MX2015005320A - Analisis de textura de una superficie pintada utilizando datos del angulo especular. - Google Patents
Analisis de textura de una superficie pintada utilizando datos del angulo especular.Info
- Publication number
- MX2015005320A MX2015005320A MX2015005320A MX2015005320A MX2015005320A MX 2015005320 A MX2015005320 A MX 2015005320A MX 2015005320 A MX2015005320 A MX 2015005320A MX 2015005320 A MX2015005320 A MX 2015005320A MX 2015005320 A MX2015005320 A MX 2015005320A
- Authority
- MX
- Mexico
- Prior art keywords
- spectral reflectance
- type
- data
- specular
- reflectance curve
- Prior art date
Links
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 title description 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 63
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 53
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 31
- 230000019612 pigmentation Effects 0.000 claims abstract description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000002798 spectrophotometry method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 5
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 4
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 3
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000003203 everyday effect Effects 0.000 description 1
- 229910021485 fumed silica Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006115 industrial coating Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000011049 pearl Substances 0.000 description 1
- 230000009290 primary effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0264—Electrical interface; User interface
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/504—Goniometric colour measurements, for example measurements of metallic or flake based paints
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/57—Measuring gloss
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Un método implementado por computadora. El método incluye obtener, usando un procesador, los datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición se tomó a un ángulo especular y, retirando, usando el procesador, al menos una porción de los datos de reflectancia especular que son atribuibles a un recubrimiento brillante de la superficie. El método también incluye construir, usando el procesador, al menos una curva de reflectancia espectral e identificar, usando el procesador, al menos una curva de reflectancia espectral e identificar, usando el procesador, al menos un tipo de efecto de pigmentación del recubrimiento objetivo basado, al menos en parte, en la, al menos una curva de reflectancia espectral.
Description
ANALISIS DE TEXTURA DE UNA SUPERFICIE PINTADA UTILIZANDO DATOS DEL ÁNGULO ESPECULAR
REFERENCIA A SOLICITUD RELACIONADA
[0001] La presente solicitud reivindica prioridad para la Solicitud de Patente
Estadounidense Nr. 61/718,729, presentada el 26 de octubre, 2012.
CAMPO DE LA INVENCIÓN
[0002] En varias realizaciones, la presente invención se refiere, en general, a un metodo y aparato para identificar atributos de propiedades físicas de mezclas de recubrimientos complejos curados (por ejemplo, pintura) utilizando los datos del ángulo especular obtenidos de un espectrofotómetro.
ANTECEDENTES DE LA INVENCIÓN
[0003] El ángulo especular está definido, en relación a un espectrofotómetro, como el ángulo de reflectancia equivalente u opuesto al ángulo de incidencia, la luz incidente basada en la línea normal con respecto al recubrimiento de superficie que está siendo medido. El ángulo especular también se refiere como ángulo de brillo. A manera de ejemplo, en espectrofotómetros manuales convencionales, el ángulo especular se denota como “45as0,” o 45 especular 0, donde la luz incidental está a 45 grados de la normal del objetivo y se recopilan los datos de luz reflejada a 0 grados del especular y opuestos 45 grados de la normal, por lo tanto, de dicho especular.
[0004] Típicamente, el dato del ángulo especular, no se recopila o informa en los datos del espectrofotómetro debido a que se supone que el dato del ángulo es altamente variable debido a los datos de reflectancia extremadamente elevados recibidos en el ángulo. Además, debido a los datos de reflectancia muy elevados obtenidos de los instrumentos, la forma de la curva de reflectancia del ángulo especular siempre se ve igual para cada muestra, a pesar del color o los efectos goniométricos de la muestra.
[0005] De esta forma, existe la necesidad de sistemas y métodos que utilicen datos del ángulo especular para caracterizar las partículas presentes en la mezcla de recubrimiento objetivo.
SÍNTESIS DE LA INVENCIÓN
[0006] En varias realizaciones, la presente invención se refiere, en general, a un metodo y aparato para identificar los atributos de las propiedades físicas de las mezclas de recubrimientos complejos curados (por ejemplo, pintura) usando los datos del ángulo especular obtenidos de un espectrofotómetro.
[0007] En varias realizaciones, la presente invención se refiere a un método implementado mediante computadora. El método incluye obtener, usando un procesador, los datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición fue tomada a un ángulo especular, retirando, mediante el uso del procesador, al menos una porción de los datos de reflectancia especular que son atribuibles a un recubrimiento brillante de la superficie. El método también incluye construir, usando el procesador, al menos una curva de reflectancia espectral e identificar, usando el procesador, el menos un tipo de efecto de pigmentación del recubrimiento objetivo en base, al menos en parte, en la como mínimo una curva de reflectancia espectral.
