PL128651B1 - Apparatus for measuring thickness deviations on flat workpieces - Google Patents

Apparatus for measuring thickness deviations on flat workpieces Download PDF

Info

Publication number
PL128651B1
PL128651B1 PL23086881A PL23086881A PL128651B1 PL 128651 B1 PL128651 B1 PL 128651B1 PL 23086881 A PL23086881 A PL 23086881A PL 23086881 A PL23086881 A PL 23086881A PL 128651 B1 PL128651 B1 PL 128651B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
measuring
cam
tip
measuring tip
slider
Prior art date
Application number
PL23086881A
Other languages
English (en)
Other versions
PL230868A1 (pl
Inventor
Wlodzimierz Stachura
Jaroslaw Harasimowicz
Zygmunt Jablonski
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL23086881A priority Critical patent/PL128651B1/pl
Publication of PL230868A1 publication Critical patent/PL230868A1/xx
Publication of PL128651B1 publication Critical patent/PL128651B1/pl

Links

Landscapes

  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do pomiaru odchylki grubosci elementów plaskich zwlaszcza prostokatnych i okraglych.W znanych urzadzeniach badany element ukladany jest na plaskim stoliku pomiarowym pod ruchoma koncówka czujnika pomiarowego. W momencie pomiaru koncówka czujnika pomiarowego dociskana jest do powierzchni badanego elementu. Przez wciskanie elementu na pozycje pomia¬ rowa nastepuje szybkie zuzywanie sie koncówki pomiarowej jak i niszczenie powierzchni sto¬ lika. Ponadto pomiar elementów odksztalconych np. wkleslych obarczony jest bledem wynikaja¬ cym z przyjecia niewlasciwej plaszczyzny odniesienia.Znane sa równiez urzadzenia, w których zamiast nieruchomego plaskiego stolika stosuje sie sztywno zamocowana koncówke umieszczona przeciwsobnie z koncówka czujnika pomiarowego, które zamocowane sa w jednym elemencie zawieszonym na ukladzie sprezyn plaskich. I w tym przypadku koniecznosc wsuwania elementu miedzy koncówki powoduje ich intensywne zuzywanie sie, przy czym wynik pomiaru obarczony jest bledem wynikajacym z poprzecznego przesuwania sie koncówki czujnika pomiarowego podczas operacji wsuwania badanego elementu.Istota urzadzenia polega na tym, ze jest ono wyposazone w wysuwany przez otwór w sto¬ liku pomiarowym trzpien z osadzona obrotowo na jego drugim koncu rolka toczaca sie po skosie krzywki ulozyskowanej w prowadnicy kulkowej korzystnie jednoczesnie z krzywka ukladu steru¬ jacego ruchem koncówki pomiarowej tak, ze w momencie pomiaru badany element znajduje sie miedzy stykajacymi sie z jego powierzchniami koncówka pomiarowa i górna koncówka trzpienia.Zgodnie z wynalazkiem uklad sterujacy wyposazony jest w suwak z zamocowana obrotowo w jego dolnej czesci rolka toczaca sie po skosie krzywki, dociskajacy w momencie pomiaru koncówke czujnika pomiarowego i koncówke pomiarowa.W czasie pomiaru ruch krzywki powoduje nieznaczne wysuniecie zakonczonego sfera trzpie¬ nia ponad powierzchnie stolika. Trzpien dosuwany jest przez otwór do lezacego nieruchomo na powierzchni stolika mierzonego elementu jednoczesnie z dosunieciem do niego koncówki pomiarowej.Dzieki tak skonstruowanemu urzadzeniu mozliwy jest pomiar odchylki grubosci zarówno elementów wkleslych jak i zwichrowanych a takze elementów o nierównoleglych plaszczyznach.j 2 128 651 Ponadto umieszczenie czujnika pod ramieniem suwaka umozliwia sprawdzanie elementów o dowol¬ nych ksztaltach nav/et o duzym rozrzucie mierzonego wymiaru wymagajacych duzego zakresu prze¬ suwu suwaka odwodzacego koncówke pomiarowa bez grozby zniszczenia koncówki czujnika pomiaro¬ wego. Odwodzenie koncówki pomiarowej i ruch trzpienia pozwala na swobodne wprowadzanie i odprowadzanie sprawdzanych elementów bez grozby uszkodzenia ich powierzchni. V.'yeliminowane zostalo niekorzystne zjawisko nzbijaniaw koncówek pomiarowych jak równiez wyeliminowany zos¬ tal blad wynikajacy z poprzecznego przesuwania koncówek. Dodatkowa zaleta jest mozliwosc stosowania plaskich krzywek napedowych przemieszczajacych sie liniowo dzieki zastosov;aniu prowadnic kulkowych.Przedmiot wynalazku uwidoczniony jest w przykladzie wykonania na rysunku przedstawia¬ jacym w ujeciu schematycznym urzadzenie z boku w czesciowym przekroju.Mierzony element A spoczywa na stoiiku pomiarowym 1 wmontowanym w korpus