NL8204551A - Afbeeldingssystemen met beperkte diffractie. - Google Patents

Afbeeldingssystemen met beperkte diffractie. Download PDF

Info

Publication number
NL8204551A
NL8204551A NL8204551A NL8204551A NL8204551A NL 8204551 A NL8204551 A NL 8204551A NL 8204551 A NL8204551 A NL 8204551A NL 8204551 A NL8204551 A NL 8204551A NL 8204551 A NL8204551 A NL 8204551A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
radiation
image
detectors
sample
illuminating
Prior art date
Application number
NL8204551A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Secr Defence Brit
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Secr Defence Brit filed Critical Secr Defence Brit
Publication of NL8204551A publication Critical patent/NL8204551A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/58Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

'“ *v * N.O. 31494 1
Afbeeldingssystemen met beperkte diffractie.
De uitvlnding heeft betrekking op afbeeldingssystemen met beperkte diffractie*
Afbeeldingssystemen worden gebruikt voor het verkrijgen van een beeld van een voorwerp. Microscopen geven bijvoorbeeld een vergroot 5 beeld van een klein voorwerp op een verlicht objectglaasje. Teneinde de vergroting van het beeld ten opzichte van het voorwerp te laten toene-men is het noodzakelijk op kleinere delen van het voorwerp te focusse-ren. De diameter van het opgeloste oppervlak van het voorwerp wordt uiteindelijk beperkt door diffractie in het gebruikte afbeeldingssys-10 teem. De theoretische diffractiegrens van de oplossing van een goed op-tische microscoop bedraagt Λ/2, waarin λ de golflengte van de stra-ling is, en wordt het Rayleigh kriterium genoemd. Dezelfde grens doet zich voor bij infrarood afbeelding.
Het probleem van diffractie doet zich ook voor bij radarwaameming 15 van vliegtuigen, bijvoorbeeld bij het regelen van het luchtverkeer. Het vermogen van een antennesysteem zich dicht bij elkaar bevindende vliegtuigen van elkaar te onderscheiden wordt beperkt door de diffractie.
Ook bij de akoestische detectie van bijvoorbeeld voorwerpen op de zeebodem of in akoestische microscopen wordt de oplossing door de dif-20 fractie beperkt. Als een beeld van een voorwerp door een lenzensysteem op een beeldvlak wordt gefocusseerd, wordt slechts een deel van de stralingsinformatie die door de lens gaat in het geometrische beeld gefocusseerd. Informatie betreffende het voorwerp is ook aanwezig in het beeldvlak buiten het geometrische beeld en wordt normaliter niet ge-25 bruikt. Voor voorwerpen die ruimschoots boven de diffractiegrens liggen vormt deze extra informatie een opmerkelijk deel van de totale informatie die door het lenzensysteem heen gaat.
De onderhavige ultvlnding maakt gebruik van deze tot nu toe niet benutte informatie, tesamen met de informatie van het geometrische 30 beeld, teneinde informatie te verkrijgen omtrent voorwerpen waarvan de afmeting ligt in de buurt van de diffractiegrens.
Volgens de uitvinding bevat een afbeeldingssysteem een lenzensysteem voor het focusseren van coherente of incoherente straling op een beeldvlak, detectoren voor het meten van de amplitude van de straling 35 in het beeldvlak ter verkrijging van een informatiematrix, middelen voor het omzetten van deze matrix ter verkrijging van een beeldrekon-struktie, en middelen voor het waarnemen van het gerekonstrueerde beeld.
8204551
V
2 * -w
Het afbeeldingssysteem kan werken met elektromagnetische straling, bijvoorbeeld met radar- of zichtbare frequenties, elektronenstralen of akoestische straling, met geschikte lenzensystemen. Bij zichtbare frequenties meten de detectoren normaliter echter alleen de intensiteit 5 van het beeld en in dit geval moeten extra middelen worden aangebracht voor het afleiden van de amplituden en de fasen.
De detectoren voor zichtbaar licht kunnen bestaan uit een serie fotodetectoren, of het doel van een fotogeleidende elektronenbuis, zo-als in televisiecamera's, elektronisch afgetast met een dominerende re-10 ferentiebundel ter verkrijging van de noodzakelijke fase-informatie zoals in de holografie, of als een andere mogelijkheid door gebruik te maken van de exponentiele filtermethode van Walker (Britse octrooiaan-vrage 81 08244), of eenvoudiger, als aangenomen mag worden dat het voorwerp reeel is, door gebruik te maken van de unieke verhouding tus-15 sen beeld en voorwerp zelfs als uitsluitend de intensiteit bekend is.
Het gerekonstrueerde beeld kan worden waargenomen op een kathode-straalbuis, een fotografische film of grafisch of numeriek op papier.
