PL46681B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL46681B1
PL46681B1 PL46681A PL4668162A PL46681B1 PL 46681 B1 PL46681 B1 PL 46681B1 PL 46681 A PL46681 A PL 46681A PL 4668162 A PL4668162 A PL 4668162A PL 46681 B1 PL46681 B1 PL 46681B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
layer
electrode material
type
conductivity
impurities
Prior art date
Application number
PL46681A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL46681B1 publication Critical patent/PL46681B1/pl

Links

Description

Wynalazek dotyczy sposobu wytwarzania przyrzadu pólprzewodnikowego, przy czym ma warstwie przynaleznej do elementu (ptytki) pól¬ przewodnikowego jednego typu przewodnictwa, która tworzy z dalsza czescia elementu pólprze¬ wodnikowego zlacze p — n (warstwe przejscio¬ wa), zostana umieszczone elektroda pólprzewod¬ nikowa i zwykla, przewaznie obok siebie, przez roztopienie z warstwa pewnej ilosci materialu elektrodowego oraz przyrzadu pólprzewodniko¬ wego, który zostanie wykonany tym sposobem.Dotychczasowy sposób na przyklad w elemen¬ cie germanowym dla umieszczenia elektrody prostownikowej na warstwie przynaleznej do elementu (pólprzewodnikowego, zostanie utwo¬ rzony przez sposób i&topowo— dyfuzyjny. W sposobie tym pewna ilosc materialu elektrody zostanie rozjtolpiona na warstiwie, przy czym przez przewazajaca diyfuzje zanieczyszczen jed¬ nego tyfru przewodnictwa zostanie otrzymana zidyfuzjowana strefa tego typu, .a przez przewa¬ zajaca segregacje zanieczyszczen odmiennego typu przewodnictwa zostanie osiagnieta zrek- rystalizowana strefa odimiennego typu prze¬ wodnictwa. Poniewaz strefa zdyfuzjowana zos¬ tanie otrzymana przez dyfuzje zanieczyszczen ze stopu albo z juz zrekrystalizowanej warstwy, to ilosc i koncentracja zanieczyszczen .w tej strefie zdyfurijowanej jest dokladnie okreslona.Dyfuizujace zanieczyszczenia, jak rop. alumi¬ nium i arsen, w przypadku germanu ziostana dodane do roztopionego materialu, albo w póz¬ niejiszej fazie zostana (jtobrane z otoczenia i wprowadzone do roztopionego materialu elek¬ trody..Chociaz taki sposób w przypadku germs-iiu i wspomnianych zanieczyszczen jest zadawalajacy, to przy innych materialach pólprzewodnikom wych, jak na przyklad krzemie, wystepuja róz¬ ne trudnosci, poniewaz rozpuszczalnosc zanift-Czyszczen, które ze wzgledu na ich korzystne wlasciwosci nalezaloby zastosowac w materiale elektrody, jest tak duze, ze niemozliwe jest do¬ kladne* dozowanie tych zanieczyszczen w ma¬ teriale elektrody. Trudnosci te wystepuja na przyklad przy stosowaniu zanieczyszczen boru w przypadku elektrody krzemowej, wskutek du¬ zej rozpuszczalnosci beru w materiale elektrody, natomiast przez dyfuzje boru micga byc otrzy¬ mane warstwy dyfuzyjne o niskiej opornosci wlasciwej.Dalej wymagana jest prosta technologiczna metoda, pozwalajaca zaopatrzyc warstwe w styk galwaniczny oraz w przypadku budowy tranzys¬ tora w styk bazy.Wspomniany na wstepie sposób wedlug wy¬ nalazku charakteryzuje sie tym, ze z warstwa .przynalezna" do elementu pólprzewodnika zo¬ stanie roztopiony material elektrodowy o tym samym skladzie i przewaznie o tej samej war¬ tosci, przy czyim pod roztopionym materialem elektrodowym powstaje strefa dyfuzyjna jed¬ nego tylpu przewodnictwa przez dyfuzje zanie¬ czyszczen tego typu, które w zasadzie zostana otrzymane z czesci warstwy rozpuszczonych w materiale elektrodowymi. A wiec przy pierw¬ szym materiale elektrodowym powstaje zrekry- stalizowana strefa odimiennego typu przewod¬ nosci, wskutek obecnosci zanieczyszczen tego ty¬ pu w roztopionym materiale elektrodowym, a przy innym materiale elektrodowym powstaje dlatego zrekiiystalizowana strefa pierwszego typu przewodnosci, bowiem w tym materiale elektrodowym zostanie wchlonieta wieksza ilosc zanieczyszczen pierwszego typu przewodnosci, która zostanie wchlonieta przez roztopiony ma¬ terial elektrodowy, zwlaszcza przez pierwszy material elektrodowy, dokladnie uwarunkowana przez .zawartosc tych -zanieczyszczen we wspo¬ mnianej warstwie.Warstwa ta rneze byc otrzymana na przyklad przez dyfuzje