urzadzenia 2.V/ysuwany przez otwór w korpusie 2 i stoliku pomiarowym 1 trzpien 3 ma na drugim koncu zamo¬ cowana os 4, na której osadzona jest obrotowo rolka 5 toczaca sie po skosie krzywki 6 pro^ wadzonej w prowadnicy kulkowej 7 przytwierdzonej do korpusu 2. Trzpien 3 wraz ze sprezyna 8 opierajaca sie jednym koncem o korpus 2 a drugim o kolnierz na trzpieniu 3 umieszczony jest suwliwie w kubku 9 przymocowanym do korpusu 2. Nad trzpieniem 3 w jego osi znajduje sie koncówka pomiarowa 10 przytwierdzona trwale do wysiegnika suwaka 11. Suwak 11 ulozyskowany jest w prowadnicy kulkowej 12 przymocowanej do korpusu 2. Do prowadnicy 12 przymocowany jest czujnik pomiarowy 13, którego koncówka znajduje sie pod ramieniem suwaka 11. Do ramienia suwaka 11 przytwierdzona jest jednym koncem sprezyna 14» której drugi koniec przytwierdzony jest do prowadnicy 12. W dolnej czesci suwaka 11 umocowana jest oska 15/ na której osadzona jest rolKa 16 toczaca sie po skosie krzywki 17 prowadzonej w prowadnicy kulkowej 7 i polaczo¬ nej nierozlacznie z krzywka 6.Dla przeprowadzenia pomiaru odchylki grubosci mierzonego elementu A zespól krzywek C i 17 przesuwany jest w kierunku B. Spowcduje to przesuniecie sie trzpienia 3 po skosie krzywki 6 w dolne polozenie pod dzialaniem sprezyny 8. Równoczesnie krzywka 17 spowoduje przesuniecie w górne polozenie suwaka 11. W tym momencie mierzony element A wprowadzony jeBt nad otwór w stoliku pomiarowym 1. Nastepnie zespól krzywek 6 i 17 przesuniety zostaje w kierunku C.V efekcie trzpien 3 wysuniety zostaje z otvoru w stoliku 1 na wysokosc zadana zarysem krzywki 6.Wysuwajacy sie z otworu trzpien 3 nieznacznie uniesie mierzony element A. Jednoczesnie krzywka 17 za pomoca sprezyny 14 spowoduje opadniecie suwaka 11 a tym samym koncówka pomia¬ rowa 10 docisnie mierzony element A do górnej koncówki trzpienia 3« Równiez w tym samym momencie ramie suwaka 11 wcisnie koncówke czujnika pomiarowego.Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do pomiaru odchylki grubosci elementów plaskich umieszczanych kolejno na stoliku pomiarowym pod odwodzona koncówka pomiarowa, znamienne tymfzema wysu¬ wany przez otwór w stoliku pomiarowym /1/ trzpien /3/ z osadzona obrotowo na Jego drugim koncu rolka /5/ toczaca sie po skosie krzywki /6/ ulozyskowanej w prowadnicy kulkowej liI korzystnie jednoczesnie z krzywka /17/ ukladu sterujacego ruchem koncówki pomiarowej /10/, tak, ze w momencie pomiaru badany element/A/ znajduje sie miedzy stykajacymi sie z jego powierzchniami koncówka pomiarowa /10/ i górna koncówka trzpienia /3/. 2. Urzadzenie wedlug zaotrz. 19 znamienne t y m , ze uklad sterujacy wyposa¬ zony jest w suwak /11/ z zamocowana obrotowo w Jego dolnej czesci rolka /16/ toczaca sie po skosie krzywki /17/t dociskajacy w momencie pomiaru koncówke czujnika pomiarowego /13/ i koncówke pomiarowa /10/.128 651 PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do pomiaru odchylki grubosci elementów plaskich umieszczanych kolejno na stoliku pomiarowym pod odwodzona koncówka pomiarowa, znamienne tymfzema wysu¬ wany przez otwór w stoliku pomiarowym /1/ trzpien /3/ z osadzona obrotowo na Jego drugim koncu rolka /5/ toczaca sie po skosie krzywki /6/ ulozyskowanej w prowadnicy kulkowej liI korzystnie jednoczesnie z krzywka /17/ ukladu sterujacego ruchem koncówki pomiarowej /10/, tak, ze w momencie pomiaru badany element/A/ znajduje sie miedzy stykajacymi sie z jego powierzchniami koncówka pomiarowa /10/ i górna koncówka trzpienia /3/.
  2. 2. Urzadzenie wedlug zaotrz. 19 znamienne t y m , ze uklad sterujacy wyposa¬ zony jest w suwak /11/ z zamocowana obrotowo w Jego dolnej czesci rolka /16/ toczaca sie po skosie krzywki /17/t dociskajacy w momencie pomiaru koncówke czujnika pomiarowego /13/ i koncówke pomiarowa /10/.128 651 PL
PL23086881A 1981-04-27 1981-04-27 Apparatus for measuring thickness deviations on flat workpieces PL128651B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23086881A PL128651B1 (en) 1981-04-27 1981-04-27 Apparatus for measuring thickness deviations on flat workpieces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23086881A PL128651B1 (en) 1981-04-27 1981-04-27 Apparatus for measuring thickness deviations on flat workpieces

