PL47894B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL47894B1
PL47894B1 PL47894A PL4789462A PL47894B1 PL 47894 B1 PL47894 B1 PL 47894B1 PL 47894 A PL47894 A PL 47894A PL 4789462 A PL4789462 A PL 4789462A PL 47894 B1 PL47894 B1 PL 47894B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
diode
tunnel diode
microwave tunnel
semiconductor
blade
Prior art date
Application number
PL47894A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL47894B1 publication Critical patent/PL47894B1/pl

Links

Description

Jy i* ^^^ o jUi_.-.- ,, . li i-irow.ego| ' --'Wm\ fosgzypospoiite]Lodowni- POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr47894 KI. 21 g, 11/02, KI. internat. H 01 1 Polska Akademia Nauk.(Instytut Podstaiijoujych Problemóuj Techniki)*) Warszawa, Polska Mikrofalowa dioda tunelowa oraz sposób jej wytwarzania Patent trwa od dnia 17 listopada 1962 r.Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwa¬ rzania mikrofalowej diody tunelowej oraz kon¬ strukcja diody wykonanej tym sposobem. Spo¬ sób wg wynalazku pozwala na znacznie pro¬ stsze niz dotychczas stosowane postepowanie przy wykonywaniu zlacza p-n i jego doprowa¬ dzen w mikrofalowej diodzie tunelowej oraz umozliwia dokladniejsza (kontrole wielkosci po¬ wierzchni zlacza p^n i zwiazanych z tym para¬ metrów diody.Powyzsze efekty uzyskano przez wyelimino¬ wanie ogólnie dotychczas stosowanego procesu wtapiania malych (100—60 |m) kulek wykona¬ nych z materialu domieszkowego w plaskie plytki pólprzewodnikowe i zastapienie go przez *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest mgr inz. Bohdan Mnoziewicz. wtapianie pólprzewodnikowego ostrza w plaska powierzchnie metalowej tasiemki pokrytej sto¬ pem domieszkowym. Tasiemka ta sluzy nastep¬ nie jako jedno z doprowadzen diody, przez oo eliminuje ^sie zmudny i trudny, jednak nie- , zbedny w dotychczasowych konstrukcjach, pro- ces lutowania doprowadzenia do kulki. Dioda wedlug wynalazku jest przedstawiona w prze- kiioju poprzecznym na zalaczonym rysunku.Sklada sie ona z pólprzewodnikowej plytki a z wykonanym na jej powierzeni ositrzem e» me¬ talowej tasiemki b pokrytej stopem domieszko¬ wym i stanowiacej jedno z doprowadzen 'diody oraz z obudowy zewnetrznej d skladajacej sie z dwu metalowych plytek polaczonych cera¬ micznym pierscieniem. Zlacze p-n powstaje w miejscu zaznaczonym litera c. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1, Mikrofalowa dioda tunelowa znamienna tym, ze zawiera plytke pólprzewodnikowa (a), na której wykonane jest ostrze (e) oraz meta¬ lowa tasiemke (b), która stanowi jedno z do¬ prowadzen.
2. Sposób wytwarzania mikrofalowej diody tu¬ nelowej znamienny tym, ze zlacze p-n wy¬ twarza sie przez wtopienie pólprzewodniko¬ wego ostrza (e) w powierzchnie stopu do¬ mieszkowego pokrywajacego metalowa ta¬ siemke (b). Polska Akademia Nauk Instytut Podstawowych. Problemów Techniki ftq.1 Fiq.ta 2269. RSW „Prasa", Kielce. Nakl. 400 egz. PL
PL47894A 1962-11-17 PL47894B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL47894B1 true PL47894B1 (pl) 1963-12-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950032700A (ko) 투명한 도전막을 제조하기 위한 캐소드 스퍼터링용 타겟
PL47894B1 (pl)
JPS5416312A (en) Preparation of metallic composition material reinforced with carbon fiber
JPS52111690A (en) Manufacturing method of cadmium sulfide system photoconductive powder
Kaftan-Kassim The planetary nebula NGC 3242
JPS5348103A (en) Manufacturing method for total-flow turbine blade
JPS52119164A (en) Manufacture of flat cathode
JPS52123823A (en) Solid pickup element
JPS53109475A (en) Manufacture for semiconductor device
JPS5362978A (en) Electron microscope
JPS5291374A (en) Three phase crystal grown method
JPS5437572A (en) Manufacture os semiconductor device
JPS5417664A (en) Manufacture of electrode for semiconductor element
JPS51149785A (en) Method of manufacturing semiconductor light emission device
JPS5322368A (en) Pattern inspection method
JPS547891A (en) Manufacture for planar semiconductor light emission device
JPS5645542A (en) Oxide cathode and its preparation
JPS5376668A (en) X-ray exposure method
JPS5351964A (en) Selective growth method for semiconductor crystal
JPS548469A (en) Heat sink for stud type semiconductors
Tze-chao THEORY OF TUNNELLING PROCESSES IN GERMANIUM TUNNEL DIODES. I. IMPURITY-INDUCED CURRENT; II. PHONON-ASSISTED CURRENT
JPS5317264A (en) Cathode material of direct heated cathode-ray tube sphere
ES225451U (es) Cilindro-pantalla metalico.
LEISEGANG On the heating of electron microscope objects with small beam cross section(Temperature measurement of graphitized film as object of electron microscope)
Georgescu-Cocos et al. Study of Worn Surfaces of Forging Dies With Scanning Electron Microscopy