PL208151B1 - Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym - Google Patents

Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym

Info

Publication number
PL208151B1
PL208151B1 PL363131A PL36313103A PL208151B1 PL 208151 B1 PL208151 B1 PL 208151B1 PL 363131 A PL363131 A PL 363131A PL 36313103 A PL36313103 A PL 36313103A PL 208151 B1 PL208151 B1 PL 208151B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
scanning electron
microporous plate
electron microscope
scintillators
axis
Prior art date
Application number
PL363131A
Other languages
English (en)
Other versions
PL363131A1 (pl
Inventor
Witold Słówko
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Priority to PL363131A priority Critical patent/PL208151B1/pl
Priority to EP04775185A priority patent/EP1678734A1/en
Priority to PCT/PL2004/000079 priority patent/WO2005041243A1/en
Publication of PL363131A1 publication Critical patent/PL363131A1/pl
Priority to US11/410,208 priority patent/US7531812B2/en
Publication of PL208151B1 publication Critical patent/PL208151B1/pl

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/244Detectors; Associated components or circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/2443Scintillation detectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/244Detection characterized by the detecting means
    • H01J2237/24435Microchannel plates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, przeznaczony zwłaszcza do pracy w zakresie ciśnień w komorze przedmiotowej rzędu 100 Pa.
Z polskich opisów zgłoszeń patentowych: nr P329339, pt. Wysokociśnieniowy skaningowy mikroskop elektronowy, oraz nr P359748, pt. „Układ detekcyjny elektronów wtórnych do skaningowego mikroskopu elektronowego znany jest układ detekcyjny elektronów, złożony z płytki mikroporowatej, korzystnie typu mikrosferoidalnego oraz detektora elektronów wtórnych typu scyntylacyjnego. W obu rozwiązaniach, strumień elektronów wtórnych, niezależnie od kierunku ich emisji, jest wprowadzany do otworu w dolnej ściance komory pośredniej, spolaryzowanej odpowiednim napięciem elektrycznym. Otwór ten stanowi jednocześnie dolną przesłonę dławiącą przepływ gazu z komory przedmiotowej do komory pośredniej. Elektrony wtórne, które zostały wciągnięte do wnętrza komory pośredniej przez pole elektryczne, kierowane są na powierzchnię wejściową płytki mikroporowatej umieszczonej na osi kolumny elektronooptycznej i przechodząc przez płytkę mikroporowatą ulegają powieleniu. Po stronie wyjściowej płytki mikroporowatej, wzmocniony strumień elektronów wtórnych zostaje przyciągnięty przez scyntylator spolaryzowany wysokim napięciem i podlega końcowej detekcji, to jest przetworzeniu na sygnał świetlny, przesyłany światłowodem do fotopowielacza celem powtórnego przetworzenia na sygnał elektryczny. Sygnał ten nie zależy w istotny sposób od kierunku emisji elektronów wtórnych podlegających detekcji.
Przedmiotem wynalazku jest układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, wyposażony w dolną przesłonę dławiącą, płytkę mikroporowatą z rurką ekranującą oraz scyntylatory połączone ze światłowodami i fotopowielaczami.
Istota układu polega na tym, że po stronie wyjścia płytki mikroporowatej znajdują się co najmniej dwa scyntylatory.
Korzystnie każdy scyntylator jest spolaryzowany względem wyjścia płytki mikroporowatej wysokim napięciem dodatnim o wartości powyżej 1000 V.
Korzystnym jest również to, że rurka ekranująca umieszczona w otworze płytki mikroporowatej jest spolaryzowana napięciem ujemnym względem dolnej przesłony dławiącej.
Zaletą układu do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, według wynalazku jest możność prowadzenia kierunkowej detekcji elektronów wtórnych, dla której sygnały wyjściowe jednoznacznie zależą od lokalnego kierunku i kąta pochylenia badanej powierzchni. Otrzymane sygnały wyjściowe, po przetworzeniu pozwalają na trójwymiarową rekonstrukcję topografii badanej powierzchni.
