PL210038B1 - Sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym - Google Patents

Sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym

Info

Publication number
PL210038B1
PL210038B1 PL364510A PL36451004A PL210038B1 PL 210038 B1 PL210038 B1 PL 210038B1 PL 364510 A PL364510 A PL 364510A PL 36451004 A PL36451004 A PL 36451004A PL 210038 B1 PL210038 B1 PL 210038B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
electrons
control electrodes
sectors
flow
scintillator
Prior art date
Application number
PL364510A
Other languages
English (en)
Other versions
PL364510A1 (pl
Inventor
Witold Słówko
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Priority to PL364510A priority Critical patent/PL210038B1/pl
Priority to PCT/PL2004/000080 priority patent/WO2005071710A1/en
Priority to EP04775186A priority patent/EP1706887B1/en
Publication of PL364510A1 publication Critical patent/PL364510A1/pl
Priority to US11/410,208 priority patent/US7531812B2/en
Publication of PL210038B1 publication Critical patent/PL210038B1/pl

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/244Detectors; Associated components or circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/2443Scintillation detectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/24435Microchannel plates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/2446Position sensitive detectors
    • H01J2237/24465Sectored detectors, e.g. quadrants
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/24495Signal processing, e.g. mixing of two or more signals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/26Electron or ion microscopes
    • H01J2237/28Scanning microscopes
    • H01J2237/2813Scanning microscopes characterised by the application
    • H01J2237/2814Measurement of surface topography

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, przeznaczony zwłaszcza do otrzymywania kontrastu topograficznego obrazów badanej powierzchni lub jej trójwymiarowego odwzorowania.
Z publikacji - W. Sł ówko, „Directional detection of secondary electrons for electron beam profilography”. Vacuum 52 (1999), s. 441, jak też polskich opisów patentowych: nr 1766333, pt. „Zespół detekcyjny elektronów wtórnych”, nr 180420, pt. „Układ do przetwarzania sygnałów w skaningowym mikroskopie elektronowym”, nr P 316499, pt. „Sposób odtwarzania topografii powierzchni w mikroskopie skaningowym” oraz P 363131, pt. „Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym”, znany jest sposób kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym. Polega on na symetrycznym rozmieszczeniu nad badaną powierzchnią dwóch lub większej liczby detektorów elektronów, z których każdy powinien przechwytywać elektrony pochodzące z innego sektora ką ta bryłowego ich emisji. Oznacza to równoczesną detekcję elektronów we wszystkich badanych sektorach kątowych. Sygnały otrzymane z poszczególnych detektorów zależą od wartości prądu emisyjnego w danych sektorach kątowych i przy znanym rozkładzie kątowym gęstości prądu emisyjnego, mogą posłużyć do określenia lokalnych kątów nachylenia badanej powierzchni oraz jej trójwymiarowej rekonstrukcji.
Układy detekcyjne oparte na znanym sposobie kierunkowej detekcji elektronów składają się zatem z dwóch lub większej liczby detektorów elektronów rozmieszczonych symetrycznie wokół osi wiązki elektronowej skanującej badaną powierzchnię, oraz zespołu elektrod zasilanych odpowiednimi napięciami stałymi, zapewniającego możliwie laminarny przepływ strumienia emitowanych elektronów do tych detektorów, odpowiednio do kierunku emisji. W przypadku kierunkowej detekcji elektronów wstecznie rozproszonych układ detekcyjny może być stosunkowo prosty i składać się z dwóch, lub czterech diod półprzewodnikowych typu p-i-n, połączonych z odpowiednimi wzmacniaczami ich sygnałów. O wiele bardziej złożony jest układ do kierunkowej detekcji elektronów wtórnych, który musi zawierać między innymi dwa, lub cztery kompletne detektory scyntylacyjne typu Everharta-Thornleya, tj. w torze każ dego detektora: scyntylator i ź ródł o jego polaryzacji wysokim napię ciem, światł owód, fotopowielacz wraz z zasilaczem wysokonapięciowym oraz wzmacniacz sygnału.
Istota sposobu według wynalazku, polega na tym, że w układzie detekcyjnym tworzy się sektory, w których otwiera się naprzemiennie przepływ elektronów w ustalonej sekwencji czasowej.