[0008] En varias realizaciones, la presente invención se refiere a un sistema. El sistema incluye un espectrofotómetro y un procesador configurado para comunicarse con el espectrofotómetro. El procesador está programado para obtener los datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento sobre superficie objetivo, donde la medición fue tomada a un ángulo especular usando el espectrofotómetro y retirar al menos una porción de los datos de reflectancia especular que son atribuibles a un recubrimiento brillante de la superficie. El procesador está también programado para construir al menos una curva de reflectancia espectral, e identificar, al menos, un tipo de efecto de pigmentación del recubrimiento objetivo en base, al menos en parte, en la como mínimo una curva de reflectancia espectral.
[0009] En varias realizaciones, la presente invención se refiere a un aparato. El aparato incluye medios para obtener los datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición fue tomada a un ángulo especular, y medios para retirar al menos una porción de los datos de reflectancia especular que son atribuibles a un recubrimiento brillante de la superficie, El aparato también incluye medios para construir al menos una curva de
reflectancia espectral y medios para identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación del recubrimiento objetivo en base, al menos en parte, a la, como mínimo, una curva de reflectancia espectral.
[0010] En varias realizaciones, la presente invención se refiere a un medio legible por computadora no transitorio que incluye un software para hacer que el procesador:
obtenga datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición se tomó a un ángulo especular usando el espectrofotómetro;
retirar al menos una porción de los datos de reflectancia especular que son atribulóles a un recubrimiento brillante de la superficie;
construir al menos una curva de reflectancia espectral; e
identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación en el recubrimiento objetivo basado al menos en parte en la, como mínimo, una curva de reflectancia espectral.
BREVE DESCRIPCIÓN DE LAS FIGURAS
[0011] La Fig. 1 ilustra un diagrama de flujo de una realización de un proceso para identificar partículas en una mezcla de recubrimiento de una muestra objetivo.
[0012] Las Figs. 2 a 4 ilustran realizaciones de curvas de reflectancia espectral a un ángulo especular.
[0013] La Fig. 5 ilustra una realización de un gráfico de una función de correlación para el aluminio como efecto de recubrimiento.
[0014] La Fig. 6 ilustra una realización de un sistema que puede utilizarse para identificar los atributos de propiedades físicas de una mezcla de recubrimiento de una muestra objetivo.
DESCRIPCIÓN DETALLADA DE LA INVENCIÓN
[0015] En varios aspectos, las realizaciones de la invención incluyen un espectrofotómetro y un método que puede utilizarse para identificar efectos volumétricos que están presentes en una composición de recubrimiento sobre una muestra objetivo. Varias realizaciones de la invención incluyen un aparato que tiene un
dispositivo para capturar información de una muestra objetivo y un procesador para identificar los efectos volumétricos que pueden utilizarse para producir una pintura con una textura similar a la de la muestra objetivo. Se puede utilizar un dispositivo de salida para expresar a un usuario la información del efecto volumétrico.
[0016] Aunque la descripción aquí, se refiere en general a una pintura, debe comprenderse que los dispositivos, sistemas y métodos se aplican a otros tipos de recubrimientos, incluyendo tintes y recubrimientos industriales. Las realizaciones de la invención descripta no deben considerarse limitantes. Se puede practicar un método coherente con la presente invención en una variedad de campos como por ejemplo, combinación y/o coordinación de colores de indumentaria y productos de moda.
[0017] Las realizaciones de la invención pueden utilizarse con o incorporadas a un sistema de computación que puede ser una unidad autónoma o incluir una o más terminales o dispositivos remotos en comunicación con una computadora central a través de una red como por ejemplo, Internet o una intranet. Como tal, la computadora o “procesador” y los componentes relacionados descriptos aquí pueden ser una porción de un sistema de computación local o una computadora remota o sistema en línea o combinaciones de los mismos. La base de datos y software descriptos aquí pueden almacenarse en una memoria interna de la computadora o en un medio legible por computadora no transitorio.
[0018] En varias realizaciones, los datos del ángulo especular se utilizan para identificar la composición de recubrimiento objetivo. Los datos en crudo (reflectancia espectral), tal como surgen de los instrumentos, generalmente, no proveen la información suficiente sobre la composición de recubrimiento objetivo, de manera que deben ser manipulados para obtener resultados satisfactorios. La Fig. 1 ilustra un diagrama de flujo de una realización de un proceso que utiliza los datos del ángulo especular obtenidos de un espectrofotómetro. En varias realizaciones, para poder hacer uso de los datos del ángulo especular obtenidos de un espectrofotómetro en el paso 10, pueden utilizarse las siguientes presunciones:
(i) El panel tiene un aspecto brillante (no es mate), usualmente debido al uso de una capa transparente.