tak, ze zawartosc zanieczyszczen tej warstwy mozna dokladnie ustalic. Nastepnie na warstwie zostanie utworzona w technologicz¬ nie latwy sposób jednoczesnie z elektroda pros¬ townikowa, elektroda zwykla.Podczas roztapiania materialu elekrodowrgo, otrzymany ciekly metal przenika przewaznie przez wasitwe tak, ze na otrzymana zdyfuzjo- wana strefe nie oddzialywuje istniejaca jeszcze czesc warstwy.Róznica miedzy typami przewodnosci strefy zrekrystailizowanej moze byc dllatego osiagnieta, ze obydwa materialy elektrodowe zostana rozto¬ pione w miejscach warstwy, gdzie zawartosc za¬ nieczyszczen jednego typu przewodnosci w war¬ stwie jest rózna, na przyklad gdy warstwa wy¬ kazuje miejscowe róznice grubosci. Pierwszy material elektrodowy zostanie roztopiony na cienszej czesci warstwy niz drugi material elek¬ trodowy.Szczególnie prosty sposób dla osiagniecia róz¬ nicy miedzy typami przewodnosci dwóch zre- krystallzowanych stref jest wedlug wynala/ku znamienny ty,m? ze do wprowadzonego drugiego materialu elektrodowego zostana dodane dodat¬ kowe zanieczyszczenia jednego typu przewod- . noscie przewaznie kiedy material elektrodowy zostanie najpierw przytwierdzony do warstwy na przyklad przez stopienie, po czym dodatko¬ we zanieczyszczenia zostana naniesione na dru¬ gi material elektrodowy, na przyklad w posta¬ ci zawiesiny \w cieczy, kiedy materialy elektro¬ dowe zostana czasowo roztopione, aby uzysvac zdyfuzjewane i zrekrystaflizowane strefy. Spo- sólb ten nadaje sie doskonale do masowego wy¬ twarzania.Istnieje mozliwosc, ze obydwa typy zanieczy¬ szczen w roztopionym materiale elektrodowym tworza miedzy soba zwiazek chemiczny. Aby o- graniczyc mozliwosc powstawania takiego zwiazku, sipctsólb wedlug wynalazku zostanie przeproiwadizony tak, aby roztopiony material elektrodowy byl neutralny, to znaczy, aby nie zawieral zanieczyszczen, natomiast zanieczysz¬ czenia odmiennego typu przewodnosci zostana dodane do roztopionego materialu elektrodo¬ wego z otaczajacej atmosfery. * W ten sposób mozna reguilowac dodanie tych zanieczyszczen; a tym samym mozliwosc tworzenia zwiazku miedzy obydwoma typami zanieczyszczen.Jezeli mozliwosc takiego zwiazku jest bardzo znikoma, material elektrodowy, który zostanie roztopiony, zawiera przewaznie juz w Calosci lub czesciowo roztopione zanieczyszczenia otH miennego typu przewodnosci. : .^ Aczkolwiek sposób wedlug wynalazku tóoze byc korzystnie przeprowadzony przez zastoso^ wanie elementu pólprzewodnikowego, nax przy¬ klad z germanu, to jest on jednak przewaznie stosowany, w krzemowym elemencie pólprze¬ wodnikowym. Wzmiankowana warstwa jest przy tym przewaznie warstwa, otrzymana przez dyfuzje boru do elementu pólprzewodnikowego.Roztopiony material elektrodowy moze skladac sie z cyny lub ze stopu cynowego, podczas gdy - % -do drogiego materialu elektrodowego zostan'e dodane aluminium i (albo) bor w postaci Zawie¬ siny lufo cieczy.Na czesci elementu pólprzewodnikowego, nie przynaleznej do wzmiankowanej warstwy, mo¬ ze byc umieszczony styk galwaniczny, tak aby zastala otrzymana konstrukcja tranzystora.Wynalazek dotyczy równiez przyrzadu pól¬ przewodnikowego, który zostanie wykonany spo¬ sobem wedlug wynalazku.Wynalazek zostanie przykladowo blizej objas¬ niony na rysunku.Fig. 1, 3 i 5 sa przekrojami poprzecznymi ipnzyrizaldu pólprzewodnikowego' w róznych eta¬ pach wytwarzania pierwszej postaci wykonania sposobu wedlug wynalazku, a fig. 6 przedstawia widok z góry przyrzadu pólprzewodnikowego w etapie wytwarzania pierwszej postaci wyko¬ nania sposobu wedlug wynalazku, fig. 2 przed¬ stawia wykres, na podstawie którego zostanie czesciowo objasniony sposób wedlug wynalaz¬ ku, fig. 4 przedstawia przekrój poprzeczny przy¬ rzadu do stosowania sposobu wedlug wynalazku, fig. 7 — przekrój przez przyrzad prostownikowy przy drugiej postaci wykonania sposobu wedlug wynalazku, a fig. 8 do 11 przedstawiaja przekroje przez przyrzad prostownikowy w róznych eta¬ pach wytwarzania p^zy trzeciej odmianie spo¬ sobu wykonania wedlug wynalazku.Jednokrysztalowa tarcza krzemowa typu — n fikwymiarach 3 x 2 x 0.15 mm zawiera pewna tiEjksLftoasc zanieczyszczen fosforu i opornosc iMMfeya. 