PL208151B1 - Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym - Google Patents
Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowymInfo
- Publication number
- PL208151B1 PL208151B1 PL363131A PL36313103A PL208151B1 PL 208151 B1 PL208151 B1 PL 208151B1 PL 363131 A PL363131 A PL 363131A PL 36313103 A PL36313103 A PL 36313103A PL 208151 B1 PL208151 B1 PL 208151B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- scanning electron
- microporous plate
- electron microscope
- scintillators
- axis
- Prior art date
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 abstract description 6
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 abstract description 4
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 abstract description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001803 electron scattering Methods 0.000 description 1
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/244—Detectors; Associated components or circuits therefor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/244—Detection characterized by the detecting means
- H01J2237/2443—Scintillation detectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/244—Detection characterized by the detecting means
- H01J2237/24435—Microchannel plates
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, przeznaczony zwłaszcza do pracy w zakresie ciśnień w komorze przedmiotowej rzędu 100 Pa.
Z polskich opisów zgłoszeń patentowych: nr P329339, pt. Wysokociśnieniowy skaningowy mikroskop elektronowy, oraz nr P359748, pt. „Układ detekcyjny elektronów wtórnych do skaningowego mikroskopu elektronowego znany jest układ detekcyjny elektronów, złożony z płytki mikroporowatej, korzystnie typu mikrosferoidalnego oraz detektora elektronów wtórnych typu scyntylacyjnego. W obu rozwiązaniach, strumień elektronów wtórnych, niezależnie od kierunku ich emisji, jest wprowadzany do otworu w dolnej ściance komory pośredniej, spolaryzowanej odpowiednim napięciem elektrycznym. Otwór ten stanowi jednocześnie dolną przesłonę dławiącą przepływ gazu z komory przedmiotowej do komory pośredniej. Elektrony wtórne, które zostały wciągnięte do wnętrza komory pośredniej przez pole elektryczne, kierowane są na powierzchnię wejściową płytki mikroporowatej umieszczonej na osi kolumny elektronooptycznej i przechodząc przez płytkę mikroporowatą ulegają powieleniu. Po stronie wyjściowej płytki mikroporowatej, wzmocniony strumień elektronów wtórnych zostaje przyciągnięty przez scyntylator spolaryzowany wysokim napięciem i podlega końcowej detekcji, to jest przetworzeniu na sygnał świetlny, przesyłany światłowodem do fotopowielacza celem powtórnego przetworzenia na sygnał elektryczny. Sygnał ten nie zależy w istotny sposób od kierunku emisji elektronów wtórnych podlegających detekcji.
Przedmiotem wynalazku jest układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, wyposażony w dolną przesłonę dławiącą, płytkę mikroporowatą z rurką ekranującą oraz scyntylatory połączone ze światłowodami i fotopowielaczami.
Istota układu polega na tym, że po stronie wyjścia płytki mikroporowatej znajdują się co najmniej dwa scyntylatory.
Korzystnie każdy scyntylator jest spolaryzowany względem wyjścia płytki mikroporowatej wysokim napięciem dodatnim o wartości powyżej 1000 V.
Korzystnym jest również to, że rurka ekranująca umieszczona w otworze płytki mikroporowatej jest spolaryzowana napięciem ujemnym względem dolnej przesłony dławiącej.
Zaletą układu do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, według wynalazku jest możność prowadzenia kierunkowej detekcji elektronów wtórnych, dla której sygnały wyjściowe jednoznacznie zależą od lokalnego kierunku i kąta pochylenia badanej powierzchni. Otrzymane sygnały wyjściowe, po przetworzeniu pozwalają na trójwymiarową rekonstrukcję topografii badanej powierzchni.
Przedmiot wynalazku w przykładzie wykonania jest odtworzony na rysunku, który przedstawia układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, w przekroju poprzecznym.
Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym jest zamontowany w korpusie 1, wykonanym z teflonu. W dolnej części korpusu 1 jest umieszczona dolna przesłona dławiąca 2, w postaci płytki metalowej z małym otworem na osi wiązki skanującej WE. Powyżej dolnej przesłony dławiącej 2, jest umieszczona płytka mikroporowatą 3. Płytka mikroporowata 3 ma otwór na osi wiązki elektronowej skanującej WE, w którym za pośrednictwem uszczelki teflonowej jest zamocowana rurka ekranująca 4. Powyżej płytki mikroporowatej 3 umieszczone są cztery scyntylatory 5 rozmieszczone symetrycznie względem osi wiązki elektronowej WE. Scyntylatory 5 są połączone ze światłowodami 6 prowadzącymi do fotopowielaczy.
Tak zbudowany układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym działa w następujący sposób.
Elektrony wtórne EW generowane z powierzchni preparatu umieszczonego na stoliku przedmiotowym 7, są przyciągane przez spolaryzowaną dodatnim napięciem dolną przesłonę dławiącą 2 i przechodzą przez otwór w tej elektrodzie. Po drugiej stronie dolnej przesłony dławiącej 2, strumień elektronów wtórnych EW napotyka na hamujące pole elektryczne, wytwarzane przez rurkę ekranującą 4 spolaryzowaną ujemnie względem dolnej przesłony dławiącej 2. Dzięki temu w rejonie otworu w dolnej przesłonie dławiącej 2 powstaje soczewka elektronowa o charakterze rozpraszającym, a przepływ elektronów wtórnych EW od stolika przedmiotowego 7 do płytki mikroporowatej 3 jest laminarny. Zatem, sektor powierzchni wejściowej płytki mikroporowatej 3, na który padają elektrony wtórne EW odpowiada kierunkowi ich emisji z preparatu. Elektrony wtórne EW przechodzą przez mikroskopijne kanaliki płytki mikroporowatej 3, typu mikrosferoidalnego zasilanej napięciem rzędu 1 kV, ulegając przy tym powieleniu dzięki emisji wtórnej ze ścianek. Wzmocniony strumień elektronów wtórnych EW
PL 208 151 B1 opuszcza płytkę mikroporowatą 3 po stronie wyjściowej, gdzie znajdują się cztery scyntylatory 5, rozmieszczone symetrycznie wokół osi wiązki elektronowej WE. Scyntylatory 5 są spolaryzowane dodatnio względem płytki mikroporowatej 3 napięciem 12 kV i dzięki temu przechwytują elektrony wtórne EW, wychodzące odpowiednio z sąsiadujących z nimi obszarów płytki mikroporowatej 3, przetwarzają je na sygnały świetlne transmitowane światłowodami 6 do odpowiednich fotopowielaczy, gdzie zostają ostatecznie przetworzone na elektryczne sygnały wyjściowe. Natężenie sygnału wyjściowego w każdym z czterech torów zależy tutaj od liczby elektronów wtórnych EW wyemitowanych w kierunku danego scyntylatora 5, zatem układ detekcyjny ma własności kierunkowe. Własności te mogą być zakłócane przez rozpraszanie elektronów wtórnych EW, w skutek zderzeń z atomami gazu o stosunkowo wysokim ciśnieniu Pj, wypełniającego komorę przedmiotową mikroskopu. Ciśnienie gazu P2, w przestrzeni między płytką mikroporowatą 3 i dolną przesłoną dławiącą 2, stanowiącej komorę pośrednią, jest o dwa rzędy wielkości mniejsze więc nie powoduje istotnego rozpraszania elektronów. By zminimalizować efekty rozpraszania, odległość stolika przedmiotowego 7 od dolnej przesłony dławiącej 2 powinna być porównywalna ze średnicą otworu w dolnej przesłonie dławiącej 2.
Cztery sygnały, uzyskane z układu do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, mogą zostać przetworzone sposobem, który prowadzi do wytworzenia trójwymiarowego obrazu badanej powierzchni.
Claims (3)
1. Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, wyposażony w dolną przesłonę dławiącą, płytkę mikroporowatą z rurką ekranującą oraz scyntylatory połączone ze światłowodami i fotopowielaczami, znamienny tym, że po stronie wyjścia płytki mikroporowatej (3) znajdują się co najmniej dwa scyntylatory (5).
2. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że każdy scyntylator (5) jest spolaryzowany względem wyjścia płytki mikroporowatej (3) wysokim napięciem dodatnim o wartości powyżej 1000 V.
3. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że rurka ekranująca (4) umieszczona w otworze płytki mikroporowatej (3) jest spolaryzowana napięciem ujemnym względem dolnej przesłony dławiącej (2).
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL363131A PL208151B1 (pl) | 2003-10-27 | 2003-10-27 | Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym |
| EP04775185A EP1678734A1 (en) | 2003-10-27 | 2004-10-06 | Electron detection system for a scanning electron microscope |
| PCT/PL2004/000079 WO2005041243A1 (en) | 2003-10-27 | 2004-10-06 | Electron detection system for a scanning electron microscope |
| US11/410,208 US7531812B2 (en) | 2003-10-27 | 2006-04-25 | Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL363131A PL208151B1 (pl) | 2003-10-27 | 2003-10-27 | Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL363131A1 PL363131A1 (pl) | 2005-05-02 |
| PL208151B1 true PL208151B1 (pl) | 2011-03-31 |
Family
ID=34511363
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL363131A PL208151B1 (pl) | 2003-10-27 | 2003-10-27 | Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP1678734A1 (pl) |
| PL (1) | PL208151B1 (pl) |
| WO (1) | WO2005041243A1 (pl) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL217173B1 (pl) * | 2008-07-14 | 2014-06-30 | Politechnika Wroclawska | Układ detekcyjny elektronów i skaningowy mikroskop elektronowy |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5990483A (en) * | 1997-10-06 | 1999-11-23 | El-Mul Technologies Ltd. | Particle detection and particle detector devices |
| US6590210B1 (en) * | 1998-03-10 | 2003-07-08 | Erik Essers | Scanning electron microscope |
| EP1350259B1 (en) * | 2000-12-22 | 2004-08-25 | Fei Company | Sem provided with a secondary electron detector having a central electrode |
-
2003
- 2003-10-27 PL PL363131A patent/PL208151B1/pl unknown
-
2004
- 2004-10-06 EP EP04775185A patent/EP1678734A1/en not_active Withdrawn
- 2004-10-06 WO PCT/PL2004/000079 patent/WO2005041243A1/en not_active Ceased
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1678734A1 (en) | 2006-07-12 |
| PL363131A1 (pl) | 2005-05-02 |
| WO2005041243A1 (en) | 2005-05-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4482179B2 (ja) | 粒子ビーム装置 | |
| TWI729279B (zh) | 帶電粒子線裝置 | |
| US8629395B2 (en) | Charged particle beam apparatus | |
| US9029766B2 (en) | Scanning electron microscope | |
| JP2899629B2 (ja) | 荷電二次粒子の検出装置 | |
| TWI419196B (zh) | 帶電粒子成像系統的偵測單元、檢視試片系統及試片表面成像方法 | |
| US6781124B2 (en) | Particle detectors | |
| CN108352284A (zh) | 宽场大气压扫描电子显微镜 | |
| TWI796667B (zh) | 用於檢查及/或成像樣品的帶電粒子束裝置及方法 | |
| TW201011803A (en) | Charged particles detection devices | |
| US7531812B2 (en) | Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope | |
| US7060978B2 (en) | Detector system for a particle beam apparatus, and particle beam apparatus with such a detector system | |
| PL207199B1 (pl) | Układ detekcyjny elektronów wtórnych do skaningowego mikroskopu elektronowego | |
| CN115398590B (zh) | 用于检查和/或成像样品的带电粒子束装置和方法 | |
| PL208151B1 (pl) | Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym | |
| US10037862B2 (en) | Charged particle detecting device and charged particle beam system with same | |
| WO2020189329A1 (ja) | ホルダおよび荷電粒子線装置 | |
| PL207238B1 (pl) | Układ detekcyjny elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych do skaningowego mikroskopu elektronowego | |
| CZ307557B6 (cs) | Scintilační detekční jednotka pro detekci zpětně odražených elektronů pro elektronové nebo iontové mikroskopy | |
| EP3183562B1 (en) | Neutral atom or molecule detector | |
| US20240302542A1 (en) | Particle beam microscope | |
| PL329339A1 (en) | High-pressure scanning electron microscope | |
| PL226521B1 (pl) | Zespół kierunkowej detekcji elektronów |