Przedmiotem wynalazku jest sposób badania wlasnosci magnetycznych poruszajacej sie tasmy i urzadzenie do badania wlasnosci magnetycz¬ nych poruszajacej sie tasmy, zwlaszcza urzadzenie zawierajace uklad bezstykowych cewek i uklad elektroniczny do wskazywania parametrów magne¬ tycznych okreslajacych jakosc poruszajacej sie tas¬ my bez ograniczen i zaklócen zwiazanych z linia produkcyjna, a takze sposób otrzymywania wska¬ zan parametrów zwoju materialu tasmowego wzdluz calej jego dlugosci.Przy zmianie wlasciwosci magnetycznych, wska¬ zania dotycza zwykle zmiany jednej z kilku zmien¬ nych, takich jak sklad chemiczny stali, twardosc mechaniczna, grubosc, wielkosc ziarna lub roz¬ klad naprezen tasmy utwardzonej przez obróbke, jednorodnosc i stopien wygrzania, obecnosc wad i okluzji itp. Zmiany tego rodzaju nie daja sie obeserwowac wizualnie i sa na ogól trudne do wykrycia. Mozna wyprodukowac duza ilosc tas¬ my wadliwej stali lufo produkowana tasmy, sta¬ lowe moga nie wykazywac jednorodnej jakosci i chociaz nadaja sie do jednego celu, moga byc nieuzyteczne do glównego zastosowania. Zauwa¬ zono, ze strumien magnetyczny wnika dalej od zródla w tasmie dobrej jakosci niz zlej.Znane sa urzadzenia do badania wlasnosci ma¬ gnetycznych poruszajacych sie tasm, w których, sta¬ suje sie otwarty selenoid i uklad z pojedynczym lub podwójnym jarzmem. Pole magnesujace jest 10 13 20 25 30 wskazywane za pomoca ukladów wskazujacych „H", jak cewka Chattocka, sonda Halla lub prad wzbudzajacy. Indukcja w tasmie jest wskazywa¬ na przez napiecie wytwarzane w cewce otacza¬ jacej tasme. Stosuje sie przetwarzanie elektro¬ niczne w celu okreslenia strat magnetycznych ma¬ terialu, przenikalnosci lub innego parametru ma¬ gnetycznego.Znane jest z opisu patentowego USA nr 313 0363 urzadzenie do okreslania wlasnosci magnetycznych poruszajacej sie tasmy, a zwlaszcza wlasnosci ma¬ gnetycznych tasmy stalowej, wyzarzanej w pro¬ cesie ciaglym w celu ustalenia wlasciwej tem¬ peratury wyzarzania. W szczególnosci, wykorzy¬ stuje sie glowice detekcyjna zamontowana w ru¬ rze, która jest umieszczona w komorze grzejnej pieca, w celu kontroli, czy temperatura tasmy jest powyzej czy ponizej punktu Curie.Zastosowana glowica detekcyjna jest pojedyn-: czym rdzeniem w ksztalcie litery H z indentycz- nymi uzwojeniami na ramionach. Dzialanie jej opiera sie na kontroli, kiedy tasma jest ponizej punktu Curie i w tym czasie glowica detekcyjna wskazuje brak równowagi. Przy wystepowaniu równowagi nie ma przewodnosci.W opisie patentowym USA nr 3281678 jest rów¬ niez przedstawiony system, okreslania wlasnosci magnetycznych materialu tasmy. Wiadomo, ze ja¬ kosc blachy lub tasmy stalowej zalezy od jej wlasnosci magnetycznych. W tym celu przedsta- 1X7 6X6117 618 wione w wymienionym ostatnio opisie patentowym urzadzenie kontroluje straty magnetyczne mate¬ rialu i zawiera tylko dwi€j cewki. Jedna jest cew¬ ka „B", a druga cewka „H", która daje wskaza¬ nia strat w materiale. Zastosowano" równiez" mief- ' nik stosunku w celu okreslenia przenikalnosci ma¬ gnetycznej n, co umozliwia bezposredni odczyt stosunku B/H. Zgodnie z tym, zastosowano tylko * dwie cewki, które otaczaja stalowa tasme, cewke magnsujaca B i cewke odbiorcza H. W elekcie urzadzenie stanowi uklad elektroniczny do okre¬ slania w.materiale i przenikalnosci.W opisie patentowym USA nr 3421925 przed¬ stawiono^ sposób ulepszenia koncowego produktu tasmy stalowej, jak tez unikniecia stosunkowo zlych wlasnosci elektrycznych tasmy stalowej. Dla zrealizowania tego celu przedstawiono sposób i urzadzenie . o*b badania w sposób ciagly tas¬ my w celu* okreslenia strat w materia¬ le-podczas obróbki. Urzadzenie kontrolne sklada sie z konwencjonalnej cewki „M" do dostarcza¬ nia pola magnesujacego o okreslonej wartosci, cewki „B" do pomiaru calkowitego strumienia w tasmie i otaczajacej atmosferze powietrza i cew¬ ke „H" do pomiaru strumienia jedynie w ota¬ czajacej atmosferze powietrza. W urzadzeniu tym istnieje koniecznosc stosowania grubosci stali ja¬ ko jednej zmiennej i w tym celu stosuje sie czuj¬ nik rentgenowski do okreslania grubosci stali, a sygnaly z cewek „B" i „H" zostaja sprzezone z sygnalómi z miernika rentgenowskiego w celu uzyskania ciaglej rejestracji strat magnetycznych materialu, co daje informacje o jakosci stali pod wzgledem elektrycznym.W opisie patentowym USA nr 344 4458 przed¬ stawiono równiez urzadzenie do detekcji zmian wlasnosci magnetycznych stali, zwlaszcza do de¬ tekcji zmian wlasnosci okreslajacych jakosc tas¬ my stalowej, przesuwajacej sie wzdluz Minii te¬ chnologicznej. Urzadzenie do detekcji zawiera pa¬ re dopasowanych rdzeni mocowanych na prze¬ ciwnych stronach tasmy ferromagnetycznego ma¬ terialu, których konce leza naprzeciw siebie i które leza w pewnej odleglosci, tworzac szczeline powietrzna, przez która przecho¬ dzi badana tasma. Rdzenie sa wzbudzane i w wyniku przejscia materialu tasmowego przez szczeline powietrzna reluktancja obwodu zmienia sie. Zmiana napiecia wyjsciowego wskazuje na zmiane parametru tasmy. Wykorzystuje sie dwa uzwojenia na pojedynczym rdzeniu, przy czym jed¬ no uzwojenie jest wykorzystywane jako uzwoje¬ nie odniesienia -dla uzyskania polozenia zerowego na mierniku wyjsciowym, a drugie uzwojenie sto¬ suje sie jako uzwojenie wzbudzajace.W opisie patentowym RFN nr 112 0501 jest równiez przedstawiony pomiar wlasnosci magne¬ tycznych tasmy blachy elektrotechnicznej, która moze posiadac -niejednorodny przekrój poprzecz¬ ny. Przy zastosowaniu niejednorodnego przekroju poprzecznego wystepuja zmiany parametrów za¬ leznych od indukcji magnetycznej tak, ze doko¬ nane pomiary nie sa dokladne; W urzadzeniu za¬ stosowano rolki umieszczone na koncach jarzma, które moga byc podnoszone, dzieki czemu uzysku¬ je sie napiecie proporcjonalne do grubosci ma¬ terialu przechodzacego pod rolkami. Kilka cewek jest polaczonych równolegle, ale ustawione sa wzgledem siebie podobnie, kiedy tasma przechodzi 'l przez" cewki,"fak"ze jedynie tasma jest wzbudza¬ na - magnetycznie.. Poniewaz rolki sa ruchome w kierunku pionowym, uzyskuje sie korekte "wielkosci* • magnetycznych w zaleznosci od gru¬ bosci. 10- Opis patentowy USA nr 374 8575 przedstawia równiez urzadzenie do kontroli parametrów po¬ ruszajacej sie tasmy metalu. Magnetyczne urza¬ dzenie przetwornikowe jest umieszczone w wy¬ drazonym elemencie tak, ze zadne nieregularnosci 15 przesuwajacej sie tasmy .miie wplywaja na urza¬ dzenie przetwornikowe. Parametry magnetyczne tasmy sa okreslane przy zastosowaniu pierwszej glowicy magnetycznej, sluzacej do zapisu sygna¬ lu magnetycznego na tasmie i nastepnie drugiej 28 glowicy magnetycznej oddalonej od pierwszej glo¬ wicy magnetycznej, która jest stosowana do od¬ bierania sygnalu zapisanego" w ten sposób przy . przejsciu tasmy obok pierwszej glowicy. Wymaga¬ ne jest utrzymywanie dwóch glowic magnetycznych. 