PL424109A1 - Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy - Google Patents
Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocyInfo
- Publication number
- PL424109A1 PL424109A1 PL424109A PL42410917A PL424109A1 PL 424109 A1 PL424109 A1 PL 424109A1 PL 424109 A PL424109 A PL 424109A PL 42410917 A PL42410917 A PL 42410917A PL 424109 A1 PL424109 A1 PL 424109A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- power
- diode
- measured
- stage
- led
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Przedmiotem zgłoszenia jest sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy, mający zastosowanie przy kontroli jakości elementów półprzewodnikowych dla przemysłu elektronicznego. Sposób pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy, wykorzystujący w charakterze parametru termoczułego napięcie na mierzonej diodzie spolaryzowanej w kierunku przewodzenia, realizowany w pięciu etapach obejmujących kolejno pomiary i obliczenia, przy czym pierwszy etap stanowi kalibracja charakterystyki termometrycznej i wyznaczenie jej nachylenia F oraz wartości napięcia przewodzenia uL przy temperaturze równej Ta, a czwarty etap obejmuje obliczenie wartości rezystancji termicznej Rth ze wzoru analitycznego. Sposób ten charakteryzuje się tym, że w drugim etapie pomiaru dioda pracuje w zakresie przebicia, po uzyskaniu stanu ustalonego termicznie mierzona jest moc PH wydzielana w diodzie, następnie w etapie trzecim dioda jest polaryzowana w kierunku przewodzenia prądem o wartości identycznej jak w czasie kalibracji, a bezpośrednio po przełączeniu prądu diody mierzone jest napięcie przewodzenia tej diody uH, w czwartym etapie wyliczana jest wartość Rth ze wzoru (A). W etapie piątym dioda pracuje w zakresie przewodzenia i mierzona jest wartość napięcia przewodzenia tego elementu, po uzyskaniu stanu termicznie ustalonego mierzona jest wartość mocy wydzielanej w diodzie Pp, w chwili t = 0 rozpoczyna się szósty etap pomiaru w którym następuje zmniejszenie wartości prądu przewodzenia do wartości stosowanej w czasie kalibracji i pomiar napięcia przewodzenia up, w siódmym etapie moc promieniowania optycznego Ps wyliczana jest ze wzoru (B). Układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diod LED mocy zawierający mierzoną diodę LED mocy, trzy zasilacze napięciowe, dwa rezystory, woltomierz, amperomierz, termostat, dwa przełączniki, przetwornik analogowo-cyfrowy i komputer charakteryzuje się tym, że zasilacz napięciowymi (1) przez rezystor (3) jest połączony z anodą mierzonej diody LED 5, zasilacz napięciowy (2) i zasilacz napięciowy (10) są połączone do zacisków przełącznika dwupozycyjnego (11), który jest szeregowo połączony z rezystorem (4) amperomierzem (6) oraz przełącznikiem (8) do anody diody LED, a katoda diody LED jest zwarta do masy, woltomierz (7) i wejście przetwornika analogowo-cyfrowego (12) są połączone równolegle do diody LED, która umieszczona jest w termostacie (9), natomiast komputer (13) zawiera przetwornik analogowo-cyfrowy (12) oraz układy sterujące przełącznikami pozycyjnymi (8 i 11).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL424109A PL234140B1 (pl) | 2017-12-29 | 2017-12-29 | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL424109A PL234140B1 (pl) | 2017-12-29 | 2017-12-29 | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PL424109A1 true PL424109A1 (pl) | 2019-07-01 |
PL234140B1 PL234140B1 (pl) | 2020-01-31 |
Family
ID=67105573
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PL424109A PL234140B1 (pl) | 2017-12-29 | 2017-12-29 | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