Ter verkrijging van een totaalbeeld van een groot voorwerp kan het lezensysteem het voorwerp aftasten. In dit geval is het gerekonstrueer-20 de beeld de som van gerekonstrueerde afgetaste gebieden.
Voor een afbeeldingssysteem dat gebruik maakt van zichtbaar licht, zoals een microscoop, kan het voorwerp worden verlicht door een bundel coherente laserstraling. De bundel kan worden gefocusseerd voor het verlichten van een gebied met een doorsnede ongeveer gelijk aan een 25 halve golflengte, of coherent of incoherent worden verlicht door een ronde of vierkante opening met een diameter van ongeveer een halve golflengte.
In het geval van radarsystemen worden vliegtuigen verlicht door coherente straling. Voor vliegtuigen die zich op een onderlinge afstand 30 bevinden groter dan de diffractiegrens van de ontvangende antenne, is geen verbetering van de oplossing nodig en de ontvanger werkt op de normale wijze. Bij de diffractiegrens worden echter gereflecteerde sig-nalen van zich dicht bij elkaar bevindende vliegtuigen volgens de uit-vinding bewerkt.
35 De uitvinding zal nu, uitsluitend bij wijze van voorbeeld, worden beschreven aan de hand van de bijgevoegde tekening, waarin: figuur 1 een schema is van een microscoop waarin een monster stapsgewijs door een laserbundel wordt bewogen ter verkrijging van een afgetast voorwerp, en 40 figuur 2 een mozalek is van gerekonstrueerde beelden.
8204551 ......................—............................................ " IF'!".....:..................................is;.......... iipr· 3 **
Zoals In figuur 1 is aangegeven bestaat een microscoop met super-oplossing uit een laser 1 of een andere lichtbron waarvan de uitgangs-bundel 2 wordt gefocusseerd door lenzen 3 op een te meten monster 4. De laser 1 kan een HeNe-laser zi jn werkende bij 633nm of een geschikte la-5 ser met een lijn in het ultraviolet. Set licht 2 wordt gefocusseerd op een gebied 5 met een doorsnede kleiner dan ongeveer een halve golfleng-te; een andere mogelijkheid is de toepassing van een stop met een vier-kante opening van een halve golflengte.
Het monster 4 wordt zodanig gemonteerd dat het in de x- en de 10 y-richting kan bewegen loodrecht op de richting van de verlichting, door de stapmotoren 6, 7 of door een geschikt aftastmechanisme werkende met een zaagtSnd of een sinusgolf.
Licht dat door het monster is doorgelaten wordt opgevangen en gefocusseerd door een microscooplenzensysteem 8 op een serie van 10 x 10 15 detectoren 11» Elke detector ontvangt derhalve licht van een verschil-lend deel van het verlichte monster, namelijk een monsterelement 5.
Het uitgangssignaal van elke detector in de serie 11, een informa-tiematrix, wordt geleid naar een rekentuig 12 dat deze matrix bewerkt voor weergave in een inrichting 13 voor visuele weergave, bijvoorbeeld 20 een kathodestraalbuis, fotografische film of een grafiek op papier.
In figuur 2 stellen de 12 grote vierkanten 14 ieder een verlicht monsterelement 5 voor. Het volledige weergegeven beeld is het resultaat van vier stapsgewijze ingenoman posities in de x-richting van het monster 4 en drie stapsgewijze ingenomen posities in de y-richting. Een 25 normale microscoop kan niet elk detail oplossen in elk monsterelement 5, dat wil zeggen in een vierkant met een zijde van A /2. Elk vierkant 14 zou derhalve worden weergegeven met een gemiddeld niveau van de ver-lichtingsintensiteit. In elk van deze grote vierkanten 14 is het, door gebruik te maken van de werkwijze volgens de uitvinding, mogelijk negen 30 subelementen 15 te verschaffen, waarbij elk subelement 15 een uniform intensiteitsniveau bezit. Aanzlenlijk meer details van het gehele monster komen op deze wijze beschikbaar dan mogelijk is met een conventio-nele microscoop. De informatie van elk monsterelement wordt opgeslagen in het rekentuig totdat het gehele monster is bewerkt. Het totale mon-35 ster kan dan worden waargenomen.
Bij het in bedrijf zijn wordt een dun schijfje 4 van het te onder-zoeken materisal aangebracht op een objectglaasje en in een monsterhou-der geplaatst. Deze houder wordt indien dit noodzakelijk is in de x- en in de y-richting stapsgewijze bewogen met stappen met een afmeting ge-40 lijk aan X /2.
8204551 4
Laserlicht 2 wordt gefocusseerd op een vierkant deel van het monster met een zijde gelijk aan X/2; het verlichte monster vormt een monsterelement 5.
