PL43943B1 - - Google Patents

Description

OPIS PATENTOWY Nr 43943 KI 42 d, 2/10 Instytut Obróbki Skrawaniem *) Kraków, Polska Dodatkowy uklad swietlny do przeprowadzania pomiarów wglebnych nierównosci metoda cienia za pomoca mikroskopów warsztatowych i uniwersalnych Patent trwa od dnia 7 lutego 1959 r.Y Za pomoca dotychczas stosowanych mikrosko¬ pów warsztatowych i uniwersalnych mozna prze¬ prowadzic pomiary tylko w plaszczyznie prosto¬ padlej do osi podluznej ukladu optycznego mi¬ kroskopu.Pomiary wglebne — nierównosci mozna mie¬ rzyc na specjalnie do tego celu budowanych urzadzeniach jak: „podwójny mikroskop Linni- ka", „glebokosciomierz WB4 W. Biernawskiego" i inne.Sposób ten ma te wade, ze urzadzenia te jako specjalne sluza tylko do pomiarów nierównosci o stosunkowo malym zakresie i dlatego sa bardzo malo wykorzystane. Ponadto pomiary wglebne nierównosci mierzy sde sposobem posrednim za *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze wspóltwór¬ cami wynalazku sa inz. Józef Pluzek, Wladyslaw Nowak, doc. dr inz. Andrzej Sadowski i mgr inz.Stanislaw Swigon, pomoca odbitek stykowych. Sposób ten jest rów¬ niez bardzo pracochlonny.Uklad swietlny do pomiarów wglebnych nie¬ równosci metoda cienia za pomoca mikroskopów warsztatowych i uniwersalnych wedlug wynalaz¬ ku polega na tym, ze do wymienionych mikro¬ skopów wprowadza sie dodatkowy uklad swietl¬ ny, którego promienie padaja pod katem 45° na badana powierzchnie.Dodatkowy uklad swietlny wedlug wynalazku zwieksza zakres zastosowania mikroskopów war¬ sztatowych i uniwersalnych, przez umozliwienie przeprowadzania za nich pomiarów nierównosci badanej powierzchnli.Zasada dzialania mikroskopów warsztatowych i uniwersalnych z dodatkowym ukladem swietl¬ nym do pomiarów wglebnych polega na obser¬ wacji cienia, odwzorujacego 'nierównosci bada¬ nej powierzchni.Na rysunku uwidoczniony jest schemat mikro¬ skopu warsztatowego z dodatkowym uklademswietlnym A. Promienie swietlne, wychodzace ze zródla swiatla 2, przechodza przez kondensor 3 i przed plytka szklana (w zaleznosci od potrzeb biegna jako*wasfck smuga cienia lub wiazka swiatla) podaja na lustro 5, gdzie zalamuja sie pod wlasciwym katem i zostaja skierowane przez obiektyw 6 na badana powierzchnie 8 pod katem 45°. Promienie te odbite od badanej powierzchni S i przyslony 7 przechodza przez obiektyw 26, 25, 24 i jego przyslone 23, uklad pryzm Porro 22, tworza na siatce 19 rzeczywisty obraz badanej powierzchni. Przy zastosowaniu glowicy rewol¬ werowej 20 w Okularze 17 obserwuje sie badana powierzchintie 8 i cien nierównosci badanej po¬ wierzchni oraz zarys wzorcowy naniesiony na glowicy rewolwerowej 20. PL

Claims (1)

1. Z a s t r zeze ni a patentowe 1. Dodatkowy uklad swietlny do pomiarów wglebnych nierównosci metoda cienia za po¬ moca mikroskopów warsztatowych i uniwer¬ salnych, znamienny tym, ze sklada sie z oswietlacza, zawieszenia i przyslony. Dodatkowy uklad swietlny wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze oswietlacz sklada sie ze zródla swiatla, kondensora, lustra, przyslony i obiektywu. Dodatkowy uklad swietlny wedlug zastrz. 1 i 2, znamienny tym, ze zawieszenie powoduje sztywne umocowanie oswietlacza w takim po¬ lozeniu, by wiazka promieni swiatla wycho¬ dzaca z niego rzucala cien przyslony na ba¬ dana powierzchnie pod katem 45°, co umozli¬ wia obserwacje i pomiar zarysów wglebnych powierzchni odwzorowanych cieniem i nie powiekszonych and nie zmniejszonych. Instytut Obróbki Skrawaniem 2026. RSW „Prasa", Kielce PL