RU198112U1 - Устройство формирования фотонной струи - Google Patents

Устройство формирования фотонной струи Download PDF

Info

Publication number
RU198112U1
RU198112U1 RU2019135801U RU2019135801U RU198112U1 RU 198112 U1 RU198112 U1 RU 198112U1 RU 2019135801 U RU2019135801 U RU 2019135801U RU 2019135801 U RU2019135801 U RU 2019135801U RU 198112 U1 RU198112 U1 RU 198112U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
particle
refractive index
radiation
dielectric
wavelengths
Prior art date
Application number
RU2019135801U
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Петрович Карпик
Игорь Владиленович Минин
Олег Владиленович Минин
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ)
Priority to RU2019135801U priority Critical patent/RU198112U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU198112U1 publication Critical patent/RU198112U1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/58Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Использование: для фокусировки электромагнитного излучения в локальную область с разрешением, превышающим дифракционный предел. Сущность полезной модели заключается в том, что в устройстве формирования фотонной струи, состоящем из источника электромагнитного излучения и диэлектрической цилиндрической частицы, расположенной вдоль направления распространения излучения, с относительным показателем преломления, находящимся в диапазоне примерно от 1,4 до 1,8, и диаметром, изменяющимся от нескольких длин волн до тысяч длин волн, согласно полезной модели диэлектрическая частица состоит из двух частей, разделенных по ее оси симметрии перпендикулярно направлению падения излучения, выполненных из диэлектриков с различными показателями преломлениями, первая часть частицы, на выпуклую сторону которой падает излучение, непосредственно сопряжена плоской стороной со второй частью частицы с показателем преломления меньше показателя преломления первой частицы примерно в 0,8-0,9 раз, а ее теневая сторона имеет усеченный вид на величину h, равнуюгде α - эмпирический коэффициент, равный 0,9-1,1; R - радиус частицы; n- показатель преломления материала второй части частицы. Кроме того, диэлектрическая частица выполнена в виде сферы. Технический результат: обеспечение возможности повышения пространственного разрешения и повышения энергической эффективности устройства формирования фотонной струи. 4 ил.