Przedmiot wynalazku w przykładzie wykonania jest odtworzony na rysunku, który przedstawia układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, w przekroju poprzecznym.
Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym jest zamontowany w korpusie 1, wykonanym z teflonu. W dolnej części korpusu 1 jest umieszczona dolna przesłona dławiąca 2, w postaci płytki metalowej z małym otworem na osi wiązki skanującej WE. Powyżej dolnej przesłony dławiącej 2, jest umieszczona płytka mikroporowatą 3. Płytka mikroporowata 3 ma otwór na osi wiązki elektronowej skanującej WE, w którym za pośrednictwem uszczelki teflonowej jest zamocowana rurka ekranująca 4. Powyżej płytki mikroporowatej 3 umieszczone są cztery scyntylatory 5 rozmieszczone symetrycznie względem osi wiązki elektronowej WE. Scyntylatory 5 są połączone ze światłowodami 6 prowadzącymi do fotopowielaczy.
Tak zbudowany układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym działa w następujący sposób.
Elektrony wtórne EW generowane z powierzchni preparatu umieszczonego na stoliku przedmiotowym 7, są przyciągane przez spolaryzowaną dodatnim napięciem dolną przesłonę dławiącą 2 i przechodzą przez otwór w tej elektrodzie. Po drugiej stronie dolnej przesłony dławiącej 2, strumień elektronów wtórnych EW napotyka na hamujące pole elektryczne, wytwarzane przez rurkę ekranującą 4 spolaryzowaną ujemnie względem dolnej przesłony dławiącej 2. Dzięki temu w rejonie otworu w dolnej przesłonie dławiącej 2 powstaje soczewka elektronowa o charakterze rozpraszającym, a przepływ elektronów wtórnych EW od stolika przedmiotowego 7 do płytki mikroporowatej 3 jest laminarny. Zatem, sektor powierzchni wejściowej płytki mikroporowatej 3, na który padają elektrony wtórne EW odpowiada kierunkowi ich emisji z preparatu. Elektrony wtórne EW przechodzą przez mikroskopijne kanaliki płytki mikroporowatej 3, typu mikrosferoidalnego zasilanej napięciem rzędu 1 kV, ulegając przy tym powieleniu dzięki emisji wtórnej ze ścianek. Wzmocniony strumień elektronów wtórnych EW
PL 208 151 B1 opuszcza płytkę mikroporowatą 3 po stronie wyjściowej, gdzie znajdują się cztery scyntylatory 5, rozmieszczone symetrycznie wokół osi wiązki elektronowej WE. Scyntylatory 5 są spolaryzowane dodatnio względem płytki mikroporowatej 3 napięciem 12 kV i dzięki temu przechwytują elektrony wtórne EW, wychodzące odpowiednio z sąsiadujących z nimi obszarów płytki mikroporowatej 3, przetwarzają je na sygnały świetlne transmitowane światłowodami 6 do odpowiednich fotopowielaczy, gdzie zostają ostatecznie przetworzone na elektryczne sygnały wyjściowe. Natężenie sygnału wyjściowego w każdym z czterech torów zależy tutaj od liczby elektronów wtórnych EW wyemitowanych w kierunku danego scyntylatora 5, zatem układ detekcyjny ma własności kierunkowe. Własności te mogą być zakłócane przez rozpraszanie elektronów wtórnych EW, w skutek zderzeń z atomami gazu o stosunkowo wysokim ciśnieniu Pj, wypełniającego komorę przedmiotową mikroskopu. Ciśnienie gazu P2, w przestrzeni między płytką mikroporowatą 3 i dolną przesłoną dławiącą 2, stanowiącej komorę pośrednią, jest o dwa rzędy wielkości mniejsze więc nie powoduje istotnego rozpraszania elektronów. By zminimalizować efekty rozpraszania, odległość stolika przedmiotowego 7 od dolnej przesłony dławiącej 2 powinna być porównywalna ze średnicą otworu w dolnej przesłonie dławiącej 2.
Cztery sygnały, uzyskane z układu do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, mogą zostać przetworzone sposobem, który prowadzi do wytworzenia trójwymiarowego obrazu badanej powierzchni.

