PL225411B1 - Struktura detektora UV oraz sposób wykonania struktury detektora UV - Google Patents
Struktura detektora UV oraz sposób wykonania struktury detektora UVInfo
- Publication number
- PL225411B1 PL225411B1 PL404645A PL40464513A PL225411B1 PL 225411 B1 PL225411 B1 PL 225411B1 PL 404645 A PL404645 A PL 404645A PL 40464513 A PL40464513 A PL 40464513A PL 225411 B1 PL225411 B1 PL 225411B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- layer
- substrate
- zno
- active
- nucleating
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 38
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000002061 nanopillar Substances 0.000 claims abstract 3
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 31
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 claims description 21
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 14
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 9
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 9
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 claims description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 7
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 claims description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 3
- ZOIORXHNWRGPMV-UHFFFAOYSA-N acetic acid;zinc Chemical group [Zn].CC(O)=O.CC(O)=O ZOIORXHNWRGPMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 claims description 2
- 239000004246 zinc acetate Substances 0.000 claims description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 claims 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 5
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 3
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 3
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 2
- ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N Potassium Chemical compound [K] ZLMJMSJWJFRBEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229940057499 anhydrous zinc acetate Drugs 0.000 description 2
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 2
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M hydroxide Chemical compound [OH-] XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 229910000000 metal hydroxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004692 metal hydroxides Chemical class 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 229910052700 potassium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011591 potassium Substances 0.000 description 2
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 2
- DJWUNCQRNNEAKC-UHFFFAOYSA-L zinc acetate Chemical compound [Zn+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O DJWUNCQRNNEAKC-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001476 alcoholic effect Effects 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N diethylzinc Chemical compound CC[Zn]CC HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 1
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 1
- 229910001923 silver oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N silver oxide Substances [O-2].[Ag+].[Ag+] NDVLTYZPCACLMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000000825 ultraviolet detection Methods 0.000 description 1
- 229960000314 zinc acetate Drugs 0.000 description 1
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
Abstract
Przedmiotem wynalazku jest struktura detektora promieniowania ultrafioletowego (UV) oraz sposób wykonania struktury detektora UV. Struktura według wynalazku ma izolujące podłoże, na którym znajduje się warstwa aktywna ZnO z kontaktami elektrycznymi. W strukturze tej warstwą aktywnąjest warstwa o grubości co najmniej 50nm zawierająca nanosłupki ZnO osadzone na warstwie zarodkującej. Sposób wykonania struktury detektora polega na tym, że na izolującym podłożu wytwarza się warstwę aktywną a na niej metaliczne kontakty. Dla wytworzenia warstwy aktywnej, najpierw na podłożu, osadza się metaliczną warstwę lub warstwę ZnO, zarodkującą wzrost, następnie podłoże wraz z warstwą zarodkującą, umieszcza w mieszaninie reakcyjnej o wartości pH 6,5 - 12 i podgrzewa się do temperatury 30 - 95°C i przez co najmniej l sekundę prowadzi się wzrost nanosłupków ZnO. Po zakończeniu wzrostu usuwa się z podłoża i warstwy aktywnej zanieczyszczenia oraz wykonuje się kontakty metaliczne.
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest struktura detektora promieniowania ultrafioletowego (UV) oraz sposób wykonania struktury detektora UV.
Ponieważ struktury tego typu podczas oświetlania światłem zmieniają swoje parametry elektryczne (przewodnictwo, opór), a charakter tych zmian zależy od rodzaju światła, to mogą być wyk orzystywane w szerokim spektrum detekcji promieniowania ultrafioletowego.