Description

Полезная модель относится к области оптического приборостроения, а именно к диэлектрическим фокусирующим устройствам, предназначенным, в частности, для фокусировки электромагнитного излучения в локальную область с разрешением, превышающим дифракционный предел.
Устройства формирования фотонных струй находят применение для получения биоизображений мелких биообъектов, таких, как, например, вирус; лазерного наноструктурирования; управления наночастицами; в неразрушающих методах контроля и т.д.
В 2004 г. впервые было обращено внимание на наличие эффекта «фотонной наноструи» при исследовании рассеяния лазерного излучения на прозрачных однородных кварцевых микроцилиндрах и позднее на сферических частицах. Устройство для формирования фотонной струи состоит из источника излучения и слабопоглощающей диэлектрической частицы с характерным размером, сравнимым с длиной волны падающего излучения и расположенной вдоль направления распространения излучения.
Фотонная струя возникает в области теневой поверхности диэлектрических микроцилиндрических и микросферических частиц - в т.н. ближней зоне дифракции - и характеризуется сильной пространственной локализацией и высокой интенсивностью оптического поля в области фокусировки.
Было показано, что при падении плоской волны на сфероидальную и цилиндрическую частицы достижимо пространственное разрешение до трети длины волны, что ниже классического дифракционного предела. Обзор современного состояния по формированию фотонной струи диэлектрическими частицами произвольной формы в электромагнитном спектре приведен в работах [Alexander Heifetz, Soon-Cheol Kong, Alan V. Sahakian, Allen Taflove and Vadim Backman. Photonic Nanojets // Journal of Computational and Theoretical Nanoscience Vol. 6, 1979-1992, 2009; Boris S. Luk’yanchuk, Ramón Paniagua-Domínguez, Igor Minin, Oleg Minin, and Zengbo Wang Refractive index less than two: photonic nanojets yesterday, today and tomorrow // Optical Materials Express Vol. 7, Issue 6, pp. 1820-1847 (2017) •https://doi.org/10.1364/OME.7.001820; Minin I. V., Minin O. V. Diffractive optics and nanophotonics: Resolution below the diffraction limit. - Springer, 2016 [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.springer.com/us/book/9783319242514#aboutBook].
Известно устройство формирования фотонной струи, состоящее из источника излучения и диэлектрической сферической частицы с диаметром, сравнимым с длиной волны падающего излучения и расположенной вдоль направления распространения излучения, на теневой границе которой выполнен массив кольцевых структур с общим центром. Такая модифицированная микросфера формирует фотонную струю с уменьшенной шириной примерно на 30% [Патент WO/2017/007431, Microsphere for generating a photonic nanojet, авторы: Hong Minghui, Chen Xudong, Wu Mengxue.].
Известно устройство для формирования фотонной струи, обладающее свойствами сверхразрешения, состоящее из источника излучения и слабопоглощающей диэлектрической частицы с диаметром, сравнимым с длиной волны падающего излучения и расположенной вдоль направления распространения излучения [Гейнц Ю.Э., Земляное А.А., Панина Е.К. Сравнительный анализ пространственных форм фотонных струй от сферических диэлектрических микрочастиц // Оптика атмосферы и океана. 2012. Т. 25, №5. С. 417-424]. При этом диэлектрическая частица выполнена в виде сфероида.
Усовершенствование подобных устройств формирования фотонной струи предложено в [Patent US 2018 /0196243 A1, Methods and systems for super-resolution optical imaging using higy - index of refraction microspheres and microcylinders, авторы Vasily N . Astratov, Arash Darafsheh] и касается показателя преломления сферических и цилиндрических диэлектрических частиц, формирующих фотонную струю. Рекомендуется использовать материал частиц с показателем преломления не менее 1,8, а материал подложки или окружающей частицы среды должен иметь более низкий показатель преломления, при этом диаметр частиц может находиться в диапазоне между длиной волны используемого излучения до нескольких тысяч длин волн.
Недостатками известных устройств формирования фотонных струй являются недостаточное пространственное разрешение, не превышающее λ/3 - λ/4, где λ длина волны используемого излучения и низкая энергетическая эффективность цилиндрических и сферических диэлектрических частиц, формирующих фотонные струи.
Известно устройство формирования фотонной струи, состоящее из источника электромагнитного излучения и диэлектрических цилиндрических или сферических частичек, расположенных вдоль направления распространения излучения, с относительным показателем преломления находящимся в диапазоне примерно от 1,4 до 1,8 и диаметрами, изменяющимся от нескольких длин волн до тысяч длин волн [Patent US 9835870 B2, Super-resolution microscopy methods and systems enhanced by dielectric microspheres or microcylinders used in combination with metallic nanostructures, авторы Vasily N. Astratov, Nicholaos I. Limberopoulos, Augustine M.]. Данное устройство принято за прототип.
Однако, у этого устройства недостаточное пространственное разрешение, не превышающее λ/3 - λ/4, где λ длина волны используемого излучения и низкая энергетическая эффективность цилиндрических и сферических диэлектрических частиц, формирующих фотонные струи.
Задачей настоящей полезной модели является устранение указанных недостатков, а именно повышение пространственного разрешения и повышение энергической эффективности устройства формирования фотонной струи.
Указанная задача достигается тем, что в устройстве формирования фотонной струи, состоящем из источника электромагнитного излучения и диэлектрической цилиндрической частицы, расположенной вдоль направления распространения излучения, с относительным показателем преломления, находящимся в диапазоне примерно от 1,4 до 1,8, и диаметром, изменяющимся от нескольких длин волн до тысяч длин волн, согласно полезной модели диэлектрическая частица состоит из двух частей разделенных по ее оси симметрии перпендикулярно направлению падения излучения, выполненных из диэлектриков с различными показателями преломлениями, первая часть частицы, на выпуклую сторону которой падает излучение, непосредственно сопряжена плоской стороной со второй частью частицы с показателем преломления меньше показателя преломления первой частицы примерно в 0,8-0,9 раз, а ее теневая сторона имеет усеченный вид на величину h, равную
