CN113686949A - 一种纳米晶快速检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种纳米晶快速检测装置，包括传送带、感应线圈、气管及第一导流板；传送带与所述感应线圈相对设置；气管的主出气口设置在感应线圈的中心；第一导流板围绕所述感应线圈设置；本发明主出气管喷出的气流能够将纳米晶带材压紧在传送带上，并且气流到达第一导流板后回转，形成空气坝阻拦从主出气口高速向传送带移动的气流，使得靠近传送带时的气流流速变慢但仍为高压，避免了传送带表面气流流速过高导致低压使得传送带震荡，保证传送带与感应线圈之间的距离维持稳定，从而保证了感应线圈所测量到的数据准确；实现了传送带不停的情况下持续对纳米晶带材进行检测，保证了检测的效率，实现对纳米晶带材快速、准确的检测。

Description

一种纳米晶快速检测装置

技术领域

本发明涉及质量检测领域，尤其涉及一种纳米晶快速检测装置。

背景技术

近年来，随着无线充电的逐渐普及，无线充电技术以惊人的速度发展。纳米晶有较高的磁导率和饱和磁感应强度，是较为理想的导磁和电磁屏蔽材料，在无线充电技术中是重要的原材料。但是纳米晶的电阻率小，损耗高，在充电过程中会降低材料的充电效率，因此需要对纳米晶进行进一步处理；通常会引入碎磁工艺，将纳米晶分割成一个个小的单元，实现减少充电过程中的损耗，提高效率。

在实际生产线中，纳米晶带材在多层复合工站中，由多层纳米晶带材通过10um双面胶相互贴合成，在加工过程中可能存在少贴、漏贴、来料不良如原材碎裂等多项异常。为了防止不良物料流到下游工站中引起更多报废，在多层复合工站后通常会导入检测工站，通过LCR(电感、电容及电阻)测试仪检测纳米晶带材的磁阻、感值、磁导率等参数，通过这些参数判断纳米晶带材的性能。LCR测试仪由感应线圈和主机构成，感应线圈与检测材料的距离波动对测量值影响很大，要求测量线圈与检测材料保持一个稳定距离。

现有技术中是将纳米晶带材停止运动并使用气缸将线圈与纳米晶带材压紧后再进行测量，以保证二者之间距离的稳定。测量结束后松开气缸将带材往前运动一个固定距离后再次停下来检测，这种检测方法效率低且不能够将所有带材全部检测，有不良带材漏失到下游的风险，造成设备效率不高，且增加不良漏到后站导致报废增多的概率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种纳米晶快速检测装置，实现对纳米晶带材快速、准确的检测。

为了解决上述技术问题，本发明采用的一种技术方案为：

一种纳米晶快速检测装置，包括传送带、感应线圈、气管及第一导流板；

所述传送带与所述感应线圈相对设置；

所述气管的主出气口设置在所述感应线圈的中心；

所述第一导流板围绕所述感应线圈设置。

本发明的有益效果在于：设置感应线圈和传送带相对设置，并且将气管的主出气口设置在感应线圈的中心，围绕感应线圈设置第一导流板，则在传送带上的纳米晶带材随传送带移动时，主出气管喷出的气流能够将纳米晶带材压紧在传送带上，并且气流到达第一导流板后回转，形成空气坝阻拦从主出气口高速向传送带移动的气流，使得靠近传送带时的气流流速变慢但仍为高压，避免了传送带表面气流流速过高导致低压使得传送带震荡，保证传送带与感应线圈之间的距离维持稳定，从而保证了感应线圈所测量到的数据准确；实现了传送带不停的情况下持续对纳米晶带材进行检测，保证了检测的效率，实现对纳米晶带材快速、准确的检测。

