PL412267A1 - Układ pomiarowy do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego oraz sposób wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego - Google Patents

Układ pomiarowy do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego oraz sposób wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego

Info

Publication number
PL412267A1
PL412267A1 PL412267A PL41226715A PL412267A1 PL 412267 A1 PL412267 A1 PL 412267A1 PL 412267 A PL412267 A PL 412267A PL 41226715 A PL41226715 A PL 41226715A PL 412267 A1 PL412267 A1 PL 412267A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
optical system
focal plane
focal length
determining position
focal
Prior art date
Application number
PL412267A
Other languages
English (en)
Other versions
PL229493B1 (pl
Inventor
Wojciech Wasilewski
Radosław Chrapkiewicz
Original Assignee
Uniwersytet Warszawski
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Uniwersytet Warszawski filed Critical Uniwersytet Warszawski
Priority to PL412267A priority Critical patent/PL229493B1/pl
Priority to PCT/IB2016/000583 priority patent/WO2016181206A1/en
Publication of PL412267A1 publication Critical patent/PL412267A1/pl
Publication of PL229493B1 publication Critical patent/PL229493B1/pl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/40—Optical focusing aids
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4272—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having plural diffractive elements positioned sequentially along the optical path
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/4272—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having plural diffractive elements positioned sequentially along the optical path
    • G02B27/4277—Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect having plural diffractive elements positioned sequentially along the optical path being separated by an air space

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Zgłoszenie dotyczy układu pomiarowego do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego, zawierającego, umieszczone w osi optycznej układu optycznego (4), źródło światła (1), ruchomy detektor (5) oraz co najmniej dwie jednakowe siatki dyfrakcyjne (2, 3), umieszczone pomiędzy źródłem światła (1) a układem optycznym (4). Zgłoszenie dotyczy także sposobu wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego, w którym układ optyczny (4) umieszcza się w układzie pomiarowym pomiędzy siatkami dyfrakcyjnymi (2, 3) a detektorem (5). Następnie co najmniej jedną siatkę dyfrakcyjną (2, 3) obraca się w osi układu dla uzyskania kąta pomiędzy szczelinami siatek dyfrakcyjnych (2, 3) różnego od zera oraz zmienia się pozycję detektora (5) wzdłuż osi optycznej układu optycznego (4), aż do znalezienia położenia płaszczyzny ogniskowej, w którym plamki na detektorze (5) nałożą się na siebie.
PL412267A 2015-05-08 2015-05-08 Układ pomiarowy do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego oraz sposób wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego PL229493B1 (pl)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL412267A PL229493B1 (pl) 2015-05-08 2015-05-08 Układ pomiarowy do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego oraz sposób wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego
PCT/IB2016/000583 WO2016181206A1 (en) 2015-05-08 2016-05-05 The measurement setup for determining position of focal plane and effective focal length of an optical system and the method of determining position of focal plane and effective focal length of an optical system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL412267A PL229493B1 (pl) 2015-05-08 2015-05-08 Układ pomiarowy do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego oraz sposób wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL412267A1 true PL412267A1 (pl) 2016-11-21
PL229493B1 PL229493B1 (pl) 2018-07-31

Family

ID=56322247

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL412267A PL229493B1 (pl) 2015-05-08 2015-05-08 Układ pomiarowy do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego oraz sposób wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego

Country Status (2)

Country Link
PL (1) PL229493B1 (pl)
WO (1) WO2016181206A1 (pl)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107643162B (zh) * 2017-08-28 2019-08-09 南京理工大学 一种双光栅焦距测量仪的标定方法
SG10201803290VA (en) * 2018-04-19 2019-11-28 Emage Vision Pte Ltd System and method for inspecting optical power and thickness of ophthalmic lenses immersed in a solution
CN112577718A (zh) * 2019-09-30 2021-03-30 北京芯海视界三维科技有限公司 实现光栅焦距检测的装置及光栅焦距检测仪
CN112577717A (zh) * 2019-09-30 2021-03-30 北京芯海视界三维科技有限公司 实现光栅焦距检测的方法及装置、光栅焦距检测仪
CN110849594B (zh) * 2019-11-28 2021-05-25 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种焦距检测系统
CN113916507B (zh) * 2021-10-11 2024-03-08 北京环境特性研究所 小空间高集成度红外共孔径光学系统测试装置及方法
CN113776789B (zh) * 2021-11-10 2022-01-11 武汉普赛斯电子技术有限公司 探测器的焦距测试方法
DE102023121451A1 (de) * 2023-08-10 2025-02-13 TRUMPF Lasersystems for Semiconductor Manufacturing SE Verfahren und Messsystem zur Bestimmung der effektiven Brennweite eines optischen Systems