Istota układu według wynalazku, polega na tym, że w co najmniej dwóch sektorach przepływu elektronów od stolika przedmiotowego do scyntylatora, są umieszczone sektorowe elektrody sterujące zasilane sekwencyjnie impulsami napięcia elektrycznego. Sektorowe elektrody sterujące mogą być wykonane z siatki metalowej albo w formie płytek przewodzących umieszczonych tak by nie przesłaniać przepływu elektronów do scyntylatora jak również w postaci cienkiej warstwy przewodzącej naniesionej na powierzchni płytki mikroporowatej. Ponadto sektorowe elektrody sterujące mogą być umieszczone na drodze przelotu elektronów od stolika przedmiotowego do scyntylatora.
Korzystnym jest, gdy układ ma co najmniej dwa scyntylatory połączone z poprzez jeden światłowód z jednym fotopowielaczem, albo poprzez co najmniej dwa światłowody z jednym fotopowielaczem.
Przedmiot wynalazku w przykładach wykonania jest odtworzony na rysunku, na którym fig. 1a przedstawia układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym w przekroju pionowym, fig. 1b - sektorowe elektrody sterują ce w widoku z góry, fig. 1c - sekwencyjne zmiany w czasie napięć na sektorowych elektrodach sterujących, fig. 2a przedstawia układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym w przekroju pionowym, fig. 2b - sektorowe elektrody sterują ce w widoku z góry, fig. 2c - sekwencyjne zmiany w czasie napięć na sektorowych elektrodach sterujących, fig. 3a przedstawia układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym w przekroju pionowym, fig. 3b - układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym w przekroju poziomym, fig. 3c - sektorowe elektrody sterujące w widoku z góry, a fig. 3d - sekwencyjne zmiany w czasie napięć na sektorowych elektrodach sterujących
P r z y k ł a d 1.
Sposób kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, w którym strumień elektronów wchodzących do układu detekcyjnego rozdzielany jest na cztery sektory. W sektorach
PL 210 038 B1 tych otwiera się naprzemiennie przepływ elektronów w ustalonej sekwencji czasowej przy czym przepływ elektronów jest regulowany za pomocą czterech sektorowych elektrod sterujących 9.
P r z y k ł a d 2.
Układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym pokazany na fig. 1, jest zamontowany w korpusie 1 o kształcie pierścienia, wykonanym z teflonu. W szczelinie dwudzielnego korpusu 1 jest umieszczony światłowód 2 w postaci płytki z polimetakrylanu metylu z otworem, na którego obwodzie znajduje się scyntylator 3. Światłowód 2 jest połączony z fotopowielaczem 4. W środku korpusu 1 znajduje się rurka ekranująca 5 z czterema płytkami ekranującymi 6, które dzielą wnętrze korpusu 1 na cztery sektory. W dolnej części korpusu 1 po stronie stolika przedmiotowego 7 jest umieszczona siatka wlotowa 8, a powyżej niej cztery sektorowe elektrody sterujące 9, każda w jednym z czterech sektorów powstałych między płytkami ekranującymi 6. Sektorowe elektrody sterujące 9 są wykonane z siatki metalowej. Otwór w korpusie 1 zamyka od góry siatka hamująca 10, a szczelinę na obwodzie tego otworu przesłania siatka ekranująca 1.
Tak zbudowany układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym działa następująco.