2 Q om. Bor z fazy gazowe; przenika Nastepnie tarcza zostanie umieszczona w pie¬ cu, przez który przeplywa strumien czystego a- zotu nad glikolem dwuetylu o zawartosci 4 procent wody w stosunku wagowym w tempe¬ raturze 0°. Zawartosc pary wodnej w azocie jest w ten isjposób wyregulowana, ze azot z pa¬ ra wodna przeplywa (ponad czolowym czólen¬ kiem o powierzchni 1,5 cm2 z czystym, bedacym w sprzedazy boreim, który faktycznie zawiera mala zawartosc dfaruitlenku Iboru. Zródlo par boru i tarcza zostana umieszczone w tempera¬ turze okolo 1200° przez okreis dwóch godzin, poid strumieniem azotu o przeplywie 0,5 litra ha minute tak, ze zostanie utworzona na powierz¬ chni tarczy warstwa dyfuzyjna typu — p, o gle¬ bokosci okolo 6 |li i sredniej koncentracji 5 x 1019 atomów boru na idm'.Jedna strona tarczy zostanie wytrawiona przez srodek trawiacy, zlozony na przyklad ze stezonego kwasu azotowego, 40% fluowodoru i kjwasu octowego lodowatego w stosunku obje¬ tosciowym 20:12:24, przez co powstaje ele¬ ment wedlug fig. 1, który sklada sie z czesci 1 typu — n, z warstwy 2 typu — po zdyfuzjo- wanej powierzchni. Fig. 2 przedstawia logaryt¬ miczny rozklad stezenia nosników ladunku na cm3 (log c) mierzony w stosunku do odstepu od powierzchni elementu. Stezenie akceptorów jest wskazane przez krzywa 3 a donorów przez linie 4. Odstep 5 to znaczy glebokosc zlacza — pn (warstwy przejsciowej) wynosi okolo 6 jm.Nastepnie na miejsce wyznaczone przez Unie 6 (fig. 1) zostanie nalozona warstwa maskujaca, a calosc zostanie zainurzcina w srodowisku tra¬ wiacym, zlozonym ze stezonego kwasu azotowe¬ go, 40% fluowodoru i z kwasu octowego lodo¬ watego w stosunku objetosciowym 20 : 12 : 12 w temperaturze pokojowej przez okolo 35 sekund dla usuniecia okolo 12 ^ elementu 1, 2 z wyjatkiem miejsca pokrytego warstwa mas¬ kujaca.Potem na miejsce wyznaczone przez linie 7 na fig. 1 zostanie nalozona warstwa maskujaca, a cslcsc zostanie umieszczona w kapieli trawia¬ cej, która sklada sie ze stezonego kwasu azoto¬ wego, 40 % fluowodoru i z kwasu octowego lo¬ dowatego w stosunku objetosciowym 20 : 12 : 24, w temperaturze pokojowej przez okres oko¬ lo 25 sekund dla usuniecia okolo 2 u, elementu 1, 2 z wyjatkiem miejsca pokrytego warstwa mas¬ kujaca.Odpowiednim materialem na warstwe masku¬ jaca jest wosk, znany w handlu pod nazwa Ap- nzon i który rozpuszcza sie w dwumetylofoen- zanie. Po umieszczeniu roztworu na zadanym obszarze powierzchni, wosk zostanie ogrzany do temperatury 40°C przez okres 10 minut. Po kaz¬ dym trawieniu warstwa maskujaca zostanie roz¬ puszczena w trójchloroetylenie.Po kazdym wymienionym trawieniu nastepu¬ je przemywanie elementu zdejonizowana woda.Powstaly krysztal jest uwidoczniony na fig. 3. Górna powierzchnia ma trzy plaszczyzny 8, 9 i 10. Powierzchnia plaszczyzny S nie jest sko¬ rodowana przez trawienie i stezenie powierzch¬ niowe zanieczyszczen akceptorami, odpowiada S = 0 na fig. 2 a na plaszczyznie 10 pierwotna powierzchnia dla osiagniecia nowej plaszczyzny - 3 -jest wytrawiana i przewaza tu zanieczyszczenie donorami, które odpowiada wartosci S od odstepu 5^—- Tarcza Sn As (99% cyiny w st*sunku wago¬ wym) o srednicy okolo 0,4 mim i grubosci okolo 0,1 mm jest umieszczona po srodku kazdej pla¬ szczyzny 8, 9 i 10, po czym calosc zostanie og¬ rzana w atmosferze arsenowodorowej.Fig. 4 przedstawia instalacje aparatu do ogrze¬ wania* w której mozma wygodnie przeprowa¬ dzic ogrzewanie. Urzadzenie to jest juz opisane w angielskim patencie nr 12625/59. Urzadzenie zawiera trzy czesci 12, 13, 14, które sa miedzy soba zlaczone za pomoca stozkowej czesci pos¬ redniej.Pierscieniowa nasadka 15 na scianie ze szkla borokrzemianowego czesci 12 jest zamocowana za pomoca cylindra platynowego 16 i lutu zlo¬ tego 17 na rurze palladowej. Czesc 12 ma rure Wlotowa 19 dla wprowadzenia wodoru, otwór do spalania 20 oraz nawiniete zwoje oporowe grzejnika 21.Czesc 13 sklada sie z kwarcu i na sciane zew¬ netrzna 22, na której za pomoca