PL39221B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL39221B1 PL39221B1 PL39221A PL3922155A PL39221B1 PL 39221 B1 PL39221 B1 PL 39221B1 PL 39221 A PL39221 A PL 39221A PL 3922155 A PL3922155 A PL 3922155A PL 39221 B1 PL39221 B1 PL 39221B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- test
- tolerance
- picture
- focal length
- value
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000011031 large-scale manufacturing process Methods 0.000 description 1
Description
2 Opublikowano dnfcTl5 wrzesnia 1956 r» <£ Gjd ii POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 39221 KL 42 h, 34/13 Warszawskie Zaklady Kinotechniczne *) Przedsiebiorstwo Panstwowe Warszawa, Polska Lawa optyczna z czujnikiem zegarowym do juslowania obiektywów Patent trwa od dnia 24 czerwca 1955 r.Celem zmniejszenia pracochlonnosci przy wielkoseryjnej produkcji aparatów fotograficz¬ nych „Start" opracowano lawe optyczna ze wskaznikiem zegarowym do justowania i spraw¬ dzania ogniskowej ujemnego ukladu optycznego (czesci obiektów .,Euktar") o ogniskowej f = — 129,63 mm +1% oraz do justowania i spraw¬ dzania ogniskowej obiektywów „Euktar** o ognis¬ kowej fi = 76,28 mm + 1%.Obiektyw „Euktar'' sklada sie z trzech socze¬ wek (A+B+C). Justowanie obiektywów prze¬ prowadza sie w kolejnych fazach. Najpierw justuje sie uklad optyczny, skladajacy sie z so¬ czewek (A+B); uklad ten jest ujemny i posiada ogniskowa f = — 129,63 mm + 1%. Nastepnie I *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, wynalazku jest Alojzy Kotecki. ze twórca justuje sie caly uklad optyczny obiektywu tzn.(A+B + C); posiada on ogniskowa dodatnia f = 76,28 mm + 1%.Lawy optyczne z czujnikiem zegarowym do justowania ukladu ujemnego i do justowania ukladu dodatniego dzialaja na tej samej zasa¬ dzie, posiadaja jednak rózne wyposazenie optycz¬ ne.Lawa optyczna sklada sie z nastepujacych za¬ sadniczych, czesci: podstawy, kolimatora, uchwy¬ tu do obiektywu i mikroskopu obserwacyjnego.Podstawe lawy optycznej stanowi ceownik, do którego jest przymocowana na wspornikach pryz¬ ma, na pryzmie zas spoczywaja: kolimator, uchwyt do obiektywu i mikroskop.Trzy te zespoly posiadaja ruch wzdluz pryz¬ my. Uchwyt do obiektywów zapewnia szybkie mocowanie mierzonego obiektywu i posiada ruch pionowy powodowany walcem ekscentrycznym.Mikroskop obserwacyjny M (fig.l) poza ru¬ chem na pryzmie posiada ruch wzdluzny za po¬ moca zebatki Z oraz ruch poprzeczny (w jaskól¬ czym ogonie) za pomoca sruby mikrometrycznej S; ruch ten jest bardzo dokladny, jego przesuw jest wykazywany na czujniku zegarowym C z dokladnoscia do 1: 1000 mm.W tym ukladzie justowanie i sprawdzanie obiektywu wiaze sie z pomiarem ogniskowej ba¬ danego ukladu optycznego; pomiar ogniskowej przeprowadza sie metoda Hartmanna. Test koli- matora, umieszczony w plaszczyznie ogniskowej obiektywu kolimatora, isklada sie z dwóch piono¬ wych kresek narysowanych w okreslonej od¬ leglosci od siebie. W plaszczyznie ogniskowej badanego ukladu optycznego tworzy sie obraz powyzszego testu. Obraz testu obserwuje sie na tle testu tolerancyjnego na plycie ogniskowej w mikroskopie.Zasada justowania obiektywu opiera sie na zaleznosci ogniskowej od odleglosci miedzy so¬ czewkami w obiektywie. Przez zmiane odleglos¬ ci miedzy soczewkami mozna uzyskac pewna zmiane ogniskowej obiektywu. Te wlasnosc wy¬ korzystuje sie do justowania obiektywu.Fig. 2 przedstawia test kolimatora. Dwie pio¬ nowe kreski krancowe stanowia wlasciwy test, Fig. 3 przedstawia test tolerancyjny w okularze mikroskopu na plytce ogniskowej. Sklada sie on z czterech kresek pionowych równoleglych do siebie. Odleglosci od kreski lewej do kresek pra¬ wych okreslaja wartosci ogniskowej obiektywu i odpowiadaja tolerancjom: — 1%, 0%, -\- 1%.Zasada sprawdzania jest nastepujaca. Zaklada sie badany obiektyw, wzglednie uklad optyczny i krecac sruba mikrometryczna przesuwa sie poprzecznie mikroskop i naklada test toleran¬ cyjny plytki ogniskowej w mikroskopie na obraz testu kolimatora tak, aby lewe kreski obu testów sie pokrywaly. Jezeli srodkowa kreska z prawej strony testu tolerancyjnego pokrywa sie z pra¬ wa kreska obrazu testu kolimatora, to ognisko¬ wa obiektywu posiada wartosc nominalna (fig. 5).Jezeli prawa kreska obrazu testu kolimatora