PL109398B1 - Electric-logical system of logical level probe - Google Patents

Electric-logical system of logical level probe Download PDF

Info

Publication number
PL109398B1
PL109398B1 PL19328776A PL19328776A PL109398B1 PL 109398 B1 PL109398 B1 PL 109398B1 PL 19328776 A PL19328776 A PL 19328776A PL 19328776 A PL19328776 A PL 19328776A PL 109398 B1 PL109398 B1 PL 109398B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
input
output
diode
logical
circuit
Prior art date
Application number
PL19328776A
Other languages
English (en)
Other versions
PL193287A1 (pl
Inventor
Zdzislaw Hulacki
Original Assignee
Inst Obrobki Skrawaniem
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Obrobki Skrawaniem filed Critical Inst Obrobki Skrawaniem
Priority to PL19328776A priority Critical patent/PL109398B1/pl
Publication of PL193287A1 publication Critical patent/PL193287A1/pl
Publication of PL109398B1 publication Critical patent/PL109398B1/pl

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest uklad elektryczno- logiczny próbnika poziomów logicznych, przezna¬ czony do badania i analizowania cyfrowych u- kladów logicznych.Dotychczas do badania cyfrowych ukladów lo¬ gicznych stosuje sie oscyloskopy z pamiecia, lub inne przyrzady pomiarowe.Uklad wedlug wynalazku zawiera elementy lo¬ giczne, tranzystor, diody pólprzewodnikowe, kon¬ densatory i rezystory a jego istota jest to, ze dwa elementy logiczne tworza zespól monowibratorów i sa polaczone ze soba w ten sposób, ze wejsciem zespolu jest wejscie pierwszego elementu, które¬ go wyjscie jest polaczone z wejsciem drugiego elementu, a wyjscie pierwsze elementu drugiego laczy sie poprzez kondensator z drugim wejsciem elementu pierwszego, zas wyjscie drugie elemen¬ tu drugiego laczy sie poprzez kondensator z wejs¬ ciem elementu drugiego i stanowi wyjscie zespo¬ lu. Drugie wejscie elementu pierwszego jest po¬ laczone z dodatnim biegunem zródla zasilania po¬ przez rezystor i z masa ukladu poprzez diode krze¬ mowa lub zespól diod, a wejscie elementu dru¬ giego laczy sie z dodatnim biegunem zródla za¬ silania poprzez rezystor i z masa ukladu poprzez diode krzemowa lub zespól diod.Uklad wedlug wynalazku jest podrecznym przy¬ rzadem diagnostycznym i pozwala na proste i 11 15 21 25 30 szybkie sprawdzanie i analizowanie dzialania cy¬ frowych ukladów logicznych.Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat elektryczno-logiczny ukladu, a fig. 2 przebiegi impulsów elektrycznych w po¬ szczególnych punktach ukladu.Uklad sklada sie z elementów logicznych 1—12, monowibratorów Ml i M2, tranzystora Tl, rezy¬ storów Rl—R8, diod pólprzewodnikowych Dl—D5 i kondensatorów Cl i C2, polaczonych ze soba w ten sposób, ze wejsciem ukladu jest wejscie elementu logicznego 1, które jest polaczone po¬ przez rezystor R3 z baza tranzystora Tl. Wyjscie elementu logicznego 1 jest polaczone z wejsciem elementów logicznych 2, 4 i 10. Wyjscie elementu logicznego 2 jest polaczone z wejsciem elementów logicznych 3 i 6 i z drugim wejsciem elementu logicznego 4. Wyjscie Q elementu logicznego 3 (spelniajacego funkcje logiczna Q = AB i Q = negacja Q) jest polaczone z drugim wejsciem ele¬ mentu 2 poprzez kondensator Cl oraz z drugim wejsciem elementu 6, a wyjscie Q elementu 3 jest polaczone z drugim wejsciem tego elementu po¬ przez kondensator C2 oraz z wejsciem elementu 8.Wyjscie elementu 4 jest polaczone z wejsciem monowibratora Ml a wyjscie monowibratora Ml laczy sie z wejsciem elementu 5, Drugie wejs- 109 398109 398 cie elementu 5 jest polaczone z drugim wejsciem elementu 2 oraz poprzez rezystor Rl z do¬ datnim biegunem zródla zasilania Uz oraz z masa ukladu poprzez diode krzemowa Dl. Wyjscie ele¬ mentu 5 jest polaczone z drugim wejsciem ele¬ mentu 8, a wyjscie elementu 8 jest polaczone z wejsciem elementu 9. Wyjscie elementu 6 jest po¬ laczone z wejsciem monowibratora M2, który la¬ czy sie z wejsciem elementu 7. Drugie wejscie elementu 7 jest polaczone z drugim wejsciem ele¬ mentu 3 i poprzez rezystor R2 z dodatnim bie¬ gunem zródla zasilania Uz oraz poprzez diode krzemowa D2 z masa ukladu.Wyiscie elementu 7 jest polaczone z drugim weisciem elementu 9. Wyjscie elementu 9 jest polaczone z wejsciem elementu 12. Baza tran¬ zystora Tl jest polaczona z masa ukladu poprzez rezystor R4 oraz z wyjsciem elementu 11 poprzez rezystor R5. Emiter tranzystora Tl jest polaczony z masa ukladu, a kolektor z wejsciem elementu logicznego 11 oraz z dodatnim biegunem zródla zasilania Uz poprzez rezystor R6. Drugie wejscie elementu 11 laczy sie z wyjsciem elementu 10 a wyiscie elementu 11 laczy sie równiez z drugim weisciem elementu 12 oraz z katoda diody D5.Wyjscie elementu 12 laczy sie z katoda diody D3.Anoda diody D3 laczy sie z katoda diody D4 oraz poprzez rezystor R7 z anoda diody D5. Anoda dio¬ dy luminescencyjnej D4 laczy sie poprzez rezystor R8 z dodatnim biegunem zródla zasilania ^Jz.Caly uklad próbnika jest umieszczony w obu¬ dowie w ksztalcie pióra, którego koncówke sta¬ nowi elektroda bedaca wejsciem ukladu. Wyjs¬ ciem ukladu jest dioda luminescencyjna, która swoim swiatlem wskazuje stan logiczny badane¬ go punktu ukladu