附图说明

图1为本发明实施例的一种纳米晶快速检测装置安装板的仰视图；

图2为本发明实施例的一种纳米晶快速检测装置的主视图；

图3为本发明实施例的一种纳米晶快速检测装置沿Z轴的气管及感应线圈剖视图；

图4为本发明实施例的第二导流板处气流流向示意图；

图5为本发明实施例的第一导流板处气流流向示意图；

标号说明：

1、气管；11、气管接头；12、第一导流板；13、主出气口；14、副出气口；21、检测导线；3、传送台；31、传送电机的转动端；32、传送皮带；33、传送导轮的旋转轴；34、传送导轮；4、传送带；5、安装板；51、第二导流板；52、感应线圈。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1，一种纳米晶快速检测装置，包括传送带、感应线圈、气管及第一导流板；

所述传送带与所述感应线圈相对设置；

所述气管的主出气口设置在所述感应线圈的中心；

所述第一导流板围绕所述感应线圈设置。

从上述描述可知，本发明的有益效果在于：设置感应线圈和传送带相对设置，并且将气管的主出气口设置在感应线圈的中心，围绕感应线圈设置第一导流板，则在传送带上的纳米晶带材随传送带移动时，主出气管喷出的气流能够将纳米晶带材压紧在传送带上，并且气流到达第一导流板后回转，阻拦从主出气口高速向传送带移动的气流，使得靠近传送带时的气流流速变慢但仍为高压，避免了传送带表面气流流速过高导致低压使得传送带震荡，保证传送带与感应线圈之间的距离维持稳定，从而保证了感应线圈所测量到的数据准确；实现了传送带不停的情况下持续对纳米晶带材进行检测，保证了检测的效率，实现对纳米晶带材快速、准确的检测。

进一步地，所述气管还包括副出气口，所述副出气口设置在所述感应线圈及所述第一导流板之间且朝向所述第一导流板。

由上述描述可知，设置副出气口，副出气口设置在感应线圈和第一导流板之间并朝向第一导流板，则第一导流板能够挡住副出气口的气流，因出气口处气流流速快，被第一导流板阻挡之后会形成回流组成气坝阻挡从位于感应线圈中心的主出气口高速流出的气流，使得主出气口流出的气流减速，则出出气口流出的气流在到达传送带时只会将传送带上的纳米晶带材压紧在传送带上，而不会因为传送带上方的气流流速过大导致出现低压区使得传送带震荡影响纳米晶带材和感应线圈之间的距离。

进一步地，还包括安装板，所述安装板与所述传送带互相平行，且所述安装板与所述传送带之间的距离为预设距离；

所述感应线圈及所述第一导流板均设置在所述安装板上；

所述气管一端贯穿所述安装板并设置在所述感应线圈的中心，另一端用于与送气装置连接。

由上述描述可知，安装板与传送带互相平行，且安装板与传送带之间的距离为预设距离，保证在传送带高速移动的过程中安装板上的感应线圈与传送带上的纳米晶带材之间的距离保持稳定，保证感应线圈检测到的数值的准确性。

进一步地，所述安装板的边沿包括第二导流板。

由上述描述可知，在安装板的边沿设置第二导流板，避免气流在安装板边沿逸散使得气流速度快导致气压低，进一步避免了传送带的振动。

进一步地，所述感应线圈包括两个，两个所述感应线圈沿与所述传送带传送方向垂直的方向间隔排列，且所述两个感应线圈的直径和大于所述传送带的宽。

由上述描述可知，沿传送带宽的方向设置两个感应线圈，并且两个感应线圈的直径和大于传送带的宽，则两个感应线圈的检测范围有重合，避免了感应线圈边缘检测不准确的问题，进一步提高了检测的准确性。

进一步地，还包括检测导线，所述检测导线一端连接所述感应线圈，另一端用于与检测仪器连接。

由上述描述可知，检测导线一端与感应线圈连接，另一端用于与检测仪器连接，能够将感应线圈所检测到的数据交由检测仪器进行进一步的分析，进而能够更加准确地获知纳米晶带材的质量情况，提升了检测结果的准确性。

进一步地，所述第一导流板及所述第二导流板均具有预设倾斜角度。

由上述描述可知，第一导流板和第二导流板都设置有一定的倾斜角度，使得气流经过第一导流板或第二导流板后能够更好地被引导回流，更好地实现将纳米晶带材平稳压紧在传送带上，在保证传送带不停转的情况下实现待测试纳米晶带材与感应线圈之间的距离稳定，保证检测的高效和准确。

