NL8902891A - Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter. Download PDF

Info

Publication number
NL8902891A
NL8902891A NL8902891A NL8902891A NL8902891A NL 8902891 A NL8902891 A NL 8902891A NL 8902891 A NL8902891 A NL 8902891A NL 8902891 A NL8902891 A NL 8902891A NL 8902891 A NL8902891 A NL 8902891A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
oven
temperature
aging
parameter
heating element
Prior art date
Application number
NL8902891A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Imec Inter Uni Micro Electr
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Imec Inter Uni Micro Electr filed Critical Imec Inter Uni Micro Electr
Priority to NL8902891A priority Critical patent/NL8902891A/nl
Priority to DK90200990.1T priority patent/DK0395149T3/da
Priority to DE69020420T priority patent/DE69020420T2/de
Priority to ES90200990T priority patent/ES2074119T3/es
Priority to PCT/EP1990/000291 priority patent/WO1990013042A1/en
Priority to EP90200990A priority patent/EP0395149B1/en
Priority to JP2506558A priority patent/JPH03506076A/ja
Priority to AT90200990T priority patent/ATE124540T1/de
Publication of NL8902891A publication Critical patent/NL8902891A/nl
Priority to US08/372,383 priority patent/US5646540A/en
Priority to GR950402100T priority patent/GR3016984T3/el

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2862Chambers or ovens; Tanks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2642Testing semiconductor operation lifetime or reliability, e.g. by accelerated life tests
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2874Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/2872Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
    • G01R31/2881Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to environmental aspects other than temperature, e.g. humidity or vibrations