Elektrony wtórne EW i wstecznie rozproszone EWR, są emitowane z powierzchni obiektu umieszczonego na stoliku przedmiotowym 7 pod wpływem bombardowania wiązką elektronową WE. Wyemitowane elektrony EW i EWR biegną zgodnie z kierunkiem swych prędkości początkowych i część z nich, zawarta w obrębie wertykalnego kąta detekcji a, trafia do okna wlotowego układu detekcyjnego, przesłoniętego siatką wlotową 8. Wartość tego kąta może być regulowana przez przyłożenie odpowiedniej wartości napięcia ekstrakcyjnego Ue. Okno wlotowe układu ma kształt pierścienia, bowiem jego część centralną przesłania rurka ekranująca 5, osłaniająca wiązkę elektronową WE od pola elektrycznego we wnętrzu układu. Cztery płytki ekranujące 6 dzielą wnętrze układu na cztery sektory, w których przepływ elektronów jest regulowany za pomocą czterech sektorowych elektrod sterujących 9. Sektorowe elektrody sterujące 9, są spolaryzowane ujemnie stałym napięciem polaryzacji Uo, o wartości około -100V, co uniemożliwia wejście do wnętrza układu elektronów wtórnych EW o energii mniejszej od 100eV. Z kolei, siatka hamująca 10 umieszczona na wylocie z układu ma napięcie hamujące Uh = -50V, co oznacza że elektrony wstecznie rozproszone EWR, o energiach przekraczających próg napięcia polaryzacji Uo na sektorowych elektrodach sterujących 9, bez przeszkód opuszczą układ nie podlegając detekcji. Ponieważ pierścieniowy scyntylator 3, jest spolaryzowany wysokim dodatnim napięciem Ua = 10kV, elektrony przebiegające w każdym z sektorów są ekranowane od jego wpływu za pomocą siatki ekranującej 11, spolaryzowanej odpowiednio dobranym napięciem siatkowym Us. Aby dokonać próbkowania prądu emisyjnego docierającego do pierwszego z czterech sektorów okna wlotowego układu, na znajdującą się tam sektorową elektrodę sterującą 9 podaje się pierwszy dodatni impuls napięcia Up1 o amplitudzie nieco większej od napięcia polaryzacji Uo. Wtedy wszystkie elektrony emitowane w tym sektorze wnikają do wnętrza układu, jednak tylko elektrony wtórne EW o energiach mniejszych lub zbliżonych do energii 50eV wyznaczonej przez napięcie Uh siatki hamującej 10, zostaną skierowane do scyntylatora 3 toru detekcyjnego. Sygnał elektronów wtórnych EW przetworzony w scyntylatorze 3 na sygnał świetlny jest przesyłany światłowodem 2 do fotopowielacza 4. Tam ulega przetworzeniu powtórnie na sygnał elektryczny i wzmocnieniu. Po upływie około jednej czwartej okresu próbkowania, pierwszy impuls napięcia Up1 zanika i przepływ elektronów zostaje w tym sektorze przerwany. Z kolei, na następną sektorową elektrodę sterującą 9 podaje się drugi dodatni impuls napięcia Up2. Następuje proces detekcji strumienia elektronów wtórnych w tym sektorze. Potem następują kolejne fazy detekcji sygnału elektronów wtórnych w kolejnych sektorach, w ustalonej sekwencji czasowej. Sygnały z toru detekcyjnego są kierowane do odpowiedniego systemu komputerowej akwizycji sygnałów gdzie następuje ich synchroniczne próbkowanie i rozdzielenie. Opisany wariant układu jest przeznaczony do kierunkowej detekcji sygnału elektronów wtórnych EW bowiem system elektrod sporządzonych z siatki metalowej nie zatrzymuje elektronów wstecznie rozproszonych EWR.
P r z y k ł a d 3.
Układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym przedstawiony na fig. 2, jest zbudowany podobnie jak w przykładzie pierwszym, a zatem zamontowany w korpusie 1 o kształcie pierścienia, wykonanym z teflonu. W szczelinie dwudzielnego korpusu 1 jest umieszczony światłowód 2 w postaci płytki z polimetakrylanu metylu z otworem, na którego obwodzie znajduje się scyntylator 3. Światłowód 2 jest połączony z fotopowielaczem 4. W środku korpusu 1 znajduje się rurka ekranująca 5 z czterema płytkami ekranującymi 6, które dzielą wnętrze korpusu 1
PL 210 038 B1 na cztery sektory. W dolnej części korpusu 1 po stronie stolika przedmiotowego 7 jest umieszczona siatka wlotowa 8, a powyżej niej cztery sektorowe elektrody sterujące 9, każda w jednym z czterech sektorów powstałych między płytkami ekranującymi 6. Sektorowe elektrody sterujące 9, są wykonane z blachy metalowej i zamocowane w górnej części korpusu 1, a ich końce są wygięte w kierunku siatki wlotowej 8. Szczelinę na wewnętrznej ścianie korpusu 1 przesłania siatka ekranująca 11.