进一步地，所述预设倾斜角度的范围为45-60°。

由上述描述可知，设置预设倾斜角度的范围为45-60°，能够更好地实现对气流的导向。

进一步地，所述副出气口包括多个，且所述副出气口的直径小于所述主出气口的直径。

由上述描述可知，设置多个副出气口，能够更好地实现对主出气口气流的减速，并且副出气口的直径小于主出气口的直径，避免副出气口的气流压过主出气口的气流形成新的高速气流。

进一步地，还包括传送台及传送电机，所述传送带设置在所述传送台上，所述传送电机设置在所述传送台内，且所述传送带与所述传送电机的转动端连接。

由上述描述可知，传送带设置在传送台上，方便控制传送带和感应线圈之间的距离，通过传送电机带动传送带转动，实现对传送带上纳米晶带材的自动检测。

本发明上述的一种纳米晶快速检测装置适用于对纳米晶原材料的快速检测，如对纳米晶带材的快速检测，以下通过具体的实施例进行说明：

请参照图1，本发明的实施例一为：

一种纳米晶快速检测装置，包括传送带4、感应线圈52、气管1、第一导流板12及安装板5；所述安装板5与所述传送带4互相平行，且所述安装板5与所述传送带4之间的距离为预设距离；所述感应线圈52及所述第一导流板12均设置在所述安装板5上；所述气管1一端贯穿所述安装板5并设置在所述感应线圈52的中心，另一端用于与送气装置连接；

在一种可选的实施方式中，送气装置为压缩空气气源；气管1的另一端上设置有气管接头11，气管1通过气管接头11连接压缩空气气源，还可在气管接头上设置气阀，控制压缩空气的进入；

在一种可选的实施方式中，预设距离为1mm；

所述传送带4与所述感应线圈52相对设置；所述气管1的主出气口13设置在所述感应线圈52的中心；所述第一导流板13围绕所述感应线圈52设置，所述气管1的副出气口14设置在感应线圈52和第一导流板12之间并朝向所述第一导流板12；

在一种可选的实施方式中，副出气口14包括多个，多个副出气口14围绕感应线圈52设置，且副出气口14的直径小于主出气口13的直径；

还包括检测导线21，检测导线21一端连接感应线圈52，另一端用于与检测仪器连接，在一种可选的实施方式中，检测仪器为LCR测试仪；

在进行测试时，从压缩空气气源通过气管1输送压缩空气，从主出气口13喷出压缩空气，压缩空气将传送带4上的纳米晶料带压紧，同时第一导流板12将部分逸散的气流导流会主出气口13的位置，为从主出气口13喷出的气流减速，避免在传送带上方形成气体流速过高的低压区导致传送带振动，保证了传送带和感应线圈之间的距离保持稳定；

还包括传送台3及传送电机，所述传送带4设置在所述传送台3上，所述传送电机设置在所述传送台内，且所述传送带4与所述传送电机的转动端31连接；具体的，传送台两侧包括支撑板，支撑板上排列设置有多个联动的传送导轮34，传送带套设在传送导轮34上，位于传送台最边沿的传送导轮的旋转轴33贯穿支撑板，传送皮带32一端套设在旋转轴33上，另一端套设在传送电机的转动端31上；

则当电机开始运转时，电机的转动端31开始转动，带动传送皮带32转动，因传送皮带另一端套设在旋转轴33上，则带动传送导轮34转动，多个传送导轮34互相联动则多个传送导轮都会开始转动，带动套设在传动导轮上的传送带转动，从而带动传送带上的纳米晶料带移动。

请参照图，本发明的实施例二为：

一种纳米晶快速检测装置，其与实施例一的区别特征在于：

安装板的边沿包括第二导流板51；

感应线圈52包括两个，两个感应线圈52沿与传送带4传送方向垂直的方向间隔排列，且两个感应线圈52的直径之和大于传送带4的宽，即两个感应线圈的感应面积的宽完全覆盖传送带的宽；