23 w stalej odleglosci i pod pewnym okreslonym katem wzgledem siebie. Pomiedzy dwoma glo¬ wicami magnetycznymi umieszczono równiez ekran magnetyczny majacy na celu zapobieganie wza¬ jemnym zaklóceniom. Uzyskuje sie odczyt para- 30 metrów magnetycznych regularny, ale przerywany i nieciagly.Opis patentowy Wielkiej Brytanii nr 928 500 przedstawia równiez sposób i urzadzenie do po¬ miaru parametrów magnetycznych, takich jak 35 straty materialu i przenikalnosc poruszajacej sie stalowej tasmy. Magnetyczne jarzmo jest styka¬ ne okresowo z przesuwajaca sie stalowa tasma, przy czym jarzmo to posiada uzwojenie wzbu¬ dzajace i indukcyjne. W tasmie indukuje sie prad 40 i indukowany prad mierzy sie dla okreslenia magnetycznych i elektrycznych wlasnosci stali.Opis patentowy USA nr 3723859 przedstawia równiez system kontroli parametrów poruszajacej sie tasmy metalowej, zwlaszcza pomiar i zapis 45 parametrów stali dla tasmy stalowej poruszajacej sie w sposób ciagly. W tym systemie jest okreslana grubosc, przenikalnosc i straty poruszajacej sie tas¬ my elektrotechnicznej stali rdzeniowej. Pomiary sa dokonywane w róznych polozeniach. System 50 wedlug tego patentu obejmuje urzadzenie do usta¬ lania tej samej gestosci strumienia w dwóch róz¬ nych polozeniach .-poruszajacej sie tasmy stalo¬ wej.Znana, powszechnie standardowa kontrola wlas- 55 nosci magnetycznych jest stosowana obecnie przy oddalonym od konca zwoju panelu lub panelach kontrolnych. Jezeli koniec zwojru jest zlej jakosci, ogólnie przyjeta praktyka jest odcinanie czesci materialu i powtórnie badanie. Procedura „odcie- eo cia wstecz" jest oparta na doswiadczeniu i moze byc strata czasu, sil ludzkich i wyposazenia i mo¬ ze spowodowac zbedne zapasy materialu. Kon¬ trola standardowa umozliwia jedynie kontrole materialu, kiedy panel jest oddalony bez okresle- 65 nia wlasnosci magnetycznych zwoju.117618 Sposób wedlug wynalazku polega aa tym, ze magnesuje sia ciagla, poruszajaca sie tasma do pewnej wartosci magnetyzacji Dokonuje sia pier¬ wszego odczytu napiecia wskazujacego magnety¬ zacje zaktdukowana. w poruszajacej sia tasmie materialu. Dokonuje sia.drugiego odczytu napiacia .wskazujacego magnetyzacje zaindukowana w po¬ ruszajacej sia tasmie dla uzyskania wyjsciowego sygnalu napieciowego róznego od pierwszego od¬ czytanego napiecia* przy czym dokonuje sia pier¬ wszego i drugiego odczytu dla zasadniczo tej sa¬ mej czesci materialu w taki sposób, ze drugi od¬ czyt nie przekracza 80% pierwszego odczytu. Ot¬ rzymuje sie stosunek pomiedzy pierwszym odczy¬ tem a róznica pomiedzy pierwszym a drugim od¬ czytem dla wytworzenia ciaglego odczytu wskazu¬ jacego stosunek dla wszystkich polozen tasmy.Poddaje sie tasme materialu dzialaniu pola o na- tezniu 10 Oe podczas magnesowania. Wytwarza sie pierwszy sygnal wyjsciowy z pierwszego odczytu napiecia. Wytwarza sie drugi sygnal wyjsciowy z drugiego odczytu napiecia." Laczy sie pierwszy i drugi sygnal wyjsciowy dla uzyskania trzeciego sygnalu wyjsciowego, wskazujacego róznice po¬ miedzy pierwszym a drugim sygnalem wyjscio¬ wym. Wykresla sie wykres dla sygnalu analogo¬ wego odpowiadajacego stosunkowi pierwszego i trzeciego sygnalu wyjsciowego na papierze re¬ jestratora dla kazdego polozenia zwoju tasmy stalowej. Wykresla sie w rejestratorze wizualne wskazania stosunku dla kazdej czesci zwoju tasmy dla uzyskania wskaznika jakosci stali dla kazdej czesci zwoju tasmy. Okresla sie srednia wartosc stosunku na wykresie rejestratora. Usuwa sie te czesci zwoju tasmy, których wlasnosci odbie¬ gaja od sredniej wartosci i laczy sie w jedna ca¬ losc pozostale czesci zwoju dla utworzenia tasmy o zasadniczo jednorodnej jakosci stali. Laczy sie w jedna calosc czesci awoju tasmy usuniete z nie¬ go zgodnie z danym parametrem dla utworzenia innego zwoju tasmy o zasadniczo podobnej jed¬ norodnej ogólnej jakosci stali.Sposób wedlug wynalazku polega na tym, ze przyklada sie okreslony strumien magnesujacy na okreslony obszar materialu tasmy podczas jej ru¬ chu przez miejsce przylozenia strumienia. Otrzy¬ muje sie pierwszy pomiar pola magnesujacego indukowanego w wyniku strumienia przylozonego do okreslonego obszaru Otrzymuje sie drugi po¬ miar pola magnesujacego, indukowanego w wyniku strumienia przylozonego do okreslonego obszaru stanowiacego okreslony procent pierwszego otrzy¬ manego pomiaru. Laczy sie pierwszy i drugi uzys¬ kane pomiary dla uzyskania róznicy miedzy nimi trzeciego parametru pomiarowego oraz porównuje sie jeden sposród pierwszego i drugiego pomiaru z trzecim pomiarem dla uzyskania stosunku po¬ miedzy ostatnim pomiarem a trzecim pomiarem.Rejestruje sia stosunek dla kazdego polozenia na tasmie dla otrzymania wykresu okreslajacego wlas¬ nosci zwoju tasmy. Usuwa sia czesc materialu tas¬ my ze zwoju tasmy, którego wartosc odbiega od dominujacego stosunku dla zwoju tasmy. Laczy sie w jedna calosc fragmenty z usunietych czesci, Htóre maja podobny stosunek, tak ze utworzony zo- 10 15 30 55 staje inny zwój materialu tasmy z zasadniczo jednorodnym stosunkiem dla utworzenia innych zwojów tasmy z zasadniczo jednorodnym, innym stosunkiem,, przez co uzyskuje sia inne zwoje o jednorodnej jakosci. Wytwarza sia wskazniki wizualne pierwszego pomiaru i trzeciego pomiaru na rejestratorze dla wizualnego wskazania pocaat- ku zmiany jakosci w porównaniu z jakoscia po¬ przednia.Urzadzenie wedlug wynalazku zawiera uklad magnesowania, który zawiera elementy do indu¬ kowania pradu magnesujacego w poruszajacej sia tasmie oraz uklad detekcji, który zawiera elemen¬ ty do detekcji dwóch parametrów strumienia za- indukowanego w tasmie materialu dla wytworze¬ nia wyjsciowego sygnalu napieciowego dla kazde¬ go z tych parametrów, oraz uklad odbierajacy wyjsciowe sygnaly napieciowe dla wytwarzania trzeciego napiecia wyjsciowego, które jest sto¬ sunkiem napiecia wyjsciowego dla jednego, z pa¬ rametrów podzielonego przez róznica pomiedzy pierwszym wyjsciowym sygnalem napieciowym a drugim z wymienionych na poczatku napiec wyj¬ sciowych.Uklad do detekcji dwóch parametrów zawier- ra pierwsza i druga cewki detekcyjne, wykrywa¬ jace strumien, indukowany w poruszajacej sie tas¬ mie. Pierwsza cewka detekcyjna jest przystosowana do wytwarzania napiecia wiekszego niz napiecie drugiej cewki detekcyjnej. Uklad odbierajacy za¬ wiera pierwszy i drugi zespoly, przy czym pierwszy zespól jest sprzezony z cewka detekcyjna i za¬ wiera pierwszy prostownik. Drugi zespól jest sprze¬ zony z pierwsza i druga cewka oraz z prosto¬ wnikiem dla wytworzenia prostowanego napiacia, którego wartosc zalezy od prostowanego napiecia zaindukowanego w pierwszej cewce detekcyjnej i napiecia zaindukowanego w drugiej cewce na¬ pieciowej detekcyjnej. Urzadzenie zawiera dziel¬ nik polaczony z pierwszym i drugim zespolem dla wywarzania napiecia wyjsciowego, otrzymanego z podzielenia wyjsciowego sygnalu napieciowego z drugiego zespolu.Pierwszy zespól zawiera pierwszy uklad Gra- etza polaczony z cewka detekcyjna i pierwszy cyf¬ rowy woltomierz prajdu stalego polaczony z wyj¬ sciem ukladu Graetza dla wytworzenia analogo¬ wego napiecia wyjsciowego odpowiadajacego na¬ pieciu indukowanemu w pierwszej cewce detekcyj¬ nej. Drugi zespól zawiera drugi uklad Graetza polaczony z druga cewka detekcyjna i z wyjsciem pierwszego ukladu Graetza dla wytworzenia pro¬ stowanego sygnalu napieciowego, który jest róz¬ nica pomiedzy napieciami indukowanymi w pier¬ wszej i drugiej cewce detekcyjnej oraz drugi cyf- frowy woltomierz pradu stalego polaczony z dru¬ gim ukladem Graetza dla wytworzenia analogo¬ wego sygnalu napieciowego.Urzadzenie zawiera dzielnik sprzezony z pier¬ wszym