Wariant ten stosuje się w przypadku potrzeby dokonania kierunkowej detekcji wyłącznie elektronów wstecznie rozproszonych EWR, lub też łącznie z elektronami wtórnymi EW.
Tak zbudowany układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym działa następująco.
Elektrony wtórne EW i wstecznie rozproszone EWR, wyemitowane z powierzchni obiektu umieszczonego na stoliku przedmiotowym 7 biegną zgodnie z kierunkiem swych prędkości początkowych i część z nich, zawarta w obrębie wertykalnego kąta detekcji a, trafia do okna wlotowego układu detekcyjnego, przesłoniętego siatką wlotową 8. Napięcie ekstrakcyjne Ue decyduje o energii początkowej elektronów, które podlegają detekcji w układzie. Gdy Ue < -50V, do wnętrza układu trafiają tylko wysokoenergetyczne elektrony wstecznie rozproszone EWR, zaś gdy Ue = 0, przez siatkę mogą przechodzić wszystkie frakcje energetyczne elektronów. Okno wlotowe układu ma kształt pierścienia, bowiem jego część centralną przesłania rurka ekranująca 5, osłaniająca wiązkę elektronową WE od pola elektrycznego we wnętrzu układu. Cztery płytki ekranujące 6 dzielą wnętrze układu na cztery sektory, w których przepływ elektronów jest regulowany za pomocą czterech sektorowych elektrod sterujących 9. Sektorowe elektrody sterujące 9, pokazane w widoku z góry na rys. 2b, są spolaryzowane dodatnio stałym napięciem polaryzacji Uo, o wartości w granicach +100V. W tym przypadku zarówno elektrony wstecznie rozproszone EWR jak i elektrony wtórne EW padają na powierzchnię sektorowych elektrod sterujących 9, lecz emitowane z ich powierzchni elektrony wtórne EW drugiego stopnia nie mogą płynąć w kierunku scyntylatora 3, bowiem napięcie siatkowe Us siatki ekranującej 11 jest niższe. Aby dokonać próbkowania prądu emisyjnego docierającego do pierwszego z czterech sektorów okna wlotowego układu, na znajdującą się tam sektorową elektrodę sterującą 9 podaje się pierwszy ujemny impuls napięcia Up1 o amplitudzie nieco większej od napięcia polaryzacji Uo. Wtedy wszystkie elektrony wtórne EW drugiego stopnia, emitowane z tej sektorowej elektrody sterującej 9, płyną w kierunku scyntylatora 3, bowiem napięcie siatkowe Us siatki ekranującej 1, staje się wyższe od napięcia sektorowej elektrody sterującej 9. Procedura multipleksowania sygnałów w układzie detekcyjnym przebiega analogicznie jak omówiono to w przykładzie pierwszym. Ponieważ w sterowaniu przepływem elektronów do scyntylatora 3, decydującą rolę odgrywa emisja wtórna z sektorowych elektrod sterujących 9, korzystnie jest wykonać je, lub pokryć materiałem o dużym współczynniku emisji wtórnej, jak np. MgO.
P r z y k ł a d 4.
Układ kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym wykonany jak w przykładzie pierwszym z tą różnicą, że przeznaczony jest do pracy w niskopróżniowym skaningowym mikroskopie elektronowym, przedstawiony jest na fig. 3. Układ ten jest zamontowany w korpusie 1, wykonanym z teflonu. W dolnej części korpusu 1 jest umieszczona dolna przesłona dławiąca 12, w postaci płytki metalowej z małym otworem na osi wiązki skanującej WE. Powyżej dolnej przesłony dławiącej 12, jest umieszczona płytka mikroporowata 13. Płytka mikroporowata 13 ma otwór na osi wiązki elektronowej skanującej WE, w którym za pośrednictwem uszczelki teflonowej jest zamocowana rurka ekranująca 5. Dolna, wejściowa powierzchnia płytki mikroporowatej 13 jest pokryta jest cienką warstwą przewodzącą, przepuszczalną dla elektronów. Na górnej, wyjściowej powierzchni płytki mikroporowatej 13, podobna cienka warstwa przewodząca jest podzielona na cztery odrębne sektory, stanowiące sektorowe elektrody sterujące 9. Powyżej płytki mikroporowatej 13 są umieszczone dwa scyntylatory 3 połączone z dwoma światłowodami 2 prowadzącymi do wspólnego fotopowielacza 4, tworząc tor detekcyjny.
