PL115873B1 - System for fault finding in digital system boards - Google Patents

System for fault finding in digital system boards Download PDF

Info

Publication number
PL115873B1
PL115873B1 PL20253777A PL20253777A PL115873B1 PL 115873 B1 PL115873 B1 PL 115873B1 PL 20253777 A PL20253777 A PL 20253777A PL 20253777 A PL20253777 A PL 20253777A PL 115873 B1 PL115873 B1 PL 115873B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
register
input
output
outputs
inputs
Prior art date
Application number
PL20253777A
Other languages
English (en)
Other versions
PL202537A1 (pl
Inventor
Artur Szyszkowski
Wojciech Cackowski
Original Assignee
Ct Nauk Prod Tech Komput
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ct Nauk Prod Tech Komput filed Critical Ct Nauk Prod Tech Komput
Priority to PL20253777A priority Critical patent/PL115873B1/pl
Publication of PL202537A1 publication Critical patent/PL202537A1/pl
Publication of PL115873B1 publication Critical patent/PL115873B1/pl

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest uklad do lokaliza¬ cji uszkodzen w pakietach cyfrowych.Znany jest z polskiego opisu patentowego nr 102 622 uklad do automatycznego testowania pa¬ kietów z elektronicznymi ukladami logicznymi.Znany uklad zawiera interface komputera pola¬ czony z rejestrem wejsciowym, którego wyjscia równolegle polaczone sa poprzez nadajnik sygnalu z kontrolowanymi punktami pakietu badanego, przy czym punkty te polaczone sa równiez z wejsciami równoleglymi rejestru wyjsciowego. Wyjscie sze¬ regowe rejestru wyjsciowego polaczone jest z in- terfacem komputera. Znany jest równiez uklad posiadajacy nasadki, wkladane na badane elemen¬ ty — uklady scalone, wykorzystywane do porów¬ nania sygnalów elementu badanego z elementem wzorcowym. Pierwszy z wyzej wymienionych u- kladów pozwala na zbadanie prawidlowosci pra¬ cy pakietu cyfrowego jako calosci jedynie od stro¬ ny laczówki.Drugi z wymienionych ukladów pozwala jedynie na sprawdzenie prawidlowosci pracy pojedynczych mikroukladów, bez mozliwosci zbadania calosci pa¬ kietu na przyklad polaczen pomiedzy mikrouklada¬ mi.Celem rozwiazania wedlug wynalazku jest uklad pozwalajacy na badanie pakietów cyfrowych za¬ równo od strony zlacza jak i poszczególnych mi¬ kroukladów. Cel ten osiagnieto przez polaczenie 30 10 15 20 25 2 zespolu nasadek naprzemiennie z wejsciami rów¬ noleglymi rejestru wejsciowego i poprzez nadajnik sygnalów, z wolnymi wejsciami równoleglymi re¬ jestru wyjsciowego. Wyjscia szeregowe rejestrów wejsciowego i wyjsciowego sa polaczone poprzez zespól bramkujacy z interface komputera. Dzieki takiemu ukladowi bada sie pakiet cyfrowy za¬ równo od strony zlacza jak i poszczególnych mi¬ kroukladów, eliminujac specjalne oprogramowanie komputera.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest w przy¬ kladzie wykonania na rysunku przedstawiajacym schemat blokowy ukladu.Uklad posiada rejestr wejsciowy 1, którego wyj¬ scia równolegle sa polaczone z wejsciami nadajni¬ ków sygnalów 2 a wyjscia nadajników sygnalów 2 sa polaczone ze zlaczem pakietu badanego 3 i wej¬ sciami równoleglymi rejestru wyjsciowego 4. In¬ terface komputera 5 jest polaczony z wejsciem szeregowym rejestru wejsciowego 1.Wyjscie zespolu bramkujacego 6 polaczone jest z interface komputera 5 natomiast jej wejscia po¬ laczone sa z wyjsciami szeregowymi rejestrów 1 i 4. Zespól nasadek 7 polaczony jest bezposrednio z wejsciami równoleglymi rejestru 1 lub tez po¬ przez nadajniki sygnalów 2 z rejestrem 4.Dzialanie ukladu jest opisane nizej. Badany pa¬ kiet umieszcza sie w zlaczu 3. Z komputera wpro¬ wadza sie do rejestru 1 sygnaly nadawcze, pobu- 115 873s lis m dzajace badany pakiet poprzez nadajniki sygna¬ lów 2. Sygnaly odpowiedzi badanego pakietu sa wprowadzane do rejestru 4 a nastepnie poprzez zespól bramkujacy 6 do komputera 5, gdzie sa porównywane z sygnalami wzorcowymi.Celem szczególowej lokalizacji uszkodzenia pa¬ kietu cyfrowego na wyznaczone mikrouklady za¬ klada sie nasadki, a nastepnie pobudza sie pakiet od strony zlacza w sposób opisany wyzej, przy czym sygnaly odpowiedzi z mikroelementów wpi¬ sywane sa do rejestru 1 i przesylane sa poprzez zespól bramkujacy 6 do komputera 5 gdzie naste¬ puje ich porównanie z sygnalami wzorcowymi. W tym przypadku zawartosc rejestru 4 jest pomijana w analizie. W przypadku kiedy zlacze badanego pakietu posiada mniejsza ilosc styków niz pojem¬ nosc rejestru 4, zespól nasadek 7 dolacza sie za posrednictwem nadajników sygnalów 2 do wol¬ nych pozycji rejestru 4, tak ze sygnal odpowiedzi z mikroukladów stanowi przedluzenie sygnalów odpowiedzi ze zlacza.JM 16 20 Zastrzezenie patentowe Uklad do lokalizacji uszkodzen w pakietach cy¬ frowych posiadajacy rejestr wejsciowy, którego wyjscia równolegle sa polaczone z wejsciami na¬ dajnika sygnalów, a wyjscia nadajnika sygnalów sa polaczone ze zlaczem pakietu badanego i wej¬ sciami równoleglymi rejestru wyjsciowego, przy czym uklad posiada równiez komputer, którego interface jest polaczony z wejsciem szeregowym rejestru wejsciowego, zespól bramkujacy i zespól nasadek, znamienny tym, ze zespól nasadek (7) polaczony jest naprzemiennie z wejsciami równo¬ leglymi rejestru wejsciowego (1) i poprzez nadaj¬ niki sygnalów (2), z wolnymi wejsciami równole¬ glymi rejestru wyjsciowego (4), natomiast wyjscia szeregowe rejestrów wejsciowego (1) i wyjsciowe¬ go (4) sa polaczone, poprzez zespól bramkujacy (6) z interface komputera (5).J-rf -L-l DN-3, z. 160/82 Cena 100 zl PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad do lokalizacji uszkodzen w pakietach cy¬ frowych posiadajacy rejestr wejsciowy, którego wyjscia równolegle sa polaczone z wejsciami na¬ dajnika sygnalów, a wyjscia nadajnika sygnalów sa polaczone ze zlaczem pakietu badanego i wej¬ sciami równoleglymi rejestru wyjsciowego, przy czym uklad posiada równiez komputer, którego interface jest polaczony z wejsciem szeregowym rejestru wejsciowego, zespól bramkujacy i zespól nasadek, znamienny tym, ze zespól nasadek (7) polaczony jest naprzemiennie z wejsciami równo¬ leglymi rejestru wejsciowego (1) i poprzez nadaj¬ niki sygnalów (2), z wolnymi wejsciami równole¬ glymi rejestru wyjsciowego (4), natomiast wyjscia szeregowe rejestrów wejsciowego (1) i wyjsciowe¬ go (4) sa polaczone, poprzez zespól bramkujacy (6) z interface komputera (5). J-rf -L-l DN-3, z. 160/82 Cena 100 zl PL
PL20253777A 1977-11-30 1977-11-30 System for fault finding in digital system boards PL115873B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20253777A PL115873B1 (en) 1977-11-30 1977-11-30 System for fault finding in digital system boards