Figure 00000001
где α - эмпирический коэффициент, равный 0,9-1,1; R - радиус частицы; n1 - показатель преломления материала второй части частицы.
Заявителем не выявлены какие-либо технические решения, идентичные заявленному, что позволяет сделать вывод о соответствии настоящего изобретения критерию «новизна».
Заявителем не выявлены источники информации, в которых содержались бы сведения о влиянии отличительных признаков изобретения на достигаемый технический результат. Указанные новые свойства объекта обуславливают, по мнению заявителя, соответствие изобретения критерию «изобретательский уровень». Полезная модель поясняется чертежами.
На Фиг. 1 показана схема устройства, на Фиг. 2 приведены результаты моделирования цилиндрической частицы диаметром равным 5λ и с показателем преломления равным 1,5 (прототип), на Фиг. 3 приведены результаты моделирования цилиндрической частицы диаметром равным 5λ с показатель преломления первой части диэлектрической частицы равным n 2 = 1,5, показатель преломления материала второй части диэлектрической частицы n 1 = 1,3, показатель преломления окружающего пространства n 0 = 1, на Фиг. 4 приведены результаты моделирования диэлектрической цилиндрической частицы из двух диэлектриков, согласно предлагаемой полезной модели с усеченной теневой частью.
Обозначения: 1 - источник электромагнитного излучения, 2 – излучение, освещающее диэлектрическую частицу, 3 - первая часть диэлектрической частицы с относительным показателем преломления n 2 /n 0 =1,4-1,8, 4 - вторая часть диэлектрической частицы из материала с показателем преломления n 1 , 5 - фотонная струя.
Устройство формирования фотонной струи работает следующим образом. Источник электромагнитного излучения 1 (лазер, диод Ганна, лампа обратной волны) генерирует электромагнитное излучение 2 в оптическом, терагерцовом или микроволновом диапазонах длин волн, которое освещает диэлектрическую цилиндрическую частицу, состоящую из двух диэлектриков с различными показателями преломления 3, 4. Цилиндрическая частица из двух диэлектриков 3, 4 расположена вдоль направления распространения излучения 2. Цилиндрическая диэлектрическая частица образована из двух частей 3, 4. Первая часть цилиндрической частицы 3, на которую падает излучение 2, изготавливается из диэлектрика с относительным показателем преломления, по отношению к окружающему пространству, находящимся в диапазоне примерно от 1,4 до 1,8 и диаметром, изменяющимся от нескольких длин волн до тысяч длин волн. Первая часть диэлектрической частицы 3 имеет форму усеченного цилиндра по его оси симметрии, плоскостью, перпендикулярной направлению падения излучения. Вторая часть диэлектрической частицы 4 непосредственно сопряжена с ее плоской поверхностью и имеет цилиндрическую форму теневой поверхности. Показатель преломления материала второй части диэлектрической частицы имеет величину меньше показателя преломления первой частицы примерно в 0,8-0,9 раз. При показателе преломления материала второй части диэлектрической частицы более примерно 0,9n 2 происходит уменьшение интенсивности поля в области фотонной струи 5 и менее 0,8n 2 увеличивается расстояние от теневой границы частицы до формируемой фотонной струи 5 с уменьшением пространственного разрешения и величины интенсивности электромагнитного поля в ней.
Как показали результаты моделирования для диэлектрической цилиндрической частицы, расположенной в воздухе и составленной из диэлектриков с показателями преломления равными 1,5 и 1,3 интенсивность поля в формируемой фотонной струе 5, по сравнению с однородной диэлектрической частицей больше примерно в 1,4 раза. Пространственное разрешение устройства формирования фотонной струи достигает порядка λ/5 - λ/6.
Обнаружено, что если теневая сторона диэлектрической частицы 4 имеет усеченный вид на величину d, равную примерно
d = α R ( 1 1 n 1 ) ,
Figure 00000002
где α - эмпирический коэффициент, равный 0,9-1,1, R - радиус частицы, n 1 - показатель преломления материала второй части частицы интенсивность электромагнитного поля в формируемой фотонной струе 5, по сравнению с однородной диэлектрической частицей становится больше примерно в 2 раза. С увеличением величины усечения диэлектрической частицы интенсивность поля в области формируемой фотонной струи уменьшается. В таблице 1 приведена зависимость интенсивности поля в области фотонной струи от величины усечения ее теневой части, нормированной на величину интенсивности поля в области фотонной струи, формируемой однородной диэлектрической цилиндрической частицы с радиусом R=5λ.
Таблица 1
d/R Однородная
диэлектрическая
частица, d/R=0
0 0,03 0,04
I 1 1,42 1,96 1,2
Кроме того, установлено, что диэлектрическая частица, состоящая из двух частей разделенных по ее оси симметрии перпендикулярно направлению падения излучения, выполненных из диэлектриков с различными показателями преломлениями, первая часть частицы, на выпуклую сторону которой падает излучение, непосредственно сопряжена плоской стороной со второй частью частицы с показателем преломления меньше показателя преломления первой частицы примерно в 0,8-0,9 раз, а ее теневая сторона имеет усеченный вид на величину d, может иметь сферическую форму, при сохранении тенденций повышения пространственного разрешения и величины интенсивности электромагнитного поля в области фокуса.
В качестве диэлектриков с различными величинами показателя преломления могут использоваться, в зависимости от используемого спектрального диапазона, с различные стекла, полимеры, например, полиэтилен, полипропилен, политетраметилпентен, полистирол, фторопласт и т.д., керамика, пенопласты, композиционные материалы, искусственные материалы и т.д.
Техническим результатом полезной модели является повышение пространственного разрешения устройства при одновременном улучшении его энергетической эффективности.

