MD419Z - Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов - Google Patents
Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов Download PDFInfo
- Publication number
- MD419Z MD419Z MDS20100207A MDS20100207A MD419Z MD 419 Z MD419 Z MD 419Z MD S20100207 A MDS20100207 A MD S20100207A MD S20100207 A MDS20100207 A MD S20100207A MD 419 Z MD419 Z MD 419Z
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- superconducting
- critical temperature
- precision measurement
- chamber
- samples
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относится к электронной технике для измерения свойств пленок из сверхпроводящих материалов с высокой точностью и может быть использовано при изготовлении сверхпроводящих пленок с точно определенными параметрами.Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов включает теплообменник (1), соединенный через держатель (2) с вакуумной камерой (4), в которой размещены образец (6) и термометр (3). Камера (4) оснащена крышкой конической формы (5), в которой выполнен сквозной канал (7), посредством которого камера (4) соединена с вакуумным насосом (8). Держатель (2), вакуумная камера (4) и крышка (5) выполнены из меди.Технический результат состоит в увеличении точности измерения критической температуры сверхпроводниковых образцов.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20100207A MD419Z (ru) | 2010-12-01 | 2010-12-01 | Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20100207A MD419Z (ru) | 2010-12-01 | 2010-12-01 | Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD419Y MD419Y (en) | 2011-09-30 |
| MD419Z true MD419Z (ru) | 2012-04-30 |
Family
ID=45815283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDS20100207A MD419Z (ru) | 2010-12-01 | 2010-12-01 | Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD419Z (ru) |
-
2010
- 2010-12-01 MD MDS20100207A patent/MD419Z/ru not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Paşaport tehnic al frigiderului cu ciclu închis (Coolpower 4.2GM), 2001 * |
| Малков М.П., Данилов И.Б., Зельдович А.Г., Фрадков А.Б. Справочник по физико-техническим основам криогеники. Москва, Энергия, 1972, с. 255-256 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD419Y (en) | 2011-09-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PL402676A1 (pl) | Aparat do przetwarzania materialów w wysokich temperaturach i przy wysokim cisnieniu | |
| MX2013002213A (es) | Aparato y metodo para equilibrio de fases con captacion in situ. | |
| WO2012116227A3 (en) | Measuring seebeck coefficient | |
| WO2014158370A3 (en) | Temperature measurement in multi-zone heater | |
| MX2014014058A (es) | Un metodo y aparato para probar automaticamente sedimentacion de alta presion y alta temperatura de lodos. | |
| TW201144785A (en) | Leak test probe for use in industrial facilities | |
| MX370694B (es) | Aparato de procesamiento y método de medición de la temperatura de una pieza de trabajo en aparatos de procesamiento. | |
| HK1222597A1 (zh) | 用於检测液体样本中的分析物的检测装置 | |
| FR2925958B1 (fr) | Pycnometre | |
| CN103149238B (zh) | 多孔陶瓷导热系数的简易测量装置 | |
| CN103713013B (zh) | 测试管状材料轴向导热系数的装置 | |
| EA201492095A1 (ru) | Устройство и способ циклического изменения температуры | |
| TW200707510A (en) | Accurate temperature measurement for semiconductor applications | |
| MD419Z (ru) | Устройство для измерения с высокой точностью критической температуры сверхпроводниковых образцов | |
| MY180868A (en) | System and method for testing thermal properties of a container | |
| MY165062A (en) | Ceramic member, probe holder, and manufacturing method of ceramic member | |
| GB2448093A (en) | Apparatus and methods for cooling samples | |
| GB201209380D0 (en) | Method and apparatus for measuring emissivity and density of crude oil | |
| TWD174923S (zh) | 熱電偶用保護管 | |
| CN102539839A (zh) | 原子力显微镜样品变温装置 | |
| FR2956485B1 (fr) | Cellule de mesure et appareil de mesure des proprietes electriques de films et de revetements a hautes temperatures. | |
| CN204422460U (zh) | 一种单面法测量材料导热系数的装置 | |
| CN205786320U (zh) | 一种氧敏感粉末样品变温样品支架 | |
| Sugawara et al. | Department of Mechanical Engineering Faculty of Engineering, Yamagata University | |
| UA88215U (ru) | Способ экспериментального измерения свойств материала при криогенных температурах |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| KA4Y | Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration) |