(ii) La mayoría de la luz reflejada en el ángulo especular se debe al brillo de la superficie o de la capa transparente.
(iii) Una muestra negra sólida brillante medida en un espectrofotómetro reflejará sólo la luz del brillo de la capa transparente y cualquier otra luz es absorbida en un 100% por el recubrimiento negro.
[0019] Las realizaciones de la presente invención transforman los datos de reflectancia espectral en bruto del ángulo especular en información destacada y utilizable. La información resultante produce una curva de reflectancia espectral modificada (es decir, la curva se modifica o trata retirando la reflectancia especular producida por el brillo y, de esta forma, se convierte en una curva “sin brillo”). La curva de reflectancia espectral puede utilizarse por sí misma con la finalidad de identificar efectos y puede utilizarse para calcular triestímulos u otros datos colorimétricos e información con la finalidad de análisis.
[0020] El proceso de la Fig. 1 prosigue en el paso 12 donde se aplica un filtro a los datos de reflectancia espectral especular. Usando la medición estática, estándar de una superficie negra brillante, las presunciones anteriormente mencionadas son invocadas para la reflectancia medida sólo en el ángulo especular. A manera de ejemplo, una superficie negra brillante puede ser una pintura negra sólida, recubierta hasta la opacidad, que luego se recubre con una capa brillante transparente superior o una muestra de cristal negro pulido. Es conveniente que la capa transparente coincida con la utilizada sobre el recubrimiento objetivo. En varias realizaciones, en casos donde la capa transparente no coincide con la capa transparente que se utiliza en el recubrimiento objetivo o la capa transparente es desconocida, se puede utilizar cristal negro pulido o el proceso puede completarse usando múltiples mediciones estándar de negro brillante y elegir el promedio de los resultados más estrechamente vinculados. También se miden datos de reflectancia de ángulo especular para el recubrimiento objetivo. La reflectancia especular “sólo brillo” luego se sustrae de la reflectancia especular del recubrimiento objetivo como se muestra en la siguiente ecuación (1):
(1) R,(w) - Rs(w)
[0021] donde Rt es la reflectancia espectral especular del recubrimiento objetivo a una longitud de onda w dada, y Rs es la reflectancia espectral especular de la medición del negro estándar a una longitud de onda w dada. La curva de reflectancia espectral restante resultante ahora no contiene el componente de “brillo”. En varias realizaciones, la resta del componente de brillo puede completarse usando factores de ponderación sobre una longitud de onda específica o todas las longitudes de onda.
[0022] La inspección de un ploteo de la curva de reflectancia espectral “sin brillo” para el ángulo especular en el paso 14 de la Fig. 1, permite la clasificación de los tipos de pigmentos contenidos en el recubrimiento objetivo en el paso 16. La evaluación de la curva de reflectancia espectral “sin brillo” puede incluir la comprensión de las magnitudes máximas y promedio de la reflectancia “sin brillo” en todas las longitudes de onda y todas las formas y/o pendientes completas de toda curva de reflectancia espectral en ángulo especular.
[0023] La magnitud máxima y promedio de la reflectancia en todas las longitudes de onda medidas es un indicador del tipo de pigmentación contenida en el recubrimiento objetivo. Una curva de reflectancia espectral con una magnitud máxima y/o promedio de aproximadamente 1 o menos, indica una elevada probabilidad de sólo pigmentos dispersos en el recubrimiento objetivo, queriendo decir que el recubrimiento objetivo no incluye pigmentos gonio-aparentes como por ejemplo, de aluminio o perlados, como se ilustra en la Fig. 2. Una curva de reflectancia espectral a ángulo especular con una magnitud máxima y/o promedio mucho mayor a 1 , podría indicar una elevada probabilidad de utilización de un pigmento gonio-aparente, como se ilustra en la Fig. 3. Además, una magnitud máxima y/o promedio cercano a 2, indica una elevada probabilidad de utilización de un pigmento tipo aluminio, mientras que una magnitud máxima y/o promedio cercano o mucho mayor que 3, indica una elevada probabilidad de utilización de un pigmento del tipo perlado, como se ilustra en la Fig. 4. Las Figuras 2, 3 y 4 son todas ejemplos de tono de masa del color (masstone) colores de un solo pigmento.