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL230868A1 PL230868A1 (pl) 1982-11-08
PL128651B1 true PL128651B1 (en) 1984-02-29

Family

ID=20008251

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL23086881A PL128651B1 (en) 1981-04-27 1981-04-27 Apparatus for measuring thickness deviations on flat workpieces

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL128651B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL230868A1 (pl) 1982-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4131008A (en) Device for measuring the bending angles in plate-bending machines
PL128651B1 (en) Apparatus for measuring thickness deviations on flat workpieces
US11047438B2 (en) Thermocouple precision press
US10352965B2 (en) Testing device
US3078710A (en) Tenderness testing device
EP0022598B1 (de) Tastkopf
JPS5982119A (ja) 折曲げ機の曲げ角度検出装置
CN221123296U (zh) 一种用于机械应变的视觉测量装置
CN208383048U (zh) 冷冲压拉伸件端面平面度检测装置
CN207881581U (zh) 转子槽的浮动测量装置
DE3901352C2 (de) Vorrichtung zur Oberflächenmessung
CN216815428U (zh) 一种超量程长轴测量直线度的装置
DE1448467A1 (de) Unrundmessvorrichtung
DE3990128C2 (de) Vorrichtung zum Prüfen einer Firstlinie elastischer Körper
JPH0446373B2 (pl)
US881047A (en) Testing apparatus.
US4086703A (en) Micrometer gauge
CN221859433U (zh) 一种轴承外径测量设备
CN218884820U (zh) 磁瓦外形尺寸快速检测设备
CN222070319U (zh) 一种压碎载荷工装
US3161963A (en) Linear dimension gauges
JPH0481727B2 (pl)
EP3104157B1 (de) Prüfvorrichtung für tabletten
JPH0154127B2 (pl)
JPH037111Y2 (pl)