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL20253777A PL115873B1 (en) 1977-11-30 1977-11-30 System for fault finding in digital system boards

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL202537A1 PL202537A1 (pl) 1979-07-16
PL115873B1 true PL115873B1 (en) 1981-05-30

Family

ID=19985865

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL20253777A PL115873B1 (en) 1977-11-30 1977-11-30 System for fault finding in digital system boards

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL115873B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL202537A1 (pl) 1979-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0444845B1 (en) Semiconductor apparatus including semiconductor integrated circuit and operating method thereof
US5130988A (en) Software verification by fault insertion
US4812678A (en) Easily testable semiconductor LSI device
US11041905B2 (en) Combinatorial serial and parallel test access port selection in a JTAG interface
US5673276A (en) Boundary-scan-compliant multi-chip module
US5450415A (en) Boundary scan cell circuit and boundary scan test circuit
JPH02268281A (ja) 多数ピン集積回路の試験方法及び試験装置
US6701475B1 (en) Boundary scanning element and communication equipment using the same
JPH06331697A (ja) 集積回路モジュール
US4996691A (en) Integrated circuit testing method and apparatus and integrated circuit devices for use therewith
JP6297091B2 (ja) 電子システムならびにシステム診断回路およびその動作方法
US20170192056A1 (en) Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same
PL115873B1 (en) System for fault finding in digital system boards
CN113589154A (zh) 一种边界扫描电路
US10890619B2 (en) Sequential test access port selection in a JTAG interface
CN102565664A (zh) 一种测试覆盖率的评估方法
KR100697264B1 (ko) 딜레이 체인 회로를 이용한 반도체 장치의 테스트 회로 및그의 테스트 방법
Fasang Boundary scan and its application to analog-digital ASIC testing in a board/system environment
JP3487810B2 (ja) バウンダリスキャン回路およびその方法
JPH06213972A (ja) バウンダリースキャンセル回路,バウンダリースキャンテスト回路及びその使用方法
KR100280509B1 (ko) 테스트 데이터의 병렬 시프트 장치
US6321355B1 (en) Semiconductor integrated circuit and method of testing the same
KR20070059327A (ko) 보드를 점검하는 제이택 데이지 체인 장치
TW202524495A (zh) Jtag標準接腳測試系統
Microelectronics Introduction to JTAG Boundary Scan