W literaturze znajdują się opisy detektorów UV oparte na strukturach z ZnO. Na przykład w publikacjach: H. Ohta, M. Kamiya, T. Kamiya, M. Hirano, H. Hosono, UV-detector based on pn-heterojunction diode composed of transparent oxide semiconductors, p-NiO/n-ZnO, Thin Solid Films, Vol. 445, Issue 2, 2003 oraz Tae-Hyoung Moon, Min-Chang Jeong, Woong Lee, Jae-Min Myoung, The fabrication and characterization of ZnO UV detector, Applied Surface Science, Vol. 240, Issues 1-4, 2005 znajdują się opisy detektorów opartych na złączu p-n z udziałem tlenku cynku. Opisane struktury muszą być wykonane z materiałów o bardzo wysokiej jakości, a to z kolei wiąże się ze skomplikowaną technologią, a tym samym dużymi kosztami. Ponadto, detekcja UV odbywa się poprzez pomiar charakterystyk I-V (prądowo-napięciowych), co utrudnia wykorzystanie tych struktur w prostych sensorach.
W publikacji S. Liang, H. Sheng, Y. Liu, Z. Huo, Y. Lu, H Shen, ZnO Schottky ultraviolet photodetectors, Journal of Crystal Growth, Vol. 225, Issues 2-4, 2001 znajduje się opis detektora UV na bazie tlenku cynku, opartego na złączu Schottky'ego. Takie rozwiązanie również wymaga pomiaru zależności I-V, a ponadto problem możne stanowić odróżnienie światła widzialnego od UV.
Ze zgłoszenia P.400285 znana jest struktura detektora UV, w której warstwa aktywna zawierająca nanosłupki ZnO osadzona jest na podłożu półprzewodnikowym. Struktura ta reaguje zarówno na światło z zakresu widzialnego jak i UV. Oba zakresy powodują jednak spadek oporności elektrycznej struktury. Różnica pojawia się po zakończeniu naświetlania - dla światła widzialnego po zakończeniu naświetlania oporność od razu wraca do pierwotnej wartości. W przypadku światła UV oporność powoli (minuty) wraca do wartości wyjściowej. Taki sposób detekcji wymaga dłuższego monitorowania oporności w czasie.
Celem wynalazku jest opracowanie taniej struktury detektora UV działającego w temperaturze pokojowej i reagującego selektywnie na światło z zakresu UV oraz prostego i szybkiego sposobu wytwarzania takiej struktury.
Struktura według wynalazku ma podłoże oraz aktywną warstwę detekcyjną ZnO z wyprowadzeniami kontaktów elektrycznych. W strukturze tej podłoże jest podłożem elektrycznie izolującym, k orzystnie kwarcowym, szafirowym lub szklanym a leżąca na nim aktywna warstwa detekcyjna zawiera nanosłupki ZnO o wysokości co najmniej 50 nm, wytworzone na warstwie zarodkującej. Warstwą zarodkującą może być warstwa metaliczna, korzystnie warstwa złota lub srebra albo warstwa ZnO. Warstwą zarodkującą mogą być także zarodki metaliczne, korzystnie złote lub srebrne albo zarodki ZnO.
Sposób wykonania struktury według wynalazku polega na tym, że na podłożu osadza się warstwę aktywną ZnO i wykonuje się kontakty metaliczne. W sposobie tym, aktywną warstwę ZnO osadza się na podłożu, elektrycznie izolującym, korzystnie na podłożu kwarcowym, szafirowym lub szklanym, przy czym najpierw podłoże to pokrywa się warstwą zarodkującą, którą może być warstwa metaliczna, korzystnie warstwa złota lub srebra albo zarodki metaliczne otrzymywane w procesie rozpylania katodowego lub warstwa ZnO lub zarodki ZnO, korzystnie otrzymywane w procesie osadzania warstw atomowych (ALD). Następnie podłoże wraz z warstwą, zarodkującą umieszcza się w mieszaninie reakcyjnej o wartości pH 6,5-12, zawierającej rozpuszczalnik, co najmniej jeden prekursor tlenu, i co najmniej jeden prekursor cynku. Korzystnie jest gdy prekursorem tlenu w mieszaninie reakcyjnej jest woda, a prekursorem cynku jest octan cynku. Mieszaninę podgrzewa się do temperatury 30-95°C i utrzymuje w tej temperaturze przez co najmniej 1 sekundę. Po zakończeniu tego procesu usuwa się z podłoża i warstwy aktywnej zanieczyszczenia oraz wykonuje się kontakty elektryczne. Zanieczyszczenia z podłoża i warstwy aktywnej zawierającej nanosłupki usuwa się wygrzewając strukturę przez co najmniej 1 sekundę w temperaturze >100°C.