pierscieniowej nasadki 23 jest przymocowana dluga rura 24, która na fig. 4 jest przedstawiona poziomo i ma miedzy swymi koncami czesc tworzaca zaglebie¬ nie 25 i która wolnym koncem wpada do cylin¬ drycznej czesci 26, której przekrój na fig 4, jest przedstawiony wzdluz osi podluznej. Rura wylotowa 27 po prawej stronie nasadki 23 (fig. 4) sluzy do polaczenia z ukladem pompy próz¬ niowej.Czesc 14 jest rurowa kolba, która na jednym koncu przechodzi w czesc zamknieta 28, a na drugim koncu w rozszerzona czesc 29, aby osia¬ gnac nastepnie czesc koncowa sciany 22 czesci 13.Urzadzenie pracuje jak nastepuje. Czesc 13 jest zamocowana na wsporniku; do rury 24 zo¬ stanie wprowadzone w czólenku kwarcowym (nie uwidocznionym) 1 gm metalicznego arsenu 30, który zostakie umieszczony w zaglebieniu 25. Tarczaz pojedynczego krysztalu I, 2 z plasiz- czyznami 8, 9 i 10 wykonanymi sposobem jak wyzej zostanie umieszczona w czesci 26. Tarcze 31, 32, 33 wykonane z Sn As zostana umieszczo¬ ne po srodku w stosunku ck kazdej plaszczyz¬ ny. Otwarty koniec czesci 26 zostanie nakryty tarcza kwarcowa 36 z centralnie umieszczonym otworem. , i ] Rura 27 zostanie polaczona z nie przedstawio¬ nym ukladem pomp prózniowych, który sklada sie z pompy prózniowej, pompy rteciowej oraz pochlaniacza rteciowego.Czesci 12 i 14 zostana nalozone na stozkowe zamkniecia czesci 13. Rura 19 zostanie polaczo¬ na ze zródlem wodoru, natomiast wyplywaja¬ cy z otworu 20 wodór zostanie zapalony. Grzej¬ niki oporowe 34 i 35 zostana umieszczone nao¬ kolo czesci 14 dla ogrzania arsenu 30 i tarczy 1, 2.Uklad pamp zostanie uruchomiony, aby zmniejszac cisnienie w czesciach 12, 13 i 14, do wartosci irmiejiszej od 2\x Hg, po czym rura 27 zostanie pclaczcina za pomoca zwezonej czesci z ukladem pomp.Rura palladowa 18 zostanie nastepnie ogrza¬ na za pomoca zwoi grzejnych, przez co wodór moze przeplywac przez rure 18 do czesci 12 i do czesci 13, skad przez rure 24 poprzez tarcze 1, 2 i przez otwory w tarczy 36 do komory zew¬ netrznej, która zostanie utworzona miedzy scia¬ nami czesci 13 i 14 i rura 27. Urzadzenie jest tego rodzaju, ze cisnienie przy tarczy 1, 2 po u- ruchomieniu pomp wynosi okolo 500u Hg.Grzejniki 34 i 35 zostana wlaczone i arsen 30 zostanie ogrzany do temperatury 170°C, a tuz przed tarcza 1, 2 temperatura wzrosnie do tem¬ peratury 1000° C. Temperatury 170°C i okolo 1000°C zostana utrzymane przez okolo 22 minu¬ ty, po czym (grzejniki 34 i 35 zostana wylaczone, a tarcza moze chlodzic sie. Strumien wodoru przy przeplywaniu przez rure 18 jest oczyszcza¬ ny.Po ochlodzeniu doplyw wodoru zostanie wstrzymany. Czesc 14 i tarcza 36 zostana roz¬ dzielone, a tarcza 1, 2. zostanie wyjeta z czesci 26.Fig. 5 przedstawia przekrój przez powstale chodki tarczy, po wyjeciu tarczy 1, 2 z czesci 26.Tarcze 31, 32 i 33 wykonane z Sn As maja przy tym strefy zrekrystalizowane w tarczy pod¬ stawowej 1, 2, a czesci. 40, 41 i 42 ze stalego materialu elektrodowego.Strefy 38 i 39 skladaja sie z krzemu typu — n, a strefa 37 sklada sie z krzemu typu — p.Skoro tarcza 31 i lezaca pod nia czesc war¬ stwy 2 na której jest ona umieszczona, zostana stopione to przy rekrystalizacji, przewaza w cieklym metalu bor, mimo obecnosci arsenu w tarczy 31 i arsenu w srodowisku podczas ogrze¬ wania, przez co po ochlodzeniu strefa 37 zosta¬ nie strefa typu — p, która z warstwa typu — p daje styk galwaniczny.Po stopieniu sie tarczy 32 i czesci lezacej pod - 4 -nia warstwy 2, przy rekrystalizacji przewaza arsen, {poniewaz w tym przypadku zawartosc boru w stopionej czesci warstwy 2 jest mniej¬ sza. Strefa 38 rskrystalizuje w postaci strefy typu — n, która powoduje z warstwa 2 typu — p, zlacze —pin.Tarcza 33 stapia sie z czescia 1 typu — n, tar¬ czy 1, 2 i tworzy styk galwaniczny tomowy) z czescia 1.Temperatura i czas obróbki stapiajacej sa tak wybrane, ze roztopiony metal przenika przez pierwotna warstwe dyfuzyjna 2 pod miejscami tarcz 31 i 32. Dalsza dyfuzja zachodzi ze strefy zakrzepnietego metalu. Dyfuzja jest przewaznie dyfuzja boru ze stopionego materialu elemen¬ tu 1, 2. Bor