przypada pomiedzy pierwsza i trzecia kreska testu tolerancyjnego, to ogniskowa obiektywu jest w granicach tolerancji (fig. 4).Postepowanie przy justowaniu obiektywu opi¬ sano ponizej.Zaklada sie justowany obiektyw. Na obraz testu kolimatora naklada sie test tolerancyjny tak, aby lewe kreski obu testów nakrywaly sie.Czujnik zegarowy nastawia sie na zero, nastep¬ nie przesuwa mikroskop za pomoca sruby mikrumetrycziiej tak; aby srodkowa kreska testu tolerancyjnego pokrywala sie z prawa kreska testu kolimatora. Na czujniku zegarowym od¬ czytuje isie wartosc, która stanowi poprawke na odstep miedzy soczewkami obiektywu dla uzys¬ kania ogniskowej o nominalnej wartosci.Wychylenie wskaznika czujnika w lewo (zgod¬ nie z ruchem wskazówki zegara) oznacza, ze odstep miedzy soczewkami jest za maly i nale¬ zy go zwiekszyc o wskazana wartosc (fig. 6), wychylenie zas wskaznika w prawo oznacza, ze odleglosc miedzy soczewkami jest za duza i na¬ lezy ja iskrócic o wskazana wartosc, aby uzyskac obiektyw o wartosci nominalnej ogniskowej (fig. 7).Cechowanie czujnika zegarowego przeprowadza sie drogai rachunkowa lub tez doswiadczalna. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Lawa optyczna z czujnikiem zegarowym do justowania obiektywów, znamienna tym, ze do podstawy przymocowana jest na wspornikach pryzma, na której spoczywa kolimator, uchwyt do obiektywu i mikroskop obserwacyjny (M) z urzadzeniem do przesuwu wzdluznego za pomo¬ ca zebatki (Z) oraz do przesuwu poprzecznego za pomoca sruby mikrometrycznej (S) z odpo¬ wiednio wycechowanym czujnikiem zegarowym, na którym odczytuje sie wielkosc, która stanowi poprawke na odleglosc miedzy soczewkami obiektywu do uzyskania ogniskowej o nominal¬ nej wartosci. Warszawskie Zaklady Kinotechniczne Przedsiebiorstwo PanstwoweDo opisu patentowego nr 39221 Test kol/matora -Mlft+fA Test tolerancyjny noplytce I ogniskowe/ u m/kroskop/e FCg.3 II Obraz testu kol/matora lezy // granicach tolenanc/7 testu tolerancyjnego. ^4 Obraz'testu kol/mazora/est równy-testowi to/era/?cy/be/nu Obraz testu kotirnatorajeA krótszy od testu tolerancyj neyo o wartosc a w & d Obraz testu kóiimatorayest dluzszy od testu i I i tolerar?cy/r?eyo owartosc I I I fy.7 PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL39221B1 true PL39221B1 (pl) | 1955-12-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PL39221B1 (pl) | ||
| KR200372906Y1 (ko) | 렌즈 초점거리 및 편심 측정장치 | |
| US1959551A (en) | Device for testing the positions of the driving shafts of locomotives | |
| DE861756C (de) | Scheitelbrechwertmesser | |
| Watson | Experimental study of mirror segment phasing using tungsten light | |
| Wyant | 1.0 measurement of paraxial properties of optical systems | |
| DE722013C (de) | Optisches Werkstatt-Mess- und Pruefgeraet | |
| DE102019215222A1 (de) | Messanordnung und Messverfahren zur Ermittlung der Position und/oder der Orientierung eines optischen Elements sowie Projektionsbelichtungsanlage | |
| CN203811354U (zh) | 一种镜片后顶焦度的测量装置 | |
| Zimmerman | A method for measuring the distortion of photographic objectives | |
| RU2138779C1 (ru) | Способ исправления угла i одновременно у трех нивелиров | |
| Bhattacharya et al. | Finite fringe moire deflectometry for the measurement of radius of curvature: an alternative approach | |
| SU969103A1 (ru) | Визирное автоколлимационное устройство | |
| SU974115A1 (ru) | Устройство дл контрол цилиндрических линз | |
| De Haas | A method for measuring the movement of rocks and glaciers with simple equipment | |
| SU600388A1 (ru) | Имитатор плоскости дл аттестации плоскомеров | |
| SU450077A1 (ru) | Устройство дл контрол формы параболической поверхности | |
| SU1150509A1 (ru) | Устройство дл измерени задней вершинной рефракции очковых линз | |
| Dharmayya et al. | Apparatus for testing deflection due to thin prisms | |
| JP3118845B2 (ja) | フォーカスインジケータを有する光学装置 | |
| AT212047B (de) | Mikroskop, insbesondere zur Vermessung von Kernspuren | |
| RU2276778C1 (ru) | Способ определения дисторсии длиннофокусных объективов | |
| RU1783293C (ru) | Двухкоординатное оптическое измерительное устройство | |
| Papirno et al. | Dual Objective Optical Micrometer for Strain Measurements | |
| RU69984U1 (ru) | Устройство для контроля лазерного дальномера |