NL8302740A

NL8302740A - DEVICE FOR AUTOMATICALLY CORRECTING X-RADIATION.

Info

Publication number: NL8302740A
Application number: NL8302740A
Authority: NL
Original assignee: Seiko Instr & Electronics
Priority date: 1982-09-24
Filing date: 1983-08-02
Publication date: 1984-04-16
Also published as: JPS5967449A; DE3334458A1; GB2127538B; GB8323706D0; FR2533794A1; GB2127538A; JPS6259258B2; FR2533794B1

Description

f «f «

JJ

VO 5002VO 5002

Betr.: Inrichting voor het automatisch corrigeren van X-straling.Subject: Device for automatically correcting X-rays.

De uitvinding heeft “betrekking op een inrichting voor het automatisch corrigeren van X-straling en meer in het bijzonder op een corri-geerinrichting, waarmede gedurende de tijd, waarin een sluiter die de naar een monster uitgezonden X-straling bestuurt, is gesloten, onregel-5 matigheden in de intensiteit en golfamplitudewaarde van X-straling worden gecorrigeerd; verder heeft de uitvinding betrekking op voorzieningen voor het nauwkeurig en doeltreffend corrigeren van zulk een inrichting.The invention relates to a device for automatically correcting X-radiation and more particularly to a correcting device with which, during the time in which a shutter controlling the X-radiation emitted to a sample is closed, irregular -5 moderities in the intensity and wave amplitude value of X-radiation are corrected; the invention further relates to arrangements for accurately and effectively correcting such a device.

In het algemeen wordt X-straling gecorrigeerd door meting van een fluorescerende X-straling die wordt uitgestraald vanaf een monster, nadat 10 een correctiemonster met X-straling is bestraald. De tijd, waarover fluorescerende X-straling moet worden gemeten om een inrichting nauwkeurig te corrigeren, heeft noodzakelijkerwijze een zekere duur.Generally, X radiation is corrected by measuring a fluorescent X radiation emitted from a sample after a correction sample has been irradiated with X radiation. The time over which fluorescent X radiation must be measured to accurately correct a device necessarily has a certain duration.

Aldus geldt, dat bij een X-stralingsinrichting, waarbij X-stralings-correctie wordt uitgevoerd gedurende een tijd, waarin een monster niet 15 wordt gemeten, d.i. een sluiter in de gesloten stand wordt gehouden, een meting van een monster niet wordt uitgevoerd zolang een voor correctie benodigde meting van fluorescerende X-straling is beëindigd.Thus, in an X-ray device in which X-radiation correction is performed during a time in which a sample is not measured, that is, a shutter is held in the closed position, a sample measurement is not performed as long as a measurement of fluorescent X-radiation required for correction has been completed.

Met de onderhavige uitvinding is beoogd om bovengeschetste moeilijkheden en tekortkomingen op te heffen, in het bijzonder voor de situa-20 tie, waarin met het meten van een monster is begonnen gedurende een tijdsinterval, waarin de meting van fluorescerende X-straling, afkomstig van een correctiemonster nog niet is beëindigd, waarbij eerdere meetgegevens betreffende het correctiemonster in een geheugen worden opgeborgen, waardoor een X-stralingsinrichting wordt gecorrigeerd wanneer een totale tijd 25 betreffende de volgende correctiemonstermeting en de meting beschikbaar is.The object of the present invention is to overcome the difficulties and shortcomings outlined above, in particular for the situation in which the measurement of a sample has started during a time interval in which the measurement of fluorescent X radiation originating from a correction sample has not yet been completed, storing previous correction sample measurement data in a memory, thereby correcting an X-ray device when a total time 25 of the next correction sample measurement and measurement is available.

