2 OpublikojpaiH^dnja 19 kwietnia 1962 r. fi^fr*- r POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45540 KI. 42 k, 46 Zaklady Aparatury Ochrony Roslin *) im. Gen. K. Swierczewskiego Wroclaw, Polska Defektoskop do wykrywania pekniec w elementach metalowych i automatycznego ich sortowania Patent trwa od dnia 5 grudnia 1960 r.Defektoskop wedlug wynalazku jest urzadze¬ niem, które dokonuje pomiaru wielkosci pek¬ niec w elementach metalowych i mierzona wielkosc podaje do ukladu elektroniczno-prze- kaznikowego, dokonujacego sortowania bada¬ nych elementów.Zastosowanie defektoskopu pozwala na za¬ stapienie dotychczas stosowanego sposobu sor¬ towania za pomoca przegladania kazdej sztuki.Na przyklad przegladanie waleczków stalo¬ wych przeznaczonych do lozysk tocznych od¬ bywalo sie w ten sposób, ze waleczki ustawia- . ne pod odpowiednim katem w stosunku do zspdla swiatla byly toczone po ubranej w bia¬ la rekawiczke dloni przegladajacego. Metoda wzrokowa jest czasochlonna i nuzaca, co stwa- *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze wspól¬ twórcami wynalazku sa mgr inz. Stanislaw Checinski i mgr inz. Henryk Szczegodzinski. rza mozliwosci przeoczenia pekniec. Dalsza zaleta defektoskopu w stosunku do metody wzrokowej jest wykrywanie równiez pekniec wewnetrznych, niewidocznych na powierzchni.Zasadnicze podzespoly de(fektpskopu oraz polaczenia pomiedzy nimi przedstawiane zosta¬ ly na zalaczonym rysunku.Sa to generator drgan sinusoidalnych czesto¬ tliwosci akustycznej, uklad odpowiednich czuj¬ ników, wzmacniacz pradu zmiennego, uklad poszerzajacy impulsy, uklad przekaznikowy sortujacy, uklad zabezpieczajacy przed wadli¬ wym sortowaniem, uklad napedzajacy podaj* nik detali do sortowania, uklad zasilajacy i uklady pomiarowo-kontrolne.Generator 1 sfclada sie z dwustopniowego wzmacniacza z wyjsciem wtórnikowym i most¬ kiem Viena na wejsciu, ustalajacym czestotli¬ wosc i amplitude drgan. W sklad generatora 1 wchodza lampy A, B, C oraz podzespoly, za-znaczone na rysunku linia przerywana. Gene¬ rator 1 powinien posiadac moc nie mniejsza od 2W iprzy dobrej stabilnosci amplitudy i cze¬ stotliwosci drgan. Amplituda i czestotliwosc drgan dobierane sa w zaleznosci od rodzaju sortowanych elementów.Uklad czujników sklada sie z dwóch iden¬ tycznych, sprzezonych ze soba czujników po¬ miarowego 2 i wzorcowego 3. Kazdy czujnik sklada sie z dwóch odpowiednio sprzezonych magnetycznie cewek, pierwotnej i wtórnej.Uzwojenia pierwotne czujników polaczone sa szeregowo £ zasilone z generatora 1. Uzwojenia wtórne polaczone sa przeciwsobnie. Do czuj¬ nika wzorcowego 3 wklada sie na stale element nie wykazujacy pekniec, zbadany inna metoda, natomiast przez czujnik pomiarowy 2 sa prze¬ mieszczone elementy badane. Jezeli przez czujnik pomiarowy 2 (przesuwa sie element o tych samych parametrach elektrycznych, magnetycznych, mechanicznych i technologicz¬ nych, to na zaciskach uzwojen wtórnych na¬ piecie w odpowiedniej chwili zanika. Jezeli przesuwa sie element o tych samych para¬ metrach, lecz posiadajacy pekniecia, to napiecie na zaciskach uzwojen wtórnych nie zanika.Nie zanika takze pomimo braku pekniecia, jezeli kontrolowany element nie posiada tych samych parametrów co wzorcowy.Mozna jednak, jak to zostalo zastosowane w defektoskopie wedlug wynalazku, tak do¬ brac wymiary cewek, liczbe zwojów, odleglosci miedzy uzwojeniami (rozproszenia strumienia magnetycznego), wielkosc napiecia zasilajacego i jego czestotliwosc, ze czujniki reagowac be¬ da jedynie na pekniecia.Róznice napiec uzyskana na stronie wtórnej ukladu czujników przyklada sie do wzmacnia¬ cza pradu zmiennego na lampach D i E, który wzmacnia przylozone napiecie. Wzmacniacz ten posiada dwa stopnie wzmocnienia — napiecio¬ wy i mocy. Na wyjsciu wzmacniacza znajduje sie uklad przeksztalcajacy wzmocnione napiecie zmienne na napiecie stale.Napiecie wyprostowane przylozone jest na siatke lampy F powodujac jej zablokowanie.Lampa ta stanowi z chwila odblokowania opór rozladowujacy kondensator I. Gdy na wejsciu wzmacniacza napiecie zanika, wówczas konden¬ satom I zostaje rozladowany w bardzo krótkim czasie. Czas ten odpowiada czasowi przelotu elementu badanego przez odcinek pomiarowy czujnika 2. Czas ponownego naladowania kon¬ densatora I do pelnego napiecia jest znacznie dluzszy od czasu rozladowania i wiekszy takze od czasu zadzialania przekaznika 8.Zmiany napiecia na kondensatorze I podawane sa na siatke sterujaca lampy G, w anodzie której znajduje sie przekaznik 8. Przekaznik ten jest przekaznikiem spolaryzowanym. Jedno jego uzwojenie zasilane jest pradem stalym o odpowiedniej wartosci, a drugie pradem •anodowym lampy G. Z chwila pojawienia sie 1 impulsu na siatce sterujacej lampy G przekaz¬ nik 8 zamyka obwód cewki przekaznika 9.Z chwila zadzialania przekaznika 9, zamykaja sie styki 9b, które przedluzaja czas dzialania tego przekaznika. Równoczesnie zostaja wla¬ czone styki 9a podajace napiecie na konden¬ sator K i styki 9c zamykajace obwód elektro¬ magnesu 7. Elektromagnes 7 otwiera klape 4 w rynience 5, po której przesuwa sie badany element. Klapa 4 zostaje otwarta tak dlugo, jak dlugo nie zjawi sie w jej otworze dobry ele¬ ment badany, który jednoczesnie otwiera sty¬ ki 6 rozlaczajac obwód cewki przekaznika 9.Wlaczanie ukladu zapewniaja wlaczniki — wy¬ laczniki 11, 12.Zasade dzialania ukladu zabezpieczajacego od wadliwego sortowania oparto na meto¬ dach uzywanych w statyce. Badania wykazaly, ze jest niemozliwe podanie na czujnik po¬ miarowy 2 kolejno kilku elementów peknietych, co byloby jedyna przyczyna uruchomienia ukla¬ du zabezpieczajacego od wadliwego sortowa¬ nia w przypadku, gdy wszystkie czlony urza¬ dzenia dzialaja prawidlowo. Poniewaz konden¬ sator K doladowywany jest tylko wówczas, gdy przelatuja elementy nie pekniete, lampa H jest caly czas zablokowana i wlaczone sa styki lOa. Styki te zamykaja obwód stycznika 13, podajacego napiecie na silnik M napedzajacy podajnik elementów. Z chwila, gdy którykol¬ wiek z czlonów urzadzenia zacznie dzialac wadliwie, na kondensator K nie zostanie po¬ dane napiecie. Kondensator ten rozladuje sie po scisle okreslonym czasie poprzez odpowiedni opór. W ten sposób lampa H zostaje odbloko¬ wana i styki lOa zostaja rozwarte, zas podajnik zostaje wylaczony.Uklady zasilajace sluza do zasilania pod¬ zespolów pradem o odpowiednim napieciu.Uklady pomiarowo-kontrolne skladaja sie z tcrzech przyrzadów, z których przyrzad 14 sluzy do ustawienia odpowiedniej wartosci pra¬ du przekaznika 8, przyrzad 15 do kontroli na¬ piecia na wyjsciu generatora 1, a przyrzad 16 do kontroli czestotliwosci generatora h — 2 PL