cyfrowego. Uklad rozróznia po¬ ziomy logiczne „0" i „1" oraz stan wejscia nie podlaczonego. Uklad jest zasilany z zewnatrz na¬ pieciem stalym, tym samym co badany uklad cyfrowy, ze wzgledu na wspólny uklad odniesienia badanych poziomów logicznych. Uklad jest po¬ dzielony na dwa tory pomiarowe przy czym tor pierwszy sklada sie z elementów logicznych 10 i 11, tranzystora Tl, diody D5 i rezystorów R3 — R7 i sluzy do wykrywania wejsc nie podlaczonych a tor drugi stanowi pozostala czesc ukladu, która sluzy do wykrywania stanów logicznych.W torze pierwszym ukladu tranzystor Tl ma tak ustawiony punkt pracy, ze nasyca sie tylko wtedy, gdy na wejsciu ukladu jest stan logiczny i pocho¬ dzacy z wyjscia bramki sterujacej to wejscie.Uklad n\a wiec w punkcie 4 stan logiczny „0", gdy wejscie nia jest podlaczone, wtedy bowiem tranzystor Tl nie nasyca sie i punkt 2 ma stan „1" a wejscie przez elementy logiczne jest trak¬ towane jako stan „1" w zwiazku z czym punkt 3 10 15 B0 40 45 W 55 ma tez stan logiczny „1". W takim przypadku zo¬ staje otwarty obwód zlozony z diody D4 i D5 oraz rezystorów R7 i R8. Dioda D4 swieci wtedy swiatlem niepelnym. W przypadku stanów logicz¬ nych „0" i „1" na wejsciu, punkt 4 ma stan logicz¬ ny „1" w zwiazku z czym prad diody D4 moze ply¬ nac tylko przez obwód zlozony z diod D3 i D4 i rezystora R8 i jezeli ten obwód jest otwarty to dioda D4 swieci pelnym swiatlem, zas gdy jest zamkniety dioda D4 nie swieci. Swiecenie diody D4 okresla stan logiczny „1" wejscia (wtedy punkt 6 ma poziom logiczny „0"), a brak swiecenia dio¬ dy D4 oznacza stan logiczny „0" wejscia (wtedy punkt 6 ma poziom logiczny „1"). Dzialanie dru¬ giej czesci ukladu przedstawiaja przebiegi czaso¬ we napiec (poziomów logicznych) w punktach 1, 4, 5 i 6 ukladu, uwidocznione na fig. 2. Z prze¬ biegów czasowych napiec wynika, ze uklad po¬ zwala na wykrywanie zmiany stanu logicznego krótkich pojedynczych impulsów, których czas trwania wydluza sie do czasu wyraznie zauwazal¬ nego wzrokowo przez blysniecie diody lub jej zgasniecie.Uklad pozwala równiez na wykrywanie zmiany stanu logicznego, któremu towarzyszy pojedynczy impuls lub kilka bardzo krótkich impulsów, przy czym przy wiekszej czestotliwosci badanego prze¬ biegu uklad zaczyna migac ze stala czestotliwos¬ cia wlasna z tym, ze intensywnosc przygasania diody jest odwrotnie proporcjonalna do czestotli¬ wosci wejsciowej.Zastrzezenia patentowe 1. Uklad elektryczno-logiczny próbnika pozio¬ mów logicznych zawierajacy elementy logiczne, tranzystor, diody pólprzewodnikowe, kondensatc ry i rezystory, znamienny tym, ze elementy lo¬ giczne (2 i 3) tworza zespól monowibratorów i sa polaczone ze soba w ten sposób, ze wejsciem ze¬ spolu jest wejscie elementu (2), którego wyjscie jest polaczone z wejsciem (B) elementu (3), a wyjscie (Q) elementu (3) laczy sie poprzez kon¬ densator (Cl) z drugim wejsciem elementu (2), zas wyjscie (Q) elementu '(3) laczy sie poprzez kon¬ densator (C2) z wejsciem (A) elementu (3) i sta¬ nowi wyjscie zespolu. 2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze drugie wejscie elementu (2) jest polaczone z do¬ datnim biegunem zródla zasilania (Uz) poprzez re¬ zystor (Rl) i z masa ukladu poprzez diode krze¬ mowa (Dl) lub zespól diod, a wejscie (A) elemen¬ tu (3) laczy sie z dodatnim biegunem zasilania (Uz) poprzez rezystor (R2) i z masa ukladu po¬ przez' diode krzemowa (D2) lub zespól diod.109 398 n n II R« FfcDRsf T* AS \ Ds R? Fig.-I 6 1 1 1— k\—1 II ~1_ u 1 Si.IV II SS niL V S~ SS VI TTL LTLT vii rHHk Kiinuiuiiit JUUi TTli Fig. 2 PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Uklad elektryczno-logiczny próbnika pozio¬ mów logicznych zawierajacy elementy logiczne, tranzystor, diody pólprzewodnikowe, kondensatc ry i rezystory, znamienny tym, ze elementy lo¬ giczne (2 i 3) tworza zespól monowibratorów i sa polaczone ze soba w ten sposób, ze wejsciem ze¬ spolu jest wejscie elementu (2), którego wyjscie jest polaczone z wejsciem (B) elementu (3), a wyjscie (Q) elementu (3) laczy sie poprzez kon¬ densator (Cl) z drugim wejsciem elementu (2), zas wyjscie (Q) elementu '(3) laczy sie poprzez kon¬ densator (C2) z wejsciem (A) elementu (3) i sta¬ nowi wyjscie zespolu.
  2. 2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze drugie wejscie elementu (2) jest polaczone z do¬ datnim biegunem zródla zasilania (Uz) poprzez re¬ zystor (Rl) i z masa ukladu poprzez diode krze¬ mowa (Dl) lub zespól diod, a wejscie (A) elemen¬ tu (3) laczy sie z dodatnim biegunem zasilania (Uz) poprzez rezystor (R2) i z masa ukladu po¬ przez' diode krzemowa (D2) lub zespól diod.109 398 n n II R« FfcDRsf T* AS \ Ds R? Fig.-I 6 1 1 1— k\—1 II ~1_ u 1 Si. IV II SS niL V S~ SS VI TTL LTLT vii rHHk Kiinuiuiiit JUUi TTli Fig. 2 PL
PL19328776A 1976-10-26 1976-10-26 Electric-logical system of logical level probe PL109398B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL19328776A PL109398B1 (en) 1976-10-26 1976-10-26 Electric-logical system of logical level probe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL19328776A PL109398B1 (en) 1976-10-26 1976-10-26 Electric-logical system of logical level probe

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL193287A1 PL193287A1 (pl) 1978-05-08
PL109398B1 true PL109398B1 (en) 1980-05-31

Family

ID=19979110

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL19328776A PL109398B1 (en) 1976-10-26 1976-10-26 Electric-logical system of logical level probe

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL109398B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL193287A1 (pl) 1978-05-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3870953A (en) In circuit electronic component tester
US3806803A (en) Portable voltage sampling probe device
US4025850A (en) Passive, solid state wide range voltage checker
PL109398B1 (en) Electric-logical system of logical level probe
US3676767A (en) Device for automatically identifying unknown transistors
US4683422A (en) Low voltage continuity tester
NL8000629A (nl) Inrichting voor het onderzoeken van een isolatie- weerstand.
US3332015A (en) Transistor checker using alternating line current in phase between emitter and base and emitter and collector for testing power transistors
RU217237U1 (ru) Универсальный пробник электрика
RU1830620C (ru) Электронный ключ
SU1714528A1 (ru) Устройство контрол электрических цепей и напр жений
SU1688178A1 (ru) Устройство контрол электрических цепей и напр жений
RU1835519C (ru) Устройство дл измерени высоких напр жений
KR890005719Y1 (ko) 전화기의 병렬선로 상태 감지회로
US4041374A (en) Interelectrode open and short circuit tester
SU1492317A1 (ru) Электрический пробник СИП
SU493028A1 (ru) Электронное пробное реле
SU585602A1 (ru) Токовый переключатель
SU1377758A1 (ru) Индикатор напр жени
SU1045144A1 (ru) Устройство дл контрол падени напр жени на коммутирующих контактах системы зажигани автомобил
SU1737434A1 (ru) Стабилизированный источник питани
RU2050551C1 (ru) Трехуровневый индикатор напряжения
SU487467A2 (ru) Устройство дл контрол исправности цепей в коммутационных приборах
SU1612268A2 (ru) Устройство дл контрол полупроводниковых приборов
SU500510A1 (ru) Импульсный измеритель остаточного напр жени транзисторов