Het monsterelement 5 wordt afgebeeld op het geheel van de detec-5 torserie 11. Het uitgangssignaal van elk detectorelement wordt geleid naar het rekentuig 12 waar een omzetting van de matrixinformatie wordt berekend en geleid naar de inrichting 13 voor visuele weergave. Het monster 5 wordt stapsgewijze bewogen over een afstand λ /2 en de bewer-king wordt herhaald. Deze stapsgewijze voortbeweging en de bewerkings-10 procedure worden herhaald totdat het gehele monster 4 onderzocht is.
Het resultaat is een beeld van het monster met een grote oplossing.
De hierboven beschreven werkwijze kan ook worden toegepast bij volgens de reflectiemodus werkende microscopie, evenals bij de hierboven beschreven transmissiemodus.
15 Ter verbetering van de oplossing van het beeld als er ruis aanwe- zig is kan het monster stapsgewijze worden bewogen over delen van een golflengte en de vele verkregen beelden kunnen worden gelntegreerd.
Nu wordt alleen het eenvoudigste geval beschouwd waarin mag worden aangenomen dat het voorwerp reeel is. In dit geval is de amplitude van 20 het beeld de vierkantswortel uit de intensiteit en de fase is nul of IT . Door gebruik te maken van de continulteit van de afgeleide kan de fase worden bepaald door deze nul te stellen in het midden van het beeld en afwisselend 7Γ en nul naar buiten toe als men successievelijk nulwaarden van de intensiteit tegenkomt. Dit kan zo nodig ook worden 25 uitgevoerd met behulp van de mathematische techniek van de analytische voortzetting.
De theoretische basis van de matrixtransformaties van de afgeleide complexe amplituden is dan als volgt:
Door x = £xi, X2j wordt een punt van het voorwerp aangegeven 30 en als de complexe amplitude van het voorwerp f(x) slechts in het verlichte en beperkte gebied D van nul verschilt, wordt het beeld bepaald door (Kf)(x) = //S(x - jj)f(j)dy 35 waarin S(x) = j(jfdu voor coherente verlichting 40 of 8204551 S(x) - ^τ)2 du|^ voor incoherente verlichting waarin P het begrensde gebied in de Fourier ruimte is overeenkomende met de ruimtelijke frequenties die door de lens zijn doorgelaten.
5 Een lineaire kleinste vierkantenrelatie tussen het voorwerp en het beeld verkrijgt men door een computerinversie van de gedigitaliseerde normale vergelijkingen .¾¾¾1¾^ Hln2PlP2 P1P2 " ^ ^2^1^2 8<U<Il 10 nin2PiPi qiq2 waarin
Sabcd * S<{a>b} - fc-d/> en 15 fab * 8ab - 8( ta»bj)
In de praktijk hebben p^ en p2 betrekking op een veel kleiner aantal punten dan qi en q2.
De vector x geeft een punt x2J· weer in het voorwerps 20 (monster 4) vlak, de vector^ geeft een punt |y^, y2j weer in het beeldvlak (op detector 11), (PI» P2} zijn monsterwaarden van {χχ, x2y (qi, q2J zijn monsterwaarden van ^y^, y2y.
Voor coherente verlichting kan worden aangetoond dat de functie 25 S(x) wordt „,_v _ sin(Axi) sin(ilx2) tr* 1 W*l voor een vierkant voorwerp met een vierkante pupil bepaald door 30 bJUJL] x i3
Voor een cirkelvormig voorwerp en een cirkelvormige pupil met een straalii in frequentie ., , Λ Ji«lsl) s<i> t.—lΪ]—
Voor incoherente verlichting zijn de analoge uitdrukkingen voor een vierkant voorwerp 40 8204551 S(x) = sln2&*l) sin2(to2) 6 ^ /ΓΛχ i2 TJ2x22 en voor een cirkelvormig voorwerp ' «.> ·")««·-' w - (&) fWM' * % waarin FT de Fouriertransformatie aangeeft en Ep = 1 op de pupil en overal elders nul.
10 Een alternatief algoritme voor het rekonstrueren van het voorwerp uit de uitgangssignalen van de serie detectoren die het beeld bemonste-ren maakt gebruik van het singuliere systeem uk, vk; <% k=0 van de transformatie van het continue voorwerp f via zijn bekende onder-steuning naar het "vector" beeld gn bepaald door de (N) complexe gege-15 vensmonsters op het eindige stel detectoren. De rekonstruktie wordt dan uitgevoerd door de bewerking K (g,Vk) ^ f " <£· -Z~ uk> (8» vk) = ^ wn gn (vk)n k=0 K n=l 20 waarin (g. vk) het scalaire produkt of de projectie is van de gege-vens op de singuliere vector vk. Het singuliere systeem zal een func-tie zijn van de experimentele dispositie, maar kan worden berekend met numerieke technieken volgens de bekende praktijk van de numerieke analyse in een speciaal geval. K is een bovengrens van het aantal compo-25 nenten dat kan worden verkregen, bepaald door de afnemingsnelheid van de singuliere waarden 0¾ en het werkelijke niveau van de aanwezige ruis. De w^ zijn geschikte wegingen waarbij rekening wordt gehouden met mogelijk niet uniforme afstanden tussen de detectoren.
Oplossing bij afbeelding beperkt door diffractie is beschreven in 30 Optica Acta 1982, 29_ nr. 6, biz. 727-746.
8204551