Otrzymana struktura nie zmienia swoich właściwości elektrycznych pod wpływem światła z zakresu widzialnego i podczerwieni, natomiast jej przewodnictwo rośnie pod wpływem oświetlania światłem z zakresu UV. Technologia wykonania struktury detektora według wynalazku jest tania i prosta, a struktura jest strukturą wielokrotnego użytku, to znaczy, że nie wymaga wygrzewania lub traktowania związkami chemicznymi dla regeneracji przed kolejnym użyciem.
PL 225 411 B1
Wynalazek zostanie bliżej objaśniony na 3 przykładach wykonania detektora UV, który na kwarcowym podłożu ma warstwę aktywną zawierającą nanosłupki ZnO. W pierwszym przykładowym sposobie jako podłoża użyto płytki z kwarcu o grubości 0,5 mm i powierzchni 50 mm . W pierwszym etapie, na powierzchnię podłoża, metodą rozpylania katodowego, napylono 2 nm warstwę złota. W drugim etapie przygotowano mieszaninę reakcyjną o pH równym 7,8. W tym celu do naczynia wlano wodę dejonizowaną, która spełnia rolę rozpuszczalnika i prekursora tlenu, (ale może to być także rozpuszczalnik alkoholowy) i rozpuszczono w niej prekursor cynku, w postaci bezwodnego octanu cynku. Odpowiednie pH mieszaniny uzyskano po dokładnym wymieszaniu, poprzez strącanie wodorotlenku metalu jakim jest wodorotlenek sodu (lub potasu). W trzecim etapie, w przygotowanej mieszaninie umieszczono wcześniej przygotowane podłoża z warstwą złota na powierzchni i prowadzono proces wzrostu nanosłupków ZnO. Proces wzrostu prowadzono przez 6 minut, przy ciśnieniu atmosferycznym, w temperaturze ~70°C. W wyniku tak prowadzonego procesu, warstwa złota na powierzchni zarodkowała wzrost nanosłupków ZnO, które wyrosły bezpośrednio na tej warstwie osiągając wysokość ok. 1 μm.
Otrzymane nanosłupki mają kształt graniastosłupów prawidłowych sześciokątnych, są związane są z podłożem i w przykładowym sposobie na powierzchni 1 μm jest ich około 30. W czwartym etapie, dla usunięcia ze ścianek słupków produktów ubocznych reakcji, podłoże wraz z słupkami wygrzano w powietrzu, w temperaturze 200°C przez 5 minut.
Następnie w dwóch punktach na powierzchni warstwy aktywnej, przy pomocy pasty srebrnej, wykonano kontakty elektryczne, aby umożliwić pomiar oporności i przewodnictwa struktury. W ten sposób przygotowana struktura detektora jest gotowa do montażu i użycia.
W drugim przykładowym sposobie jako podłoża użyto szklanej płytki o grubości 1 mm i po2 wierzchni 60 mm . W pierwszym etapie na powierzchnię tego podłoża, nałożono cienką warstwę tlenku cynku (ZnO) stanowiącą warstwę zarodkującą. Warstwa ta została nałożona metodą osadzania warstw atomowych (ALD), wykonano ją w 10 cyklach ALD, w temperaturze 150°C. Jako prekursora tlenu użyto wody dejonizowanej, a jako prekursora cynku - dietylocynku. W drugim etapie przygotowano mieszaninę reakcyjną o pH równym 7,5. W tym celu do naczynia wlano wodę dejonizowaną, która spełnia rolę rozpuszczalnika i prekursora tlenu, (ale może to być także rozpuszczalnik alkoholowy) i rozpuszczono w niej prekursor cynku, w postaci bezwodnego octanu cynku. Odpowiednie pH mieszaniny uzyskano po dokładnym wymieszaniu, poprzez strącanie wodorotlenku metalu jakim jest wodorotlenek sodu (lub potasu). W trzecim etapie, w przygotowanej mieszaninie umieszczono wcześniej przygotowane podłoże z warstwą tlenku cynku na powierzchni. Proces wzrostu nanostruktur prowadzono przez 6 minut, przy ciśnieniu atmosferycznym, w temperaturze 50°C.