[0024] La forma y/o pendiente total de la curva completa de reflectancia espectral a ángulo especular tambien indica las características del recubrimiento objetivo. A magnitudes máximas y/o promedio inferiores a 1, la curva de reflectancia
espectral a ángulo especular puede utilizarse con la teoría de Kulbelka Munk estándar para definir que pigmentos dispersos pueden utilizarse en concentraciones que coincidan con la curva espectral. A magnitudes máximas y/o promedio superiores a uno, la forma de la curva de reflectancia completa indica el color de los copos primarios de aluminio o perlados en el recubrimiento objetivo. La pendiente de cualquier curva de reflectancia de línea relativamente recta puede correlacionarse con el tamaño del copo del pigmento primario gonio-aparente en el recubrimiento objetivo.
[0025] Los datos de reflectancia espectral especular tratados pueden correlacionarse empíricamente con las características conocidas para poder identificar tipos de copos primarios en mezclas de recubrimiento complejas. Los datos estadísticos pueden calcularse a partir de la reflectancia espectral especular tratada, como por ejemplo, suma, promedio, desviación estándar etc., o la nueva información colorimétrica puede calcularse a partir de los datos de la reflectancia espectral especular tratada. Los nuevos puntos de datos luego se calculan partiendo de un grupo de datos empíricos, representativos de las mezclas y los colores esperados que necesitarán ser manejados en situaciones cotidianas. En el paso 18 de la Fig. 1, el grupo de datos empíricos se utiliza para crear una correlación predictiva: y = f(x), donde Y representa la característica deseada para identificación ( es decir, tipo de copo primario es sólido, perlado o de aluminio) y f(x) es alguna función de x, donde x es una o múltiples variables usando los datos estadísticos de la reflectancia espectral especular tratada o la información colorimétrica recientemente calculada de la reflectancia espectral especular tratada. La función resultante puede ser lineal o no lineal como se define con el grupo de datos empíricos.
[0026] Además, los datos de la reflectancia espectral especular tratada pueden compararse con otros datos espectrales angulares como se describe en la Solicitud de Patente Estadounidense Nr. 13/832.088 titulada “Multi- Angular Color, Opacity, Pigment Characterization, and Texture Analysis of a Painted Surface Via Visual And/Or Instrumental Techniques, (“Color multi-angular, opacidad, caracterización del pigmento y análisis de textura de una superficie pintada mediante téenicas visuales y/o instrumentales”) presentada el 15 de marzo, 2013, y que se incorpora aquí como referencia.
[0027] El tamaño de partícula promedio aproximado del copo de efecto primario puede determinarse a partir de los datos en el ángulo especular. La predicción puede ser útil para los copos de aluminio y las correlaciones pueden lograrse en situaciones de tono de masa aluminio. Sin embargo, una vez que el tipo de copo genérico ha sido identificado usando las realizaciones del proceso descripto aquí, se puede correlacionar cualquier tipo de copo con el tamaño del copo usando los datos del ángulo especular.
[0028] Para poder identificar el tamaño del copo genérico, se puede utilizar un dato empírico para crear una correlación entre los datos especulares y el tamaño del copo. El grupo de datos empíricos puede variar tanto en espacio de color como en tipo de copo y puede ser segmentado mediante el tipo de copo primario. La información del tamaño de copo es fija para cada punto de dato dentro del grupo de datos o grupos de datos segmentados. Esto puede lograrse en una de varias maneras. A manera de ejemplo, las realizaciones de los métodos incluyen: (i) el uso de datos categóricos cualitativos como por ejemplo, “Fino”, “Medio” o “Grueso”, (ii) el uso de datos numéricos continuos cualitativos como por ejemplo, DIO, D50, D90, o (iii) el uso de datos ordinales cuantitativos o cualitativos como por ejemplo, grupos de tamaño de copo clasificados donde un extremo de la escala indica un tamaño de copo pequeño que gradualmente aumenta hacia el otro extremo de las escala que indica un tamaño de copo grande. Para cada punto de datos dentro del grupo de datos, se puede atribuir el tamaño del copo al copo primario dentro del recubrimiento. Entonces, los datos de reflectancia espectral en ángulo especular pueden reunirse estadísticamente en un solo resultado para cada punto de datos. En una realización, se utiliza una simple suma de todas las longitudes de onda, como por ejemplo, mediante la siguiente ecuación (2):
(2) åW=400-700 R(W)
[0029] Usando una pluralidad de resultados de datos para cada punto de datos dentro del grupo de datos, se puede lograr una correlación, y = f(x), donde el tamaño del copo (y) es una función de los datos del ángulo especular (x). La correlación puede ser no lineal, sin embargo, en varias realizaciones, puede ser conveniente no sobreajustar los puntos de datos. En varias realizaciones, la R2 de la correlación puede mejorarse luego
incluyendo variables conocidas adicionales, como por ejemplo, los datos colorimetricos angulares, la reflectancia espectral especular tratada máxima, etc. El proceso puede repetirse para cada grupo segmentado de datos originales hasta que exista una correlación por tipo de copo primario. En varias realizaciones, se pueden superponer las correlaciones o pueden ser similares entre sí, permitiendo así, si se desea, la interpolación entre correlaciones. Un ejemplo de una correlación resultante para aluminios se ilustra en la Fig. 5.