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van één of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter
Meer en meer wordt belang gehecht aan het vroegtijdig opsporen van verouderingsprocessen in elektronische componenten en dergelijke, zoals weerstanden in dunne- of dikke-film-techniek, YBaCuO-films of andere keramische (supergeleidende) lagen, Cu- en Al-draden of legeringen daarvan gebruikt bij het bonderen van IC's, Au- en Cu-bovenverbin-dingen op Al-metaal, flip-chip- en bumpverbindingen, amorfe metaallegeringen, quasi-kristallen en/of gesoldeerde (Pb/Si)-smeltzekeringen, etc.
Voor het versneld verouderen van dergelijke elementen met een electromagnetische verouderingsparameter (DE-of AC-impedantie, een magnetische eigenschap, zoals de vorm van de hysterese-curve etc.) worden deze volgens de stand van de techniek gedurende een voorafbepaalde tijd aan een voorafbepaalde, verhoogde temperatuur blootgesteld, waarna de impedantieverandering van een dergelijk element wordt bepaald, waaruit prognoses kunnen worden gemaakt voor wat betreft de te verwachten levensduur van dergelijke elektronische componenten.
Vanwege het tijdrovend karakter van het in een omgeving met verhoogde temperatuur, zoals een oven, brengen van een dergelijk element met verouderingsparameters en het opvolgend meten van de veranderde parameter, waarna deze cyclus wordt herhaald, is bovengenoemde werkwijze vooral voor systemen waarbij een kleine verandering van de parameter optreedt nadelig. Bij de bekende werkwijze bedraagt de meetfout bijvoorbeeld 100 ppm; een veroudering tot 10.000 ppm is dan noodzakelijk, indien met enige betrouwbaarheid voorspellingen op basis van extrapolaties van de verandering in de parameter gedaan dienen te worden. Meetdraden, zoals stroom- en spanningsdraden moeten telkens opnieuw aangesloten en losgekoppeld worden, terwijl voor het bereiken van een bepaalde stabiliteit en temperatuur telkens enige tijd benodigd is. De instabiliteit van de temperatuur bij het in-en uitschakelen veroorzaakt bovendien onnauwkeurigheden in dergelijke metingen. Dergelijke metingen worden onder verschillende omstandigheden uitgevoerd: - in He-atmosfeer; - in lucht; - in vervuilde lucht, in het bijzonder van belang voor sensoren voor het bepalen van de mate van luchtverontreiniging; - in 02-afmosfeer; of - in een atmosfeer van bevochtigde lucht.
De onderhavige uitvinding beoogt een werkwijze te verschaffen, die een verbetering vormt van bovengenoemde werkwijze, in die zin, dat versnelde veroudering met grotere betrouwbaarheid, met grotere resolutie en/of binnen kortere tijd kan worden uitgevoerd.
De grotere resolutie kan slechts gerealiseerd worden via een zeer stabiele oven, zodat de veranderingen van de te bepalen electromagnetische grootheid ten gevolge van temperatuursfluctuaties te verwaarlozen zijn ten opzichte van de veranderingen ten gevolge van de verouderingsverschijnselen die in de bestudeerde component optreden.
De zéér stabiele oventemperatuur gekoppeld aan een hoge resolutie van de meetapparatuur laat toe de fysische processen, die aan de basis van de verouderingsverschijnselen liggen, te onderscheiden.
De methode heeft bovendien het voordeel dat ze als een niet-destructieve test, eventueel als produktie- of kwaliteitscontrole, kan gebruikt worden.
De onderhavige uitvinding verschaft een werkwijze volgens conclusie l.
Voorts verschaft de onderhavige uitvinding een inrichting voor het uitvoeren van genoemde werkwijze.
Verdere kenmerken, details en voordelen van de onderhavige uitvinding zullen duidelijk worden aan de hand van een beschrijving van voorkeursuitvoeringsvormen daarvan met verwijzing naar de bijgevoegde tekeningen, waarin tonen: figuur 1 een perspectivisch aanzicht van een eerste voorkeursuitvoeringsvorm van een inrichting volgens de onderhavige uitvinding; figuur 2 een grafiek ter verduidelijking van een voorkeursuitvoeringsvorm van de werkwijze volgens de onderhavige uitvinding; en figuur 3 een tweede voorkeursuitvoeringsvorm van de inrichting volgens de onderhavige uitvinding.
Een in hoofdzaak buisvormige oven 1 omvat een roestvrijstalen wand 2 (dikte ongeveer 0,38 mm) waar omheen een chroomvanadiumdraad 3 met een overtrek uit kwarts is gewikkeld. Door de dunne wand en de kwartsovertrek van de chroomvanadiumdraad (een dergelijke draad vertoont een geringe temperatuursafhankelijkheid) is een snelle sturing van \ de temperatuur in het inwendige van de buisoven 1 mogelijk. In de buisoven 1 is een houder 4 opgesteld, waarop zich een element met verouderingsparameter 5 bevindt, dat in het getoonde uitvoeringsvoorbeeld een behuizing voor een geïntegreerd circuit is. Door een flens 6 heen worden de gebundelde uit/aansluitdraden 7 geleid, waarbij deze draden als geheel worden doorgevoerd, niet onderbroken worden en worden ingesmolten in araldiet lijm. In de eindflens 9 is een tem-peratuursensor 8 voor het meten van de inwendige temperatuur in de buisoven aangebracht. In de buisoven kan een inert gas, lucht of zuurstof zijn opgenomen.