dyfunduje do krzemu latwiej niz arsen tak, ze ponizej roztopionych elektrod, po dyfuzji tworzy sie dalej warstwa 2 typu — n.Warstwa 2 itypu — n ponizej 'roztopionych elekt¬ rod jest wiec calkowicie uwarunkowana od wy¬ mienionej wyzej dyfuzji.Cyna w tarczach cynowo — arsenowych nie odgrywa powazniejszej roli i stanowi w zasadzie srodek rozcienczajacy arsen. Arsen w atmosfe¬ rze arsenowo — wodorowej przeciwdziala w czasie ogrzewania stratom arsenu w tarczach cynowo — arsenowych.Cala powierzchnia tarczy krysztalowej zosta¬ nie nastepnie oczyszczona przez wytrawienie w kapieli, która sklada sie ze stezonego kwasu a- zotowego, 40% fhiowodoru i kwasu octowego lodowatego w stosunku objetosciowym 20 : 12 : 24, w czasie okolo 5 sekund w temperaturze po¬ kojowej. W ten sposób zostanie usunieta warst¬ wa o grubosci 0,3^.Tak otrzymana struktura jest struktura tran¬ zystora krzemowego npn, przy czym czesc 40 i strefa zrekrystlizowana 37 tworza polaczenie ze strefa bazy 2, natomiast czesc 41 tworzy polacze¬ nie ze strefa zrekrystalizowana 38, która tworzy zlacze — np ze strefa bazy 2; czesc 42 i strefa zrekrystalizowana 39 tworza polaczenie z cze¬ scia 1 kolektora, który tworzy zlacze — np. ze strefa bazy.Powierzchnia miedzy czesciami 40 j 41 zosta¬ nie pokryta w sposób wyzej opisany warstwa maskujaca R, tak jak to jest uwidocznione na fig. 6. Obszar przejscia baza — kolektor zosta¬ nie przez wystawienie tej czesci warstwy 2 zmniejszony, bowiem nie zostal on pokryty przez warstwe 4 i czesci 40 i 41, a mianowicie w tem¬ peraturze pokojowej przez okres okolo 20 se¬ kund w kapieli trawiacej, która sklada sie ze stezonego kwasu azotowego, 40% fluowodoru i kwasu octowego lodowatego w stosunku obje¬ tosciowym 20 : 12 : 12. Linia przerywana R' (fig. 5) wskazuje w przyblizeniu zarys powie¬ rzchni po procesie trawienia. Warstwa maskuja¬ ca R zostanie potem usunieta i calosc dla osiag¬ niecia czystej powierzchni typu — p miedzy czesciami 40 i 41 zostanie przez -crótki okres wytrawiona. Druciki polaczeniowe 40a, 4la i42a z niklu zo itana potem umieszczone na czes¬ ciach 40, 41 i 42 za pomoca lutowia cynowo — olowianego. Tak wykonany tranzystor zostanie umieszczony w znany sposób w obudowie. Jest oczywiste, ze polozenia tarcz 31 i 32 zostana tak przygotowane, aby stezenie zanieczyszczen w warstwie 2 w tych miejscach wykazywaly wy¬ starczajaca róznice, ze wzgledu na idosc zanie¬ czyszczen (bor i arsen) w kazdym polozeniu i o- trzymania strefy zrekrystalizowanej o przeciw¬ stawnym typie przewodnie/twa. Poniewaz bor dyfunduje do krzemu szybciej jak arsen, czas obróbki cieplnej zostanie tak wybrany, ze zosta¬ nie utworzona nieprzerwana warstwa 2 miedzy strefa zrekrystalizowana 37 i 38 a czescia 1 kry¬ sztalu krzemu.Tranzystor przedstawiony na fig 5, w którym strefa przejsciowa 'baza — kolektor jest zmniej¬ szona w sposób opisany na podstawie fig. 6, ma - wyzsza opornosc baza — kolektor niz odmiana tranzystora wedlug fig. 7, chociaz ostatni zresz¬ ta praktycznie jest podobny do tranzystorów uwidocznionych na fig. 5 i 6. Zlacze kolektora w przykladzie wykonania wedlug fig. 7 zostanie u- mieszczone na .stronie tarczy przeciwnej do strony, na której sa umieszczone zlacza bazy . i emitera.Wedlug powyzszego polozenie tarczy 32 zo¬ stanie przygotowane dla roztopienia dlatego, ze material warstwy 2 zostal usuniety, przez co zo¬ stanie osiagnieta (plaszczyzna, gdzie stezenie po¬ wierzchniowe i calkowita zawartosc boru w warstwie jest wystarczajaco mala, aby arsjer. ja¬ ko zanieczyszczenie przewazajace oddzialywal w zrekrystalizowanej strefie 38 o pa^zewodmosci typu — n, natomiast polozenie dla roztopienia tarczy 33 zostanie przygotowane przez usunie¬ cie calej warstwy 2 w odpowiednim miejscu. Po¬ lozenia dla roztopienia moga byc takze dlatego przygotowane, ze dyfuzja boru zostanie prze¬ prowadzona stopniowo i w znany sposób czesc powierzchni tarczy z krysztalu krzemu typr. — n zostanie oslonieta przez warstwe tlenków podczas kazdego stopnia dyfuzji. W pierwszym stopniu na oddzialywanie gazowego boru jesi - 5 -wystawiona