NO921601L - Fremgangsmaate til lokalisert spektroskopisk analyse av det lys som diffrakteres eller absorberes av en substans somer anbragt i et naerfelt - Google Patents
Fremgangsmaate til lokalisert spektroskopisk analyse av det lys som diffrakteres eller absorberes av en substans somer anbragt i et naerfeltInfo
- Publication number
- NO921601L NO921601L NO92921601A NO921601A NO921601L NO 921601 L NO921601 L NO 921601L NO 92921601 A NO92921601 A NO 92921601A NO 921601 A NO921601 A NO 921601A NO 921601 L NO921601 L NO 921601L
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- substance
- spectroscopic analysis
- absorbed
- near field
- electromagnetic radiation
- Prior art date
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y15/00—Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Denne oppfinnelse angår en fremgangsmåte til lokalisert spektroskoplsk analyse av lys som diffrakteres eller absorberes av en gjennomsiktig og/eller reflekterende substans anbragt i et nærfelt frembragt ved gjennomslipning eller refleksjon av en farete elektromagnetisk stråling, kjennetegnet ved at en lokalisert spektroskoplsk analyse -utføres av nærfeltet og/eller av en andre elektromagnetisk stråling som samtidig med den ferste stråling rettes mot substansen, hvilken analyse gjelder den brøkdel av det nevnte nærfelt eller av den elektromagnetiske stråling som har samvirket med substansen.Denne oppfinnelse er særlig beregnet for hayopplasende spektroskoplsk studium av gjennomsiktige og/eller reflekterende substanser hvis optiske profil eller geometriske profil avleses samtidig ved hjelp av et optisk nærfeltscanderende mikroskop som f.eks. et frustrert svinnende feltmikroskop med gjennomslipning eller et ledet nærfeltmikroskop med refleksjon.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8914425A FR2654212A1 (fr) | 1989-11-03 | 1989-11-03 | Procede d'analyse spectroscopique ponctuelle de la lumiere diffractee ou absorbee par une substance placee dans un champ proche, et microscopes optiques a balayage en champ proche mettant en óoeuvre ce procede. |
| PCT/FR1990/000791 WO1991006884A1 (fr) | 1989-11-03 | 1990-10-31 | Procede d'analyse spectroscopique ponctuelle de la lumiere diffractee ou absorbee par une substance placee dans un champ proche |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NO921601D0 NO921601D0 (no) | 1992-04-24 |
| NO921601L true NO921601L (no) | 1992-06-23 |
Family
ID=26227642
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NO92921601A NO921601L (no) | 1989-11-03 | 1992-04-24 | Fremgangsmaate til lokalisert spektroskopisk analyse av det lys som diffrakteres eller absorberes av en substans somer anbragt i et naerfelt |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| NO (1) | NO921601L (no) |
-
1992
- 1992-04-24 NO NO92921601A patent/NO921601L/no unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NO921601D0 (no) | 1992-04-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2047334T3 (es) | Metodo de analisis optico. | |
| WO2002057750A3 (en) | Apparatus and method for investigating a sample | |
| WO1993023742B1 (en) | Method and apparatus for examining an object | |
| WO2000058715A3 (en) | Assay system | |
| DE68918659D1 (de) | Wellenleitersensor. | |
| ATE125043T1 (de) | Neutron-diffusionsverfahren und anordnung zum nichtinvasiven abtasten von gegenständen. | |
| EP0248111A3 (en) | Spectroscopic method and apparatus for optically measuring temperature | |
| DK306690A (da) | Fremgangsmaade ved og apparat til spektroskopisk maaling af koncentrationen af en gas | |
| KR890016375A (ko) | 물품 표면의 비균질성 검사방법 및 그 장치 | |
| KR900018671A (ko) | 생물, 생화학 또는 화학 검사용 감지기 | |
| GB8618159D0 (en) | Spectrometer based instruments | |
| GB2283566B (en) | Apparatus for measuring refractive index | |
| EP0403769A3 (de) | Verfahren zur Untersuchung der physikalischen Eigenschaften dünner Schichten | |
| HU9201449D0 (en) | Method for localized spectroscopic analysis of the light diffracted or absorbed by a substance placed in a near field | |
| PT1034422E (pt) | Aparelho e processo para a medicao das propriedades opticas por intermedio de controlo retroactivo | |
| AU5147790A (en) | Examination of surface structures | |
| NO970171L (no) | Fremgangsmåte og innretning til optisk nærfelt-rastermikroskopi på prövelegemer i væsker | |
| EP0802407A3 (en) | Apparatus for measuring magneto-optical effect | |
| SE8304180L (sv) | Sett och anordning for optisk inspektion | |
| NO921601L (no) | Fremgangsmaate til lokalisert spektroskopisk analyse av det lys som diffrakteres eller absorberes av en substans somer anbragt i et naerfelt | |
| JPS6429740A (en) | Method for analyzing surfactant of glass fiber base material | |
| JP2783141B2 (ja) | 電子線強度制御装置および電子線強度制御方法 | |
| DE3772040D1 (de) | Anordnung zur erhaltung einer selektiven reaktion bei fotochemischen verfahren durch laserstrahlen, die strahlenverteilungsmittel enthalten. | |
| FR2254994A5 (en) | Small sample atomic absorption spectrophotometer - uses Joule effect heating to atomise sample by vaporisation | |
| JPS6428913A (en) | Laser anneal device |