i drugim zespolem. Dzielnik jest polaczo¬ ny z pierwszym cyfrowym woltomierzem dla za¬ stosowania jego sygnalu wyjsciowego jako licz¬ nika stosunku i polaczony z drugim woltomierzem cyfrowym dla zastosowania jego sygnalu wyjscio¬ wego jako mianownika w stosunku, przy czym?tvtm z drugtej. strony *dó wyjscia:, dzielnika ;jest dola¬ czony rejestrator zawierajacy pierwsze wejscie •ster^ania-pr^kosoia linii materialu -tasmowego iv drugie-^wejscie polaczone z wyjsciem dzielnika dla Uzyskania bezposrednio odczytywanegowykresu reprezentujacego: wyjsciowy z.sygnal.v. napieciowy 4:dzielnika^ dla: kazdego polozenia materialu .tas^ mowego. przy* jego .przejsciu" przez .cewki, adukcyj- na i detekcyjne. .._":• -Uklad do magnesowania i detekcji zawiera/cewke magnesujaca;- do indukowania : strumienia magne^ tycznego w poruszajacej sie tasmie, pierwsza cewke., detekcyjna, sprzezona z '.. cewka magnesu¬ jaca,, wykrywajaca strumien indukowany w poru¬ szajacej sie - tasmie, przy czym pierwsza cewka posiada pierwszy parametr do wytwarzania pier¬ wszego, zaleznego od napiecia wyjsciowego para¬ metru przy przejsciu materialu przez pierwsza ¦cewka".'detekcyjna, druga cewke detekcyjna sprze¬ zona zlewka magnesujaca i pierwsza cewke de- tekeyjna* wykrywajaca strumien zaindukowany ^W poruszajacej sie tasmie, przy czym druga cew¬ ka posiada drugi parametr rózny Od pierwszego parametru pierwszej cewki dla wytwarzania syg¬ nalu "wyjsciowego zaleznego od drugiego para¬ metru i parametru materialu magnetycznego w od¬ powiedzi na strumien indukowany w nim przez ceWke magnesujaca, przy czym druga cewka wyt¬ warza drugie napiecie wyjsciowe, które jest rózne od pierwszego napiecia wyjsciowego.Pierwsza cewka detekcyjna posiada wieksza liczbe zWójów niz druga cewka, dla uzyskania pierwszego napiecia wejsciowego wiekszego niz drugie napiecie wyjsciowe.Uklad odbierajacy zawiera pierwszy zespól sprzezony z pierwsza cewka detekcyjna dla wyt¬ worzenia analogowego sygnalu napieciowego o war¬ tosci pierwszego napiecia wyjsciowego, uklad sprzezony z druga cewka detekcyjna dla wytworze¬ nia analogowego sygnalu napieciowego równego fózhicy^napieó pomiedzy pierwszym a drugim na¬ pieciem oraz -dzielnik sprzezony z wyjsciami pier¬ wszego i drugiego zespolu dla wytworzenia napie¬ cia, które jest stosunkiem pierwszego napiecia Wyjsciowego do napiecia róznicowego.Rejestrator jest przystosowany do wytwarzania wyjsciowego parametru napiecia reprezentujacego stosunek wykreslony w funkcji polozenia zwoju przy przejsciu przez uklad do magnesowania i de¬ tekcji.Uklad odbierajacy zawiera pierwszy i drugi ze¬ spól, przy czym pierwszy zespól zawiera pierwszy uklad prostownika sprzezony z pierwsza cewka - dla wytwarzania pierwszego prostowanego sygnalu napieciowego, reprezentujacy parametr strumie¬ nia wykrywanego-przez- pierwsza cewke.Pierwszy przyrzad analogowo-cyfrowy z wys¬ wietlaniem jest sprzezony z pierwszym ukladem prostownika dla wytwarzania analogowego, wyj¬ sciowego sygnalu napieciowego, zaindukowanego w pierwszej cewce i wyswietlania napiecia w-funk¬ cji-polozenia metrialu tasmy przy jej ruchu przez uklad do magnesowania i detekcji.Drugi zespól zawiera drugi uklad prostownika "i drugi przyrzad analogowo-cyfrowy, przy czym drugi 'Uklad prostownika zwiera- pierwsze i dru¬ gie wejscie i ppjedyncze wyjscie, przy czym pier.- *wsze wejscie, jest sprzezone z. wyjsciem drugiej -cewki;i drugie wejscie jest; sprzezone ,z .wyjsciem 3 pierwszego ukladu -prostownika... Wejscie: drugiego cyfrowego ukladu ;wyswietlajacego jest sprzezone -z wyjsciem drugiego ukladu:..prostownika, drugi przyrzad analogowo-cyfrowy L.wyswietianicm^TCyfe- -warza, drugt analogowy sygnalwyjsciowy napriecip 10 wy .dla wyswietlania .róznicy pomiedzy; napieciami •indukowanymi w.pierwszej i drugiej cewce w fun¬ kcji .polozenia materialu „;....Urzadzenie zawiera . uklad do . magnesawania i detekcji dla wytwarzania, pola magnesujacego 15 do indukowania strumienia w poruszajacej sie tas¬ mie, posiadajacej zasadniczo jednorodna grubosc i szerokosc dla detekcji dwóch parametrów tego samego strumienia zaindukowanego dla wytwo¬ rzenia sygnalu wyjsciowego dla kazdego z tych 20 parametrów, przy czym sygnaly wyjsciowe sa rózne. Uklad zawiera cewke magnesujaca wytwa¬ rzajaca pole magnesujace do indukowania stru¬ mienia magnetycznego w poruszajacej sie tasmie i pierwsza cewke detekcyjna sprzezona z cewka 25 magnesujaca wykrywajaca strumien indukowany w poruszajacej sie tasmie za pomoca cewki ma¬ gnesujacej.Pierwszy i drugi sygnaly wyjsciowe sa wyjscio¬ wymi sygnalami napieciowymi, przy czym pier- 30 wsza cewka detekcyjna posiada inna liczbe zwo¬ jów niz druga cewka detekcyjna, przy czym dla tego samego strumienia [indukowanego w poru¬ szajacej sie tasmie powstaja rózne wyjsciowe syg¬ naly napieciowe w kazdej z cewek. 35 Pierwsza cewka detekcyjna posiada pierwsza liczbe zwojów, a druga cewka detekcyjna posiada druga liczbe zwojów, przy czym pierwsza liczba zwojów jest wieksza niz druga liczba zwojów.Urzadzenie zawiera karkas przystosowany do 40 otaczania tasmy o ruchu ciaglym; przy czym pierwsza i druga cewka detekcyjna sa nawiniete na karkasie. Cewka magnesujaca i pierwsza cew¬ ka detekcyjna sa zasadniczo równej dlugosci w kierunku wzdluz osi. Druga cewka detekcyjna 45 jest dluzsza w kierunku Wzdluz osi niz pierwsza cewka detekcyjna.Urzadzenie zawiera karkas o oknie dostatecz¬ nie duzym do otoczenia tasmy materialu o ruchu ciaglym oraz cewke magnesujaca nawinieta na 50 karkasie. Na karkasie jest nawinieta pierwsza cewka detekcyjna, przy czym pierwsza cewka de¬ tekcyjna i cewka magnesujaca sa tej samej dlu¬ gosci w kierunku wzdluz osi i sa wspólosiowe.Korzystnie na karkasie jest- nawinieta druga 55 cewka detekcyjna wspólosiowa- z pierwsza cewka detekcyjna i cewka magnesujaca. Pierwsza i dru¬ ga cewka posiadaja zwoje cewki" w takim sto¬ sunku, ze wieksze napiecie wytwarzane jest wpier¬ wszej cewce niz w drugiej cewce. -Na karkasie «o jest nawinieta druga cewka detekcyjna, która -jest - wspólosiowa z pierwsza cewka i cewka magnesu¬ jaca, przy czym pierwsza cewka posiada wieksza ilosc zwojów wytwarzajacych napiecie, kitóre0 sa umieszczone blizej: jej srodka niz konców, a drii- 65 ga cewka posiada wieksza liczbe zwojów, któresa umieszczone blizej jej konców niz srodka tak, ze zwoje pierwszej i drugiej cewki sa magnetycz¬ nie sprzezone z róznymi czesciami materialu przy jego ruchu przez karkas.Pierwsza cewka stanowi cewka wytwarzajaca l calkowite skuteczne naciecie wieksze niz druga cewka i dzieki temu dla tego samego strumienia pole magnesujace indukowane w materiale tasmy jest takie, ze napiecia wykrywane przez pierwsza i druga cewke sa rózne. Napiecie wyjsciowe pder- 1( wszej cewki detekcyjnej jest zawsze wieksze niz napiecia wyjsciowe drugiej cewki detekcyjnej przy ruchu materialu tasmy przez karkas i wraz ze zmniejszaniem sie gestosci strumienia przy wzros¬ cie odleglosci od srodka cewki magnesujacej, cal- 1! kowity strumien, z którym jest sprzezona druga cewka jest mniejszy niz calkowity strumien, z któ¬ rym jest sprzezona pierwsza cewka przy przeply¬ wie strumienia wzdluz tasmy materialu o dobrej jakosci dla odróznienia go od materialu zlej ja- 2C kosci.Sposób i urzadzenie moga byc realizowane rów¬ niez przy innym stosunku procentowym wyników pomiarów. 