Met behulp van de weerstand 3 wordt de temperatuur in de oven l bijvoorbeeld eerst op 50°C gebracht (fig. 2), waarbij in dit uitvoeringsvoorbeeld een meting wordt uitgevoerd aan de weerstands-waarde van het element 5.
Voorts wordt bij temperatuur Tldie bijvoorbeeld 260°C (zie uitvoeringsvoorbeeld uit fig.3) of 800-1000°C (fig. 2) kan bedragen, een reeks metingen gedaan, waarna bij afkoeling bij 50°C opnieuw een meting wordt gedaan.
Een buisoven 13 (fig. 3) is voorzien van een bifilair gewikkelde weerstandsdraad 14 ter verdere vergro- ting van de regelsnelheid voor de in de buisoven 13 heersende temperatuur. Deze temperatuur wordt gemeten met een temperatuur sensor 15 die nabij een houder 16 voor een element met weerstandswaarde 17 is opgesteld - op niet-getoonde wijze, bij voorkeur daaraan vastgeklemd - en omvat bij voorkeur een Pt-100 weerstand hetgeen een nauwkeuriger meting van een thermokoppel oplevert. Voorts is met de buisoven 13 (met een wanddikte van 0,25 mm) een waterreservoir 18 alsmede een van een weerstandsdraad 19 voorziene verdampingseenheid 20 gekoppeld. Via aanvoer 21 kan voorts een gas in de buisoven 13 worden gebracht. Een gasafvoer 22 is voorzien van een gaswaterfles 23 teneinde op eenvoudige wijze druk in de oven en massastroom van het gas constant te houden. Vanzelfsprekend is ook een andere massastroommeter hiervoor bruikbaar.
De schematisch aangeduide aansluitdraden 24 voor de component, in dit uitvoeringsvoorbeeld met weerstands-waarde, zijn via een multiplexer 25 met een digitale multimeter 26 met een besturingseenheid27 zoals een personal computer, gekoppeld. Deze is op zijn beurt via een regeleenheid 28 met voedingen 29, 30 en 31 gekoppeld, respectievelijk voor voeding van de weerstandsdraad 14, voor een in het onderhavige uitvoeringsvoorbeeld aangebrachte vooroven 32 die voorzien is van aansluitingen 33 voor de voeling en de bevochtigingseenheid 20.
In de vooroven 32 (op niet-getoonde wijze voorzien van een temperatuur- en vochtigheidssensor) wordt veelal een luchtatmosfeer van 85% vochtigheid bij 85°C opgebouwd teneinde aan bijvoorbeeld voorgeschreven omstandigheden te voldoen.
De aansluitdraden 24 zijn bij voorkeur geïsoleerd met een kaptonbekleding bij het in figuur 3 getoonde uitvoeringsvoorbeeld (temperatuur ongeveer 260°C), maar bij hogere temperaturen (800-1000°C) zullen deze veelal zonder isolatie of met kwarts-overtrek zijn aangebracht. Veelal worden vier draden per meting gebruikt (vierpuntsmeting, 2 stroom- en 2 spanningsdraden).
Indien de temperatuur in de ruimte waarin de boven beschreven voorkeursuitvoeringsvorm van de werkwijze volgens de onderhavige uitvinding wordt uitgevoerd, slechts relatief langzaam (bijvoorbeeld minder dan l°C/uur) varieert, zoals in bijvoorbeeld een niet-geconditioneerde ruimte, kan de oventemperatuur met een nauwkeurigheid van 0,001 °C geregeld worden.
Bij voorkeur worden thermospanningen zo veel mogelijk vermeden (bijvoorbeeld < l0pV/°C). Draden worden zo mogelijk met klemverbindingen aangesloten, terwijl de multi-plexeenheid van relais en spoelen is voorzien, waarbij de thermospanning minder dan lpv/io°C bedraagt.
Met de in figuur 3 schematisch aangeduide opstelling, is bij voorkeur een algoritme opgenomen, dat voorkomt dat metingen aan het element met verouderingspara-meter worden gedaan, wanneer een te grote afwijking van de door de sensor gemeten temperatuur optreedt. De regeling voor de voedingsspanningen reageert niet op dergelijke wellicht foutieve metingen, waardoor een stabielere regeling wordt verkregen. Een nieuw uitgelezen waarde van de temperatuur wordt hiertoe vergeleken met het gemiddelde van de drie voorgaande temperatuurwaarden in de oven.
Vanwege de verregaande temperatuurstabiliteit van boven beschreven voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding, kunnen metingen met hoge resolutie worden uitgevoerd, bijvoorbeeld binnen 5-100 ppm van de totale, te meten grootheid; een voorspelling van het verouderingsproces op grond van extrapolaties van de gemeten waarden wordt zodoende binnen een redelijke meettijd (bijvoorbeeld 100-1000 uur) mogelijk, terwijl een beter inzicht wordt verkregen in de functionaliteit van de achterliggende fysische processen.
Hoewel boven beschreven uitvoeringsvoorbeelden betrekking hebben op verouderingsprocessen van een element met gelijkstroom-weerstandswaarden, kan de onderhavige uitvinding volgens bij gevoegde conclusies tevens worden toegepast op capaciteits- (of inductie-)metingen en/of andere electromagnetische grootheden en tevens onder diverse soor- ten van belasting, zoals: - mechanische trekbelasting (off-chip-verbindin- gen); - stroombelasting (ten behoeve van studies naar elektronmigratie), etc.