W wyniku tak prowadzonego procesu, warstwa tlenku cynku na powierzchni zarodkowała wzrost nanosłupków ZnO, które wyrastają bezpośrednio na tej warstwie osiągając wysokość ok. 1 μm.
Otrzymane nanosłupki mają kształt graniastosłupów prawidłowych sześciokątnych, są związane 2 są z podłożem i w przykładowym sposobie na powierzchni 1 μm jest ich około 20. W czwartym etapie, dla usunięcia ze ścianek słupków produktów ubocznych reakcji, podłoże wraz z słupkami wygrzewa się w powietrzu, w temperaturze 300°C przez 1 minutę.
Następnie na oczyszczonej strukturze wykonuje się kontakty elektryczne. Wytworzona sposobem według wynalazku struktura umieszczona w ciemności w ciągu kilku minut uzyskuje stabilny opór elektryczny. Krótkotrwałe (kilka sekund) naświetlenie struktury światłem z zakresu widzialnego lub podczerwieni nie powoduje zmian oporności. W przypadku naświetlania struktury promieniowaniem UV występuje spadek oporności struktury, który jest proporcjonalny do intensywności światła. Po zakończeniu naświetlania, oporność wraca w ciągu kilku minut do swojej wyjściowej wartości. Trzeci przykładowy sposób jest identyczny jak sposób drugi z tym, że jako podłoża struktury użyto płytki 2 z tlenku glinu (szafir) o grubości 0.5 mm i powierzchni 40 mm .
Claims (9)
1. Struktura detektora UV, posiadająca podłoże oraz aktywną warstwę detekcyjną ZnO z wyprowadzeniami kontaktów elektrycznych, znamienna tym, że podłoże jest podłożem elektrycznie izolującym, korzystnie kwarcowym, szafirowym lub szklanym a leżąca na nim aktywna warstwa detekcyjna zawiera nanosłupki ZnO o wysokości co najmniej 50 nm, wytworzone na warstwie zarodkującej.
PL 225 411 B1
2. Struktura według zastrz. 1, znamienna tym, że warstwa zarodkująca jest warstwą metaliczną, korzystnie warstwą złota lub srebra lub warstwą ZnO.
3. Struktura według zastrz. 1, znamienna tym, że warstwą zarodkującą są zarodki metaliczne, korzystnie złote lub srebrne lub zarodki ZnO.
4. Sposób wykonania struktury detektora UV, w którym na podłożu osadza się warstwę aktywną ZnO do której wykonuje się kontakty metaliczne, znamienny tym, że aktywną warstwę ZnO osadza się na podłożu, elektrycznie izolującym, korzystnie na podłożu kwarcowym, przy czym najpierw podł oże to pokrywa się warstwą zarodkującą, następnie podłoże wraz z warstwą zarodkującą, umieszcza w mieszaninie reakcyjnej o wartości pH 6,5-12, zawierającej rozpuszczalnik, co najmniej jeden prekursor tlenu, i co najmniej jeden prekursor cynku, podgrzewa się do temperatury 30-95°C i utrzymuje w tej temperaturze przez co najmniej 1 sekundę, po zakończeniu tego procesu usuwa się z podłoża i warstwy aktywnej zanieczyszczenia oraz wykonuje się kontakty elektryczne.
5. Sposób według zastrz. 4, znamienny tym, że warstwą zarodkującą jest warstwa metaliczna, korzystnie warstwa złota lub srebra albo zarodki metaliczne otrzymywane w procesie rozpylania katodowego.
6. Sposób według zastrz. 4, znamienny tym, że warstwą zarodkującą jest warstwa ZnO lub zarodki ZnO, korzystnie otrzymywane w procesie osadzania warstw atomowych (ALD).
7. Sposób według zastrz. 4, znamienny tym, że zanieczyszczenia podłoża i warstwy aktywnej zawierającej nanosłupki prowadzi się poprzez wygrzewanie przez co najmniej 1 sekundę w temperaturze >100°C.