23 Zaleta wynalazku jest umozliwienie eliminowa¬ nia materialu o niepozadanych parametrach, ta¬ kich jak przy procedurze „odcinania wstecz", przy pracy jaiko uklad kontrolny do okreslania wlas¬ nosci magnetycznych zwoju materialu. Urzadzenie 30 wedlug wynalazku jest szczególnie korzystne do kontroli procesu i do badan podczas prób nowego materialu lub podczas zmiany procesu. Urzadze¬ nie umozliwia okreslanie wlasnosci materialu „wzdluz tasmy'*, dzieki czemu uzyskuje sie para¬ metry zwoju materialu tasmy stalowej na calej jej dlugosci.Urzadzenie wedlug wynalazku jest prostym, ma¬ lo kosztownym ukladem, latwym w eksploatacji i umozliwiajacym ograniczenie linii technolo- 40 gicznej. Urzadzenie mozna zastosowac prawie wszedzie wzdluz linii przesuwania sie tasmy stalo¬ wej, na przyklad w linii przecinania, linii my¬ cia, linii walcowania na goraco i w kazdym miej¬ scu po wygrzaniu wysokotemperaturowym. 45 Zaleta wynalazku jest umozliwienie uzyskania zapisu danych o wlasnosciach tasmy podczas jej wytwarzania.Zapis ten moze sluzyc do okreslania paramet¬ rów stali wzdluz jej dlugosci. Przy wskazaniach 50 parametrów innych niz pozadane, odcinek o wlas¬ nosciach niepozadanych moze zostac odciety i usu¬ niety ze zwoju. Co wiecej, poniewaz mozliwe jest uzyskanie ciaglego zapisu danych o wlasnosciach tasmy, nie dochodzi do marnotrawstwa, bowiem 55 tasma stalowa o podobnych wlasnosciach i para¬ metrach moze byc polaczona w celu otrzymania materialu nadajacego sie do uzytku, a nie wy¬ brakowanego. Urzadzenie wedlug wynalazku moze byc zastosowane zarówno do kontroli starego ma- eo terialu, jak i nowego materialu.W urzadzeniu wedlug wynalazku .istnieje mo¬ zliwosc zatrzymania operacji obróbki tasmy sta¬ lowej, kiedy jakosc tasmy spadnie ponizej okre¬ slonego poziomu, przez ca unika sie dlugich od- w 616 10 cinków materialu tasmy o niepozadanych wlas¬ nosciach i parametrach.Urzadzenie wedlug wynalazku mozna stosowac jako urzadzenie do kontroli jakosci, do badania o dzialaniu ciaglym, do okreslania parametrów magnetycznych, jak tez jako tester statyczny.W ogólnosci, zmiany szerokosci tasmy i grubosci dla wszystkich celów praktycznych moga byc za¬ niedbywane. Testy statyczne i badania na linii daja zadane wyniki bez komplikowania czesci elek¬ tronicznej.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy urzadzenia do ba¬ dania wlasnosci magnetycznych poruszajacej sie tasmy wedlug wynalazku, fig. 2 — bardziej szczególowy schemat ukladu z fig. 1, fig. 3 — schematyczny widok przekroju wzdluz linii 3—3 na fig. 4, przy przechodzeniu badanej tasmy przez cewke magnesujaca i uklad podwójnej cewki de¬ tekcyjnej wedlug pierwszego wykonania wyna¬ lazku, fig. 4 — przekrój wzdluz linii 4—4 na fig. 3, fig. 5 — widok podobny do widoku z fig. 3, ale przedstawiajacy inne wykonanie ukladu cewfci magnesujacej i podwójnej cewki detekcyjnej, fig. 6 A wykres stosunku w funkcji dlugosci A — B zwojów przy badaniu przez urzadzenie z fig. 1 oraz fig. 7 — krzywa wzorcowania przy badaniu roz¬ kladu naprezen po wyzarzaniu metoda Epsiteina.Na fig. 1 jest przedstawiona tasma 10, która tworzy fragment duzego zwoju materialu, które¬ go fragment poruszany jest pod ukladem do ma¬ gnesowania i detekcji, zawierajacym cewke ma¬ gnesujaca 12 i cewki detekcyjne A i B. Fig. 1 przedstawia cewke magnesujaca 12 i cewki detek¬ cyjne A i B w sposób schematyczny i na fig. 3 i 4 pokazano ich budowe i zaleznosci przestrzen¬ ne. Wyjscia cewek A i B sa polaczone z ukla¬ dem 14 wyjsciowego napiecia okreslajacego sto¬ sunek i z rejestratorem 16 o dzialaniu ciaglym.Cewka magnesujaca 12 do magnesowania mater¬ ialu tasmowego jest przylaczona na przyklad do zasilania jednofazowego 230 V, 60 Hz i w ukla¬ dzie z cewka pierwotna 18 do kompensacji stru¬ mienia w powietrzu stanowi czesc ukladu sluza¬ cego do eliminacji detekcji strumienia z powiet¬ rza w ukladzie cewek. Dokonywana jest regula¬ cja napiecia za pomoca sterowania okreslonej zmiennej, na przyklad konwencjonalnego sterowa¬ nia pradem w ukladzie z cewka magnesujaca tak, ze bedzie ona magnesowac material tasmy 10 przy 10 H (10 Oe). Pomimo tego, ze dla wyjasnienia podano szczególne zródlo zasilania, nalezy rozu¬ miec, ze w zakresie wynalazku lezy stosowanie zródla 110 V lub jakichkolwiek innych wygodnych zródel zasilania.Wartosc indukcji w materiale tasmy 10 nie jest krytyczna, ale doswiadczenie wykazuje, ze jezeli material jest magnesowany do 10 H (10 Oe) pod¬ czas wykorzystywania wyniku badania metoda Epsteina przy 10 Oe, osiaga sie lepsza zaleznosc.Wartosc pradu moze zmieniac sie w niewielkimu 111616 12 stopniu, kiedy tasma przechodzi przez urzadzenie lub uklad kontrolny bez ujemnych efektów.Jak dobrze wiadomo, prad cewki wzbudzajacej czyli mafinesujacej 12 jest proporcjonalny do po¬ la magnesujacego. Znaczy to, ze jesli sie zmienia wartosc pradu, pole magnesujace zmienia sie.^Zmiana ta nie jest krytyczna, ale dla unikniecia duzych zmian nalezy stosowac zródlo pradu sta¬ lego. Cewki A i B sa sprzezone równiez odpowied¬ nio z wtórnymi cewkami kompensacyjnymi 20 i 22, które razem z cewka pierwotna 18 tworza uklad kompensacji strumienia w powietrzu. Wyj¬ sciowe sygnaly napieciowe z cewek A i B sa po¬ dane odpowiednio na prostowniki Graetza lub pro¬ stowniki 24 i 26.Napiecie wyjsciowe z prostownika 24 jest ko¬ rzystnie: podawane na miernik analogowy w celu uzyskania sygnalu analogowego napiecia stalego ¦-uzyskanego z cewki A, przykladowo mozna zasto¬ sowac cyfrowy woltomierz 28 pradu stalego. Napie¬ cie cewki Bi napiecie cewki A z prostownika 24 zostaje podane na prostownik 26 w takiej fazie, zeby uzyskac napiecie wyjsciowe z prostownika 26, Ifctóre jest napieciem róznicowym cewek A i B.Wyprostowane napiecie róznicowe cewek A i B zostaje podane na inny miernik analogowy, jak na przyklad cyfrowy woltomierz 30 pradu sta¬ lego w celu otrzymania z niego wyjscia analo¬ gowego, stalego A—B, które reprezentuje róznice pomiedzy napieciami uzyskanymi z cewek A i B.Jak bedzie dalej wyjasnione, cewki A i B sa tak polaczone, ze wyjsciowe napiecie cewki A be¬ dzie zawsze wieksze niz napiecie wyjsciowe z cew¬ ki B. Innymi slowy, cewki A i B sa zaprojekto¬ wane w ten sposób, ze dla tego samego strumie¬ nia zaindukowanego w tasmie 10 przez cewke magnesujaca 12 cewka A bedzie zawsze miec wieksze napiecie wyjsciowe niz cewka B. iProstowinik 24 jest przylaczony bezposrednio do cewki A w celu prostowania napiecia indukowa¬ nego w niej i podawanego na cyfrowy wolto¬ mierz 28. Prostownik 26 jest dolaczony bezposred¬ nio do cewki B w celu prostowania napiecia in¬ dukowanego w niej i szeregowo w przeciwnym , kierunku do prostownika 24 w celu podawania napiecia róznicowego miedzy cewkami A i B na cyfrowy woltomierz 30.Mozliwe jest takie przylaczenie prostownika 26 bezposrednia do cewek A i B, ale w przeciwfazie tak, ze prostownik 26 bedzie prostowac i wytwa¬ rzac sygnal wyjsciowy, który jest róznica pomie¬ dzy napieciami A i B. Cyfrowe woltomierze ?8 i 30 moga zawierac takze czesc wyswietlajaca do realizacji wskazywania wizualnego napiecia od* bieranego przez cewke A i napiecia róznicowego A—B odbieranego przez cewki A i B. Cyfrowe woltomierze 28 i 