PL21697B1 - Sposób wytwarzania zeliwa wysoko-wartosciowego. Patent zalezny od patentów Nr 3524, 3525, 8054 i 10359. - Google Patents

Description

W zwiazku z wynalazkiem nalezy przy¬ toczyc nastepujace znane juz sposoby wy¬ twarzania zeliwa i odmiany zeliwa: 1. Zeliwo, chronione polskiemi patenta¬ mi Nr 3524, 3525 i 10359, znamienne tern, ze przy malej zawartosci wegla i krzemu struktura zeliwa sklada sie wylacznie z per¬ litu lamelarnego, w którym grafit znajduje sie w postaci platków. 2. Zeliwo, chronione polskim patentem Nr 8054, które równiez wykazuje eutektycz- na postac grafitu, przyczem struktura moze byc ferrytyczna wzglednie ferrytyczno-per- lityczna.

Zalety tych zeliw sa ogólnie znane.

Wynalazek niniejszy ma na celu polacze¬ nie zalet, które posiada z jednej strony ze¬ liwo o strukturze wylacznie perlitycznej we¬ dlug powyzej przytoczonych patentów w punkcie 1, z drugiej zas — zeliwo z eutek- tycznem rozlozeniem grafitu wedlug paten¬ tu Nr 8054.

Wynalazek niniejszy stanowi sposób, któ¬ ry laczy w jedno obydwa wyzej wspomnia¬ ne sposoby.

Pomiedzy obydwoma wyzej wspomnia- nemi sposobami istniala dotychczas zasadni¬ cza róznica, polegajaca na tern, ze przy wy-robie zeliwa wedlug patentu Nr 8054 po¬ wstawanie grafitu eutektycznego zwiazane bylo ze stosunkowo duza zawartoscia krze¬ mu, podczas gdy przy wyrobie zeliwa we¬ dlug patentów, wspomnianych w punkcie 1, wlasnie mala zawartosc krzemu pod wielo¬ ma wzgledami ma wybitne znaczenie.

Polaczenie wiec obydwóch sposobów zdawalo sie dotychczas byc rzecza niemozli¬ wa.

Sposób wytwarzania zeliwa wedlug, wy¬ nalazku polega na tern, iz ladunek, obliczo¬ ny na mala zawartosc wegla i krzemu, sta¬ pia sie wedlug sposobu, opisaaega w paten¬ cie Nr 8054, i utrzymuje sie w stanie plyn¬ nym w ciagu okresu czasu, zaleznego od skladu oraz temperatury stopu, w celu zni¬ szczenia tak zwanych zarodków grafitowych.

Zaleznosc pomiedzy temperatura a czasem trwania obróbki plynnego stopu wskazuje tytulem przykladu fig, 1, na której dwie krzywe uwidoczniaja te zaleznosc w odnie¬ sieniu do stopów o zawartosci wegla 2,9% i 3,7%. Czas i temperature obróbki w przy¬ padkach zawartosci wegla, przypadajacych pomiedzy wskazanenri granicami albo w ich poblizu, mozna wyznaczyc w drodze równo¬ leglego przesuwania krzywej w obrebie u- kladu wspólrzednych. Zabezpieczywszy w fen sposób tworzenie sie grafitu eutektycz¬ nego w odlewie, przeprowadza sie chlodze¬ nie odlewu, stosownie do patentów wymie¬ nionych w punkcie 1. Dla przykladu na fig. 2 uwidoczniona jest zaleznosc pomiedzy srednia gruboscia scianek odlewu a tempe¬ ratura formy w razie uzycia stopu, zawiera¬ jacego 2,9% wegla i 1,1% krzemu (wzgled¬ nie stopu o zawartosci C + Si = 4 %), na fig. 3 uwidoczniona jest zaleznosc pomiedzy srednia gruboscia scianek odlewu a tempe¬ ratura ogrzania formy przy wytwarzaniu odlewu o 3,4% wegla i 1,2% krzemu (wzglednie stopu o zawartosci C + Si = 4,6%), i na fig. 4, te zaleznosc w odniesieniu do stopu o 2,9% wegla i 0,5% krzemu (wzglednie stopu o zawartosci C + Si = 3,4%). Przez ochladzanie odlewu uzyskuje sie strukture wylacznie perlityczna z wyla¬ czeniem ferrytu.

Za s t rz-ezr jgnrTfe. patentowe.

Sposób wytwarzania zeliwa wysoko- wartosciowego, znamienny tern, ze zeliwo o malej zawartosci wegla i krzemu (C + Si= = okolo 3,4% do 4,6%), stopione sposobem wedlug patentu Nr 8054, utrzymuje sie w stanie plynnym przez przeciag czasu zalez¬ ny od temperatury i skladu stopu (patrz. fig. 1), zabezpieczajacy powstanie w gotowym odlewie grafitu eutektycznego, przyczem o- chladzanie odlewu reguluje sie przez odpo¬ wiednie nagrzanie form odlewniczych spo¬ sobem wedlug patentów Nr 3524, 3525 i 10359 i to zaleznie od skladu stopu zeliwa wedlug krzywych, uwidocznionych na fig. 2, 3 i 4, dzieki czemu powstaje struktura la- melarnie perlityczna z wylaczeniem ferrytu.

Zjednoczone Fabryki Maszyn, Kotlów i Wagonów L. Zieleniewski i Fitzner-Gamper S p ól k a A k c y j n a.Do opisu patentowego Nr 21697. 1500 + F16.I o o O 1400 £ -2? i5oo 12oo 1o 2o 5o czas w minutach 'c* 4oo 5oo 2oo iOO" -0- 4oo 5oo dOO ? t S t t 5 2o 5o 4 FIC.5J *v N 1 i 2( \J >^ 3 21 ^ 5 5 frip D5 0% o e i 1 o? C° 5ooi 2ooj lool € o 8 o9D% FIG.4 5 & 3 9 3m/i | Druk U Boguslawskiego i Ski, Warszawa.