Claims (5)

  1. Устройство формирования фотонной струи, содержащее источник электромагнитного излучения и диэлектрическую цилиндрическую частицу, расположенную вдоль направления распространения излучения, с относительным показателем преломления, находящимся в диапазоне примерно от 1,4 до 1,8, и диаметром, изменяющимся от нескольких длин волн до тысяч длин волн, отличающееся тем, что цилиндрическая диэлектрическая частица состоит из двух частей, разделенных по ее оси симметрии перпендикулярно направлению падения излучения, выполненных из диэлектриков с различными показателями преломлениями, первая часть частицы, на выпуклую сторону которой падает излучение, непосредственно сопряжена плоской стороной со второй частью частицы с показателем преломления меньше показателя преломления первой частицы примерно в 0,8-0,9 раз, а ее теневая сторона имеет усеченный вид на величину d, равную
  2. Figure 00000003
  3. где α - эмпирический коэффициент, равный 0,9-1,1;
  4. R - радиус частицы;
  5. n1 - показатель преломления материала второй части частицы.
RU2019135801U 2019-11-06 2019-11-06 Устройство формирования фотонной струи RU198112U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019135801U RU198112U1 (ru) 2019-11-06 2019-11-06 Устройство формирования фотонной струи

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019135801U RU198112U1 (ru) 2019-11-06 2019-11-06 Устройство формирования фотонной струи

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU198112U1 true RU198112U1 (ru) 2020-06-18

Family

ID=71095588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019135801U RU198112U1 (ru) 2019-11-06 2019-11-06 Устройство формирования фотонной струи