De uitvinding zal in het onderstaande nader worden toegelicht met verwijzing naar de tekening, waarin : fig. 1 een schema geeft ter illustratie van de constructie van 30 een automatische X-stralingscorrectie-inriehting volgens de onderhavige uitvinding; fig. 2 een schema geeft van de automatische X-stralingscorrectie-inrichting volgens fig. 1 wanneer deze over 90° is verdraaid; en fig. 3 een blokschema geeft van de automatische X-stralings-35 correctie-inrichting.The invention will be explained in more detail below with reference to the drawing, in which: Fig. 1 shows a diagram illustrating the construction of an automatic X-radiation correction device according to the present invention; FIG. 2 is a schematic view of the automatic X-ray correction device of FIG. 1 when rotated through 90 °; and FIG. 3 is a block diagram of the automatic X-radiation correction device.

83027408302740

V- VV- V

- 2 -- 2 -

In deze figuren hebben de verwijzingssymbolen de volgende betekenissen: 1 is een X-stralingsbuis; 2 is een gestandaardiseerde correctieplaat; 3 is een tweede geleidingsopening; k is een X-stralingsdetector; 5 5 is een open gedeelte van de X-stralingsdetector; 6 is een eerste ge leidingsopening; 7 is een derde geleidingsopening; 8 is een meetmonster; 9 is een sluiter; en 10 is een standsensor van de sluiter.In these figures, the reference symbols have the following meanings: 1 is an X-ray tube; 2 is a standardized correction plate; 3 is a second guide opening; k is an X-radiation detector; 5 is an open portion of the X-radiation detector; 6 is a first guide opening; 7 is a third guide opening; 8 is a measurement sample; 9 is a shutter; and 10 is a shutter position sensor.

In fig. 3 is het verwij zingscij fer 1 een X-stralingsbuis, het vervij zingscijfer 2 een gestandaardiseerde correctieplaats, het verwij-10 zingscijfer h een X-stralingsdetector, het verwijzingscijfer 3 een tweede geleidingsopening, via welke fluorescerende X-straling, afkomstig van de gestandaardiseerde correctieplaat wordt geleid naar een X-stralingsdetector, het verwij zings cijfer 5 een open gedeelte van de X-stralings-detector, het verwij zingsci jf er 6 een eerste geleidingsopening via welke 15 X-straling, afkomstig van de X-stralingsbuis wordt geleid naar de gestandaardiseerde correctieplaat, verwijzingscijfer 7 een derde geleidingsopening via welke X-straling vanaf de X-stralingsbuis wordt geleid naar een meetmonster, verwijzingscijfer 8 een meetmonster, verwijzingscijfer 9 een sluiter, verwij zingsci jf er 10 een standsensor voor de sluiter, ver-20 wij zings cijfer 11 een golf amplitude-analysator, verwij zings cijfer 12 een sehaaltijdgever, verwij zingscijfer 13 een automatisch X-stralingscorrec-tie-orgaan, en verwijzingscijfer 1U een geheugenorgaan voorstellen. Een stand van de sluiter 9 wordt door de standsensor 10 van de sluiter 9 gedetecteerd, waarbij de automatische correctie-inrichting voor X-stra-25 ling in een correctiemodus wordt geschakeld gedurende de tijd, waarin de sluiter 9 X-straling, waardoor het meetmonster 8 wordt bestraald, onderbreekt. Vervolgens wordt de correctiemodus beëindigddoor het openen van de sluiter 9 en een actie van de standsensor 10, waarbij informatie betreffende intensiteit en golfamplitude van de fluorescerende X-straling 30 en die gedurende de correctiemodus werd verkregen, wordt opgeslagen in een geheugen. Een feitelijke correctiewerking wordt uitgevoerd wanneer een meetmonster is afgewerkt en de sluiter in de sluitstand is gezet, waarbij de correctiemodus is ingesteld en een totale tijd, inclusief de tijd voor de correctiemodus een benodigde meettijd voor een correctie is ge-35 worden.In Fig. 3, reference numeral 1 is an X-ray tube, reference numeral 2 is a standardized correction location, reference numeral h is an X-radiation detector, reference numeral 3 is a second conduction opening, through which fluorescent X-radiation originating from the standardized correction plate is guided to an X-radiation detector, the reference numeral 5 is an open part of the X-radiation detector, the reference numeral 6 a first guiding aperture through which 15 X-radiation coming from the X-radiation tube is lead to the standardized correction plate, reference numeral 7 a third guiding aperture via which X-radiation is guided from the X-radiation tube to a measurement sample, reference numeral 8 a measurement sample, reference numeral 9 a shutter, reference numeral 10 a position sensor for the shutter, 20 numeral 11 is a wave amplitude analyzer, numeral 12 is a sealer, numeral 13 is an automatic h X-radiation correction means, and reference numeral 1U represent a memory means. A position of the shutter 9 is detected by the position sensor 10 of the shutter 9, the automatic X-ray correction device being switched into a correction mode during the time in which the shutter 9 is X-radiation, thereby causing the measurement sample 8 is irradiated, interrupts. Subsequently, the correction mode is terminated by opening the shutter 9 and an action of the position sensor 10, wherein information regarding intensity and wave amplitude of the X-ray fluorescent 30 obtained during the correction mode is stored in a memory. Actual correction operation is performed when a measurement sample is finished and the shutter is set in the closed position, with the correction mode set and a total time including the time for the correction mode has become a required measurement time for a correction.