jedynie czesc powierzenni odpowia¬ dajaca plaszczyznie 8 na fig. 5, w drugim stop¬ niu sa wystawione jedynie powierzchnie odpo¬ wiadajace plaszczyznom 8 i 9 tak, ze powierz¬ chnia tarczy nie ma róznych plaszczyzn, gdzie dyfuzja dla kazdego polozenia jest rózna, prze¬ czym warstwa jest gruba, a krzywa wedlug fig. 2 wyznaczona przez pelna linie odpowiada sta¬ nowisku, które odpowiada plaszczyznie 8 wedlug fig. 5, podczas, gdy ciensza warstwa ?dpowied- ndo. do stanu wskazanego po prawej stronie kreskowanej linii na fig. 2 zostanie otrzymana w -miejscach odpowiadajacych plaszczyznie 9 ria fig. 5, natomiast warstwy dyfuzyjnej nie o- trzyma sie w miejscu, które odpowiada albo plaszczyznie 10 na fig. 5, albo powierzchni leza¬ cej naprzeciwko elementu pólprzewodnikowego, co odpowiada stanowi opisanemu na fig. 7.Nastepnie zostanie opisana odmiana sposobu wykonania wedlug wynalazku. Tarcza krzemo¬ wa w postaci pojedynczego krysztalu zawieraja* ca zanieczyszczenia fosforowe o wymiarach 3 x 2 x 0,15 mim. ma opornosc wlasciwa 2 Q cm.Bor z fazy gazowej dyfunduje do tarczy w spo¬ sób opisany przy omawianiu fig. 1, przy czyni zostanie otrzymane srednie stezenie okolo 4 x 1018 nosników ladunku typu — p na cm3 w zdyfuz- jonowanej warstwie typu p o grubosci okolo 6 \i.Warunki dyfuzji boru sa nastepujace. Zawartosc Wody w gllikolu dwuetyflenowym wynosi 1%, a jego temperatura 0°C. Azot przeplywa w ilosci 0,5 litra na minute. Powierzchnia czólenka wy¬ nosi 0,6 cm', a zródla par boru i tarcza sa utrzy¬ mywane przez okres dwóch godzin w tempera¬ turze 1200°C.Wszystkie powierzchnie tarczy zostana nastep¬ nie wytrawione, z wyjatkiem jednej z dwóch wiekszych powierzchni, aby usunac wastwe zdyfuzjewana i otrzymac element, który sklada sie z czesci 43 typu — n zwarstwa zdyfuzjowana typ — p 44 wedlug fig. 8.Dwie tarcze z cyny o srednicy okolo 0,4 mm i grubosci 0,1 mm zostana umieszczone oddziel¬ nie w odleglosci okolo 0,6 mm od ich osi; pra¬ wie po srodku warstwy typu — p 44, nastepnie calosc zostanie ogrzana do temperatury okolo 1000°C przez okres 5 minut w piecu opisanym na fig. 4. W tym przypadku nie zostana dopro¬ wadzone pary arsenu.Otrzymany po ochlodzeniu wyrób jest przed¬ stawiony na fig. 9, czesci 45 i 46 sa przylgnie¬ te kazda nad zkrystalizowana strefa 41 do war¬ stwy 44. Dla zlaczenia potrzebne jest teraz niez¬ naczne stopienie tych elementów, poniewaz cy¬ na lekko przylega do powierzchni warstwy 44.Potem na powierzchni czesci 46 zostanie na¬ niesione aluminijuni i bor na przyklad przez po¬ malowanie za pomoca szczotki zawiesina w to¬ luenie, zlozona z 50% aluminium i 50% boru w stosunku wagowym.Calosc zostanie ponownie wprowadzona do pieca, podczas gdy arsen 30 zostanie umieszczo¬ ny w zaglebieniu 25 (fig. 4), a nastepnie przez ruire 24 przeplynie strumien wodoru i par arse¬ nu.Arsen zostanie ogrzany do temperatury oko¬ lo 200° C nim element 44 i 43 osiagnie tempera¬ ture okolo 1080°C, w której to temperaturze ele¬ ment zostanie przetrzymany przez 22 minuty.Fig. 10 przedstawia wyrób po ochlodzeniu ca¬ losci. Podczas ogrzewania zachodzi roztopienie i dyfuzja, przy czym arsen zostanie pobrany przez roztepicny metal z powietrza.Po lewej stronie zostaje roztopiona czesc, któ¬ ra zawiera cyne, krzem, bor i arsen. Arsen ma przewazajacy wjplyw w strefie zrekrystalizowa- nej 48, która powstaje przy ochlodzeniu tak, ze strefa 48 wykazuje przewodnosc typu — n.Po prawej stronie powstaje roztopiona czesc, która zawiera cyne, krzem, ibor i arsen. W stre¬ fie zrekrystalizowainej 50, która powstaje przy ochladzaniu przewaza dzialanie boiu i alumi¬ nium tak, ze strefa 50 ma przewTodnosc typu — p.Czesci 49 i 51 skladajace sie z zakrzepnietego materialu elektrodowego zostana utwaizone jed¬ noczesnie po ochlodzeniu.Podczas roztapiania, roztopiony metal przeni¬ ka przez warstwe dyfuzyjna 44 i nastepuje dal¬ sza dyfuzja z powierzchni granicznej miedzy roztopionym i zakrzepnietym metalem albo z czesci zrekrystalizowanej. W kazdym tym przy¬ padku przewazajaca jest dyfuzja zanieczyszczen akceptorów, poniewaz one szybciej dyfunduja do krzemu niz arsen i dalsza dyfuzja tworzy te¬ go rodzaju warstwe typu —p pod zrekrystalizo- wana sitrefa 48 i 50, ze na nowo zostanie otrzy¬ mana nieprzerwana warstwa dyfuzyjna 44 typu — p. Warsitwa dyfuzyjna pod strefa zrekrystalir zowana 48 zostanie w zasadzie utworzona przez dyfuzje boru, który zostanie otrzymany z rozto¬ pionego materialu elementu 1, t.Miedzy warstwami 49 i 51 (fig. 10) zostanie u- mieszczona w sposób opisany przy omawianiufig. 