Claims (10)

1. Afbeeldingssysteem met een lenzensysteem voor het focusseren van coherente of incoherente straling op een beeldvlak, met het kenmerk dat detectoren aanwezig zijn voor het meten van de amplitude van de 5 straling in het beeldvlak ter verkrijging van een informatiematrix, middelen voor het omzetten van deze matrix ter verkrijging van een beeldrekonstruktie en middelen voor het observeren van het gerekonstru-eerde beeld.
2. Systeem volgens conclusie 1, gekenmerkt door middelen voor het 10 verlichten van een voorwerp, waarbij het verlichte en op de detector gefocusseerde gebied een diameter heeft die kleiner is dan een golf-lengte van de verlichtende straling.
3. Systeem volgens conclusie 2, gekenmerkt door middelen voor het teweeg brengen van een aftastende beweging van de verlichtende straling 15 ten opzichte van het voorwerp.
4. Systeem volgens conclusie 3, met het kenmerk, dat de aftastmid-delen bestaan uit motoren die het voorwerp in discrete stappen kunnen bewegen.
5. Systeem volgens conclusie 3, met het kenmerk, dat de aftastmid-20 delen bestaan uit afbuigmiddelen voor het afbuigen van de straling over het voorwerp.
6. Systeem volgens conclusie 2, gekenmerkt door de aanwezigheid van een laser voor het verlichten van het voorwerp.
7. Systeem volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat het lenzen-25 systeem straling opvangt die door het voorwerp heen is gegaan.
8. Systeem volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat het lenzensysteem straling opvangt die door het oppervlak van het voorwerp is ge-reflecteerd.
9. Systeem volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat de detectoren 30 discrete detectoren zijn die volgens een matrix zijn opgesteld.
10. Systeem volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat de detectoren worden gevormd door een doel in een fotogeleidende elektronenbuis. ********** 8204551
NL8204551A 1981-11-26 1982-11-23 Afbeeldingssystemen met beperkte diffractie. NL8204551A (nl)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB8135759 1981-11-26
GB8135759 1981-11-26
GB8206923 1982-03-09
GB8206923 1982-03-09