[0030] Una vez que el grupo de datos empíricos ha determinado las correlaciones en varias realizaciones, en el paso 20 en la Fig. 1, se aplica la nueva ecuación a los datos recolectados de cualquier recubrimiento desconocido con tipo de copo primario conocido/identificado. Esta información se obtiene calculando el punto de datos de reflectancia espectral, en ángulo especular, de único resultado para el recubrimiento conocido y sustituyéndolo, junto con cualquier otra información necesaria para la correlación, como las variables en la correlación y = f(x). El tamaño de copo resultante, y, vuelve en el mismo formato en el que derivó del grupo de datos empíricos originales.
[0031] En varias realizaciones, para poder comprender el efecto de los componentes que alteran la orientación del copo, como por ejemplo, sílice pirógena, se puede realizar un método similar donde el grupo de datos empíricos se divide de manera de contener o no contener el componente que altera la orientación del copo, así como también, el porcentaje de inclusión dentro de la fórmula total.
[0032] La Fig. 6 ilustra una realización de un sistema 90 que puede ser utilizado para identificar los atributos de las propiedades físicas de una mezcla de recubrimiento de una muestra objetivo. Un usuario 92 puede utilizar una interfaz de usuario 94, como por ejemplo, una interfaz gráfica de usuario, para operar un espectro fotómetro 96 para medir las propiedades de una muestra objetivo 98. Los datos del espectrofotómetro 96 pueden ser transferidos a una computadora 100, como una computadora personal, un dispositivo móvil o cualquier tipo de procesador. La computadora 100 puede estar en comunicación a través de una red 102 con un servidor 104. La red 102 puede ser cualquier tipo de red, como por ejemplo, Internet, una red de área local, una intranet, o una red inalámbrica. El servidor 104 está en comunicación con una base de datos 106
que puede almacenar los datos e información que se utiliza mediante los metodos de las realizaciones de la presente invención con la finalidad de realizar comparaciones. Varios pasos de los métodos de las realizaciones de la presente invención, pueden realizarse mediante la computadora 100 y/o el servidor 106.
[0033] En un aspecto, la invención puede implementarse como un medio legible por computadora no transitorio que contiene un software para hacer que la computadora o sistema de computación lleve a cabo el método descripto anteriormente. El software puede incluir varios módulos que se utilizan para habilitar al procesador y una interfaz de usuario a que realicen los métodos descriptos aquí.
[0034] El experto en el arte apreciará rápidamente que pueden realizarse modificaciones a la invención sin apartarse de los conceptos descriptos en la descripción anterior. Dichas modificaciones deben considerarse incluidas dentro de las siguientes reivindicaciones a menos que las reivindicaciones, en su lenguaje, expresamente expliciten lo contrario. De esta manera, las realizaciones particulares descriptas en detalle aquí, son sólo ilustrativas y no limitan el alcance de la invención a la que se asignará la amplitud completa de las reivindicaciones anexadas y de cualquiera de todos sus equivalentes.
Claims (15)
1. Un metodo implementado por computadora, caracterizado porque comprende: obtener, usando un procesador, datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición fue tomada a un ángulo especular; retirar, usando el procesador, al menos una porción de los datos de reflectancia especular que sean atribuibles a un recubrimiento brillante de la superficie; construir, usando el procesador, al menos una curva de reflectancia espectral; e identificar, usando le procesador, al menos un tipo de efecto de pigmentación del recubrimiento objetivo basado al menos en parte en la, como mínimo, una curva de reflectancia espectral.
2. El método de la reivindicación 1, caracterizado porque la identificación de, al menos, un tipo de efecto de pigmentación incluye identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de la, al menos una curva de reflectancia espectral.
3. El método de la reivindicación 2, caracterizado porque la identificación de, al menos, un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de, al menos, una curva de reflectancia espectral, incluye identificar al menos un efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia máximo de la, al menos una curva de reflectancia a través de una pluralidad de longitudes de onda.
