|
GB1081109A
(en)
*
|
1963-12-12 |
1967-08-31 |
Licentia Gmbh |
Device for scanning travelling material
|
|
US3345835A
(en)
*
|
1964-12-11 |
1967-10-10 |
Appalachian Electronic Instr |
Retro-reflective stop motion system
|
|
US3385971A
(en)
*
|
1965-08-06 |
1968-05-28 |
Appalachian Electric Instr Inc |
Radiation sensitive fabric flaw detecting systems
|
|
DE1547447B1
(de)
*
|
1967-01-05 |
1970-09-24 |
Sick Erwin |
Spiegelrad-Abtastanordnung
|
|
US3517202A
(en)
*
|
1967-11-14 |
1970-06-23 |
Us Navy |
Rotating-mirror optical scanning system with optical path length compensation
|
|
US3510664A
(en)
*
|
1968-01-08 |
1970-05-05 |
Gaf Corp |
Automatic laser beam scanning film flaw detector
|
|
US3521074A
(en)
*
|
1968-04-19 |
1970-07-21 |
Mandrel Industries |
Defect detector with rotating scanner
|
|
US3584963A
(en)
*
|
1968-12-27 |
1971-06-15 |
Rca Corp |
Optical flaw detector
|
|
US3646353A
(en)
*
|
1970-10-19 |
1972-02-29 |
Eastman Kodak Co |
Flying spot scanner blanking
|
|
GB1389444A
(en)
*
|
1971-03-09 |
1975-04-03 |
Sira Institute |
Apparatus for automatic inspection of materials
|
|
JPS482793U
(US20100223739A1-20100909-C00005.png)
*
|
1971-05-20 |
1973-01-13 |
|
|
|
GB1366369A
(en)
*
|
1971-11-30 |
1974-09-11 |
Ferranti Ltd |
Detection of faults on surfaces
|
|
DE2245058A1
(de)
*
|
1972-09-14 |
1974-03-21 |
Sick Optik Elektronik Erwin |
Photoelektrische oberflaechenabtastvorrichtung
|
|
DE2256736C3
(de)
*
|
1972-11-18 |
1979-01-25 |
Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart |
Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche
|
|
JPS5074987U
(US20100223739A1-20100909-C00005.png)
*
|
1973-11-07 |
1975-06-30 |
|
|
|
DE2433682C3
(de)
*
|
1974-07-12 |
1979-02-15 |
Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch |
Vorrichtung zur Überwachung einer Materialbahn oder einer sonstigen Abtastebene
|
|
JPS5127183U
(US20100223739A1-20100909-C00005.png)
*
|
1974-08-20 |
1976-02-27 |
|
|
|
JPS51126191A
(en)
*
|
1975-04-25 |
1976-11-04 |
Central Glass Co Ltd |
Optical method to inspect a surface condition of a glass plate
|
|
DE2524152A1
(de)
*
|
1975-05-30 |
1976-12-16 |
Philips Patentverwaltung |
Lichtstrahlablenkspiegelsystem zum abtasten von grossformatigen unterlagen
|
|
US4021031A
(en)
*
|
1975-12-08 |
1977-05-03 |
Butler Automatic, Inc. |
Web alignment system
|
|
DE2611539C3
(de)
*
|
1976-03-18 |
1982-09-09 |
Agfa-Gevaert Ag, 5090 Leverkusen |
Verfahren zum Erkennen und Orten von sich in Längsrichtung einer laufenden Materialbahn erstreckenden Fehlern
|
|
US4203672A
(en)
*
|
1976-11-18 |
1980-05-20 |
E. I. Du Pont De Nemours And Company |
Scanning beam displacement compensation control system
|
|
GB1585919A
(en)
*
|
1977-08-11 |
1981-03-11 |
Ti Fords Ltd |
Bottle inspection apparatus
|
|
JPS5483854A
(en)
*
|
1977-12-16 |
1979-07-04 |
Canon Inc |
Measuring device
|
|
DE2800351B2
(de)
*
|
1978-01-04 |
1979-11-15 |
Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch |
Optische Vorrichtung zur Bestimmung des Lichtaustrittswinkels bei einer mit einem Lichtfleck abgetasteten Materialbahn
|
|
DE2827704C3
(de)
*
|
1978-06-23 |
1981-03-19 |
Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch |
Optische Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtaustrittswinkel
|
|
DE2827705C3
(de)
*
|
1978-06-23 |
1981-07-30 |
Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch |
Gerät zur Feststellung von Fehlern an Bahnmaterial
|
|
US4323311A
(en)
*
|
1979-05-11 |
1982-04-06 |
Sira Institute Limited |
Apparatus and method for detecting holes in sheet material
|
|
JPS6055809B2
(ja)
*
|
1979-11-26 |
1985-12-06 |
大日本スクリ−ン製造株式会社 |
光走査方法
|
|
DE3013549C2
(de)
*
|
1980-04-09 |
1984-06-14 |
Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch |
Anordnung zur Signalauswertung bei einem Lochsuchgerät
|
|
JPS58200214A
(ja)
*
|
1982-05-19 |
1983-11-21 |
Hitachi Ltd |
走査光学系
|
|
DE3404407C1
(de)
*
|
1984-02-08 |
1985-08-22 |
Mergenthaler Linotype Gmbh, 6236 Eschborn |
Optisch-mechanischer Ablenker
|
|
DE3408106A1
(de)
*
|
1984-03-05 |
1985-09-12 |
Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch |
Optischer rauheits-scanner
|
|
DE8438309U1
(de)
*
|
1984-12-31 |
1987-03-19 |
Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch |
Optische Fadenrißüberwachungsvorrichtung für Tuftingmaschinen
|
|
US4723659A
(en)
*
|
1985-06-28 |
1988-02-09 |
Supernova Systems, Inc. |
Apparatus for detecting impurities in translucent bodies
|
|
DE3539536C1
(de)
*
|
1985-11-07 |
1987-06-19 |
Sick Optik Elektronik Erwin |
Optische Fadenrissueberwachungsvorrichtung fuer Tuftingmaschinen
|
|
DE3636192C1
(de)
*
|
1986-10-24 |
1988-02-18 |
Erhardt & Leimer Gmbh |
Vorrichtung zur Erfassung des Abbildes von Oberflaechenbereichen laufender Warenbahnen
|
|
DE3644124A1
(de)
*
|
1986-12-23 |
1988-07-07 |
Linotype Gmbh |
Optisch-mechanischer ablenker
|
|
DE3706347A1
(de)
*
|
1987-02-27 |
1988-09-08 |
Fraunhofer Ges Forschung |
Laserinterferometer zur interferometrischen laengenmessung
|
|
DE3800543A1
(de)
*
|
1988-01-12 |
1989-07-20 |
Feldmuehle Ag |
Vorrichtung zum pruefen von sich mit hoher geschwindigkeit bewegenden bahnfoermigen flaechengebilden
|
|
CN104568949B
(zh)
*
|
2014-12-23 |
2018-02-23 |
宁波亚洲浆纸业有限公司 |
一种纸板爆墨程度的定量检测方法及其装置
|
|
WO2017204119A1
(ja)
*
|
2016-05-23 |
2017-11-30 |
新日鐵住金株式会社 |
形状測定装置及び形状測定方法
|