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8204551A true NL8204551A (nl) 1983-06-16

Family

ID=26281388

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8204551A NL8204551A (nl) 1981-11-26 1982-11-23 Afbeeldingssystemen met beperkte diffractie.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4549204A (nl)
CA (1) CA1204312A (nl)
DD (1) DD208872A5 (nl)
DE (1) DE3243890A1 (nl)
FR (1) FR2522910B1 (nl)
GB (1) GB2113501B (nl)
NL (1) NL8204551A (nl)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE455736B (sv) * 1984-03-15 1988-08-01 Sarastro Ab Forfaringssett och anordning for mikrofotometrering och efterfoljande bildsammanstellning
US4716414A (en) * 1984-05-10 1987-12-29 The Secretary Of State For Defence In Her Britannic Majesty's Government Of The United Kingdom Of Great Britain And Northern Ireland Super resolution imaging system
EP0185782B1 (en) * 1984-12-28 1989-03-15 International Business Machines Corporation Waveguide for an optical near-field microscope
GB8509493D0 (en) * 1985-04-12 1985-05-15 Plessey Co Plc Scanning microscopes
GB8512045D0 (en) * 1985-05-13 1985-06-19 Dubilier Plc Scanning microscope
DE3540916A1 (de) * 1985-11-19 1987-05-21 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur raster-lichtmikroskopischen darstellung von objekten im dunkelfeld
US4845552A (en) * 1987-08-20 1989-07-04 Bruno Jaggi Quantitative light microscope using a solid state detector in the primary image plane
AT393192B (de) * 1989-02-20 1991-08-26 Infotech Computer Systeme Ges Verfahren zur verarbeitung von bildinformation in einer videokamera
GB8913129D0 (en) * 1989-06-07 1989-07-26 Secr Defence Scanning optical microscope
US5430807A (en) * 1992-12-14 1995-07-04 Gravely Research Corporation Variable magnification color scanning light microscope
US5479252A (en) * 1993-06-17 1995-12-26 Ultrapointe Corporation Laser imaging system for inspection and analysis of sub-micron particles
US5923430A (en) * 1993-06-17 1999-07-13 Ultrapointe Corporation Method for characterizing defects on semiconductor wafers
US5576827A (en) * 1994-04-15 1996-11-19 Micromeritics Instrument Corporation Apparatus and method for determining the size distribution of particles by light scattering
JPH08160305A (ja) * 1994-12-08 1996-06-21 Nikon Corp レーザー走査顕微鏡
US5724401A (en) * 1996-01-24 1998-03-03 The Penn State Research Foundation Large angle solid state position sensitive x-ray detector system
DE19605884A1 (de) * 1996-02-19 1997-08-21 Velzel Christiaan H F Verfahren und Interferenzmikroskop zum Mikroskopieren eines Objektes mit extrem hoher Auflösung jenseits der Beugungsgrenze
US6148114A (en) * 1996-11-27 2000-11-14 Ultrapointe Corporation Ring dilation and erosion techniques for digital image processing
US6240219B1 (en) 1996-12-11 2001-05-29 Itt Industries Inc. Apparatus and method for providing optical sensors with super resolution
EP1096295A1 (en) 1999-10-28 2001-05-02 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Apparatus and method for providing optical sensors with improved resolution
US20040056545A1 (en) * 1999-11-19 2004-03-25 Baker Robert Ml Gravitational wave imaging
US20040130237A1 (en) * 1999-11-19 2004-07-08 Baker Robert M. L. Gravitational wave propulsion and telescope
US20070001541A1 (en) * 1999-11-19 2007-01-04 Baker Robert M L Jr Gravitational wave propulsion
US20050236909A1 (en) * 1999-11-19 2005-10-27 Baker Robert M Jr Gravitational wave imaging
US20040202357A1 (en) 2003-04-11 2004-10-14 Perz Cynthia B. Silhouette image acquisition
GB201201140D0 (en) 2012-01-24 2012-03-07 Phase Focus Ltd Method and apparatus for determining object characteristics
GB201207800D0 (en) * 2012-05-03 2012-06-13 Phase Focus Ltd Improvements in providing image data
RU2631006C1 (ru) * 2016-10-26 2017-09-15 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Способ формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в миллиметровом, терагерцевом, инфракрасном и оптическом диапазонах длин волн
IT201800001891A1 (it) 2018-01-25 2019-07-25 Fondazione St Italiano Tecnologia Metodo di imaging risolto nel tempo ad alta risoluzione spaziale.
RU182458U1 (ru) * 2018-05-04 2018-08-17 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в миллиметровом, терагерцовом, инфракрасном и оптическом диапазонах длин волн
RU184988U1 (ru) * 2018-07-27 2018-11-15 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство формирования изображения
CN113260895A (zh) 2019-03-19 2021-08-13 欧米克奥皮提克斯有限公司 单位放大倍率的显微镜
RU198112U1 (ru) * 2019-11-06 2020-06-18 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство формирования фотонной струи