6 warstwa maskujaca, a dlugosc przejecia baza — kolektor zostanie zmniejszona przez wy¬ trawienie.Trzeci styk zostanie umieszczony albo w spo¬ sób opasany na fig. 7, albo przez roztopienie po¬ zloconej plytki niklowej, przy czym w kazdym z tych przypadków zostanie wytworzone pola¬ czenie ze spodnia strona tarczy 43, 44, jak to jest uwidocznione na fig. 11. W tym przypadku jest przedstawiona plytka niklowa 52 z przyna¬ lezna do niej strefa 53 typu — n. Fig. 11 przed¬ stawia oprócz tego wynik trawienia.Wreszcie z czesciami 49 i 50 zostana utworzo¬ ne polaczenia przez przylulowanie lutowiem drucików niklowych 49a i 50a. Tak otrzymany tranzystor moze byc zaopatrzony w znany spo¬ sób w oibudowe.Przy wytworzeniu przyrzadu nalezy zwrócic uwage nie tylko na grubosc umieszczonych przed roztopieniem warstw dyfuzyjnych, lecz takze na stezenie boru w tych czesciach warst¬ wy, które podczas roztapiania rozplywaja sie, po¬ niewaz bedaca do dyspozycji calkowita ilosc boru ma znaczenie przy wyznaczaniu typu przewodnic¬ twa otrzymywanych zrekrysitalizowanych stref. PL

Claims (14)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wytwarzania przyrzadu pólprzewod¬ nikowego, w którym na warstwie przynalez-^ nej do elementu pólprzewodnikowego jedne¬ go typu przewodnictwa, która tworzy z dal¬ sza czescia elementu pólprzewodnikowego zlacze p — n, zostana umieszczane elektrody prostownikowa i zwykla, przewaznie obok siebie, przez roztopienie na warstwie pewnej ilosci materialu elektrodowego, znamienny tym, ze na warstwie przynaleznej do elemen¬ tu pólprzewodnika zostana roztopione dwie drobiny materialu elektrodowego o tym sa¬ mym skladzie i przewaznie o tej samej war¬ tosci, przy czym pod roztopionym materialem elektrodowym powstaje strefa dyfuzyjna jed¬ nego typu przewodnictwa przez dyfuzje za¬ nieczyszczen tego typu, które w zasadzie zo* stana otrzymane z czesci warstwy rozpusz¬ czonych w materiale elektrodowym i tak, przy pierwszej partii matetialu elektrodowe¬ go, powstaje zrekrystalizowana strefa od¬ miennego typu przewodnosci, wskutek obec¬ nosci zanieczyszczen tego typu, w roztopio¬ nym materiale elektrodowym, a przy drugiej partii materialu elektrodowego powstaje dla¬ tego zrekrystalizowana strefa jednego typu przewodnictwa, poniewaz przez ten material elektrodowy zostanie wchlonieta wieksza ilosc zanieczyszczen jednego typu przewod¬ nosci niz przez pierwszy material elektrodowy.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tyra, ze material elektrodowy zostaie roztopiony jed¬ noczesnie, przy czym ciekly metal przenika przez wanstjwe.
  3. 3. Sposób wedlug zastrz. 1 do 3, znamienny tym, ze róznice miedzy typaimi przewodnos¬ ci dwóch -zrekrystalizowanych stref uzyskuje sie przez roztopienie dwóch ilosci materialu elektrodowego, w miejscach warstwy, gdzie zawartosc zanieczyszczen jednego typu prze¬ wodnosci w warstwie jest rózna.
  4. 4. Sposób wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze maiejsca warstwy, gdzie zawartosc zanieczy¬ szczen jest rózna, zostanie uzyskana przez miejscowe usuniecie czesci powierzchni war¬ stwy, przy czym pierwszy material elektro¬ dowy zostanie roztopiony n«a cienszej czesc' warstwy niz drugi material elektrodowy.
  5. 5. Sposób wedlug zastrz. 4, znamienny tym, ze miejsca warstwy, gdzie zawartosc zanieczy¬ szczen jest rózna zostana otrzymane dlatego, ze warstwe w elemencie pólprzewodnikowym uzyskuje sie przez dyfuzje, przy czym glebc*- kosc dyfuzji jest miejscami wieksza, jezeli pierwszy material elektrodowy zostanie roz¬ topiony na cienszej czesci warstwy niz drugi material elektrodowy.