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3912395A (en) * 1970-04-06 1975-10-14 Itek Corp Optical system calibration method
JP3435019B2 (ja) * 1997-05-09 2003-08-11 株式会社ニデック レンズ特性測定装置及びレンズ特性測定方法
JP2004069314A (ja) * 2002-08-01 2004-03-04 Olympus Corp 焦点距離測定装置
CN102313642B (zh) * 2011-08-30 2013-06-05 浙江大学 一种高精度长焦距透镜的焦距检测装置
CN102494873B (zh) * 2011-11-20 2014-05-07 中国科学院光电技术研究所 一种微透镜阵列焦距的测量方法
CN203216702U (zh) * 2013-03-27 2013-09-25 南京英田光学工程有限公司 长焦距光学系统的焦距测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
PL229493B1 (pl) 2018-07-31
WO2016181206A1 (en) 2016-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL412267A1 (pl) Układ pomiarowy do wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego oraz sposób wyznaczania położenia płaszczyzny ogniskowej i długości ogniskowej układu optycznego
DE112019006017A5 (de) Optische Messeinrichtung
IL278660B (en) Metrology of critical optical dimensions
DK3701420T3 (da) Kompakt optisk sensor til påvisning af fingeraftryk
EP3951335A4 (en) LIGHT SOURCE DEVICE FOR OPTICAL MEASUREMENT, SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD
EP4037552A4 (en) ANALYTE MEASUREMENT SYSTEM
EP3455645A4 (en) SYSTEMS AND METHOD FOR OPTICAL SPACING MEASUREMENT
IL283243A (en) Optical-mode selection for multi-mode semiconductor inspection
EA201800569A1 (ru) Система и способ для измерения рельсового пути
EP3610662C0 (en) CONFIGURATION OF A MULTICHANNEL TRANSMISSION INTENDED FOR TELEMETRIC ACCURACY
EP4279957A4 (en) DISTANCE MEASUREMENT SYSTEM
DK3895342T3 (da) Fremgangsmåde og anordning til måling af fysisk mængde på grundlag af rayleigh-bagudspredning
IL285924A (en) Methods and systems for detecting degraded lidar range measurement accuracy
DE112019002623T8 (de) Distanzmesssystem
EP3589938C0 (en) OPTOFLUIDIC ANALYTE DETECTION SYSTEM USING MULTIMODE INTERFERENCE WAVEGUIDES
EP3397949A4 (en) METHOD AND DEVICE FOR OPTIMIZING THE OPTICAL PERFORMANCE OF INTERFEROMETERS
EP3492221A4 (en) DEVICE FOR MEASURING MIS ALIGNMENT
DK3280972T3 (da) Målesystem og metode til optisk måling af et objekt
BR112015029784A2 (pt) sistema, ferramenta de medição e método
EP3735600C0 (en) RADIATION DETECTOR CAPABLE OF MEASURING INTERACTION DEPTH
EP3671274A4 (en) HIGH SPEED LASER DISTANCE MEASURING DEVICE
EP3273225A4 (en) MULTIFOCAL SPECTROSCOPIC MEASURING DEVICE AND OPTICAL SYSTEM FOR MULTIFOCAL SPECTROSCOPIC MEASUREMENT DEVICE
EP4460679C0 (en) OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM
EP3673255A4 (en) OPTICAL SENSOR FOR PHASE DETERMINATION
EP3873085A4 (en) HIGH-RESOLUTION WIDE-ANGLE DISTANCE MEASURING DEVICE