8. Sposób według zastrz. 2, znamienny tym, że prekursorem tlenu w mieszaninie reakcyjnej jest woda.
9. Sposób według zastrz. 2, znamienny tym, że prekursorem cynku w mieszaninie reakcyjnej jest octan cynku.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL404645A PL225411B1 (pl) | 2013-07-11 | 2013-07-11 | Struktura detektora UV oraz sposób wykonania struktury detektora UV |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL404645A PL225411B1 (pl) | 2013-07-11 | 2013-07-11 | Struktura detektora UV oraz sposób wykonania struktury detektora UV |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL404645A1 PL404645A1 (pl) | 2015-01-19 |
| PL225411B1 true PL225411B1 (pl) | 2017-04-28 |
Family
ID=52305540
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL404645A PL225411B1 (pl) | 2013-07-11 | 2013-07-11 | Struktura detektora UV oraz sposób wykonania struktury detektora UV |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL225411B1 (pl) |
-
2013
- 2013-07-11 PL PL404645A patent/PL225411B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL404645A1 (pl) | 2015-01-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Gao et al. | Preparation and properties of zinc blende and orthorhombic SnS films by chemical bath deposition | |
| Muiva et al. | Effect of doping concentration on the properties of aluminium doped zinc oxide thin films prepared by spray pyrolysis for transparent electrode applications | |
| Inamdar et al. | High-performance metal–semiconductor–metal UV photodetector based on spray deposited ZnO thin films | |
| Singh et al. | Comparison of the structural and optical properties of ZnO thin films deposited by three different methods for optoelectronic applications | |
| Sankapal et al. | Preparation and characterization of Bi2Se3 thin films deposited by successive ionic layer adsorption and reaction (SILAR) method | |
| Mridha et al. | Thickness dependent photoconducting properties of ZnO films | |
| CN104332513B (zh) | 一种NiO纳米线紫外光探测器及其制备方法与应用 | |
| Duan et al. | Fabrication of flexible Al-doped ZnO films via sol–gel method | |
| Baydogan et al. | Effect of annealing temperature on ZnO: Al/p-Si heterojunctions | |
| Beena et al. | Photoluminescence in laser ablated nanostructured indium oxide thin films | |
| CN101425553B (zh) | MgZnO基光电导型紫外探测器的制作方法 | |
| El-Denglawey et al. | Physical aging effects on the structural and optical properties of nano As-Se-Tl films | |
| Baykul et al. | Effect of seed layer on surface morphological, structural and optical properties of CdO thin films fabricated by an electrochemical deposition technique | |
| CN102021519B (zh) | 氧化亚锡多晶薄膜的制备方法 | |
| Zhang et al. | Regulation of Te oxide layer on a CdZnTe film for adjusting surface contact of a CdZnTe-based device | |
| WO2014007761A1 (en) | Method of preparing an electrically conductive material, and an electrically conductive material | |
| Li et al. | Structural and optical properties of Ga2O3 nanorod arrays sputtered using AAO templates | |
| Singh et al. | Effect of supporting electrolytes on the growth and optical properties of electrochemically deposited ZnO nanorods | |
| PL225411B1 (pl) | Struktura detektora UV oraz sposób wykonania struktury detektora UV | |
| Jiang et al. | Zr-doping-assisted wet etching for non-destructive transfer of β-Ga 2 O 3 films to fabricate high-performance wearable ultraviolet photodetectors | |
| KR101416723B1 (ko) | 나노구조층을 포함하는 고 헤이즈율 투명전극, 상기 투명전극 제조방법 및 상기 투명전극을 포함하는 박막 태양전지 | |
| Shu-Wen | A Study of annealing time effects on the properties of Al: ZnO | |
| Samanta et al. | Studies on growth and characterization of CdTe thin films deposited by chemical bath deposition technique | |
| Khan et al. | Light trapping by hydrothermally deposited zinc oxide nanostructures with high haze ratio | |
| PL221724B1 (pl) | Struktura detektora UV oraz sposób wykonania struktury detektora UV |