Przedmiotem wynalazku jest sposób wykrywa¬ nia wad optycznych w formie nici w oknie elek¬ tronowej lampy obrazowej, a zwlaszcza sposób, który umozliwia wykrywanie lamp obrazowych z wadliwymi optycznie oknami juz w hucie szkla lub przy kontroli dostarczonych czesci w fabryce lamp. Wady, o których mowa, zwane „nicmi" sa niewielkimi zmianami wspólczynnika zalamania w ograniczonych obszarach okna szklanego.Lampa oscyloskopowa, taka jak telewizyjna lam¬ pa obrazowa zawiera szklane okno i luminescen- cyjny ekran nalozony na wewnetrznej powierzch¬ ni okna. Obraz wizyjny generowany na ekranie ma postac sieci wizyjnych elementów obrazowych obserwowanych przez okno. Wizyjne elementy obrazowe sa niewielkimi emitujacymi swiatlo ob¬ szarami ekranu majacymi jednakowe wymiary, które sa ulozone w regularna siec. Zwykle ekran zawiera setki tysiecy takich elementów. . W lam¬ pach z maskowaniem pozytywnym elementy te wyznaczone sa przez wymiary i ksztalt plamki strumienia elektronów padajacego na ekran.W lampach z maskowaniem negatywnym elemen¬ ty te wyznaczone sa przez wymiary i ksztalt otworów z maski pochlaniajacej swiatlo miedzy ekranem obrazowym i oknem szklanym lampy.Wewnetrzna powierzchnia okna jest rytowana wskutek procesu wytwarzania lempy i/lub nakla¬ dania ekranu. Rytowanie wykanczajace okna lam¬ io 15 20 25 30 py daje w efekcie rozproszenie przechodzacego przez okno swiatla.Wady optyczne w postaci nici wystepuja w wy¬ twarzanych lampach obrazowych w mniejszym lub wiekszym stopniu. Nici przebiegaja na gru¬ bosci okna lampy i moga wystepowac w roznych odleglosciach od powierzchni wewnetrznej okna lampy. Nici sa zwykle wynikiem niewielkich zmian w skladzie szkla, jakkolwiek moga byc spowodo¬ wane równiez przez inne czynniki. Nici sa prze¬ puszczalne dla swiatla i nie powoduja zmian bar¬ wy ani przejrzystosci okna.' Niewielkie zmiany wspólczynnika zalamania swiatla typowe dla tej wady optycznej moga powodowac znieksztalcenie obrazu w pewnych obszarach okna lampy.Znieksztalcenia te sa szczególnie widoczne wów¬ czas, gdy zmiana wspólczynnika zalamania jest stosunkowo duza a nici przebiegaja równolegle lub prawie równolegle do kierunku ulozenia elemen¬ tów obrazu. W wielu przypadkach gdy powierzch¬ nie graniczne nici przecinaja kierunki ulozenia elementów obrazowych pod wiekszymi katami i nie sa do nich równolegle, to obecnosc nici nie jest wyraznie widoczna, nawet gdy zmiana wspól¬ czynnika zalamania jest stosunkowo duza. Uzyty tu termin „ukierunkowanie elementów obrazo¬ wych" dotyczy optycznego efektu jaki daje upo¬ rzadkowanie elementów w rzedach w okreslonym kierunku lub kierunkach tak, ze powtórzenie rze¬ dów daje regularna siec elementów. 111 9663 Znane sa sposoby wykrywania wad optycznych tv postaci nici w oknie lampy obrazowej polega¬ jace na tym, ze na wewnetrzna powierzchnie okna naklada sie bialy ekran, oswietla sie powierzchnie tego ekranu przez okno lampy, a kontroler obser- 5 wujac powierzchnie bialego ekranu przez okno wykrywa miejscowe zmiany jasnosci spowodowane przez nici widoczne na bialej powierzchni ekranu.W celu wyszukania nici kontroler patrzy na po¬ wierzchnie szkla z róznych miejsc i pod róznymi 10 katami. Niektórzy z nich osiagaja znaczna wpra¬ we, lecz nawet przy najlepszych warunkach i du¬ zej wprawie nici sa trudne do wykrycia, ponie¬ waz szklo ies% przezroczyste na powierzchniach 1 wokól powierzchni ograniczajacych nici, gdzie is wystepuje tylko zmiana