NO975363D0 - Fremgangsmåte for datamaskinassistert måling og testing av elektriske kretser, spesielt elektroniske moduler, og testestasjon for utförelse av fremgangsmåten - Google Patents

Fremgangsmåte for datamaskinassistert måling og testing av elektriske kretser, spesielt elektroniske moduler, og testestasjon for utförelse av fremgangsmåten

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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2764072B1 (fr) * 1997-05-30 1999-09-17 Sextant Avionique Procede et dispositif de test pour equipements electroniques
DE19858589A1 (de) * 1998-12-18 2000-06-21 Asea Brown Boveri Verfahren und Steuermodul zur Steuerung einer Messanlage
US6615286B1 (en) * 2000-02-14 2003-09-02 Intel Corporation Method and apparatus for updating device driver control data
US20020133749A1 (en) * 2001-01-30 2002-09-19 Petersen Michael B. System and method for managing and implementing electronic equipment tests
US20020157053A1 (en) * 2001-04-21 2002-10-24 Chen Leon Lee Semiconductor test system with time critical sequence generation using general purpose operating system
US6762092B2 (en) * 2001-08-08 2004-07-13 Sandisk Corporation Scalable self-aligned dual floating gate memory cell array and methods of forming the array
US6985819B2 (en) * 2001-08-15 2006-01-10 Spx Corporation DMM module for portable electronic device
DE10232301B4 (de) * 2002-07-16 2012-01-26 Robert Bosch Gmbh Prüfvorrichtung für Komponenten von Einspritzanlagen
US6760680B2 (en) * 2002-10-09 2004-07-06 Nyt Press Services Llc Testing system for printing press circuit board controllers
US6980147B2 (en) * 2003-04-07 2005-12-27 Photon Products, Inc. Channelized analog-to-digital converter
US7541959B1 (en) * 2003-04-07 2009-06-02 Photonics Products, Inc. High speed signal processor
DE10317431A1 (de) * 2003-04-15 2004-10-28 Rood Technology Deutschland Gmbh + Co Verfahren zur Generierung von Testersteuerungen
FR2918759B1 (fr) * 2007-07-13 2009-09-18 Eurocopter France Procede de test d'un systeme electronique

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0339286A3 (en) * 1988-03-31 1993-03-17 Tektronix, Inc. Test system for acquiring, calculating and displaying representations of data sequences
EP0397937A3 (en) * 1988-05-18 1991-07-24 Hewlett-Packard Company Control system and method for automated parametric test equipment
JP2697861B2 (ja) * 1988-06-28 1998-01-14 三菱電機株式会社 測定プログラム自動作成装置
DE4100899A1 (de) * 1990-01-17 1991-07-18 Schlumberger Technologies Inc System fuer die steuerung des ablaufs von testsequenzen in einer informationsverarbeitungsvorrichtung

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AU698573B2 (en) 1998-11-05
DE59600816D1 (de) 1998-12-17
US5963889A (en) 1999-10-05
EP0827608A1 (de) 1998-03-11
NO975363L (no) 1998-01-23
ATE173346T1 (de) 1998-11-15

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