MD419Y - Dispozitiv pentru măsurarea cu precizie înaltă a temperaturii critice a probelor supraconductoare - Google Patents
Dispozitiv pentru măsurarea cu precizie înaltă a temperaturii critice a probelor supraconductoare Download PDFInfo
- Publication number
- MD419Y MD419Y MDS20100207A MDS20100207A MD419Y MD 419 Y MD419 Y MD 419Y MD S20100207 A MDS20100207 A MD S20100207A MD S20100207 A MDS20100207 A MD S20100207A MD 419 Y MD419 Y MD 419Y
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- superconducting
- critical temperature
- precision measurement
- chamber
- samples
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Invenţia se referă la tehnica electronică pentru măsurarea proprietăţilor peliculelor din materiale supraconductoare cu precizie înaltă şi poate fi utilizată la confecţionarea peliculelor supraconductoare cu parametri determinaţi exact.Dispozitivul pentru măsurarea cu precizie înaltă a temperaturii critice a probelor supraconductoare include un schimbător de căldură (1), unit printr-un susţinător (2) cu o cameră de vid (4), în care sunt amplasate o probă (6) şi un termometru (3). Camera (4) este dotată cu un capac de formă conică (5), în care este executat un canal străpuns (7), prin intermediul căruia camera (4) este unită cu o pompă de vid (8). Susţinătorul (2), camera de vid (4) şi capacul (5) sunt executate din cupru.Rezultatul tehnic constă în majorarea preciziei de măsurare a temperaturii critice a probelor supraconductoare.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20100207A MD419Z (ro) | 2010-12-01 | 2010-12-01 | Dispozitiv pentru măsurarea cu precizie înaltă a temperaturii critice a probelor supraconductoare |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20100207A MD419Z (ro) | 2010-12-01 | 2010-12-01 | Dispozitiv pentru măsurarea cu precizie înaltă a temperaturii critice a probelor supraconductoare |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD419Y true MD419Y (ro) | 2011-09-30 |
| MD419Z MD419Z (ro) | 2012-04-30 |
Family
ID=45815283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDS20100207A MD419Z (ro) | 2010-12-01 | 2010-12-01 | Dispozitiv pentru măsurarea cu precizie înaltă a temperaturii critice a probelor supraconductoare |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD419Z (ro) |
-
2010
- 2010-12-01 MD MDS20100207A patent/MD419Z/ro not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD419Z (ro) | 2012-04-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| PL402676A1 (pl) | Aparat do przetwarzania materialów w wysokich temperaturach i przy wysokim cisnieniu | |
| MX2013002213A (es) | Aparato y metodo para equilibrio de fases con captacion in situ. | |
| WO2012116227A3 (en) | Measuring seebeck coefficient | |
| WO2014158370A3 (en) | Temperature measurement in multi-zone heater | |
| MX2014014058A (es) | Un metodo y aparato para probar automaticamente sedimentacion de alta presion y alta temperatura de lodos. | |
| TW201144785A (en) | Leak test probe for use in industrial facilities | |
| MX370694B (es) | Aparato de procesamiento y método de medición de la temperatura de una pieza de trabajo en aparatos de procesamiento. | |
| HK1222597A1 (zh) | 用於检测液体样本中的分析物的检测装置 | |
| FR2925958B1 (fr) | Pycnometre | |
| CN103149238B (zh) | 多孔陶瓷导热系数的简易测量装置 | |
| CN103713013B (zh) | 测试管状材料轴向导热系数的装置 | |
| EA201492095A1 (ru) | Устройство и способ циклического изменения температуры | |
| TW200707510A (en) | Accurate temperature measurement for semiconductor applications | |
| MD419Z (ro) | Dispozitiv pentru măsurarea cu precizie înaltă a temperaturii critice a probelor supraconductoare | |
| MY180868A (en) | System and method for testing thermal properties of a container | |
| MY165062A (en) | Ceramic member, probe holder, and manufacturing method of ceramic member | |
| GB2448093A (en) | Apparatus and methods for cooling samples | |
| GB201209380D0 (en) | Method and apparatus for measuring emissivity and density of crude oil | |
| TWD174923S (zh) | 熱電偶用保護管 | |
| CN102539839A (zh) | 原子力显微镜样品变温装置 | |
| FR2956485B1 (fr) | Cellule de mesure et appareil de mesure des proprietes electriques de films et de revetements a hautes temperatures. | |
| CN204422460U (zh) | 一种单面法测量材料导热系数的装置 | |
| CN205786320U (zh) | 一种氧敏感粉末样品变温样品支架 | |
| Sugawara et al. | Department of Mechanical Engineering Faculty of Engineering, Yamagata University | |
| UA88215U (uk) | Спосіб експериментального вимірювання властивостей матеріалу при кріогенних температурах |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| KA4Y | Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration) |