wspólczynnika zalamania.Kontrola taka jast dodatkowo utrudniona przez zmatowanie wykanczajace wewnetrznej powierzch¬ ni okna, co zaciera zarysy cieni spowodowanych przez nici, a ponadto jest utrudniona przez obec- sp nosc szarego barwnika w szkle, którego zadaniem jest zmniejszenie przepuszczalnosci dla swiatla, co jeszcze bardziej utrudnia wykrycie cieni. • Istota wynalazku polega na opracowaniu sposo¬ bu wykrywania wad optycznych w formie nici 25 w oknie elektronowej lampy obrazowej o rozpra¬ szajacej swiatlo powierzchni wewnetrznej obejmu¬ jacego przygotowanie wzorca zlozonego z optycz¬ nie kontrastujacych obszarów, który to wzorzec odpowiada w przyblizeniu sieci powtarzalnych ele¬ mentów obrazowych jakie maja byc obserwowane przez okno. Wzorzec uklada sie blisko, korzystnie na wewnetrznej powierzchni okna i obserwuje sie go przez to okno. Obszary wzorca, w których wi¬ doczne sa miejscowe znieksztalcenia regularnosci wzorca identyfikuje sie jako miejsca wystepowa¬ nia nici. Obszary, w których istnieja nici nie po¬ wodujace znieksztalcen obserwowanego wzorca nie sa identyfikowane jako wadliwe.Sposób wedlug wynalazku moze byc stosowany przy minimalnym wyposazeniu technicznym, kwa¬ lifikacjach i pracochlonnosci, przy masowej pro¬ dukcji zarówno w hucie szkla przed ekspedycja wyrobów, jak i w fabryce lamp przy kontroli ja- kosciowej zamówionych pólwyrobów. Nowy sposób jest nie tylko bardziej wydajny od znanych spo¬ sobów, lecz ponadto dopuszcza te nici (tzn. prze¬ puszcza przez kontrole jakosciowa), które nie daja zaklócen optycznych. ^ Sposób zostal blizej objasniony w oparciu o ry¬ sunek, na którym fig. 1 przedstawia urzadzenie do realizacji sposobu wedlug wynalazku w przekroju czesciowo uproszczonym, fig. 2 — podstawe i plyte wedlug fig. 1 w perspektywie i powiekszeniu, fig. ^ 3 — fragment wzorca liniowego jaki stosuje sie w urzadzeniu przedstawionym na fig. 1, fig. 4 — fragment wzorca punktowego jaki stosuje sie w urzadzeniu wedlug fig. 1, fig. 5 — inny przy- ^ "klad wykonania urzadzenia do realizacji sposobu 60 ^wedlug wynalazku w przekroju, czesciowo uprosz¬ czonym.Sposób wykrywania nici wedlug wynalazku moze •byc prowadzony na powierzchni stolu o oslonie ograniczajacej co najmniej czesciowy dostep swiat- 65 4 la zewnetrznego do urzadzenia i obslugujacego to urzadzenie. Urzadzenie (fig. 1 i 2) zawiera zródlo swiatla rozproszonego, na które nalozony jest przezroczysty stojak. Zródlem swiatla jest plytka skrzynia 11 zawierajaca kilka lamp fluorescencyj¬ nych ulozonych równolegle w szereg. Górna po¬ wierzchnie 15 skrzyni 11 oswietlacza tworzy prze¬ zroczysta plytka z tworzywa sztucznego! W tym rozwiazaniu rozproszone swiatlo wychodzi ze skrzyni 11 w kierunku do góry.Podstawa 17 jest przezroczysta plyta "z tworzy¬ wa sztucznego majaca na górnej powierzchni (jak przedstawiono na rysunku) wzorzec 19 (opisany ponizej). Górna powierzchnia plyty z tworzywa sztucznego stanowiacej podstawe 17, na której znajduje sie wzorzec 19 jest dopasowana ksztal¬ tem do badanego okna w lampie. Podstawa 17 wsparta jest na prostokatnej ramie 20 majacej cztery wsporniki, jeden w kazdym narozu ramy 20, przy czym wsporniki sa przymocowane do gór¬ nej powierzchni 15 skrzyni 11 swietlacza. Podsta¬ wa 17 ma taka dlugosc i szerokosc, ze wchodzi w czolowa plyte i zaslania jej cala powierzchnie obrazowa, jednakze nie musi obejmowac calej po¬ wierzchni okna lampy obrazowej.W praktycznym zastosowaniu