PL209089B1 - Sposób i układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego - Google Patents
Sposób i układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznegoInfo
- Publication number
- PL209089B1 PL209089B1 PL371052A PL37105204A PL209089B1 PL 209089 B1 PL209089 B1 PL 209089B1 PL 371052 A PL371052 A PL 371052A PL 37105204 A PL37105204 A PL 37105204A PL 209089 B1 PL209089 B1 PL 209089B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- optical
- angle
- prism
- optical radiation
- photodiode
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 30
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego i układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego.
Znany jest sposób pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego, w którym za pomocą spektrometru optycznego mierzy się kąt łamiący pryzmatu φ przy oświetleniu dwóch powierzchni bocznych pryzmatu i ustawieniu krawędzi pryzmatu naprzeciwko kolimatora spektrometru. Odpowiada to kątowej różnicy położenia lunety równej podwojonej wartości kąta łamiącego. Ponadto przy oświetleniu jednej z powierzchni bocznych pryzmatu wyznacza się kąt najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania emin względem kierunku pierwotnego, a współczynnik załamania wyznacza się ze wzoru n = sin (εmin +φ>2 sin φ/2
Kąt najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania smin względem kierunku pierwotnego odczytywany jest ze skali spektrometru z przy ustawieniu lunety na środek odchylonej wiązki i uprzednim odczycie położenia wiązki nie odchylonej.
Znany układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego zawiera spektrometr optyczny z pryzmatem wykonanym z substancji badanej, na który pada wiązka promieniowania optycznego ze źródła światła poprzez kolimator.
Znany sposób i układ nie może być stosowany w przypadku promieniowania podczerwonego i ultrafioletowego, a jedynie w zakresie widzialnym.
Znany jest z opisu patentowego WO 9802730 Al sposób pomiaru kąta całkowitego wewnętrznego odbicia na granicy dielektryk - cienka warstwa metaliczna - badany materiał. Sygnał optyczny po odbiciu podawany jest na fotodiodę, gdzie mierzony jest prąd lub napięcie. Maksymalny sygnał fotodiody odpowiada kątowi całkowitego wewnętrznego odbicia.
Układ pomiarowy zawiera źródło światła, układ optyczny z polaryzatorem oraz część detekcyjną z typową fotodiodą.
Znany sposób i układ obarczony jest znacznym błędem pomiaru ze względu na wymiary powierzchni detekcyjnej fotodiody.
Istota sposobu według wynalazku polega na tym, że przetwarza się prążek promieniowania optycznego na prąd detekcyjny prostokątnej fotodiody, której przekątna jest tak ustawiona, że jest równoległa do prążka.
Istota układu według wynalazku polega na tym, że w lunecie spektrometru optycznego umieszczona jest prostokątna fotodioda, która ma powierzchnię czynną prostokątną, a przekątna jest równoległa do prążka promieniowania optycznego. Fotodioda ma powierzchnię czynną kwadratową.
Rozwiązanie według wynalazku pozwala na pomiary współczynnika załamania promieniowania widzialnego podczerwonego i ultrafioletowego z dużą dokładnością. Układ według wynalazku ponadto minimalizuje wpływ dyfrakcji na szczelinie wejściowej kolimatora, zwiększa dokładność pomiaru i pozwala na zautomatyzowanie pomiaru i zapis wyników w postaci cyfrowej.
Wynalazek jest bliżej objaśniony na podstawie rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schematycznie układ pomiarowy, a fig. 2 - schematycznie usytuowanie pryzmatu względem prążka.
Sposób pomiaru polega na wyznaczeniu kąta łamiącego pryzmatu φ przy oświetleniu dwóch powierzchni bocznych pryzmatu 1. W lunecie 6 spektrometru obserwuje się wiązki odbite 5 od ścianek pryzmatu 1 i mierzy się kąt między tymi wiązkami 2φ. Odpowiada to kątowej różnicy położenia lunety równej podwojonej wartości kąta łamiącego. Przy oświetleniu jednej z powierzchni bocznych pryzmatu 1 wyznacza się kąt najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania smin. W tym celu prążek promieniowania optycznego 5 przetwarza się na prąd detekcyjny w prostokątnej fotodiodzie 7, której przekątna jest równoległa do prążka 5. Mierzy się prąd prostokątnej fotodiody 7 w funkcji kąta obrotu lunety 6 na stoliku obrotowym 2. Maksimum tej funkcji wyznacza kąt najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania emin. Współczynnik załamania promieniowania wyznacza się ze wzoru sin (εmin +φ)/2 sin φ/2
PL 209 089 B1
Pryzmat 1 wykonany z badanej substancji znajduje się na stoliku obrotowym 2 spektrometru optycznego S. Laser 3 emituje wiązkę 5' promieniowania, która pada na wejście kolimatora 4 spektrometru S. Wychodząca z kolimatora 4 wiązka jest uformowana i ma postać prążka 5, który pada na pryzmat 1, a następnie trafia do lunety 6. Wewnątrz lunety znajduje się prostokątna fotodioda 7, w której następuje detekcja promieniowania. Fotodioda ta usytuowana jest wewnątrz lunety 6 tak, że jej przekątna jest równoległa do prążka 5 promieniowania, co uwidocznione jest na fig. 2. Fotodioda 7 połączona jest przewodem elektrycznym z układem pomiarowym 8. Położenie pryzmatu 1 regulowane jest za pomocą ruchu obrotowego stolika 2. Pomiar prądu fotodiody wykonywany jest w trakcie precyzyjnego obrotu lunety 6. Pomiar wartości kąta łamiącego φ i kąta najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania smin odbywa się w sposób jak poniżej.