4. El método de la reivindicación 2, caracterizado porque la identificación de, al menos, un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de, al menos, una curva de reflectancia espectral, incluye identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación basado en el valor de reflectancia promedio de la, al menos una curva de reflectancia espectral a través de una pluralidad de longitudes de onda.
5. El método de la reivindicación 2, caracterizado porque la identificación de, al menos, un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de, al menos una curva de reflectancia espectral, incluye identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación basado en una pendiente de la, al menos una curva de reflectancia espectral.
6. El metodo de la reivindicación 2, caracterizado porque la identificación de, al menos, un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de la, al menos una curva de reflectancia espectral, incluye identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación basado en una forma de la, al menos una curva de reflectancia espectral.
7. El método de la reivindicación 1, caracterizado porque comprende datos de triestímulo basados en la, al menos una curva de reflectancia espectral.
8. Un sistema, caracterizado porque comprende: un espectrofotómetro; y un procesador configurado para comunicarse con el espectrofotómetro y programado para que: obtenga datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición se tomó a un ángulo especular usando el espectrofotómetro; retirar al menos una porción de los datos de reflectancia especular que son atribuibles a un recubrimiento brillante de la superficie; construir al menos una curva de reflectancia espectral; y identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación en el recubrimiento objetivo basado al menos en parte en la, como mínimo, una curva de reflectancia espectral.
9. El sistema de la reivindicación 8, caracterizado porque además comprende una base de datos en comunicación con el procesador.
10. El sistema de la reivindicación 8, caracterizado porque además comprende una interfaz de usuario en comunicación con el espectrofotómetro.
11. El sistema de la reivindicación 8, caracterizado porque el procesador está configurado para identificar el, al menos un tipo de efecto de pigmentación mediante la identificación de, al menos un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de la, al menos una curva de reflectancia espectral.
12. Un aparato, caracterizado porque comprende: medios para obtener datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición fue tomada a un ángulo especular; medios para retirar al menos un porción de los datos de reflectancia especular que son atribulóles a un recubrimiento brillante de la superficie; medios para construir al menos una curva de reflectancia espectral; y medios para identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación del recubrimiento objetivo basado, al menos en parte, en la, al menos una curva de reflectancia espectral.
13. El aparato de la reivindicación 12, caracterizado porque el medio para identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación incluye medios para identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de la, al menos una curva de reflectancia espectral.
14. Un medio legible por computadora no transitorio que incluye un software para hacer que el procesador: obtenga datos de reflectancia espectral de una medición espectrofotométrica de un recubrimiento objetivo sobre una superficie, donde la medición se tomó a un ángulo especular usando el espectrofotómetro; retirar al menos una porción de los datos de reflectancia especular que son atribulóles a un recubrimiento brillante de la superficie; construir al menos una curva de reflectancia espectral; e identificar al menos un tipo de efecto de pigmentación en el recubrimiento objetivo basado al menos en parte en la, como mínimo, una curva de reflectancia espectral.
15. El medio legible por computadora de la reivindicación 14, caracterizado porque además comprende un software para hacer que el procesador identifique al menos un tipo de efecto de pigmentación basado en un valor de reflectancia de la, al menos una curva de reflectancia espectral.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261718729P | 2012-10-26 | 2012-10-26 | |
US13/832,116 US8879066B2 (en) | 2012-10-26 | 2013-03-15 | Texture analysis of a painted surface using specular angle data |
PCT/US2013/064092 WO2014066045A1 (en) | 2012-10-26 | 2013-10-09 | Texture analysis of a painted surface using specular angle data |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