PL (1) | PL234140B1 (pl) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113899463A (zh) * | 2021-12-10 | 2022-01-07 | 如果科技有限公司 | 温度采样校正电路、温度采样装置和车辆 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02118470A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-02 | Nec Corp | バーンイン装置 |
JPH06281693A (ja) * | 1992-08-28 | 1994-10-07 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置の熱抵抗測定方法 |
JP2002189054A (ja) * | 2000-12-20 | 2002-07-05 | Canon Inc | 半導体素子の信頼性試験装置 |
CN202008518U (zh) * | 2010-12-27 | 2011-10-12 | 同方光电科技有限公司 | 一种led降额曲线的测量装置 |
CN103576069A (zh) * | 2013-11-08 | 2014-02-12 | 桂林机床电器有限公司 | 一种测量功率型led热阻的方法 |
US20150260782A1 (en) * | 2011-08-21 | 2015-09-17 | Dong Chen | Predicting led parameters from electroluminescent semiconductor wafer testing |
-
2017
- 2017-12-29 PL PL424109A patent/PL234140B1/pl unknown
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02118470A (ja) * | 1988-10-28 | 1990-05-02 | Nec Corp | バーンイン装置 |
JPH06281693A (ja) * | 1992-08-28 | 1994-10-07 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体装置の熱抵抗測定方法 |
JP2002189054A (ja) * | 2000-12-20 | 2002-07-05 | Canon Inc | 半導体素子の信頼性試験装置 |
CN202008518U (zh) * | 2010-12-27 | 2011-10-12 | 同方光电科技有限公司 | 一种led降额曲线的测量装置 |
US20150260782A1 (en) * | 2011-08-21 | 2015-09-17 | Dong Chen | Predicting led parameters from electroluminescent semiconductor wafer testing |
CN103576069A (zh) * | 2013-11-08 | 2014-02-12 | 桂林机床电器有限公司 | 一种测量功率型led热阻的方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113899463A (zh) * | 2021-12-10 | 2022-01-07 | 如果科技有限公司 | 温度采样校正电路、温度采样装置和车辆 |
CN113899463B (zh) * | 2021-12-10 | 2022-04-19 | 如果科技有限公司 | 温度采样校正电路、温度采样装置和车辆 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PL234140B1 (pl) | 2020-01-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102072783B (zh) | Led结温测试方法 | |
EP3070446B1 (en) | Thermo wire testing circuit and method | |
EA202091784A1 (ru) | Аэрозольное устройство и способ изготовления аэрозольного устройства | |
CN110940432A (zh) | 温度感测电路 | |
US9980336B2 (en) | Light receiving device, light emitting device and light receiving/emitting device | |
JP5911450B2 (ja) | パワー半導体デバイスの温度特性演算装置 | |
Siegal | Practical considerations in high power LED junction temperature measurements | |
PL424109A1 (pl) | Sposób i układ do pomiaru rezystancji termicznej i mocy promieniowania optycznego diody LED mocy | |
Hantos et al. | Different questions of today's LED thermal testing procedures | |
CN106533322B (zh) | 马达控制中的mosfet开关温度的计算 | |
Mashkov et al. | Method for in-situ power LEDs' junction temperature measurements | |
CN110446910A (zh) | 多晶片温度控制装置及用于控制多晶片功率模块的温度的方法 | |
US9488153B2 (en) | Method for operating a glow plug, and glow plug control device | |
Abbing et al. | Light-emitting diode junction-temperature sensing using differential voltage/current measurements | |
CN108303628B (zh) | 一种利用矩形波信号驱动半导体器件进行结温测试的方法 | |
Kalker et al. | Online junction-temperature extraction method for SiC MOSFETs utilizing turn-on delay | |
PL424110A1 (pl) | Sposób i układ do pomiaru własnych i wzajemnych rezystancji termicznych w module elektroizolowanym | |
Iero et al. | A technique for the direct measurement of the junction temperature in power light emitting diodes | |
Zhou et al. | High temperature stability evaluation of SiC MOSFETs | |
RU2707757C1 (ru) | Способ снижения погрешности измерения температуры электрическим мостом | |
Choi et al. | Integrated microsensor for precise, real-time measurement of junction temperature of surface-mounted light-emitting diode | |
RU2547882C2 (ru) | Способ измерения температуры среды | |
RU2602400C1 (ru) | Устройство для измерения криогенных температур | |
EP4372342A1 (en) | Temperature sensor calibration for electronic devices | |
RU129229U1 (ru) | Устройство для измерения температуры среды |