Przedmiotem wynalazku jest sposób korekcji nie¬ liniowosci charakterystyk czujników pomiarowych wspólpracujacych z przetwornikiem wielkosci ana¬ logowej na czestotliwosc oraz uklad do stosowania tego sposobu.Znaine sa sposoby korekcji nieliniowosci charak¬ terystyk platynowych rezystorów tenmometrycznych oparte ma podziale zakresu pomiarowego na kilka przedzialów korekcji, w których to sposobach cha¬ rakterystyke liniowa przetwornika analogowo- -cyfrowego ustala sie na wielkosc równa nachyle¬ niu charakterystyki rezystancji rezystora w funkcji temperatury, przy zalozeniu zerowego bledu na poczatku i koncu zakresu, a nastepnie w przedzia¬ lach pierwszej polowy zakresu odejmuje sie okres¬ lone ilosci impulsów, zas w przedzialach drugiej polowy temperaturowego zakresu dodaje sie okres¬ lona ilosc impulsów, co przedstawia opis patentowy nr 82 217.Wada znanego sposobu jest zasadnicze skompli¬ kowanie elektronicznych ukladów realizujacych znane sposoby, polegajace na koniecznosci stoso¬ wania ukladów przelaczajacych i ukladów opóznia¬ jacych oraz obarczone sa duzymi bledami aproksy¬ macji charakterystyki czujnika termoelektrycznego, a tym samym pomiar temperatury obarczony jest duzym bledem.Istota wynalazku jest korekcja nieliniowosci cha¬ rakterystyki czujników pomiarowych z duza do¬ kladnoscia, przy pomocy prostych ukladów elek- 2 tromicznych w warunkach wspólpracy tych czujni¬ ków, z przetwornikiem wielkosci analogowej na czestotliwosc.Zadanie to zostalo osiagniete przez opracowanie sposobu, w którym stosujemy interpolacje liniowa czujnika pomiiarowego po stronie analogowej, oraz ukladu korekcyjnego po strome cyfrowej.Na podstawie analizy charakterystyki czujnika pomiarowego przy zalozeniu dopuszczalnego bledu aproksymacji, dla uzyskania prostego ukladu elek¬ tronicznego i duzej dokladnosci interpolacji, wy¬ starczy przyjac dwa wezly interpolacji (xi, yi) i (X2, y2) i interpolowac w tym zakresie charakte¬ rystyke po stronie analogowej, natomiast powyzej x2 po stronie cyfrowej. Korekcja charakterystyki po stronie cyfrowej polega na odejmowaniu pew¬ nej liczby impulsów N oraz na dodawaniu pewnej liczby impulsów M do ciagu impulsów uzyskiwa¬ nych na wyjsciu przetwornika wielkosci amalogo- 20 wej na czestotliwosc, w czasie r0 zliczania w licz¬ niku glównym, przy czym kryterium wyznaczania wezlów interpolacji (xi,yi) i (x2,y2) jest minimum impulsów N i M. Dla kazdej wartosci xk wiel¬ kosci mierzonej x, N i M przyjmuja odpowiednie 2, wartosci Nk i Mk , gdzie Nk i Mk posiadaja takie wartosci, ze róznica pomiedzy wskazaniem przyrzadu i wartoscia wielkosci mierzonej, nie przekracza dopuszczalnego bledu aproksymacji charakterystyki czujnika pomiairowego. Przy czym M dla niektórych czujników pomiarowych lub przy !• ii 130 3073 130 307 4 waskim zakresie pomia(rowyan przyrzadu, moze nie wystapic potrzeba jednoczesnego stosowania, do- dawainia i odejmowania impulsów, a wystarczy stosowalnie tylko dodawania lub tylko odejmowa¬ nia.Rozwiazanie wed,lug wynalazku umozliwia prze¬ prowadzenie korekcji charakterystyki czujnika po¬ miarowego w prosty sposób, przy duzej doklad¬ nosci aproksymacji, przy zastosowaniu prostych ukladów elektronicznych. Wynalazek zostal przed¬ stawiony w przykladzie wykonania za pomoca ry¬ sunku, na którym przedstawiono schemat blokowy ukladu do stosowania sposobu wedlug