opisanego wyzej urzadzenia do realizacji sposobu wedlug wynalaz¬ ku czolowa, plyta 23 umieszcza sie na podstawie 17 tak, ze wewnetrzna powierzchnia okna 25 plyty 23 przylega do wzorca 19, a boczne scianki 26 sie¬ gaja w dól. Swiatlo z lamp 13 przechodzi przez górna powierzchnie 15 i podstawe 17 oswietlajac wzorzec 19 bedacy regularna siecia optycznie kon¬ trastujacych pól. Kontroler przedstawiony jako symboliczne oko 27 obserwuje wzorzec 19 przez okno wyszukujac obszarów znieksztalcen optycz¬ nych, dystorsji wzorca i mory. Brak takich ele¬ mentów obszarów oznacza, ze jakkolwiek moga istniec nici, to nie sa to nici dajace wady optycz¬ ne. Optycznie niepozadane nici pojawiaja sie jako latwe do zaobserwowania prazki, tak, ze obszar ich wystepowania mozna oznaczyc rysikiem zna¬ czacym szklo i dany element usunac z dalszej obróbki.Jedna z cech sposobu wedlug wynalazku jest to, ze ujawniane sa tylko nici niepozadane, które daja wady optyczne, co pozwala na dopuszczanie do dalszej obróbki szklanych okien majacych nici nie powodujace wad optycznych. Uzyskuje sie to przez dopasowanie struktury wzorca 19 w urza¬ dzeniu do elementarnej struktury obrazu wizyjne¬ go, który ma byc generowany na ekranie okna lampy.Wzorzec 19 (fig. 3) stanowi regularny szereg czarnych pasów 29 oddzielonych przezroczystymi obszarami 30. Wzorzec liniowy stosowany jest do kontroli okien lamp, na które nalozpny zostanie ekran luminescencyjny zlozony z pasów materialu luminescencyjnego biegnacych w jednym kierunku.Ekran taki zawiera równiez czarne pasy pochla¬ niajace swiatlo miedzy pasami materialu lumine¬ scencyjnego, Pasy pochlaniajace swiatlo sa zwane pasami chroniacymi lub czarnym tlem. Wzorzec stosowany zgodnie ze sposobem wedlug wynalazku5 moze miec wlasnie postac takich pochlaniajacych swiatlo pasów.Wzorzec liniowy na podstawie 17 powinien do¬ kladnie odpowiadac strukturze ekranu jaki ma byc pózniej nalozony, zarówno pod wzgledem sze¬ rokosci jak i podzialki pasów. Generowane na ekranie elementy obrazu ukladaja sie dokladnie wedlug struktury geometrycznej ekranu. Niektóre ekrany luminescencyjne zawieraja mostki miedzy pasami. Stwierdzono, ze nie ma potrzeby odtwa¬ rzania takich mostków lub innych drobnych szcze¬ gólów we wzorcu 19. Jeden z przykladowych wzor¬ ców ma nieprzezroczyste pasy o szerokosci od 0,10 do 0,15 mm przy odleglosci 0,25 mm miedzy ich srodkami.Gdy kontrolowane okno jest oknem, na którym ma byc nalozony luminescencyjny ekran majacy postac heksagonalnej plaskiej sieci plamek, zawie¬ rajacy lub nie zawierajacy matryce lub tlo z ma¬ terialu pochlaniajacego swiatlo, to ksztalt wzorca powinien nasladowac strukture sieci elementów obrazowych, które generowane beda na ekranie.W' lampach negatywowych gdzie czarna matryca otacza elementy obrazowe wzorzec moze byc za¬ sadniczo taki sam jak matryca. Wzorzec 31 (fig 4) jest przykladem wzorca do kontroli okien przezna¬ czonych na ekrany punktowe. Wzorzec 31 zawiera punktowe obszary 33 przepuszczajace swiatlo od¬ dzielone obszarami z materialu 35 nieprzezroczys¬ tego. Wymiary i ksztalt obszarów punktowych scisle odpowiadaja wymiarom i ksztaltowi plamek luminescencyjnych na ekranie, który ma byc na¬ lozony na oknie lampy.Inny przyklad realizacji sposobu wedlug wyna¬ lazku ilustruje fig. 5. W przedstawionym tam urzadzeniu podstawa 37 ma postac plyty podporo¬ wej z wzorcem 39 zamontowanej na ramie 41 zaopatrzonej w cztery wsporniki 43 (fig. 2).' Pod¬ stawa 37 lezy na stole 45. W odróznieniu od urza¬ dzenia przedstawionego na fig. 2 zródlo 47 roz¬ proszonego swiatla umieszczone jest u góry i swiatlo pada pod katem na górna powierzchnie podstawy 37. Plyta czolowa lampy umieszczona jest na podstawie 37 tak, ze wewnetrzna po¬ wierzchnia okna 49 przylega do wzorca 39 a scia¬ ny boczne 51 plyty siegaja w dól. Kontroler przed¬ stawiony przez symboliczne oko 53 obserwuje wzo¬ rzec 39 odbijajacy swiatlo ze zródla 47 przez okno 49 wyszukujac obszary zaklócen optycznych, mory i obszary dystorsji wzorca. Ten drugi sposób pole¬ gajacy na obserwacji wzorca w swietle odbitym, a nie w swietle przechodzacym przez wzorzec nie jest sposobem korzystnym, poniewaz obszary wzor¬ ca nie sa dla kontrolujacego równie dobrze skon- trastowane. W obu przypadkach nici sa jednak widoczne. Obserwacje ulatwia poruszanie sie obserwujacego wzgledem calego zespolu.Innym czynnikiem ' duzej wagi jest odleglosc wzorca od wewnetrznej powierzchni okna. Zgod¬ nie z korzystnym przykladem wzorzec powinien przylegac do wewnetrznej powierzchni okna, jak¬ kolwiek nie jest konieczny kontakt optyczny tych elementów. Wzorzec moze byc równiez oddalony na niewielka odleglosc od wewnetrznej pcwierzch- 1 966 6 ni okna do okolo 4 mm. Wewnetrzna powierzchnia okna jest rytowana lub w inny sposób zmatowio¬ na. Srednia odleglosc miedzy szczytem i zaglebie¬ niem takiego rytowania wynosi zwykle 0,4 M-m. 5 Im mniejsza jest odleglosc wzorca od powierzchni okna, tym lepsza jest rozdzielczosc obserwowane¬ go wzorca.W sposobach zilustrowanych na fig. 1 i 5 wzo¬ rzec umieszczony jest przy wewnetrznej po- i«o wierzchni okna i obserwowany jest przez okna od jego strony zewnetrznej. Wzorzec umieszczony przy zewnetrznej powierzchni okna nie móglby byc obserwowany od strony wewnetrznej, poniewaz obserwacje taka uniemozliwia rozpraszajaca swiat- 15 lo wewnetrzna powierzchnia.Wzorzec moze byc osadzony i utrzymywany w styku w zewnetrzna powierzchnia okna za po¬ moca innych niz opisane wyzej srodków. Na przy¬ klad wzorzec moze byc osadzony na gabce lub 2,0 innym materiale podatnym, tak ze ciezar plyty czolowej bedzie powodowac dopasowanie sie wzor¬ ca do powierzchni wewnetrznej okna. Zgodnie z innym przykladem wzorzec moze byc osadzony na elastycznym wsporniku bedacym czescia nad- 25 muchiwanej komory. W takim ukladzie okno usta¬ wione jest na przeciw wzorca a komora po na¬ dmuchaniu dociska wzorzec do wewnetrznej po¬ wierzchni okna. . Jednakze korzystne rozwiazanie przedstawione 3 jest na fig. 1 i 2. Wzorzec w tym rozwiazaniu moze byc przygotowany przez obróbke kawalka bialego, przeswiecajacego opalizujacego arkusza pleksiglasu lub innego podobnego poliarylu na takie wymiary, aby pasowal do wnetrza plyty czolowej lampy. Nastepnie nadaje mu sie odpo¬ wiedni ksztalt w temperaturze okolo 25°C do 150°C a korzystnie okolo 135°C, po czym arkusz ochladza sie. Uformowany arkusz montuje sie na ramie. Nastepnie metoda fotograficzna wytwarza sie wzorzec na materiale fotograficznym, takim jak film Kodak Type 3 wytwarzanym przez Eastman Kodak Company, Rochester, N.Y., stosu¬ jac znany w fotografii sposób uzyskania wysoko- kontrastowej barwy warstwy halogenków srebra.Matryca fotograficzna stosowana do przygotowa¬ nia wzorca moze byc liniowany wzorzec dostepny w handlu lub moze to byc matryca fotograficzna wykonana w trzech kolejnych przesunietych wzgle- 50 dem siebie naswietleniach z zastosowaniem