MD419Z - Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов - Google Patents

Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов Download PDF

Info

Publication number
MD419Z
MD419Z MDS20100207A MDS20100207A MD419Z MD 419 Z MD419 Z MD 419Z MD S20100207 A MDS20100207 A MD S20100207A MD S20100207 A MDS20100207 A MD S20100207A MD 419 Z MD419 Z MD 419Z
Authority
MD
Moldova
Prior art keywords
superconducting
critical temperature
precision measurement
chamber
samples
Prior art date
Application number
MDS20100207A
Other languages
English (en)
Romanian (ro)
Inventor
Анатол СИДОРЕНКО
Андрей СУРДУ
Original Assignee
Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий filed Critical Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий
Priority to MDS20100207A priority Critical patent/MD419Z/ru
Publication of MD419Y publication Critical patent/MD419Y/mo
Publication of MD419Z publication Critical patent/MD419Z/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относится к электронной технике для измерения свойств пленок из сверхпроводящих материалов с высокой точностью и может быть использовано при изготовлении сверхпроводящих пленок с точно определенными параметрами.Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов включает теплообменник (1), соединенный через держатель (2) с вакуумной камерой (4), в которой размещены образец (6) и термометр (3). Камера (4) оснащена крышкой конической формы (5), в которой выполнен сквозной канал (7), посредством которого камера (4) соединена с вакуумным насосом (8). Держатель (2), вакуумная камера (4) и крышка (5) выполнены из меди.Технический результат состоит в увеличении точности измерения критической температуры сверхпроводниковых образцов.
MDS20100207A 2010-12-01 2010-12-01 Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов MD419Z (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDS20100207A MD419Z (ru) 2010-12-01 2010-12-01 Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDS20100207A MD419Z (ru) 2010-12-01 2010-12-01 Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MD419Y MD419Y (en) 2011-09-30
MD419Z true MD419Z (ru) 2012-04-30

Family

ID=45815283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MDS20100207A MD419Z (ru) 2010-12-01 2010-12-01 Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов

Country Status (1)

Country Link
MD (1) MD419Z (ru)
  • 2010

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Paşaport tehnic al frigiderului cu ciclu închis (Coolpower 4.2GM), 2001 *
Малков М.П., Данилов И.Б., Зельдович А.Г., Фрадков А.Б. Справочник по физико-техническим основам криогеники. Москва, Энергия, 1972, с. 255-256 *

Also Published As

Publication number Publication date
MD419Y (en) 2011-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PL402676A1 (pl) Aparat do przetwarzania materialów w wysokich temperaturach i przy wysokim cisnieniu
MX2013002213A (es) Aparato y metodo para equilibrio de fases con captacion in situ.
WO2010100549A3 (de) Partikel-analyseverfahren und -geräte für verunreinigte fluide
MX2014014058A (es) Un metodo y aparato para probar automaticamente sedimentacion de alta presion y alta temperatura de lodos.
TW201144785A (en) Leak test probe for use in industrial facilities
ATE451599T1 (de) Temperatur-festpunkt, zellentemperatur- festpunktvorrichtung und verfahren zur kalibrierung eines thermometers
DE602008006602D1 (de) Pyknometer
MX2015011736A (es) Aparato de procesamiento y metodo de medicion de la temperatura de una pieza de trabajo en aparatos de procesamiento.
SG131922A1 (en) Electronic thermometer with sensor location
HK1222597A1 (zh) 用於检测液体样本中的分析物的检测装置
WO2008135717A3 (en) Method and apparatus for rapid temperature measurement
CN104749214B (zh) 一种基于瞬态平面热源法测量液体导热系数的恒温热浴装置
CN103713013B (zh) 测试管状材料轴向导热系数的装置
EA201492095A1 (ru) Устройство и способ циклического изменения температуры
TW200707510A (en) Accurate temperature measurement for semiconductor applications
MD419Y (en) Device for high-precision measurement of critical temperature of superconducting samples
MY180868A (en) System and method for testing thermal properties of a container
MY165062A (en) Ceramic member, probe holder, and manufacturing method of ceramic member
GB201209380D0 (en) Method and apparatus for measuring emissivity and density of crude oil
WO2007084881A3 (en) Apparatus and methods for cooling samples
TWD174923S (zh) 熱電偶用保護管
CN102539839A (zh) 原子力显微镜样品变温装置
CN204374119U (zh) 固体动态导热系数测量装置及测量系统
CN204422460U (zh) 一种单面法测量材料导热系数的装置
CN101762340A (zh) 一种校对真空设备温度均匀性的方法

Legal Events

Date Code Title Description
KA4Y Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration)