ATE124540T1 - Verfahren und anordnung zur beschleunigten bestimmung der alterung von einem oder mehreren elementen mit einem elektromagnetischen alterungsparameter. - Google Patents
Verfahren und anordnung zur beschleunigten bestimmung der alterung von einem oder mehreren elementen mit einem elektromagnetischen alterungsparameter.Info
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Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8900982 | 1989-04-19 | ||
NL8902891A NL8902891A (nl) | 1989-04-19 | 1989-11-22 | Werkwijze en inrichting voor het versneld bepalen van de veroudering van een of meer elementen met een electromagnetische verouderingsparameter. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
ATE124540T1 true ATE124540T1 (de) | 1995-07-15 |
Family
ID=26646514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
AT90200990T ATE124540T1 (de) | 1989-04-19 | 1990-04-19 | Verfahren und anordnung zur beschleunigten bestimmung der alterung von einem oder mehreren elementen mit einem elektromagnetischen alterungsparameter. |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0395149B1 (de) |
JP (1) | JPH03506076A (de) |
AT (1) | ATE124540T1 (de) |
DE (1) | DE69020420T2 (de) |
DK (1) | DK0395149T3 (de) |
ES (1) | ES2074119T3 (de) |
GR (1) | GR3016984T3 (de) |
NL (1) | NL8902891A (de) |
WO (1) | WO1990013042A1 (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0733909B1 (de) * | 1995-03-24 | 2004-11-17 | Interuniversitair Micro Elektronica Centrum Vzw | Methode und Apparat zur lokalen Temperaturmessung für hochauflösende in-situ Messung |
US5833365A (en) * | 1995-03-24 | 1998-11-10 | Interuniversitair Micro-Electronika Centrum Vzw | Method for local temperature sensing for use in performing high resolution in-situ parameter measurements |
EP0907085A1 (de) * | 1997-10-03 | 1999-04-07 | Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw | Verfahren zum Messen von Wiederstandsänderungen durch Elektromigration |
EP1596210A1 (de) * | 2004-05-11 | 2005-11-16 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum (IMEC) | Verfahren zur Lebensdauererfassung von Verbindungsstrukturen des Submikrometerbereichs |
WO2011156037A2 (en) | 2010-03-16 | 2011-12-15 | The Penn State Research Foundation | Methods and apparatus for ultra-sensitive temperature detection using resonant devices |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2375154A (en) * | 1943-10-07 | 1945-05-01 | Metals & Controls Corp | Electric furnace |
GB970426A (en) * | 1961-02-09 | 1964-09-23 | Scholemann Ag | Improvements in electrically heated billet-containers for metal-extrusion or tube presses |
US3677329A (en) * | 1970-11-16 | 1972-07-18 | Trw Inc | Annular heat pipe |
US3823685A (en) * | 1971-08-05 | 1974-07-16 | Ncr Co | Processing apparatus |
US4554437A (en) * | 1984-05-17 | 1985-11-19 | Pet Incorporated | Tunnel oven |
EP0168518B1 (de) * | 1984-07-20 | 1988-04-20 | Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY | Tieftemperatur-Messschaltung |
US4777434A (en) * | 1985-10-03 | 1988-10-11 | Amp Incorporated | Microelectronic burn-in system |
US4782291A (en) * | 1985-10-04 | 1988-11-01 | Blandin Bruce A | Method and apparatus for the testing of active or passive electrical devices in a sub-zero environment |
-
1989
- 1989-11-22 NL NL8902891A patent/NL8902891A/nl not_active Application Discontinuation
-
1990
- 1990-04-19 WO PCT/EP1990/000291 patent/WO1990013042A1/en unknown
- 1990-04-19 ES ES90200990T patent/ES2074119T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1990-04-19 DK DK90200990.1T patent/DK0395149T3/da active
- 1990-04-19 EP EP90200990A patent/EP0395149B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-04-19 DE DE69020420T patent/DE69020420T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-04-19 AT AT90200990T patent/ATE124540T1/de not_active IP Right Cessation
- 1990-04-19 JP JP2506558A patent/JPH03506076A/ja active Pending
-
1995
- 1995-08-02 GR GR950402100T patent/GR3016984T3/el unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69020420D1 (de) | 1995-08-03 |
EP0395149A1 (de) | 1990-10-31 |
DE69020420T2 (de) | 1995-11-16 |
WO1990013042A1 (en) | 1990-11-01 |
NL8902891A (nl) | 1990-11-16 |
GR3016984T3 (en) | 1995-11-30 |
DK0395149T3 (da) | 1995-08-28 |
ES2074119T3 (es) | 1995-09-01 |
EP0395149B1 (de) | 1995-06-28 |
JPH03506076A (ja) | 1991-12-26 |
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