wynalazku, w przypadku stosowania wynalazku do korekcji charakterystyki czujnika termoelektrycznego typu NiCr-NiAl.W sposobie wedlug wynalazku dla wezlów inter¬ polacji liniowej (xi,yi) i (X2,y2 w oparciu o charak¬ terystyke czujnika pomiarowego, dla kazdej war¬ tosci x; wielkosci mierzonej x okresla sie liczbe odejmowanych impulsów Nk i liczbe dodawanych impulsów Mk do ciagu impulsów wyjsciowych z przetwornika wielkosci analogowej na czestotli¬ wosc w czasie r0 zLiczainda w licandiku glównym przyrzadu, a nastepnie koryguje sie ciag impulsów z przetwornika wielkosci analogowej na czestotli¬ wosc o liczbe impulsów odejmowanych Nt i do¬ dawanych Mk .Uklad do stosowania sposobu- wedlug wynalazku jest utworzony z liczników (1, 2, 3 i 9) z blokiem pamieci (4), komparatorów (5 i 6) oraz ukladu odej¬ mujacych (7) z ukladem dodajacym (8).Ciag impulsów binarnych (a) wytworzony w przetworniku wielkosci analogowej na czestotliwosc podawany jest na wejscie (b) pierwszego licznika binarnego (1) oraz na wejscie (1) ukladu odejmuja¬ cego (7), a sygnal przeniesienia z (pierwszego licz¬ nika binarnego (1) podawany jest na wejscie (c) drugiego ldczmilka binarnego (2), natomiast sygnaly wyjsciowe z pierwszego licznika binarnego (1) po¬ dlane isa na wejscie (e) bloku pamieci (4), a na wej¬ scie (f) sygnaly wyjsciowe drugiego licznika binar¬ nego (2). Sygnal przeniesienia drugiego licznika bi¬ narnego (2) polaczony jest z wejsciem (d) trzeciego licznika binarnego (3), którego wyjscia podane sa na wejscie (g) pierwszego komparatora (5), zas na wejscie (h) czesc sygnalów wyjsciowych bloku pa¬ mieci (4). Natomiast w drugim komparatorze (6) porównywane sa sygnaly wyjsciowe z trzeciego licznika binarnego (3) podawane na wejscie (j), z pozostala czescia sygnalów wyjsciowych bloku pamieci (4) podana na wejscie (k).Sygnal wyjsciowy z drugiego komparatora (6) podawany jest do ukladu odejmujacego (7) na wej¬ scie (k), a jego sygnal wyjsciowy podawany jest na wejscie (m) ukladu dodajacego (8), na którego wej¬ scie (1) podano sygnal wyjsciowy z pierwszego kom¬ paratora (5). Wyjscie ukladu dodajacego (8), nia któ¬ rego wejscie (l) podano sygnal wyjsciowy z pier¬ wszego komparatora (5). Wyjscie ukladu dodajacego (8) polaczone jest z wejsciem (p) czwartego liczni¬ ka (9), a sygnal przeniesienia tego licznika jest sy¬ gnalem wyjsciowym ukladu korekcyjnego.Laczniki (1, 2, 3 i 9) zerowane sa impulsem zeru¬ jacym (a), Dzialanie ukladu wedlug wynalazku przebiega nas^aoiujaco. Ciag impulsów binarnych (a) poda¬ wany jest.na wejscie (b) pierwszego licznika binar¬ nego (1) oraz nia wejscie (1) ukladu odejmujacego 5 (7). Natomiast sygnal przeniesienia pierwszego licz¬ nika, binarnego (1) podawany jest na wejscie (c) drugiego licznika binarnego (2), którego sygnal przeniesienia podany jesit na wejscie (d) trzeciego licznika binarnego (3). W ten sposób (impulsy sy- 10 gnalu (a) zliczane sa w licznikach binarnych (1, 2 i 3). Sygnaly wyjsciowe z liczników binairnych (1 i 2) podawane sa na wejscie bloku pamieci (4), w któ¬ rym zaprogramowane sa korekty czujnika pomia¬ rowego. 15 Drugi komparator (6) porównujacy czesc sygna¬ lów wyjsciowych z bloku pamieci (4) podanych na wejscie (i) oraz sygnaly wyjsciowe trzeciego licz¬ nika binarnego (3) podane na wejscie (j), wygene- rowuje sygnal równosci wejsc (i i j) w postaci im- m pulsu podawanego na wejscie (k) ukladu odejmu¬ jacego, w którym odejmowany on jest od ciagu impulsów (a) podawanych-na wejscie (1). Podobnie pierwszy komparator (5) porównuje czesc sygna¬ lów wyjsciowych z pamieci (4) podawanych na u wejscie (h) oraz sygnaly wyjsciowe trzeciego licz¬ nika binarnego (3) podane na wejscie (g) i wyge- nerowuje sygnal równosci wejsc (h i g). Impuls ten podany na wejscie (l) ukladu dodajacego (8) do¬ dawany jest do ciagu impulsów wyjsciowych ukla- M du odejmujacego podawanych na wejscie (m).• Czwarty licznik (9) zlicza impulsy wyjsciowe ukladu dodajacego (8) podane na wejscie (p), a sy¬ gnal przeniesienia tego licznika jest sygnalem wyj¬ sciowym ukladu korekcyjnego. Liczniki (1, 2, 3 i 9) ji zerowane sa impulsem zerujacym (z).Uklad bedacy przedmiotem wynalazku moze zna¬ lezc zastosowanie w cyfrowym mierniku tempera¬ tury oraz w cyfrowych miernikach innych wiel¬ kosci fizycznych i w przetwornikach analogowo- 40 -cyfrowych.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób korekcji nieliniowosci charakterystyk czujników pomiarowych wspólpracujacych z prze¬ twornikiem wielkosci analogowej na czestotliwosc, 45 znamienny tym, ze dla wezlów interpolacji liniowej (xi,yi) i (x2,y2), w oparciu o charakterystyke czuj - niika pomiarowego, dla kazdej wartosci xk wiel¬ kosci mierzonej x okresla sie liczbe odejmowalnych impulsów Nk i liczbe dodawanych impulsów Mk io do ciagu impulsów wyjsciowych z przetwornika wielkosci analogowej na czestotliwosc w czasie t0 zliczania w liczniku glównym przyrzadu, a naste¬ pnie koryguje sie ciag impulsów wyjsciowych z przetwornika wielkosci analogowej na czestotliwosc ss o liczbe impulsów odejmowanych Nk i dodawa¬ nych Mk . 2. Uklad do korekcji nieliniowosci charakterystyk czujników pomiarowych wspólpracujacych z prze¬ twornikiem wielkosci analogowej na czestotliwosc 60 utworzony z liczników, bloku pamieci, komparato¬ rów, ukladu odejmujacego i ukladu dodajacego, znamienny tym, ze wejscie ukladu korekcyjnego polaczone jest z wejsciem (b) pierwszego licznika binarnego (1) oraz z wejsciem (1) ukladu odejmu- H jacego (7), a sygnal przmiesienia z pierwsaego licz-*130 307 nika binarnego (1) polaczony jest z wejsciem (c) drugiego licznika binarnego (2), natomiast sygnaly wyjsciowe z pierwszego licznika binarnego (1) po¬ dane sa na pierwsze wejscie (e) blokru pamieci (4). a na drugie wejscie (f) sygmaly wyjsciowe drugiego licznika binarnego (2), którego sygnal przeniesienia polaczony jest z wejsciem trzeciego licznika binar¬ nego (3), którego wyjscia podane sa na pierwsze wejscie (g) pierwszego komparatora (5), zas na dru¬ gie wejscie (h) czesc sygnalów wyjsciowych bloku pamieci (4), natomiast drugi komparator (6) podla¬ czone ma na pierwsze wejscie (j) sygnaly wyjscio- 10 we z trzeciego licznika binarnego (3), a pozostale sygnaly wyjsciowe bloku pamieci (4) na drugie wejscie (i), zas wyjscie drugiego komparatora (6) r^ic-ore jest z wejsciem (k) ukladu odejmujacego (7), a jego wyjscie polaczone jest z wejsciem (n) ukladu dodajacego, na którego wejscie (I) podlaczo¬ no sygnal wyjsciowy z pierwszego komparatora (5), a do czwartego licznika (9) dolaczono wyjscie ukladu dodajacego (8), a sygnal przeniesienia (r) ter;o lioznika jest sygnalem wyjsciowym ukladu ko¬ rekcyjnego, przy czym liczniki (1, 2, 3 i 9) zerowane sa impulsem zerujacym (z). PL