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3460880A (en) * 1964-12-18 1969-08-12 Beckman Instruments Inc Point illumination and scanning mechanism for microscopes
US3409872A (en) * 1966-12-05 1968-11-05 Exxon Production Research Co Optical diffraction system for analyzing and processing seismic data
US3604806A (en) * 1968-10-09 1971-09-14 Atomic Energy Authority Uk Pattern classification apparatus
DE2222852A1 (de) * 1971-05-11 1973-12-13 Image Analysing Computers Ltd Feldbeleuchtung fuer die bildanalyse
US3937580A (en) * 1974-07-11 1976-02-10 Recognition Systems, Inc. Electro-optical method for measuring gaps and lines
US4164788A (en) * 1976-10-13 1979-08-14 Atul Jain Super-resolution imaging system
US4136950A (en) * 1976-11-08 1979-01-30 Labrum Engineering, Inc. Microscope system for observing moving particles
US4121247A (en) * 1977-04-21 1978-10-17 Eastman Kodak Company Population and profile display of transparent bodies in a transparent mass
GB2095028A (en) * 1981-03-17 1982-09-22 Secr Defence Image correction in electron microscopes

Also Published As

Publication number Publication date
DE3243890A1 (de) 1983-06-09
CA1204312A (en) 1986-05-13
US4549204A (en) 1985-10-22
FR2522910A1 (fr) 1983-09-09
DD208872A5 (de) 1984-04-11
FR2522910B1 (fr) 1988-09-09
GB2113501A (en) 1983-08-03
GB2113501B (en) 1985-06-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8204551A (nl) Afbeeldingssystemen met beperkte diffractie.
US7057806B2 (en) Scanning laser microscope with wavefront sensor
JP2973332B2 (ja) 光センサ
EP0458601B1 (en) Method of and apparatus for measuring spectral absorption in opaque specimens and method of and apparatus for measuring microscopic absorption distribution
US8014063B2 (en) Optical projection tomography
EP0833181B1 (en) Method for the acquisition of images by confocal microscopy
US5751243A (en) Image synthesis using time sequential holography
EP0842497B1 (en) Imaging measurement system
US5355252A (en) Scanning laser microscope
US8675062B2 (en) Shape measuring device, observation device, and image processing method
NL8302228A (nl) Meetstelsel voor het onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van een door een oppervlakcontour van een objectvlak gegeven afstand tot een referentieniveau.
AU2003295907A1 (en) Method and apparatus for three-dimensional imaging in the fourier domain
JP2013545113A (ja) イメージマップ光干渉断層法
JP2013178484A (ja) サンプルの光軸方向シフトに基づくスペックルノイズ除去
JP2022165355A (ja) 撮像装置
US4584484A (en) Microscope for producing high resolution images without precision optics
US7728270B2 (en) Microscopy method and microscope including two detections
US5923465A (en) System for scanning confocal image reconstruction from coherent recordings
Dlugan et al. Improvements to quantitative microscopy through the use of digital micromirror devices
US20230185067A1 (en) Methods and apparatus for optimised interferometric scattering microscopy
EP3855252B1 (en) Method and apparatus for the phase retrieval and volumetric imaging reconstruction
JP2708381B2 (ja) 光画像計測装置
WO2008037007A1 (en) Methods for optical microscopy
Benschop Phase detection using scanning optical microscopy
WO2000067060A1 (en) Methods and apparatus for improved depth resolution using out-of-focus information in microscopy

Legal Events

Date Code Title Description
A85 Still pending on 85-01-01
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
BV The patent application has lapsed