro¬ szenia na zwierciadle zalamujacym, co powoduje, ze efektywny strumien swietlny odbity od ele¬ mentu odblaskowego jest procentowo niewielki.Dla jego zwiekszenia nalezy stosowac zródlo swia¬ tla o duzej mocy, co zwieksza wymiary geome¬ tryczne urzadzenia i powoduje grzanie sie glo¬ wicy optycznej.Zadaniem wynalazku jest opracowanie ukladu fotooptycznego, reagujacego na strumien swietlny odbity od elementu odblaskowego zgodnie z wla¬ sciwymi wymaganiami, który usunie zasadnicza wade wymienionych ukladów.Zadanie, ta „zostalo rozwiazane przez umieszcze¬ nie fotoelementu w osi ukladu optycznego i za¬ stosowanie wspólnego ukladu optycznego dla zró¬ dla swiatla i fotoelementu co pozwolilo na wyeli¬ minowanie stosowanych w znanych ukladach zwierciadel odchylajacych. Fotoelementem w ukla¬ dzie moze byc fotodioda, fototranzystor, ogniwo fotoelektryczne lub inny element przetwarzajacy strumien swietlny na sygnal elektryczny. 5193551935 3 Na rysunku przedstawiona jest schematycznie i przykladowo budowa ukladu fotooptycznego be¬ dacego przedmiotem wynalazku oraz zasada jego dzialania. Promienie swietlne wychodzace ze zró¬ dla swiatla 1 uformowane przez uklad soczewko¬ wy 2 skladajacy sie z dwóch plaskowypuklych soczewek w zbiezna wiazke promieni, przechodza przez dwustronnie wypukla soczewke 4, która sku¬ pia je na elemencie odblaskowym 5. Zadaniem soczewki 4 jest zmniejszenie ogniskowej calego ukladu. Promienie swietlne odbite od elementu odblaskowego 5 przechodza ponowoie przez so¬ czewke 4 i czesc ich pada na fotoelement 3.Fotoelement 3 umieszczony jest w osi ukladu fotooptycznego w miejscu, które umozliwia ma¬ ksymalne wykorzystanie promieni odbitych.W porównaniu z dotychczas znanymi roizwiaza- tó ,Prasa" Wr. Zam. 4 niaimi, uklad wedlug wynalazku zwieksza w wy¬ sokim stopniu sprawnosc dzialainia ukladu foto¬ optycznego przy zmniejszonej równoczesnie mocy zródla swiatla, (pozwalajac na zmniejszenie wymia- 5 rów glowicy fotooptycznej oraz uproszczenie jej konstrukcji. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe 10 Uklad fotooptyczny do bezstykowych pomiarów posiadajacy zródlo swiatla, dwa uklady soczewek skupiajacych oraz fotoelement reagujacy na stru¬ mien swietlny odbity od elementu odblaskowego, *9 znamienny tym, ze fotoelement (3) umieszczony jest w osi ukladu optycznego pomiedzy ukladami soczewek (2) oraz (4). r-\ 6740/66. Naklad 310 egz. PL
PL106207A 1964-09-09 PL51935B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL51935B1 true PL51935B1 (pl) 1966-08-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3947129A (en) Apparatus for contactless measuring of the dimensions of objects
US3842263A (en) Molded opto-electronic transducer
US4325612A (en) Reflective beam concentrator
RU2007115154A (ru) Оптическое измерительное устройство для измерения характеристик нескольких поверхностей объекта измерения
SE7901692L (sv) Optisk anordning for bestemning av ljusuttredesvinkeln
TWI647448B (zh) 用於晶圓檢測之基於透鏡陣列之照明
KR102107998B1 (ko) 자동 초점 조절 모듈 및 이를 구비한 표면 결함 검출 장치
US3604802A (en) Wide angle photoelectric position detecting device utilizing a conical truncated optical condenser
PL51935B1 (pl)
KR101232947B1 (ko) 자동광학검사에 사용되는 조명시스템 및 상기 조명시스템과 영상생성시스템과의 조립구조
US3474252A (en) Mirror arrangement light source and photocell located on a common axis
US3210688A (en) Optical coupling means for lasers
KR101936821B1 (ko) 레이저 서치라이트
CN116297121A (zh) 一种多次反射增强光敏区光强的方法及光路系统
US20210041372A1 (en) Apparatus for inspecting object surface
JPS54101389A (en) Foreign matter inspecting method
US20080316474A1 (en) Optical Apparatus and an Observation Apparatus Having the Same For Observing Micro Particles
SU1326004A1 (ru) Устройство дл контрол дефектов оптических поверхностей
KR102085601B1 (ko) 발광 소자의 지향 각 측정 장치
SU1080076A1 (ru) Многоходовой газоанализатор
SU373519A1 (ru) Интерферометр для контроля качества оптических
SE8801704L (sv) Anordning vid maetanordningar utnyttjande laserstraalar
JPS56152249A (en) Image pickup device for inspection
JPS6238312A (ja) 距離検出装置
JP2019128169A (ja) 光伝送体、外観検査装置、及び外観検査方法