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU198112U1 (ru)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4549204A (en) * 1981-11-26 1985-10-22 The Secretary Of State For Defence In Her Britannic Majesty's Government Of The United Kingdom Of Great Britain And Northern Ireland Diffraction limited imaging systems
RU153686U1 (ru) * 2014-12-30 2015-07-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство для формирования фотонной струи с увеличенной глубиной фокуса
RU155915U1 (ru) * 2014-12-30 2015-10-20 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий " (ФГБОУ ВО "СГУГИТ") Устройство для формирования фотонной струи
WO2016020831A1 (en) * 2014-08-06 2016-02-11 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) System for optical detection and imaging of sub-diffraction-limited nano-objects
RU178616U1 (ru) * 2017-11-01 2018-04-13 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство для формирования фотонной струи

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4549204A (en) * 1981-11-26 1985-10-22 The Secretary Of State For Defence In Her Britannic Majesty's Government Of The United Kingdom Of Great Britain And Northern Ireland Diffraction limited imaging systems
WO2016020831A1 (en) * 2014-08-06 2016-02-11 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) System for optical detection and imaging of sub-diffraction-limited nano-objects
RU153686U1 (ru) * 2014-12-30 2015-07-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство для формирования фотонной струи с увеличенной глубиной фокуса
RU155915U1 (ru) * 2014-12-30 2015-10-20 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий " (ФГБОУ ВО "СГУГИТ") Устройство для формирования фотонной струи
RU178616U1 (ru) * 2017-11-01 2018-04-13 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (СГУГиТ) Устройство для формирования фотонной струи

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Geints et al. Control over parameters of photonic nanojets of dielectric microspheres
Han et al. Photonic jet generated by spheroidal particle with Gaussian-beam illumination
Geints et al. Systematic study and comparison of photonic nanojets produced by dielectric microparticles in 2D-and 3D-spatial configurations
Geints et al. Comparison of photonic nanojets key parameters produced by nonspherical microparticles
Abbaszadeh et al. A compact polarization insensitive all-dielectric metasurface lens for Gaussian to tophat beam shaping in sub-terahertz regime
Ambrosio et al. Fundamentals of negative refractive index optical trapping: forces and radiation pressures exerted by focused Gaussian beams using the generalized Lorenz-Mie theory
Minin et al. Electromagnetic field localization behind a mesoscale dielectric particle with a broken symmetry: a photonic hook phenomenon
Minin et al. Unusual optical effects in dielectric mesoscale particles
RU198112U1 (ru) Устройство формирования фотонной струи
McCloskey et al. Photonic nanojets in Fresnel zone scattering from non-spherical dielectric particles
RU163674U1 (ru) Устройство канализации и субволновой фокусировки электромагнитных волн
RU195881U1 (ru) Устройство формирования фотонной струи
RU161592U1 (ru) Оптический микродатчик на основе фотонных струй терагерцовых, ик или оптических волн
RU182458U1 (ru) Устройство формирования изображения объектов с субдифракционным разрешением в миллиметровом, терагерцовом, инфракрасном и оптическом диапазонах длин волн
Geints et al. Metalens optical 3D-trapping and manipulating of nanoparticles
Geints et al. Comparative analysis of key parameters of photonic nanojets from axisymmetric nonspherical microparticles
Zhu et al. Photonic jet generated by a dielectric spheroid with Bessel beam excitation
Geints et al. Collective effects in the formation of an ensemble of photonic nanojets by an ordered microassembly of dielectric microparticles
Geints et al. Localized light jets from radially symmetric nonspherical dielectric microparticles
Geints et al. Comparative analysis of spatial shapes of photonic jets from spherical dielectric microparticles
RU2821162C1 (ru) Способ определения резонансной моды Ми высокого порядка при суперрезонансе в сферической диэлектрической однородной частице
Geintz et al. Photonic nanonanojets from nonspherical dielectric microparticles
Nakaya et al. Optical Trapping of Low Refractive Index Particles by Dual Vortex Beams
RU2773808C1 (ru) Зонная пластинка с субволновым разрешением
Basdemir Bessel beam diffraction by an aperture in an opaque screen