MX2015005320A true MX2015005320A (es) | 2015-08-13 |
MX345998B MX345998B (es) | 2017-02-28 |
Family
ID=49488662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
MX2015005320A MX345998B (es) | 2012-10-26 | 2013-10-09 | Analisis de textura de una superficie pintada utilizando datos del angulo especular. |
Country Status (15)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8879066B2 (es) |
EP (1) | EP2912437B1 (es) |
JP (1) | JP6185072B2 (es) |
KR (1) | KR101725700B1 (es) |
CN (1) | CN104838253B (es) |
AR (1) | AR093150A1 (es) |
AU (1) | AU2013335072B2 (es) |
BR (1) | BR112015009390A2 (es) |
CA (1) | CA2889667C (es) |
HK (1) | HK1208726A1 (es) |
MX (1) | MX345998B (es) |
NZ (1) | NZ631130A (es) |
SG (1) | SG11201503288WA (es) |
TW (1) | TWI497052B (es) |
WO (1) | WO2014066045A1 (es) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013126544A1 (en) * | 2012-02-21 | 2013-08-29 | U.S. Coatings Ip Co. Llc | Device for predicting amount of coarse flakes in coating compositions by wet color measurement |
US9606055B2 (en) * | 2013-01-09 | 2017-03-28 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for statistical measurement control of spectrophotometric data |
US10586162B2 (en) | 2013-03-15 | 2020-03-10 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for determining a coating formulation |
US10147043B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-12-04 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for texture assessment of a coating formulation |
NZ631047A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using kepler’s planetary motion laws |
NZ631068A (en) * | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using electrostatics calculations |
NZ631063A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using cross-normalization |
US10613727B2 (en) | 2016-02-19 | 2020-04-07 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Color and texture match ratings for optimal match selection |
US9818205B2 (en) * | 2016-02-19 | 2017-11-14 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Simplified texture comparison engine |
US11874220B2 (en) | 2018-04-26 | 2024-01-16 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Formulation systems and methods employing target coating data results |
US10871888B2 (en) | 2018-04-26 | 2020-12-22 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems, methods, and interfaces for rapid coating generation |
US11119035B2 (en) | 2018-04-26 | 2021-09-14 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for rapid coating composition determinations |
US10970879B2 (en) | 2018-04-26 | 2021-04-06 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Formulation systems and methods employing target coating data results |
KR200489450Y1 (ko) * | 2018-05-28 | 2019-06-19 | 주식회사 유니온커뮤니티 | 차량의 도장 상태를 검사하기 위한 휴대용 자외선 검사 장치 |
CN109872295B (zh) * | 2019-02-20 | 2020-05-15 | 北京航空航天大学 | 基于光谱视频数据的典型目标材质属性提取方法和装置 |
AU2020224331B2 (en) * | 2019-02-22 | 2023-05-18 | Basf Coatings Gmbh | Method and device for identifying interference pigments in a coating |
US20220329767A1 (en) * | 2019-10-01 | 2022-10-13 | University Of Washington | System and method for analyzing surface features using a low-dimensional color space camera |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2524691B2 (ja) * | 1984-02-21 | 1996-08-14 | 住友化学工業株式会社 | 着色結果の予測方法 |
US4711580A (en) * | 1985-01-28 | 1987-12-08 | Hunter Associates Laboratory, Inc. | Modeling properties of flake finishes using directional resolution and statistical flake orientation distribution function |
DE8704679U1 (de) * | 1987-03-30 | 1987-05-27 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Meßgerät für Oberflächen mit bunten Glanzeffekten |
US5231472A (en) * | 1991-09-16 | 1993-07-27 | Ppg Industries, Inc. | Color matching and characterization of surface coatings |
US5464986A (en) * | 1994-02-08 | 1995-11-07 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Fluorescent spectral differential measurement of a substrate coating |
JP4039470B2 (ja) * | 1997-05-09 | 2008-01-30 | 日清紡績株式会社 | メタリック・パール系塗料のコンピュータ調色における着色材と光輝材の配合比又は光輝材の配合量を求める方法 |
US6166814A (en) * | 1997-09-30 | 2000-12-26 | Georgia Tech Research Corp. | Method and apparatus for color matching paints |
JP2003294622A (ja) * | 2002-04-02 | 2003-10-15 | Nippon Paint Co Ltd | 光輝材含有塗膜の光輝材種類の識別方法 |
FR2843197B1 (fr) * | 2002-08-01 | 2005-08-05 | Usinor | Procede et dispositif de mesure en ligne de caracteristiques d'un revetement de surface d'un produit metallurgique. |