30 maja wyjscia na mase pola¬ czone przewodem 32, a wartosc wypadkowa na¬ piecia z prostownika 24 jest podawana na cyf¬ rowy woltomierz 28 za pomoca przewodu 34. Wy¬ padkowe napiecie z prostownika 26 jest podawane na Cyfrowy woltomierz 30 za pomoca przewodu 36.Do wyjscia wzmacniaczy 28 i 30 jest przylaczony dzielnik 38, który jest tak polaczony, ze uzyskuje sie dany stosunek sygnalów wyjsciowych, Na fig. 3 -i:A' cewka magnesujaca 12 i cewka detekcyjna A sa zasadniczo tych samych rozmia^ rów, cewka B nieco wieksza. Na fig. 5 wszystkie trzy cewki, cewka magnesujaca, cewki detekcyjne * A i B sa pokazane jako posiadajace te same roz¬ miary. W wykonaniu przedstawionym na fig. 3 14 cewka magnesujaca 12 sluzy jako zródlo pola magnesujacego i jest nawinieta jako izolowany, gruby druit miedziany na dwóch cewkach detek- 10 cyjnych.Wszystkie trzy cewki sa nawiniete w ten spo¬ sób, ze otaczaja badana tasme. Cewka A sklada sie z cewki nawinietej jednorodnie o liczbie zwo¬ jów dostatecznej do wywolania detekcji napiecia 15 w zakresie roboczym indukcja tasmy i jest na ogól skupiona w mniej lub wiecej jednorodnym zakre¬ sie indukcji wytwarzanej przez cewke wzbudza¬ jaca w tasmie. Cewka B jest nawinieta na dluz- 20 szej odleglosci wzdluz tasmy niz cewka A i dla¬ tego wykracza poza cewke wzbudzajaca i cew¬ ke A w kierunku obszaru niejednorodnego stru¬ mienia w tasmie. Napiecie wykrywane przez cew¬ ke B uzyskuje sie czesciowo z obszarów, gdzie wartosc indukcji spada ponizej wartosci w obsza- 25 rze w poblizu cewki A. Zmiany dlugosci cewki B i rozkladu zwojów zmieniaja ksztalt krzywej ka¬ librowania urzadzenia. Badania wykazaly, ze cew¬ ka B powinna wytworzyc napiecie okolo 9010/© na¬ piecia cewki A w tasmach o najwyzszej jakosci 30 dla najlepszych wyników tak, ze liczbe zwojów i odleglosc zmniejsza sie lacznie.Poniewaz przy pogorszeniu wlasnosci magnetycz¬ nych detekcja napiecia cewki B bedzie sie zmniej¬ szac wzglednie silniej niz cewki A, gdyz wieksza 35 czesc strumienia nie jest wykrywana przez cew¬ ke B, stosunek napiec bedzie okreslal wlasnosci tasmy. Poniewaz stosunek A/B lub B/A jest ma¬ ly, praktyczniej jest okreslac wynik równania A(A—B) i odnosic ten wynik do wlasnosci tasmy 40 mierzonej standardowa metoda Epsteina -rozkladu naprezen po wyzarzaniu. Stad, stan tasmy w cza¬ sie i warunki badania odnosza siie do koncowego testu oceniajacego wlasnosci cewki.Poniewaz stosunek napiec na wzglednie malej 45 dlugosci tasmy stosuje sie jako wskaznik jakosci tasmy, cewki A i B otrzymuja napiecie z tego samego w ogólnosci obszaru tasmy, a zmiany sze¬ rokosci i grubosci tasmy, jak stwierdzono uprzed¬ nio, mozna zaniedbac. 50 Nalezy zauwazyc, ze dwie cewki detekcyjne A i B nie musza posiadac szczególnej dlugosci, ale dla celów produkcyjnych jest pozadane posiadanie przez cewke A nawinieta na karkas 52 tej sa¬ mej dlugosci, co cewka magnesujaca 12. W rze- 55 czywistpsci moze byc pozadane wykonanie wszys¬ tkich trzech cewek o tej samej dlugosci jak po¬ kazano w wykonaniu na fig. 5.Rzecza wazna jest, aby cewka B przy idealnych rozmiarach, jak wspomniano uprzednio, byla skon- 60 struowaina tak, zeby odbierala tylko 90*Vo napiecia cewki A i zeby cewki detekcyjne byly rózne.Kosekwencja tego wymagania jest, ze cewka B musi zawsze posiadac efektywna liczbe zwojów mniejsza niz efektywna liczba zwojów cewki A, ** tak, ze cewka B bedzie zawsze wykrywac napie--117 cie mniejsze, niz cewka A. Oprócz tego/ wazne jest równiez zeby cewka B odbierala dane dla tej .samej szerokosci i -..grubosci tasmy, co cew¬ ka A w celu wyeliminowania uwzgledniania sze- jrokpsci i grubosci,przy_badaniu.. 5 - Pokazano we wczesniejszej czesci opisu, za mo¬ zliwe jest stosowanie wynalazku w linii przecina¬ nia wzdluznego,, linii mycia, linii prostowania na goraco, wszedzie po wyzarzaniu wysokotemperatu¬ rowym i nalezy równiez zauwazyc, ze chociaz 10 mozna zastosowac go wszedzie, krzywa, czyli re¬ prezentacja graficzna uzyskiwana jako zarejestro¬ wany parametr tasmy moze wymagac interpre¬ tacji opartej o wlasnosci tasmy. Oprócz tego uzys¬ kuje sie natychmiastowe wizualne wskazanie, od- 15 noszace sie do tasmy stalowej, z jej zarejestrowa¬ nego parametru w trakcie wytwarzania tasmy stalowej.Oprócz tego, w zakTesie wynalazku lezy umiesz¬ czenie cewki B „wzdluz tasmy" lub w miejscu ^ innym niz pod cewka A tak, ze odczyty z cewki A i cewki B moga byc dokonywane w róznych cze¬ sciach materialu tasmowego. W tej ostatniej sytu¬ acji, kiedy cewka B jest umieszczona „wzdluz tas¬ my", zadaniem urzadzenia jest wprowadzenie do- K datkowych, elektronicznych uwzglednien szerokos- sci i grubosci lub zalozenie, ze nie zmieniaja sie one. Z tego powodu wazne jest cewka B odbierala dane tej samej szerokosci i gru¬ bosci tasmy, co cewka A w celu wyeliminowania 30 uwzglednienia szerokosci i grubosci przy badaniu.Wiadomo z nastepujacego wzoru: dt ts d.7) gdzie, N jest liczba zwojów cewki, jest szyb- dt koscia zmiany strumienia w czasie, dt jest od¬ cinkiem czasu, E jest indukowanym napieciem, ze w celu, zeby cewka B posiadala nieco mniejsza 40 indukcje, zastosowano ja w obszarze o mniejszej sredniej gestosci strumienia niz cewke A, tak, ze cewka B bedzie posiadac nizsze napiecie induko¬ wane. Wiadomo takze, ze maksymalny strumien zaindukowany w tasmie 10 bedzie pojawial sie na *5 ogól w srodku cewki magnesujacej 12 i ze w kie¬ runku od srodka bedzie sie indukowal z powodu strat mniejszy strumien. Jezeli napiecie, które wy¬ krywaja cewki A i B stanie sie wieksze, znaczy to, ze jakosc stali ulegla polepszeniu. Jezeli na- 80 piecie, które wykrywa cewka B wzrosnie szybciej niz napiecie wykrywane przez cewke A, wtedy jakosc stali jest lepsza. Dlatego, gdy nastepuja¬ cy stosunek: A w A—B wzrasta, znaczy to, ze wzrasta przenikalnosc i ja¬ kosc stali. Innymi slowy, kiedy maleja straty w materiale, uzyskana jest stal wyzszej jakosci co z wieksza przenikalnoscia.Przy zastosowaniu wykonania z fig. 3 i 4 wazne jest nie tylko, zeby cewka A miala wieksza ilosc zwojów dla wytwarzania napiecia niz cewka B, ale cewka B musi posiadac wiecej zwojów odda- C5 lonyeh od srodka* zlozonego ukladu utworzonego przez cewke magnesujaca 12 i cewki A i B. Sro¬ dek ten jest odlegloscia wzdluz osi zlozonego czyli wieloelementowego ukladu 60, a nie geometrycz¬ nym srodkiem, przez który przechodzi tasma 10 w celu zbadania jej.Wówczas, gdy cewki A i B posiadaja te same fizyczne rozmiary, jak ptfdaino w przykladzie wy¬ konania na fig. 5, liczba zwojów cewki A musi byc wieksza w srodku cewki niz" dla cewki B.W tym celu pokazano cewke A na karkasie 52 jako posiadajaca dwie warstwy zwojów 40 i po¬ jedyncza warstwe zwojów 42. Cewka B posiada pojedyncza warstwe zwojów 44 blisko jego srod¬ ka i podwójna warstwe zwojów 46 na jego koncach dla zrealizowania wiekszej gestosci zwojów na koncach cewki niz w srodku. W ten sposób, cho¬ ciaz cewki B i A posiadaja te sama dlugosc w kie¬ runku wzdluz osi zlozonego ukladu, cewka B znajduje sie w obszarze o mniejszej srednicy ge¬ stosci strumienia niz cewka A tak, ze w cewce B bedzie indukowane mniejsze napiecie niz w cew¬ ce A. Ze wzgledu na polozenie zwojów, gdyby ja¬ kosc stali sie zmieniala w obszarze i na dlugo¬ sci 48 na fig. 3 lub na dlugosci 50 na fig. 5 