Za pomocą spektrometru optycznego S wyznacza się kąt łamiący φ pryzmatu 1 przy oświetleniu dwóch powierzchni bocznych pryzmatu 1, co odpowiada kątowej różnicy położenia lunety 6 równej podwojonej wartości kąta łamiącego φ. Przy oświetleniu jednej powierzchni bocznej wyznacza się kąt najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania smin. Wartości obu kątów wyznacza się z położenia maksimum funkcji prądu fotodiody 7 w zależności od kąta obrotu lunety α. Powierzchnia czynna prostokątnej fotodiody 7 ma kształt kwadratu, a prążek promieniowania jest równoległy do przekątnej kwadratu. Współczynnik załamania promieniowania wyznacza się ze wzoru n = sin (εmin +φ)/2 sin φ/2
Zaletą sposobu jest możliwość wyznaczenia z dużą dokładnością współczynnika załamania promieniowania z poza zakresu widzialnego.
Claims (3)
1. Sposób pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego, w którym za pomocą spektrometru optycznego mierzy się kąt łamiący pryzmatu φ przy oświetleniu dwóch powierzchni bocznych pryzmatu, co odpowiada kątowej różnicy położenia lunety równej podwojonej wartości kąta łamiącego oraz przy oświetleniu jednej z powierzchni bocznych pryzmatu wyznacza się kąt najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania emin względem kierunku pierwotnego, a współczynnik załamania wyznacza się ze wzoru n = sin (εmin +φ)/2 sin φ/2 po przetworzeniu prążka promieniowania optycznego na prąd detekcyjny mierzy się prąd fotodiody w funkcji kąta obrotu i wyznacza się maksimum prądu co odpowiada kątowi najmniejszego odchylenia wiązki promieniowania względem kierunku pierwotnego smin, znamienny tym, że przetwarza się prążek promieniowania optycznego na prąd detekcyjny prostokątnej fotodiody (7), której przekątną ustawia się tak, aby przekątna jej powierzchni czynnej była równoległa do prążka (5) promieniowania optycznego.
2. Układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego zawierający spektrometr optyczny z pryzmatem wykonanym z substancji badanej, na który pada wiązka promieniowania optycznego, znamienny tym, że w lunecie (6) spektrometru optycznego (S) umieszczona jest prostokątna fotodioda (7), która ma powierzchnię czynną prostokątną, a przekątna prostokąta jest równoległa do prążka (5) promieniowania optycznego.
3. Układ według zastrz. 2, znamienny tym, że fotodioda (7) ma powierzchnię czynną kwadratową.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL371052A PL209089B1 (pl) | 2004-11-05 | 2004-11-05 | Sposób i układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL371052A PL209089B1 (pl) | 2004-11-05 | 2004-11-05 | Sposób i układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL371052A1 PL371052A1 (pl) | 2006-05-15 |
| PL209089B1 true PL209089B1 (pl) | 2011-07-29 |
Family
ID=38317300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL371052A PL209089B1 (pl) | 2004-11-05 | 2004-11-05 | Sposób i układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL209089B1 (pl) |
-
2004
- 2004-11-05 PL PL371052A patent/PL209089B1/pl not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL371052A1 (pl) | 2006-05-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5790242A (en) | Chromatic optical ranging sensor | |
| JP5520036B2 (ja) | 光学式変位計 | |
| KR102696735B1 (ko) | 순시 엘립소미터 또는 스케터로미터 및 이와 관련된 측정 방법 | |
| US7298468B2 (en) | Method and measuring device for contactless measurement of angles or angle changes on objects | |
| US20090103076A1 (en) | Transmitted light refractometer | |
| TWI452262B (zh) | 同時量測位移及傾角之干涉儀系統 | |
| CN105278253A (zh) | 套刻误差测量装置及方法 | |
| US9068811B2 (en) | Device for determining distance interferometrically | |
| US8289525B2 (en) | Optical surface measuring apparatus and method | |
| EP0179935A1 (en) | Interferometric thickness analyzer and measuring method | |
| JP2000241128A (ja) | 面間隔測定方法および装置 | |
| US4425041A (en) | Measuring apparatus | |
| Sohn et al. | Portable autocollimators using the laser diode and the position sensitive detector | |
| US20120316830A1 (en) | Coupled multi-wavelength confocal systems for distance measurements | |
| PL209089B1 (pl) | Sposób i układ do pomiaru współczynnika załamania promieniowania optycznego | |
| JPS63193003A (ja) | 凹部深さ・膜厚測定装置 | |
| Domanski et al. | Compact optical fiber refractive index differential sensor for salinity measurements | |
| CN116086776A (zh) | 一种准直光束发散角检测装置及发散角检测方法 | |
| CN120721684B (zh) | 基于晶体旋转的双折射率和偏振分束比测量系统及方法 | |
| Eves et al. | Uncertainty evaluation of the NRC imaging diffractometer | |
| GB2468177A (en) | Optical surface measuring apparatus and method | |
| Duis et al. | Design And Performance Of A High Resolution, High Accuracy Automatic Autocollimator. | |
| Hahn | Thermal expansion measurements using optical interferometry | |
| JP2523334B2 (ja) | 光学式変位計 | |
| JPH03186709A (ja) | 光学式形状測定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Decisions on the lapse of the protection rights |
Effective date: 20111105 |