US7430316B2 (en) * | 2004-01-29 | 2008-09-30 | Datacolor Holding Ag | Method for visually accurately predicting color matches on different materials |
JP2005326389A (ja) * | 2004-11-11 | 2005-11-24 | Kansai Paint Co Ltd | メタリツク塗膜の光学的性質を決定する方法 |
WO2006096521A2 (en) | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Sun Chemical Corporation | Method and apparatus for measuring the transparency of a film |
US8345252B2 (en) * | 2005-04-25 | 2013-01-01 | X-Rite, Inc. | Method and system for enhanced formulation and visualization rendering |
EP1880196B1 (en) * | 2005-04-25 | 2019-10-16 | X-Rite, Inc. | Measuring an appearance property of a surface using a spatially under-sampled bidirectional reflectance distribution function |
JP2009527752A (ja) | 2006-02-24 | 2009-07-30 | アクゾ ノーベル コーティングス インターナショナル ビー ヴィ | 効果顔料を備える塗膜の分析方法 |
US20070200337A1 (en) * | 2006-02-27 | 2007-08-30 | Aaron Henry Johnson | Method for creating a decoy exhibiting realistic spectral reflectance |
WO2008156147A1 (ja) * | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Kansai Paint Co., Ltd. | 塗色データベースの作成方法及びそのデータベースを用いた検索方法、並びにそれらのシステム、プログラム及び記録媒体 |
US8330991B2 (en) * | 2009-03-03 | 2012-12-11 | Columbia Insurance Company | Method for managing metamerism of color merchandise |
EP2513627B1 (en) * | 2009-12-18 | 2021-06-30 | Coatings Foreign IP Co. LLC | Method for coating measurement |
US8340937B2 (en) * | 2010-05-11 | 2012-12-25 | Xerox Corporation | Characterization of a model-based spectral reflectance sensing device |
-
2013
- 2013-03-15 US US13/832,116 patent/US8879066B2/en active Active
- 2013-10-09 BR BR112015009390A patent/BR112015009390A2/pt not_active Application Discontinuation
- 2013-10-09 AU AU2013335072A patent/AU2013335072B2/en active Active
- 2013-10-09 CA CA2889667A patent/CA2889667C/en not_active Expired - Fee Related
- 2013-10-09 WO PCT/US2013/064092 patent/WO2014066045A1/en active Application Filing
- 2013-10-09 SG SG11201503288WA patent/SG11201503288WA/en unknown
- 2013-10-09 NZ NZ631130A patent/NZ631130A/en not_active IP Right Cessation
- 2013-10-09 CN CN201380063102.1A patent/CN104838253B/zh active Active
- 2013-10-09 MX MX2015005320A patent/MX345998B/es active IP Right Grant
- 2013-10-09 KR KR1020157013696A patent/KR101725700B1/ko active IP Right Grant
- 2013-10-09 JP JP2015539631A patent/JP6185072B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-10-09 EP EP13783435.4A patent/EP2912437B1/en active Active
- 2013-10-25 AR ARP130103899A patent/AR093150A1/es unknown
- 2013-10-25 TW TW102138774A patent/TWI497052B/zh not_active IP Right Cessation
-
2015
- 2015-09-22 HK HK15109285.8A patent/HK1208726A1/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BR112015009390A2 (pt) | 2017-07-04 |
CN104838253B (zh) | 2017-09-01 |
WO2014066045A1 (en) | 2014-05-01 |
AR093150A1 (es) | 2015-05-20 |
JP6185072B2 (ja) | 2017-08-23 |
AU2013335072B2 (en) | 2016-09-01 |
MX345998B (es) | 2017-02-28 |
HK1208726A1 (en) | 2016-03-11 |
US8879066B2 (en) | 2014-11-04 |
JP2015536458A (ja) | 2015-12-21 |
KR101725700B1 (ko) | 2017-04-10 |
CA2889667C (en) | 2018-01-02 |
TWI497052B (zh) | 2015-08-21 |
SG11201503288WA (en) | 2015-06-29 |
TW201423082A (zh) | 2014-06-16 |
KR20150074172A (ko) | 2015-07-01 |
US20140118736A1 (en) | 2014-05-01 |
CN104838253A (zh) | 2015-08-12 |
EP2912437A1 (en) | 2015-09-02 |
EP2912437B1 (en) | 2020-06-10 |
NZ631130A (en) | 2016-01-29 |
CA2889667A1 (en) | 2014-05-01 |
AU2013335072A1 (en) | 2015-05-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
AU2013335072B2 (en) | Texture analysis of a painted surface using specular angle data | |
US20190037177A1 (en) | Multi-angular color, opacity, pigment characterization and texture analysis of a painted surface via visual and/or instrumental techniques | |
KR101162078B1 (ko) | 페인트 매칭 방법 | |
CN105849516B (zh) | 使用枢轴归一化的涂层表面纹理分析 | |
EP2972156B1 (en) | Systems and methods for multi-flux color matching | |
Medina et al. | Classification of batch processes in automotive metallic coatings using principal component analysis similarity factors from reflectance spectra | |
Medina et al. | Characterization of reflectance variability in the industrial paint application of automotive metallic coatings by using principal component analysis | |
Wu et al. | Towards a practical metric of surface gloss for metallic coatings from automotive industry | |
Safi et al. | Specular gloss estimation by measuring the colorimetric data produced by a reflection measurement at 8° of incidence | |
Medina et al. | Reflectance variability of surface coatings reveals characteristic eigenvalue spectra |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FG | Grant or registration |