cew¬ ki przechodzacej przez uklad, powinny wystepo¬ wac zmiany wlasnosci stali na dlugosci 45 lub na dlugosci 50 i wtedy stosunek bylby mniejszy.Poniewaz napiecia z cewki A i cewki B sa okre¬ slane przez zmiane strumienia na jednostke cza¬ su w materiale tasmy, napiecia indukowane w tych cewkach sa proporcjonalne do wartosci indukcji w materiale tasmy. Przy jednorodnych wlasnos¬ ciach stali wzdulz dlugosci L, cewka A wykry¬ walaby na przyklad 10 V, a cewka B wykrywala¬ by 9 V dla spelnienia ponizszego stosunku: A-B 10-9 Jezeli jednak cewka B wykrywa jedynie 8 V stosunek bedzie wynosil: A _ 10 __ 10 = A-B 10-8 2 i w wyniku tego wykazywany jest znaczny spa¬ dek. Napiecia te sa podawane z cyfrowych wol¬ tomierzy 28 i 30 oraz sa proporcjonalne do induk¬ cji lub napiec wytwarzanych przez cewki A i B.Nastepnie, jezeli maksymalna wartosc, do której tasma stalowa 10 moze byc namagnesowana, jest równa polu magnesujacemu w tasmie L, które wy¬ twarzaloby napiecie wyjsciowe 9 V, wtedy cew¬ ka A wykrywalaby jedynie 9 V, a cewka B wykrywalaby jedynie 8,1 V, przy zalozeniu jedno¬ rodnej dobroci cewki wzdluz dlugosci L otrzymuje sie nastepujacy stosunek: A-B 9-8,1 0,9 Jednakze, jezeli wlasnosci na dlugosci L smie¬ nia sie i cewka A wykrywa, ze tasma 10 byla namagnesowana do takiej wartosci pola magne¬ tycznego, które wytworzyloby napiecie wyjsciowe 10 V w jednym punkcie na dlugosci L i do ta^ kiej wartosci pola magnetycznego, które wytwo-117 616 15 16 rzyloby napiecie wyjsciowe 9 V w innym .punkcie na dlugosci L, wtedy stosunek zmienilby sie lub odbiegl od wartosci sredniej. Jezeli cewka A wykrywala 10 V , a cewka B zaczynala wykry¬ wac mniejsze napiecia niz OOtya ód 10 V, stosunek odbiega od wartosci sredniej.Pomimo tego, ze pokazano dwa wykonania, jed¬ no z cewka A mniejsza niz cewka B i drugie z-cewka A i B o tej samej dlugosci wzdluz osa, nalezy zauwazyc, ze cewki A i B musza wykry¬ wac rózne napiecia dla tej saimej przenikalnosci.Jest dlatego mozliwe skonstruowanie pary detek¬ cyjnych . cewek A i B w taki sposób, ze cewka A jest dluzsza wzdluz osi niiz cewka B, lub skonstru¬ owanie A i B w taki sposób, ze cewka B jest rozdzielona na dwie cewki i umieszczona na prze¬ ciwnych stronach cewki A lub dluzsza wzdluz osi.W kazdym wypadku, w takich konstrukcjach, cewka B musd byc skonstruowana tak, ze bedzie wykrywac jedynie 90*/o napiecia, które wykrywa cewka A, gdy wlasnosci magnetyczne stali sa jed¬ norodne wzdluz jej czesci przechodzacej przez cewki A i B. Jak zauwazono poprzednio, obie cewki A i B powinny wykrywac te sama grubosc i szerokosc materialu tasmy stalowej 10 w celu wyeliminowania wprowadzania do ukladu elek¬ tronicznego zmian szerokosci i grubosci tasmy.A Fig. 6 przedstawia wykres stosunku- -w fun- A—B keji dlugosci cewkii dla zwoju tasmy materialu o nietypowych wlasnosciach. Wykres zostal uzys¬ kany dla zwoju badanego materialu w celu po¬ wiekszenia i uwydatnienia warunków, do wykry¬ cia których przystosowane jest urzadzenie kon- A trolne wedlug wynalazku. Stosunek-—"jest na- niesiony na rzedna, a dlugosc zwoju na odcieta.Mozna zauwazyc, ze tasma na dlugosci od 0 do okolo 1,83 km w punkcie 62 wykresu 54 wykazuje za¬ sadniczo jednorodne wlasnosci. Czesc tasmy stalo¬ wej od punktu 62 do punktu 64 moze byc odcie¬ ta, a czesc tasmy od punktu 64 do 66 moze byc odcieta i zlaczona odpowiednio z czescia od punktu 68 do 70. Dla pewnych celów czesc pomiedzy pun¬ ktami 62, a 72 moglaby zostac polaczona z czescda pomiedzy 68 a 70, co, daloby zwój o zasadniczo minimalnej jednorodnej jakosci. Jest widoczne na wykresie, która czesc tasmy jest dobra, a która nie.Fig, 7 jest wykresem wzorcowania stosowanym dla urzadzenia kontrolnego o dzialaniu ciaglym wedlug wynalazku. Na odcieta naniesiona jest przenikalnosc przy 10 Oe tak, ze mozna ja porów¬ nac z badaniem metoda Epsteina rozkladu napre¬ zen po wygrzewaniu, a na rzedna naniesiono sto- sunek okreslony dla urzadzenia wedlug wy- A—B naladku. Jak dobrze wiadomo, badanie metoda Ep¬ steina umozliwia pomiar calkowitych strat w ma¬ teriale; które sa suma pradów wirowych i strat na petle histerezy. Wykonano badanie metoda Ep¬ steina wedlug procesury odcinajacych paneli kon¬ trolnych w specyficznych polozeniach. Wedlug tego, dla materialu o zorientowanym ziarnie, uzyto prób¬ ki o dlugosci 30,5 cm, która byla ucieta w kierun¬ ku walcowania.* Dla produktu z niezorientowanej stali krzemo¬ wej wycieto próbki 28 cm o konwencjonalnej sze¬ rokosci 3 om, polowe równolegle do kierunku wal- cowania koncowego i polowe prostopadle do kie¬ runku walcowania. Dane otrzymane dla ucietych M tasm byly uzyskane z badania konwencjonalna me* toda Epsteina.. Dane uzyskane z urzadzenia kon^ trolnego otrzymano z materialu tasmowego przed wycieciem próbek droga obserwacji stosunku na rejestratorze tasmowym 16. Te wykresy zostaly 16 wykreslone jako wartosci rzednej w funkcji warr tosci odcietej dla uzyskania krzywej 70.Nalezy zauwazyc, ze te fragmenty, które wyka¬ zuja mala przenikalnosc, daja takze maly sto¬ sunek pokazany na wykresie. 20 Zwój, dla którego wykreslono fig. 6, jest zwo¬ jem o wysoce zorientowanym ziarnie, z kilkoma zlymi obszarami, szczególnie pomiedzy punktami 77 a 64 i 70 a 76. Nalezy takze zauwazyc punkty 78, 80 i 82, gdzie stosunek wynosi 6. 25 w celu uzyskania przebiegu jakosci zwoju, po¬ kazanego na fig. 6, zaszla koniecznosc zastosowania doswiadczalnego materialu zawierajacego kilka zlych obszarów tak, zeby podkreslic mozliwosc zastosowania stosunku A w celu uzyskania pa- » ~A^B rametrów zwiazanych z testem Epsteina.Po pobraniu próbek zwoju w róznych punktach i poddaniu testowi Epsteina oraz porównaniu ze stosunkiem A Okreslonym wedlug niniejszego 44 A—B wynalazku otrzymano nastepujace wyniki przyto¬ czone w tablicy.Tablica Material tasmowy wyzarzany i odprezony Próbka 1 2 3 4 5 6 Stosunek 9,0 6,30 8,25 7,25 7,00 6,00 H-=10H 1858 1737 1818 1796 1777 1667 17 kG 2,2 WAT/l kg 0,763 0,992 0,837 0,862 0,888 1,15 50 Odnosnie zastosowanych przyrzadów, cyfrowy woltomierz 28 pradu stalego jest milimetrem 5230, a cyfrowy woltomierz 30 pradu stalego jest mul- timetrem 5900 produkowanym przez Dana Labora¬ tories.Dzielnik 38 jest to D--211 Divider produkowany przez Intronics Inc, model miernika cyfrowego 8375 A do odczytu stosunku czyli rejestrator 16 jest produkowany przez John Fluke Mfig.Co. Pros¬ towniki 24 i 26 sa to IN-646 Bridge Diodes, a tas-17 ,mat: papieru .rejestratora jest to Model, 7100. B produkowany przez. :Hewiett Packard; Dla przyr tocznych... przyrzadów :¦.ujawniono; najlepszy znany sprosób pracy w celu uzyskania przytoczonych wy- -ników 1 sprawdzenia wynalazku... •.. ..\. Z. powyzszego powinno byc oczywiste, ze urza- -dzenie kontrolna o• dzialaniu, ciaglym, jest oparte *na zupelnie innej zasadzie., Nie rna ono zwiazku -z .polem magnesujacym innego .niz:.wprowadzenie -pewnego pradu przez cewka wzbudzaj.aca i utrzy¬ mywanie jego wzglednie stalej wartosci. Znaczy to, ze material pracuje powyzej kolana krzywej B—H w wiekszosci wypadków, chociaz moze pra¬ cowac ponizej.Przy zalozeniu, ze grubosc, lub szerokosc nie zmieniaja sie radykalnie w tasmie na dlugosci zasiegu dzialania cewki B, jest mozliwa dla wszyst¬ kich praktycznych celów eliminacja parametrów szerokosci i grubosci. Nalezy zaznaczyc, ze jezeli .grubosc lub szerokosc zmienia sie radykalnie na bardzo malej odleglosci, urzadzenie wskaze zmia¬ ne. Jezeli zaklada sie, ze zmiana jest nagla pod czescia cewki B, a jeszcze nie ma zmiany pod cewka A, mozna stwierdzic, ze róznica A—B moze sie zmienic, czego wynikiem jest zmiana stosunku, jezeli cewka A nie reaguje na zmiane stanu.Ogólny przecietny stosunek powinien pozostac wskaznikiem ogólnej jakosci. Jest to niemozliwe do wystapienia w warunkach produkcyjnych lub, jezeli to wystapi, urzadzenie powinno wrócic do poczatkowego stosunku tak szybko, jak szybko grubosc i szerokosc wróca do jednorodnych wy¬ miarów.Pomimo tego, ze zostalo pokazane i opisane szczególne wykonanie wynalazku, bedzie latwiej zrozumiec i przyjac, ze rózne zmiany lub mody¬ fikacje moga byc dokonywane bez odbiegania od idei i zakresu wynalazku, przytoczonych w za¬ laczonych zastrzezeniach.Zastrzezenia (patentowe 1. Sposób badania wlasnosci magnetycznych po¬ ruszajacej sie tasmy wzdluz calej jej dlugosci, w którym zwój tasmy przecina sie dla usuniecia czesci materialu tasmy o wlasnosciach odbiegaja¬ cych od przyjetej normy, znamienny tym, ze ma¬ gnesuje sie ciagla, poruszajaca sie tasme do pe¬ wnej wartosci, magnetyzacji, dokonuje sie pier¬ wszego odczytu napiecia wskazujacego magnety¬ zacje zaindukowana w poruszajacej sie tasmie ma¬ terialu, dokonuje sie drugiego odczytu napiecia wskazujacego magnetyzacje zaindukowana w poru¬ szajacej sie tasmie dla uzyskania wyjsciowego syg¬ nalu¦.napieciowego róznego, od pierwszego odczy¬ tanego napiecia, przy czym dokonuje sie pierwsze¬ go i drugiego odczytu dla zasadniczo tej samej -..czesci, materialu, w. taki sposób, ze drugi odczyt ..nie przekracza 90% pierwszego odczytu i otrzy- v.muje sie stosunek pomiedzy pierwszym odczytem -.a. róznica pomiedzy pierwszym a drugim odczy- -tem dla wytworzenia ciaglego odczytu wskazuja¬ cego stosunek dla wszystkich polozen tasmy. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze - poddaje sie tasme materialu dzialaniu pola o na- t76I6 18 tezeniu 10;.Qe podczas.magnesowania,-wytwarza* sie pierwszy sygnai; wyjsciowy, z pierwszego, odczytu napiecia, wytwarza sie drugi sygnal, wyjsciowy z'.-. drugiego .odczytu . napiecia, laczy sie pierwszy * i drugi. sygnal wyjsciowy- dla uzyskania trzecie¬ go sygnalu wyjsciowego, wskazujacego róznice pomiedzy pierwszym a drugim sygnalem wyjscio¬ wym; wykresla sie .wykxe$ dla sygnalu analogo¬ wego odpowiadajacego stosunkowi pierwszego 18 i trzeciego sygnalu wyjsciowego na papierze reje¬ stratora dla kazdego polozenia zwoju tasmy sta¬ lowej. 3. Sposób wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze wykresla sie w rejestratorze wizualne wskazania i' stosunku dla kazdej czesci zwoju tasmy dla uzys¬ kania wskaznika jakosci stali dla kazdej czesci zwoju tasmy, okresla sie srednia wartosc stosun¬ ku na wykresie rejestratora, usuwa sie te czesci zwoju tasmy, których wlasnosci odbiegaja od sred- 20 niej wartosci i laczy sie w jedna calosc pozos¬ tale czesci zwoju dla utworzenia tasmy o zasad¬ niczo jednorodnej jakosci stali. 4. Sposób wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze laczy sie w jedna calosc czesci zwoju tasmy usu- 25 niete z niego zgodnie z danym parametrem dla utworzenia innego zwoju tasmy o zasadniczo po¬ dobnej, jednorodnej, ogólnej jakosci stali. 5; Sposób badania wlasnosci magnetycznych po¬ ruszajacej sie tasmy, znamienny tym, ze przykla- so da sie okreslony strumien magnesujacy na okre¬ slony obszar materialu tasmy podczas jej ruchu przez miejsce przylozenia strumienia, otrzymuje sie pierwszy pomiar pola magnesujacego induko¬ wanego w wyniku strumienia przylozonego. do ok- 15 reslonego obszaru, otrzymuje sie drugi pomiar po¬ la magnesujacego, indukowanego w wyniku stru¬ mienia przylozonego do okreslonego obszaru sta¬ nowiacego okreslony procent pierwszego, otrzy¬ manego pomiaru, laczy sie pierwszy i drugi uzys- 40 kane pomiary dla uzyskania róznicy miedzy nimi trzeciego parametru pomiarowego oraz porównu¬ je sie jeden sposród pierwszego i drugiego pomia¬ ru z trzecim pomiarem dla uzyskania stosunku pomiedzy ostatnim pomiarem a trzecim pomiarem. 46 6. Sposób wedlug zastrz. 5, znamienny tym, ze rejestruje sie stosunek dla kazdego polozenia na tasmie dla otrzymania wykresu "okreslajacego wlasnosci zwoju tasmy, usuwa sie czesc materia¬ lu tasmy ze zwoju tasmy, którego wartosc odbie- 50 ga od dominujacego stosunku dla zwoju tasmy, laczy sie w jedna calosc fragmenty z usunietych czesci; które maja podobny stosunek tak, ze ut¬ worzony .zostaje inny zwój materialu tasmy z za¬ sadniczo jednorodnym stosunkiem dla utworzenia 55 innych zwojów tasmy z zasadniczo jednorodnym innym stosunkiem, przez co uzyskuje sie inne . zwoje o jednorodnej jakosci. 7. Sposób wedlug zastrz. 5, znamienny tym, ze wytwarza sie wskazniki wizualne pierwszego po- M miaru i trzeciego pomiaru na rejestratorze dla wizualnego wskazania poczatku zmiany jakosci w porównaniu z jakoscia poprzednia. 8. Urzadzenie do badania wlasnosci magnetycz¬ nych poruszajacej sie tasmy wzdluz calej jej dlu- w gosci, która zawiera uklad magnesowania, uklad117W6 detekcji i miernik stosunku, znamienny tym, ze uklad magnesowania zawiera elementy do indu¬ kowania pradu magnesujacego w poruszajacej sie tasmie i uklad detekcji zawiera elementy do de- -fekeji- dwóch parametrów strumienia zaindukowa- ;nego--w tasmie materialu dla wytworzenia wyjs¬ ciowego sygnalu napieciowego dla kazdego z tych -parametrów, oraz • uklad odbierajacy wyjsciowe sygnaly napieciowe dla wytwarzania trzeciego napiecia wyjsciowego, które jest stosunkiem na¬ piecia wyjsciowego dla jednego z parametrów po¬ dzielonego przez róznice pomiedzy pierwszym wyj¬ sciowym sygnalem napieciowym a drugim z wy¬ mienionych na poczatku napiec wyjsciowych. 9. Urzadzenie wedlug zastrz. 8, znamienne tym, ze uklad do detekcji dwóch parametrów zawiera pierwsza i druga cewke detekcyjna (A, B), wy¬ krywajace strumien, indukowany w poruszajacej sie tasmie (10), przy czym pierwsza cewka detek¬ cyjna piecia wiekszego niz napiecie cewki detekcyjnej (B) i uklad odbierajacy zawiera pierwszy i dru¬ gi zespoly, przy czym pierwszy zespól jest sprze¬ zony z cewka detekcyjna (A) i zawiera prostow¬ nik (24) oraz drugi zespól sprzezony z cewka (A) i cewka (B) i zawiera prostownik (21) oraz za¬ wiera dzielnik (38) polaczony z pierwszym i dru¬ gim zespolem dla wytwarzania napiecia wyjscio¬ wego. 10. Urzadzenie wedlug zastrz. 9, znamienne tym, ze pierwszy zespól zawiera prostownik (24) stano¬ wiacy uklad Graetza polaczony z cewka detekcyj¬ na (A) i cyfrowy woltomierz (28) pradu stalego polaczony z wyjsciem ukladu Graetza oraz drugi zespól zawiera prostownik (21) stanowiacy uklad Graetza polaczony z cewka detekcyjna (B) i wyj¬ sciem pierwszego ukladu Graetza oraz cyfrowy woltomierz (30) pradu stalego polaczony z drugim ukladem Graetza. 11. Urzadzenie wedlug zastrz. 9, znamienne tym, ze dzielnik (38) jest sprzezony z pierwszym i dru¬ gim zespolem, przy czym dzielnik (38) jest polaczo¬ ny z cyfrowym woltomierzem (28) dla zastosowa¬ nia jego sygnalu wyjsciowego jako licznika sto¬ sunku i polaczony z cyfrowym woltomierzem (30) dla zastosowania jego sygnalu wyjsciowego, jako mianownika w stosunku, przy czym z drugiej stro¬ ny do wyjscia dzielnika <38) jest dolaczony rejest¬ rator (16). 