foto¬ graficznych matryc przeznaczonych do wykonania masek, które maja byc stosowane do wykonania • matrycy na danej plycie czolowej lampy. Blone fotograficzna osadza sie na obreczy i gdy jest r,5 jeszcze mokra po obróbce wywolujacej, naklada sie ja na wypukla, powierzchnie podstawy 17, po czym pozwala sie jej schnac wolno zwykle przez jedna do dwudziestu godzin. Otrzymany wzorzec ma postac sieci jasnych, przejrzystych dla swiatla G0 linii lub punktów oddzielonych przez obszary nie¬ przejrzyste dla swiatla.Wzorzec 39 dla rozwiazania przedstawionego na fig. 5 moze byc wykonany podobnie metoda foto¬ graficzna, z ta róznica, ze w miejsce wspomnia- 65 nego wyzej filmu mozna zastosowac material foto-111 966 graficzny. W rezultacie otrzymuje sie wzorzec ma¬ jacy postac sieci barwnych linii lub kropek odbi¬ jajacych swiatlo oddzielonych przez ciemne ob¬ szary pochlaniajace swiatlo. W rozwiazaniu tym plyta stanowiaca podstawe 37 nie musi miec spe¬ cjalnych wlasnosci optycznych. Jednakze gdy sto¬ suje sie zdejmowalny film, podstawa 37, powinna miec matowa powierzchnie odbijajaca swiatlo.Wzorce stosowane w dowolnym z opisanych przykladów wykonania moga byc wykonane inny¬ mi sposobami, wlacznie z tym, które sa stosowane do wytwarzania matryc na wewnetrznej po¬ wierzchni okna. Obejmuje to takze przeniesienie matrycy utworzonej na wewnetrznej, wkleslej po¬ wierzchni czolowej na wypukla powierzchnie pod¬ stawy.W konstrukcji przedstawionej na fig. vl i 2 gór¬ na powierzchnia 15 skrzyni oswietlacza moze byc wykonana z materialu przeswiecajacego, lub moze byc calkowicie usunieta przy zastosowaniu innych srodków do wsparcia konstrukcji nosnej na wspor¬ nikach 21.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wykrywania wad optycznych w for¬ mie nici w oknie elektronowej lampy obrazowej o rozpraszajacej swiatlo powierzchni wewnetrznej, przez które obserwuje sie obraz wizyjny wytwo¬ rzony na ekranie luminescencyjnym lampy, przy czym obraz wizyjny ma postac regularnej sieci 10 15 25 powtarzalnych elementów obrazowych, znamienny tym, ze przygotowuje sie wzorzec majacy postac sieci optycznie kontrastowych obszarów, odpowia¬ dajacy ksztaltom sieci powtarzalnych elementów obrazowych, nastepnie umieszcza sie ten wzorzec na wewnetrznej powierzchni szklanego okna lam¬ py, obserwuje wzorzec przez to okno i okresla sie obszary szklanego okna, w których wystepuja znieksztalcenia wzorca. * 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze stosuje wzorzec skladajacy sie z obszarów przepu¬ szczajacych swiatlo i obszarów zatrzymujacych swiatlo. 3. Sposób wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze wzorzec uklada sie na wewnetrznej powierzchni okna lampy, a swiatlo ze zródla rozpraszajacego przepuszcza sie przez obszary przepuszczajace swiatlo. 4. Sposób wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze stosuje sie wzorzec bedacy obrazem fotograficznym na przejrzystym filmie odpowiadajacym ogólnie ksztaltom wewnetrznej powierzchni okna obrazo¬ wego lampy. 5. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze stosuje sie wzorzec stanowiacy siec obszarów od¬ bijajacych i^obszarów pochlaniajacych swiatlo. 6. Sposób wedlug zastrz. 5, znamienny tym, ze wzorzec opiera sie na wewnetrznej powierzchni okna obrazowego, a swiatlo przechodzi przez okno obrazowe i odbija sie przez obszary nieprzepu¬ szczalne na powrót do okna obrazowego.Cena 45 zl ZGK 5, Btm. zam. 91,25 —. 115 egz.X PL