Tak zbudowany układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym działa następująco.
Elektrony wtórne EW generowane z powierzchni preparatu umieszczonego na stoliku przedmiotowym 7, są przyciągane przez spolaryzowaną dodatnim napięciem dolną przesłonę dławiącą 12 i przechodzą przez otwór w tej elektrodzie. Po drugiej stronie dolnej przesłony dławiącej 12, strumień elektronów wtórnych EW napotyka na hamujące pole elektryczne, wytwarzane przez rurkę ekranującą 5 spolaryzowaną ujemnie względem dolnej przesłony dławiącej 12. Dzięki temu w rejonie otworu w dolnej przesłonie dławiącej 12 powstaje soczewka elektronowa o charakterze rozpraszającym,
PL 210 038 B1 a przepływ elektronów wtórnych EW od stolika przedmiotowego 7 do płytki mikroporowatej 13 jest laminarny. Zatem, sektor powierzchni wejściowej płytki mikroporowatej 13, na który padają elektrony wtórne EW odpowiada kierunkowi ich emisji z preparatu. Na drugiej, wyjściowej stronie płytki mikroporowatej 13 warstwa przewodząca jest podzielona na cztery izolowane galwanicznie sektory, stanowiące sektorowe elektrody sterujące 9, zasilane stałym napięciem polaryzacji Uo i i mpulsami napięcia Up1, Up2, Up3, Up4 napięcia zmieniającego się w czasie. Elektrony wtórne EW przechodzą przez mikroskopijne kanaliki płytki mikroporowatej 13, typu mikrosferoidalnego spolaryzowanej napięciem rzędu 1 kV, ulegając przy tym powieleniu dzięki emisji wtórnej ze ścianek. Wzmocnienie płytki mikroporowatej 13 w danym sektorze zależy wykładniczo od napięcia zasilania i wystarczy gdy składowa stała napięcia polaryzacji Uo zostanie chwilowo powiększona o 20%, przez dodanie impulsu napięcia Up1, Up2, Up3, lub Up4 próbkującego, by uzyskać prąd wyjściowy w danym sektorze o rząd większy niż w pozostałych sektorach. Wzmocniony strumień elektronów wtórnych EW opuszcza płytkę mikroporowatą 13 w próbkowanym sektorze i trafia do jednego z dwóch scyntylatorów 3, rozmieszczonych symetrycznie po obu stronach osi wiązki elektronowej WE i spolaryzowanych dodatnio względem płytki mikroporowatej 13 napięciem przyśpieszającym Ua około 10kV. Scyntylatory 3 przetwarzają prąd elektronowy na sygnały świetlne transmitowane światłowodami 2 do wspólnego fotopowielacza 4, gdzie zostają ostatecznie przetworzone na elektryczne sygnały wyjściowe. W wariancie wykonania 3, zastosowano dwa scyntylatory 3 połączone z dwoma prętowymi światłowodami 2 o przekroju kołowym, zamiast jednego płaskiego światłowodu 2 ze scyntylatorem 3 pierścieniowym. Wynika to z faktu, że w przypadku zastosowania układu do kierunkowej detekcji elektronów w niskopróżniowym skaningowym mikroskopie elektronowym, prętowe światłowody 2 jest łatwiej uszczelnić w korpusie 1, który rozdziela tutaj obszary o różnych ciśnieniach P1, P2 i P3.

Claims (8)

1. Sposób kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, w którym tworzy się co najmniej dwa sektory przepływu elektronów podlegających detekcji, znamienny tym, że w sektorach otwiera się naprzemiennie przepływ elektronów w ustalonej sekwencji czasowej.
2. Układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym złożony ze scyntylacyjnego detektora elektronów i zespołu elektrod ogniskujących i sterujących przepływem elektronów, znamienny tym, że w co najmniej dwóch sektorach przepływu elektronów od stolika przedmiotowego (7) do scyntylatora (3), są umieszczone sektorowe elektrody sterujące (9) zasilane sekwencyjnie impulsami napięcia elektrycznego.