Claims (3)

1. Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym, wyposażony w dolną przesłonę dławiącą, płytkę mikroporowatą z rurką ekranującą oraz scyntylatory połączone ze światłowodami i fotopowielaczami, znamienny tym, że po stronie wyjścia płytki mikroporowatej (3) znajdują się co najmniej dwa scyntylatory (5).
2. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że każdy scyntylator (5) jest spolaryzowany względem wyjścia płytki mikroporowatej (3) wysokim napięciem dodatnim o wartości powyżej 1000 V.
3. Układ, według zastrz. 1, znamienny tym, że rurka ekranująca (4) umieszczona w otworze płytki mikroporowatej (3) jest spolaryzowana napięciem ujemnym względem dolnej przesłony dławiącej (2).
PL363131A 2003-10-27 2003-10-27 Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym PL208151B1 (pl)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL363131A PL208151B1 (pl) 2003-10-27 2003-10-27 Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym
EP04775185A EP1678734A1 (en) 2003-10-27 2004-10-06 Electron detection system for a scanning electron microscope
PCT/PL2004/000079 WO2005041243A1 (en) 2003-10-27 2004-10-06 Electron detection system for a scanning electron microscope
US11/410,208 US7531812B2 (en) 2003-10-27 2006-04-25 Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL363131A PL208151B1 (pl) 2003-10-27 2003-10-27 Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL363131A1 PL363131A1 (pl) 2005-05-02
PL208151B1 true PL208151B1 (pl) 2011-03-31

Family

ID=34511363

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL363131A PL208151B1 (pl) 2003-10-27 2003-10-27 Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP1678734A1 (pl)
PL (1) PL208151B1 (pl)
WO (1) WO2005041243A1 (pl)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL217173B1 (pl) * 2008-07-14 2014-06-30 Politechnika Wroclawska Układ detekcyjny elektronów i skaningowy mikroskop elektronowy

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5990483A (en) * 1997-10-06 1999-11-23 El-Mul Technologies Ltd. Particle detection and particle detector devices
US6590210B1 (en) * 1998-03-10 2003-07-08 Erik Essers Scanning electron microscope
EP1350259B1 (en) * 2000-12-22 2004-08-25 Fei Company Sem provided with a secondary electron detector having a central electrode

Also Published As

Publication number Publication date
EP1678734A1 (en) 2006-07-12
PL363131A1 (pl) 2005-05-02
WO2005041243A1 (en) 2005-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4482179B2 (ja) 粒子ビーム装置
TWI729279B (zh) 帶電粒子線裝置
US8629395B2 (en) Charged particle beam apparatus
US9029766B2 (en) Scanning electron microscope
JP2899629B2 (ja) 荷電二次粒子の検出装置
TWI419196B (zh) 帶電粒子成像系統的偵測單元、檢視試片系統及試片表面成像方法
US6781124B2 (en) Particle detectors
CN108352284A (zh) 宽场大气压扫描电子显微镜
TWI796667B (zh) 用於檢查及/或成像樣品的帶電粒子束裝置及方法
TW201011803A (en) Charged particles detection devices
US7531812B2 (en) Method and system for the directional detection of electrons in a scanning electron microscope
US7060978B2 (en) Detector system for a particle beam apparatus, and particle beam apparatus with such a detector system
PL207199B1 (pl) Układ detekcyjny elektronów wtórnych do skaningowego mikroskopu elektronowego
CN115398590B (zh) 用于检查和/或成像样品的带电粒子束装置和方法
PL208151B1 (pl) Układ do detekcji elektronów w skaningowym mikroskopie elektronowym
US10037862B2 (en) Charged particle detecting device and charged particle beam system with same
WO2020189329A1 (ja) ホルダおよび荷電粒子線装置
PL207238B1 (pl) Układ detekcyjny elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych do skaningowego mikroskopu elektronowego
CZ307557B6 (cs) Scintilační detekční jednotka pro detekci zpětně odražených elektronů pro elektronové nebo iontové mikroskopy
EP3183562B1 (en) Neutral atom or molecule detector
US20240302542A1 (en) Particle beam microscope
PL329339A1 (en) High-pressure scanning electron microscope
PL226521B1 (pl) Zespół kierunkowej detekcji elektronów