Wat het gebruik van een geheugen betreft wordt opgemerkt, dat indien een voor een correctie benodigde meettijd T-seconde bedraagt, gegevens 8302740 - 3 - betreffende X-stralingsintensiteit elke seconde onafhankelijk van elkaar worden opgeslagen in het geheugen.Regarding the use of a memory, it is noted that if a measurement time required for a correction is T-second, data 8302740-3 regarding X radiation intensity is stored in the memory independently every second.

Het verdient aanbeveling het geheugen als volgt te gebruiken: Indien de voor een correctie benodigde meettijd T-seconde be-5 draagt wordt telkens na verloop van een secunde een gegeven betreffende X-stralingsintensiteit onafhankelijk opgeslagen in het geheugen. Aldus wordt voor het corrigeren van de inrichting een gemiddelde waarde over T malen gemeten, waarbij het verder mogelijk is om de inrichting te corrigeren op basis van een lopende gemiddelde waarde, waarbij slechts een 10 eerste gemeten gegeven wordt vrijgegeven en niet alle geheugens worden vrijgegeven na de correctiewerking,It is recommended to use the memory as follows: If the measuring time required for a correction is T-second -5, a data concerning X-radiation intensity is stored independently in the memory after a second has elapsed. Thus, for correcting the device, an average value is measured over T times, furthermore it is possible to correct the device based on a running average value, with only a first measured data being released and not all memories being released after the correction operation,

Volgens de onderhavige uitvinding worden gegevens betreffende een eerdere correctiewerking opgeslagen in een geheugen, waardoor het mogelijk is om een X-stralingsinrichting doeltreffend te corrigeren.According to the present invention, data regarding a previous correction operation is stored in a memory, making it possible to effectively correct an X-ray device.

* 8302740* 8302740

Claims

- k - CONCLUSION '·:! - Device for the automatic correction of X-radiation, characterized by: an X-radiation tube; a collimator for collimating a beam of X radiation emitted by said X-radiation tube; a shutter for controlling the 5 X radiation directed at a sample; an X-radiation detector, provided with a proportional counter or other detection devices; a wave amplitude analyzer; a scale time signal generator; a correction device for correcting irregularities in an X-radiation with regard to intensity and wave amplitude value; a standardized correction plate forming part of said shutter and disposed opposite said X-ray tube so as to automatically correct an irregularity in X-radiation with respect to intensity and wave amplitude value when this shutter is in the closed position; a first guiding aperture formed in said shutter to conduct X radiation to said standardized correction plate; a second guiding aperture connecting to said first guiding aperture and passing fluorescent X radiation from said standardized correction plate to said X radiation detector; and a memory device, in which measured data is stored during correction, which data is used as secondary correction data when sufficient measurement time for a correction is available. > 1 8302740