第一导流板12和第二导流板51均具有预设倾斜角度，且第一导流板12和第二导流板51的预设倾斜角度可以相同或不同；

在一种可选的实施方式中，预设倾斜角度的范围为45-60°，且倾斜方向朝向出气口的方向；

则在进行测试时，将纳米晶料带放置在传送带4上穿过安装板5与传送带4中间的缝隙，接通压缩空气气源，气流分两路，一路从主出气口13沿纳米晶带材表面向四周高速溢出，一路从副出气口14经第一导流板12向感应线圈52内部方向高速射出冲击在纳米晶带材表面形成空气坝，阻碍从主出气口13流出的气流使气流减速，在感应线圈52正下方形成高于大气压的正压强的同时保证气体的流速不会过大造成传送带4振动，同时流出的压缩空气继续向外以一定流速溢出，经第二导流板51再次形成空气坝阻碍空气向安装板5范围外流出并压迫纳米晶料带紧贴在传送带4表面，使感应线圈52到纳米晶料带的间距保持固定，同时纳米晶料带随传送带4高速运动，当料带出现碎裂、少贴、漏贴等来料不良时LCR测试仪读取感应线圈的磁阻、感值、磁导率会出现异常值，此时传送带4停止转动并报警提示操作人员检查料带，使不良物料及时挑出防止不良流到成品段造成更多的报废。

综上所述，本发明提供了一种纳米晶快速检测装置，包括传送带、安装板及气管；还包括设置在安装板上的感应线圈、第一导流板和第二导流板，气管的主出气口设置在感应线圈的中心，第一导流板围绕感应线圈设置，且气管的副出气口设置在感应线圈和第一导流板之间并围绕第一导流板，第二导流板围绕安装板的外圈设置；待检测的纳米晶带材随传送带的运动持续向前移动，安装板和传送带之间设置有预设距离，主出气口喷出压缩空气将纳米晶带材压紧在传送带上使纳米晶带材和感应线圈之间的距离稳定，同时副出气口向第一导流板喷出气流，经由第一导流板导流后阻挡主出气口喷出的气流，即在纳米晶带材上方形成空气坝，减小了纳米晶带材上方的气流流速，避免纳米晶带材因气流流速过高产生低气压从而出现震荡影响与感应线圈之间的距离的稳定性，在进行对纳米晶带材的检测时无需停下传送带，实现对纳米晶带材的快速、准确检测。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，包括传送带、感应线圈、气管及第一导流板；

所述传送带与所述感应线圈相对设置；

所述气管的主出气口设置在所述感应线圈的中心；

所述第一导流板围绕所述感应线圈设置。

2.根据权利要求1所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，所述气管还包括副出气口，所述副出气口设置在所述感应线圈及所述第一导流板之间且朝向所述第一导流板。

3.根据权利要求1或2所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，还包括安装板，所述安装板与所述传送带互相平行，且所述安装板与所述传送带之间的距离为预设距离；

所述感应线圈及所述第一导流板均设置在所述安装板上；

所述气管一端贯穿所述安装板并设置在所述感应线圈的中心，另一端用于与送气装置连接。

4.根据权利要求3所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，所述安装板的边沿包括第二导流板。

5.根据权利要求1所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，所述感应线圈包括两个，两个所述感应线圈沿与所述传送带传送方向垂直的方向间隔排列，且所述两个感应线圈的直径和大于所述传送带的宽。

6.根据权利要求1所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，还包括检测导线，所述检测导线一端连接所述感应线圈，另一端用于与检测仪器连接。

7.根据权利要求4所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，所述第一导流板及所述第二导流板均具有预设倾斜角度。

8.根据权利要求7所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，所述预设倾斜角度的范围为45-60°。

9.根据权利要求2所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，所述副出气口包括多个，且所述副出气口的直径小于所述主出气口的直径。

10.根据权利要求2所述的一种纳米晶快速检测装置，其特征在于，还包括传送台及传送电机，所述传送带设置在所述传送台上，所述传送电机设置在所述传送台内，且所述传送带与所述传送电机的转动端连接。

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