3. Układ według zastrz. 2, znamienny tym, że sektorowe elektrody sterujące (9) wykonane są z siatki metalowej.
4. Układ według zastrz. 2, znamienny tym, że sektorowe elektrody sterujące (9) wykonane są w formie płytek przewodzących umieszczonych tak by nie przesłaniać przepływu elektronów do scyntylatora (3).
5. Układ według zastrz. 2, znamienny tym, że sektorowe elektrody sterujące (9) są na powierzchni płytki mikroporowatej (13) naniesione w postaci cienkiej warstwy przewodzącej.
6. Układ według zastrz. 3, znamienny tym, że sektorowe elektrody sterujące (9) są umieszczone na drodze przelotu elektronów od stolika przedmiotowego (7) do scyntylatora (3).
7. Układ według zastrz. 2, znamienny tym, że ma co najmniej dwa scyntylatory (3) połączone z poprzez jeden światłowód (2) z jednym fotopowielaczem (4),
8. Układ według zastrz. 2, znamienny tym, że ma co najmniej dwa scyntylatory (3) połączone poprzez co najmniej dwa światłowody (2) z jednym fotopowielaczem (4).
PL364510A 2003-10-27 2004-01-21 Sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym PL210038B1 (pl)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL364510A PL210038B1 (pl) 2004-01-21 2004-01-21 Sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym
PCT/PL2004/000080 WO2005071710A1 (en) 2004-01-21 2004-10-06 Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope
EP04775186A EP1706887B1 (en) 2004-01-21 2004-10-06 Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope
US11/410,208 US7531812B2 (en) 2003-10-27 2006-04-25 Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL364510A PL210038B1 (pl) 2004-01-21 2004-01-21 Sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL364510A1 PL364510A1 (pl) 2005-07-25
PL210038B1 true PL210038B1 (pl) 2011-11-30

Family

ID=34806253

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL364510A PL210038B1 (pl) 2003-10-27 2004-01-21 Sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1706887B1 (pl)
PL (1) PL210038B1 (pl)
WO (1) WO2005071710A1 (pl)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4588890A (en) * 1984-12-31 1986-05-13 International Business Machines Corporation Apparatus and method for composite image formation by scanning electron beam
JPS62184752A (ja) * 1986-02-07 1987-08-13 Jeol Ltd 荷電粒子ビ−ム測長機
JP2678059B2 (ja) * 1989-04-17 1997-11-17 富士通株式会社 電子ビーム装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1706887A1 (en) 2006-10-04
PL364510A1 (pl) 2005-07-25
EP1706887B1 (en) 2012-09-26
WO2005071710A1 (en) 2005-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6934980B2 (ja) 走査型電子顕微鏡装置
US7531812B2 (en) Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope
DE112011100306B4 (de) Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
AU748781B2 (en) Environmental SEM with a magnetic field for improved secondary electron detection
JPH04504325A (ja) 環境形走査型電子顕微鏡
WO2008087386A1 (en) Charged particle analyser system and method
US6730907B1 (en) Charged particle device
JPS59501384A (ja) 電子ビ−ム装置およびそのための電子コレクタ
JPWO2019064496A1 (ja) 走査電子顕微鏡
JP2002083563A (ja) 走査型電子顕微鏡
GB1304344A (pl)
JP6440128B2 (ja) エネルギー弁別電子検出器及びそれを用いた走査電子顕微鏡
EP0617452B1 (en) Charged particle analyser
PL210038B1 (pl) Sposób i układ do kierunkowej detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym
US10395885B2 (en) Charged particle device, charged particle irradiation method, and analysis device
US9202667B2 (en) Charged particle radiation device with bandpass detection
JPH0773841A (ja) 走査電子顕微鏡と二次電子検出系
JPS58155365A (ja) 二次電子スペクトロメ−タ
SU915654A1 (en) Electrostatic energy analyzer
JP2001148231A (ja) 多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡
Kazmiruk et al. Modifying a low-voltage electron probe system
PL226521B1 (pl) Zespół kierunkowej detekcji elektronów
Menzel et al. Characterization and performance improvement of secondary electron analyzers
JPH0320949A (ja) 二次荷電粒子解析装置、及びそれを用いた試料解析方法