  6. 6. Siposób wedlug zastrz. 1 do 3,- znamienny tym, ze róznice miedzy typami przewodnosci mie¬ dzy dwoma zrekrysitalizowanymi strefami u- zyskuje sie przez wprowadzenie do drugiego materialu elektrodowego dodatkowych zanie¬ czyszczen jednego typu przewodnosci.
  7. 7. Sjposób wedlug zastrz- 1 — 6, znamienny tym, ze material elektrodowy zostanie przy¬ twierdzony do warstwy przez krótkotrwale iroztopienie, po czyni dodatkowe zanieczy¬ szczenia zostana naniesione na drugi material elektrodowy a nastepnie materialy elektrodo¬ we zostana ponownie czasowo roztopione, aiby oitrzyimac strefy dyfuzyjne i zrekrystali- zowane*
  8. 8. Sposób wedlug zastrz. 1 — 7, znamienny tym, ze zanieczyszczenia odmiennego typu przewo¬ dnosci zostana dodane do roztopionego ma¬ terialu elektrodowego z otaczajacej atmosfe¬ ry.
  9. 9. Sposób wedlug zastrz. 1 — 7, znamienny tym, ze material elektrodowy przeznaczony do roz- - 7 -topienia zawiera juz w calosci lub czescio¬ wo zanieczyszczenia odmiennego typu prze¬ wodnosci.
  10. 10. Sjposób wedlug zastrz. 1 — 9, znamienny tym, ze element pólprzewodnikowy z warstwa jednego typu przewodnictwa, do której ma¬ teria! elektrodowy ma byc wprowadzony, sklada sie z krzemu.
  11. 11. Sposób wedlug zastrz. 10, znamienny tym, ze warstwa jednego typu przewodnictwa, do której material elektrodowy ma byc wpro¬ wadzony jest otrzymywana przez dyfuzje bo¬ ru do elementu pólprzewodnikoiwego.
  12. 12.Sfeosób wedlug zastrz. 10 i 11, znamieoiy tym, ze stosowane ilosci materialu elektrodo ¦ wego, skladajacego sie z cymy albo stopu ar¬ senowo — cynowego stapia sie.
  13. 13. Sposób wedlug zastrz. 6, 7, 10, 11, 12, zna¬ mienny tyni, ze do materialu elektrodowego dodaje sie aluminium i (albo) bor, na przy¬ klad w postaci zawiesiny w cieczy.
  14. 14. Slposób wedlug zastrz. 1 — 4, znamienny tym, ze czesc elementu pólprzewodnikowego, nie przynalezna do warstwy, zaopatruje sie w styk oporowy tak, ze powstaje konstrukcja tranzystora. N. V. P h i 1 i p s' G-loe-ilarnipenfabrieke.il Zastepca: mgr Józef Kaminski rzecznik patentowy FIG.4 2 3? i 9 ? *• 41 9 39! 42a 42 „ ,40a s* 37^408 38141 9 W m^^aa******^*****^ »" 42 j.42a R' FIG.7 LfW31" «-^B liii1" FIG.6 48^^49 FIG. 10 FI&11 294©. RSW „Prasa", Kielce, MBLIOTEK. \ Urzedu P~;e"ni .*..<• ! PL
PL46681A 1962-02-17 PL46681B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL46681B1 true PL46681B1 (pl) 1963-02-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3901042C2 (pl)
US20060162766A1 (en) Back-contacted solar cells with integral conductive vias and method of making
US4320251A (en) Ohmic contacts for solar cells by arc plasma spraying
So et al. Reliability studies of surface mount solder joints-effect of Cu-Sn intermetallic compounds
CZ298832B6 (cs) Zpusob výroby trubkového tercíku pro katodová rozprašovací zarízení
CN1025905C (zh) 一种制造太阳能电池接触的改进方法
CA2070420A1 (en) Electrical contacts and method of manufacturing same
US2857296A (en) Methods of forming a junction in a semiconductor
US2913642A (en) Method and apparatus for making semi-conductor devices
US4132571A (en) Growth of polycrystalline semiconductor film with intermetallic nucleating layer
PL46681B1 (pl)
DE10056726A1 (de) Multikristallines Silicium mit einem geringen Anteil an aktiven Korngrenzen
US3441454A (en) Method of fabricating a semiconductor by diffusion
US3525146A (en) Method of making semiconductor devices having crystal extensions for leads
US3188251A (en) Method for making semiconductor junction devices
US3108359A (en) Method for fabricating transistors
DE955624C (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleitereinrichtungen
Tsumura On the theory of modification of aluminium-silicon alloys
EP0101762B1 (de) Verfahren zur Thermomigration flüssiger Phasen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1158182B (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen
US4170491A (en) Near-surface thermal gradient enhancement with opaque coatings
US3151008A (en) Method of forming a p-nu junction
CN101467234B (zh) 生产固相片的方法和使用固相片的光电池
DE1232264B (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes
ES2217359T3 (es) Difusion in situ de impurezas dopantes durante el crecimiento de reticula dendritica de una cinta cristalina de silice.