12. Urzadzenie wedlug zastrz. 8, znamienne tym, ze uklad do magnesowania i detekcji zawiera cewke magnesujaca (12) do indukowania strumie¬ nia magnetycznego w~ poruszajacej sie tasmie, cewke detekcyjna (A), sprzezona z cewka magne¬ sujaca, posiadajaca pierwszy parametr do wytwa¬ rzania pierwszego, zaleznego od napiecia wyjscio¬ wego parametru - przy przejsciu materialu przez cewke detekcyjna (A), cewke detekcyjna (B) sprze¬ zona z cewka magnesujaca (12) i pierwsza cewke detekcyjna (A), posiadajaca drugi parametr rózny od pierwszego parametru pierwszej cewki dla wytwarzania sygnalu wyjsciowego zaleznego od drugiego parametru i parametru materialu mag¬ netycznego. 20 13. Urzadzenie wedlug zastrz. 12, znamienne tym* -ze Cewka detekcyjna zwojów nii druga cewka detekcyjna. XB)/. - 14.. Urzadzenie wedlug zastrz. 8, znamienne tym, 5 ze uklad odbierajacy zawiera pierwszyzespólsprze¬ zony z cewka detekcyjna (A).dla wytworzenia analogowego sygnalu napieciowego o wartosci, pier¬ wszego napiecia wyjsciowego, uklad sprzezony z cewka detekcyjna (B) dla wytworzenia analoga- 10 wego sygnalu napieciowego -równego róznicy na¬ piec pomiedzy pierwszym a drugim napieciem oraz dzielnik (38) sprzezony z wyjsciami pierw¬ szego i drugiego zespolu dla wytworzenia napie¬ cia, które jest stosunkiem pierwszego napiecia 15 wyjsciowego do napiecia róznicowego. x . 15. Urzadzenie wedlug zastrz. 11, znamienne tym, ze rejestrator (16) jest przystosowany do wytwa¬ rzania wyjsciowego parametru napiecia reprezen¬ tujacego stosunek wykreslony w funkcji poloze- ,0 nia zwoju przy przejsciu przez uklad do magne¬ sowania i detekcji. 16. Urzadzenie wedlug zastrz. 8, znamienne tym, ze uklad odbierajacy zawiera pierwszy i drugi zespól, przy czym pierwszy zespól zawiera pros- 25 townik (24) sprzezony z cewka (A) dla wytwarza¬ nia pierwszego prostowanego sygnalu napieciowe¬ go, reprezentujacy parametr strumienia wykrywa¬ nego przez cewke (A) i pierwszy przyrzad analo¬ gowo-cyfrowy z wyswietlaniem jest sprzezony 30 z prostownikiem (24) dla wytwarzania analogowe¬ go, wyjsciowego sygnalu napieciowego, zainduko- wanego w pierwszej cewce i wyswietlania napie¬ cia w funkcji polozenia materialu tasmy przy jej ruchu przez uklad do magnesowania i detekcji, 35 drugi zespól zawiera prostownik (21) i drugi przy¬ rzad analogowo-cyfrowy, pTzy czym prostownik (21) zawiera pierwsze i drugie wejscie i pojedyn¬ cze wyjscie, przy czym pierwsze wejscie jest sprzezone z wyjsciem cewki (B) i drugie wejscie 40 jest sprzezone z wyjsciem prostownika (24), wej¬ scie drugiego cyfrowego ukladu wyswietlajacego jest sprzezone z wyjsciem prostownika (21), dru¬ gi przyrzad analogowo-cyfrowy z wyswietlaniem wytwarza drugi analogowy sygnal wyjsciowy na- 45 pieciowy dla wyswietlania róznicy pomiedzy napie¬ ciami indukowanymi w cewkach (A, B) w funkcji polozenia materialu. 17. Urzadzenie wedlug zastrz. 8, znamienne tym, ze zawiera uklad do magnesowania i detekcji dla 50 wytwarzania pola magnesujacego do indukowania strumienia w poruszajacej sie tasmie (10), posia¬ dajacej zasadniczo jednorodna grubosc i szerokosc dla detekcji dwóch parametrów tego samego stru¬ mienia zairidukowanego dla wytworzenia sygna- 55 lu wyjsciowego- dla* kazdego z tych parametrów, przy czym sygnaly wyjsciowe sa rózne, a uklad zawiera cewke magnesujaca (12) wytwarzajaca po¬ le magnesujace do indukowania strumienia magne¬ tycznego w poruszajacej. sie tasmie (10), cewke •o detekcyjna (A) sprzezona z^cewka magnesujaca (12) wykrywajaca strumien indukowany w poruszaja¬ cej sie tasmie (10) za pomoca cewki magnesuja¬ cej (12). 18. Urzadzenie wedlug zastrz. 17, znamienne tym, •» ze pierwszy i drugi sygnaly wyjsciowe sa wyj-21 117m 32 sciowymi sygnalami napieciowymi, przy czym cew¬ ka detekcyjna (A) posiada inna liczbe zwojów niz cewka detekcyjna (B), przy czym dla tego same¬ go strumienia indukowanego w poruszajacej sie tasmie (10) powstaja rózne wyjsciowe sygnaly napieciowe w kazdej z cewek (A, B). 19. Urzadzenie wedlug zastrz. 17, znamienne tym, ze cewka indukcyjna (A) posiada pierwsza liczbe zwojów, a cewka indukcyjna (B) posiada druga liczbe zwojów, przy czym pierwsza liczba zwojów jest wieksza niz druga liczba zwojów. 20. Urzadzenie wedlug zastrz. 8, znamienne tym, ze zawiera karkas przystosowany do otaczania tasmy (10) o ruchu ciaglym, przy czym cewki de¬ tekcyjne (A, B) sa nawiniete na karkasie. 21. Urzadzenie wedlug zastrz. 17, znamienne tym, ze cewka magnesujaca (12) i cewka detekcyjna (A) sa zasadniczo równej dlugosci w kierunku wzdluz osi. 22. Urzadzenie wedlug zastrz. 21, znamienne tym, ze cewka detekcyjna (B) jest dluzsza w kierun¬ ku wzdluz osi niz cewka detekcyjna (A). 23. Urzadzenie wedlug zastrz. 8, znamienne tym, ze zawiera karkas o oknie dostatecznie duzym do otoczenia tasmy (10) materialu o ruchu ciaglym oraz cewke magnesujaca (12) nawinieta na kar¬ kasie. 24. Urzadzenie wedlug zastrz. 23, znamienne tym, ze na karkasie jest nawinieta cewka detekcyjna (A) oraz cewka detekcyjna (A) i cewka magnesujaca (12) sa tej samej dlugosci w kierunku wzdluz osi i sa wspólosiowe. 10 15 20 25 30 25. Urzadzenie wedlug zastrz. 23, znamienne tym, ze na karkasie jest nawinieta cewka detekcyjna (B), która jest wspólosiowa z cewka detekcyjna (A) i cewka magnesujaca (12) oraz cewki (A i B) po¬ siadaja zwoje w takim, stosunku, ze wieksze na¬ piecie wytwarzane jest w "cewce (A) niz w cew¬ ce (B). 26. Urzadzenie wedlug zastrz. 23, znamienne tym, ze na karkasie jest nawinieta cewka detekcyjna (B), która jest wspólosiowa z cewka (A) i cewka magnesujaca (12), przy czym cewka (A) posiada wieksza ilosc zwojów wytwarzajacych napiecie, które sa umieszczone blizej jej srodka niz kon¬ ców, a cewka (B) posiada wieksza liczbe zwojów, które sa umieszczone blizej jej konców niz srodka tak, ze zwoje cewek (A, B) sa magnetycznie sprze¬ zone z róznymi czesciami materialu przy jego ru¬ chu przez karkas, przy czym cewka (A) stanowi cewke wytwarzajaca calkowite skuteczne napiecie wieksze niz cewka (B) i dzieki temu dla tego sa¬ mego strumienia pole magnesujace indukowane w materiale tasmy (18) jest takie, ze napiecia wy¬ krywane przez cewki (A, B) sa rózne, a napiecie wyjsciowe cewki detekcyjnej (A) jest zawsze wieksze niz napiecia wyjsciowe cewki detekcyjnej (B) przy ruchu materialu tasmy (10) przez kar¬ kas i wraz ze zmniejszaniem sie gestosci strumienia przy wzroscie odleglosci od srodka cewki magnesujacej (12), calkowity stru¬ mien, z którym jest sprzezona cewka (B) jest mniejszy niz calkowity strumien, z którym jest sprzezona cewka (A) przy przeplywie strumienia wzdluz tasmy materialu o dobrej jakosci dla od¬ róznienia go od materialu zlej jakosci. 230y. 10 FI M Lr "TFT *H 1 li to y Lj Pi LU M U P ta „ * 24 / B A / a-a 23 / I± A (dc ) 1 A-B( 38 / E°*ih /£ / FIG. /.mitr FIG. 2. r jbocooooooooooocooGoooooooooooocf—'B 46' ^mrW)W^2 QQQQOQOOOQOODQOI booooooocooooocoooooooooocoooocJ FIG. 3.X ooocoooooocooodo] 10 52 A B 12 FIG. 4.FIG 5.IOOO 2000 3000 4000 5000 6000 7000 8000 90C0 10 FIG. 6. 1630 1700 1730 iSOO 1650 i900 1950 FIG. Z L^J.Graf. 2-d Nr 12 — 1155/&3 105 egz. A4 Cena 190 zl PL PL