Claims (9)

1. Werkwijze voor het bepalen van de impedantie-verandering van een electromagnetische verouderingsparameter aan één of meer elementen met een dergelijke parameter, waarbij het element in een oven op een voorafbepaalde temperatuur wordt gebracht en waarbij een meting van de weerstand bij die temperatuur wordt uitgevoerd.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, waarbij door een temperatuurvoeler in de oven opgenomen temperatuurveranderingen worden teruggekoppeld naar de elektrische voeding voor een rond de oven aangebracht elektrisch verwarmingselement.
3. Inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze volgens conclusie l of 2.
4. Inrichting voor het bepalen van de impendan-tieverandering van één of meer elementen met een verouderingsparameter, omvattende: - een in hoofdzaak buisvormige oven; - een in de oven opgestelde houder voor het element met weerstandswaarde; - een voeler voor het opnemen van de in de oven heersende temperatuur; - een rond de oven gewikkelde verwarmingsdraad; - een in de oven opgenomen doorvoeropening van aansluitdraden voor het element met impedantiewaarde; en - een besturingseenheid die is aangesloten op de temperatuurvoeler en op de voeding voor het elektrische verwarmingselement.
5. Inrichting volgens conclusie 4, waarbij de oven wordt gevormd door een roestvrijstalen, dunwandige buis.
6. inrichting volgens conclusie 4 of 5, waarbij het verwarmingselement wordt gevormd door een met een kwartsovertrek geïsoleerde vanadiumchroomweerstandsdraad, die bifilair is gewikkeld rond de buisvormige oven.
7. Inrichting volgens conclusie 4, 5 of 6, waarbij de temperatuurvoeler een Pt weerstand is.
8. Inrichting volgens één der conclusies 4 tot 7, voorzien van een tweede oven voor het in de eerste oven brengen van een bevochtigde atmosfeer.
9. Inrichting volgens één der conclusies 5-7, waarbij de besturingseenheid voorzien is van een lopend venster voor het onderdrukken van de besturing van de voeding van het verwarmingselement wanneer een gemeten temperatuurs-waarde zich buiten de waarden van het genoemde lopende venster bevindt.
NL8902891A 1989-04-19 1989-11-22 Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter. NL8902891A (nl)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8902891A NL8902891A (nl) 1989-04-19 1989-11-22 Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter.
DK90200990.1T DK0395149T3 (da) 1989-04-19 1990-04-19 Fremgangsmåde og apparat til accelereret bestemmelse af ældning af et eller flere elementer med en elektromagnetisk ældningsparameter
DE69020420T DE69020420T2 (de) 1989-04-19 1990-04-19 Verfahren und Anordnung zur beschleunigten Bestimmung der Alterung von einem oder mehreren Elementen mit einem elektromagnetischen Alterungsparameter.
ES90200990T ES2074119T3 (es) 1989-04-19 1990-04-19 Metodo y dispositivo para la determinacion acelerada del envejecimiento de uno o mas elementos con un parametro de envejecimiento electromagnetico.
PCT/EP1990/000291 WO1990013042A1 (en) 1989-04-19 1990-04-19 Method and device for accelerated determining of ageing of one or more elements with an electromagnetic ageing parameter
EP90200990A EP0395149B1 (en) 1989-04-19 1990-04-19 Method and device for accelerated determining of ageing of one or more elements with an electromagnetic ageing parameter
JP2506558A JPH03506076A (ja) 1989-04-19 1990-04-19 電磁エージングパラメータを有する1個または1個以上の素子のエージングについて加速された決定をおこなうための方法および装置
AT90200990T ATE124540T1 (de) 1989-04-19 1990-04-19 Verfahren und anordnung zur beschleunigten bestimmung der alterung von einem oder mehreren elementen mit einem elektromagnetischen alterungsparameter.
US08/372,383 US5646540A (en) 1989-04-19 1995-01-13 Apparatus and method for measuring electromagnetic ageing parameter of a circuit element and predicting its values
GR950402100T GR3016984T3 (en) 1989-04-19 1995-08-02 Method and device for accelerated determining of ageing of one or more elements with an electromagnetic ageing parameter.

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8900982 1989-04-19
NL8900982 1989-04-19
NL8902891A NL8902891A (nl) 1989-04-19 1989-11-22 Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter.
NL8902891 1989-11-22

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8902891A true NL8902891A (nl) 1990-11-16

Family

ID=26646514

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8902891A NL8902891A (nl) 1989-04-19 1989-11-22 Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter.

Country Status (9)

Country Link
EP (1) EP0395149B1 (nl)
JP (1) JPH03506076A (nl)
AT (1) ATE124540T1 (nl)
DE (1) DE69020420T2 (nl)
DK (1) DK0395149T3 (nl)
ES (1) ES2074119T3 (nl)
GR (1) GR3016984T3 (nl)
NL (1) NL8902891A (nl)
WO (1) WO1990013042A1 (nl)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0733909B1 (en) * 1995-03-24 2004-11-17 Interuniversitair Micro Elektronica Centrum Vzw Method and apparatus for local temperature sensing for use in performing high resolution in-situ measurement
US5833365A (en) * 1995-03-24 1998-11-10 Interuniversitair Micro-Electronika Centrum Vzw Method for local temperature sensing for use in performing high resolution in-situ parameter measurements
EP0907085A1 (en) * 1997-10-03 1999-04-07 Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw A method for measuring electromigration-induced resistance changes
EP1596210A1 (en) * 2004-05-11 2005-11-16 Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum (IMEC) Method for lifetime determination of submicron metal interconnects
WO2011156037A2 (en) 2010-03-16 2011-12-15 The Penn State Research Foundation Methods and apparatus for ultra-sensitive temperature detection using resonant devices

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2375154A (en) * 1943-10-07 1945-05-01 Metals & Controls Corp Electric furnace
GB970426A (en) * 1961-02-09 1964-09-23 Scholemann Ag Improvements in electrically heated billet-containers for metal-extrusion or tube presses
US3677329A (en) * 1970-11-16 1972-07-18 Trw Inc Annular heat pipe
US3823685A (en) * 1971-08-05 1974-07-16 Ncr Co Processing apparatus
US4554437A (en) * 1984-05-17 1985-11-19 Pet Incorporated Tunnel oven
EP0168518B1 (de) * 1984-07-20 1988-04-20 Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY Tieftemperatur-Messschaltung
US4777434A (en) * 1985-10-03 1988-10-11 Amp Incorporated Microelectronic burn-in system
US4782291A (en) * 1985-10-04 1988-11-01 Blandin Bruce A Method and apparatus for the testing of active or passive electrical devices in a sub-zero environment

Also Published As

Publication number Publication date
WO1990013042A1 (en) 1990-11-01
EP0395149B1 (en) 1995-06-28
EP0395149A1 (en) 1990-10-31
DK0395149T3 (da) 1995-08-28
ATE124540T1 (de) 1995-07-15
DE69020420D1 (de) 1995-08-03
ES2074119T3 (es) 1995-09-01
GR3016984T3 (en) 1995-11-30
JPH03506076A (ja) 1991-12-26
DE69020420T2 (de) 1995-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0183398B1 (ko) 가스의 열 전도율 측정 방법 및 장치
US5379630A (en) Thermal conductivity detector
US5311762A (en) Flow sensor calibration
CN1194390A (zh) 自校准温度控制器
JPH04310830A (ja) 分析機器用回路装置
JPS585617A (ja) 熱電式充てん状態測定装置
US3971246A (en) Method and apparatus for measuring the coefficient of thermal conductivity of a sample
EP0353996B1 (en) A flow sensor
NL8902891A (nl) Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter.
Thomas Precision resistors and their measurement
Marcy et al. Computer control of a slow-AC technique for thermopower measurements
US5852238A (en) Measuring device and measuring method
US4548680A (en) Method for determining the partial pressure of oxygen in an atmosphere
US5646540A (en) Apparatus and method for measuring electromagnetic ageing parameter of a circuit element and predicting its values
Weidman et al. Analysis of a simple circuit for constant temperature anemometry
CN213400174U (zh) 一种多功能热学综合实验仪
US4002429A (en) Method and apparatus for measuring the concentration of combustible components of a gas mixture
Kemper et al. Temperature measurements
JPH08136491A (ja) 雰囲気検出装置
Pochapsky Determination of heat capacity by pulse heating
Gall A direct-current amplifier and its application to industrial measurements and control
SU155966A1 (nl)
Wolff Oxide thermistor for use to 2500 K
Dekker et al. Accurate Resistance Measurement with Smith Bridge
SU1663588A1 (ru) Устройство дл регистрации термомагнитных характеристик

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed