Claims (3)
파형검사를 위한 전체회로 및 장치를 제어하도록 프로그램이 내장되어 있는 CPU보드(11)와, 검사선택에 의해서 동작되어 전원공급 및 신호발생을 제어하는 인터페이스제어부(17)와, 신호분리기로 신호분리제어신호를 출력하고 원격탐침으로부터 신호를 입력받는 데이타I/O보드(16)와, 신호발생기로부터의 동기신호로 트리거신호를 발생시키는 트리거보드(14)와, 상기 트리거보드(16)의 트리거신호에 의해서 상기 신호분리기로부터의 아날로그신호를 디지털신호로 변환하는 A/D변환보드(13)와, 상기 신호분리기로부터의 주파수를 카운팅하는 카운트보드(15)와, 검사신호를 출력할 모니터의 화면표시를 제어하는 그래픽보드(12)로 구성된 주제어기(10); 상기 인터페이스제어부(11)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 인쇄회로기판(PCB)을 지지하는 하부지그설비장치(DF)에 전원을 인가하는 전원공급기(20); 상기 인터페이스제어부(11)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 영상반송파신호와 동기신호를 발생시켜서, 인쇄회로기판(PCB)을 지지하는 하부지그설비장치(DF)에 영상반송파신호를 제공함과 동시에 상기 주제어기(10)의 트리거보드(14)에 동기신호를 제공하는 신호발생기(30); 상기 인쇄회로기판(PCB)상의 다수의 테스트포인트중 탐침(44)이 테스트포인트에 접촉하는 경우에 접촉검출신호를 주제어기(10)의 데이타I/O보드로 제공하고, 상기 접촉된 테스트포인터로부터의 신호를 신호분리기(50)로 제공하는 원격탐침(40); 상기 데이타I/O보드(16)를 통한 주제어기(10)의 제어에 따라 상기 원격탐침(40)으로부터의 신호에 대한 크기성분과 주파수성분으로 분리해서 주제어기(10)의 A/D변환보드(13)와 카운터보드(15)로 각각 제공하는 신호분리기(50); 상기 주제어기(10)에 포함된 그래픽보드(12)로부터의 신호와 검사결과를 화면으로 표시하는 모니터(60)를 구비함을 특징으로하는 파형검사장치.A CPU board 11 in which a program is incorporated to control the entire circuit and apparatus for waveform inspection, an interface control unit 17 which is operated by inspection selection and controls power supply and signal generation, A data I / O board 16 for outputting a signal and receiving a signal from a remote probe, a trigger board 14 for generating a trigger signal from a synchronous signal from the signal generator, An A / D conversion board 13 for converting an analog signal from the signal separator into a digital signal, a count board 15 for counting frequencies from the signal separator, A main controller (10) comprising a graphic board (12) for controlling the main board (10); A power supply 20 for applying power to a lower jig equipments DF supporting a printed circuit board (PCB) under the control of the main controller 10 through the interface controller 11; The main controller 10 generates a video carrier signal and a synchronization signal under control of the main controller 10 to provide an image carrier signal to a lower jig equipment DF supporting a printed circuit board PCB A signal generator 30 for simultaneously supplying a synchronization signal to the trigger board 14 of the main controller 10; Providing a contact detection signal to the data I / O board of the main controller (10) when the probe (44) among the plurality of test points on the printed circuit board (PCB) contacts the test point, A remote probe 40 for providing a signal to the signal separator 50; The A / D conversion board 10 of the main controller 10 separates the signal from the remote probe 40 into a magnitude component and a frequency component according to the control of the main controller 10 via the data I / O board 16, A signal separator 50 providing signals to the counter board 13 and the counter board 15, respectively; And a monitor (60) for displaying a signal from the graphic board (12) included in the main controller (10) and a test result on a screen.
제1항에 있어서, 상기 원격탐침(40)은 그 몸체(41)에 검사항목을 절환하도록 형성된 스텝키(43)와, 모니터(60)에 출력되는 신호파형을 수직측으로 확대비율을 조절하도록 형성된 출력파형 확대조절부(42)를 구비함을 특징으로 하는 파형검사장치.The remote probe according to claim 1, wherein the remote probe (40) comprises a step key (43) configured to switch an inspection item to the body (41) And an output waveform magnification adjusting unit (42).
전체 장치 및 회로를 제어하고 선택된 신호를 분석하는 주제어기(10)와, 소망 전원을 공급하는 전원공급기(20)와, 신호를 발생시키는 신호발생기(30)와, 인쇄회로가판상의 테스트포인트를 선택하여 검사신호를 취입하는 원격탐침(40)과, 상기 원격탐침(40)으로부터의 신호를 분리하는 신호분리기(50)와, 상기 검사신호에 대한 파형을 화면으로 표시하는 모니터(60)를 포함하는 장치를 이용한 검사방법에 있어서, 파형검사가 선택됨에 따라 규격치를 로딩(Loading)시키고, 하드웨어 및 소프트웨어 동작상에 필요한 변수를 최기화시키는 제1단계(110); 제1단계(110)후, 인터페이스제어부(17)를 통해서 전원공급기(20) 및 신호발생기(30)를 각각 제어하여 인쇄회로기판에 전원 및 신호를 제공하는 제2단계(111); 제2단계(111)후, 원격탐침(40)의 스텝키(43)로 검사를 설정하고, 이후 원격탐침(40)의 탐침(44)을 인쇄회로기판(PCB)상의 해당 테스트포인트에 접촉시키는 제3단계(112,113); 상기 탐침(44)이 해당 테스트포인트에 접촉됨이 데이타I/O보드(16)를 통해서 확인된 경우에 신호분리기(50)를 제어한 다음에 이로부터 입력받은 크기성분을 A/D변환보드(13)를 통해서 디지털신호로 변환함과 동시에 주파수를 카운팅하는 제4단계(114,115); 상기 제4단계(114,115)에서 변환된 측정치가 규격치의 범위를 벗어나는 경우에는 불량으로 판단하고, 반면 범위를 벗어나지 않을 경우에는 양호로 판단한후, 이 판단한 검사 결과에 해당하는 데이타와 취입된 신호파형을 그래픽보드(12)를 통해 모니터(60)에 표시하는 제5단계(116,117,118); 상기 제5단계(116,117,118)후, 스텝키(43)의 입력선택이 있는 경우에 상기 제3단계로 진행되는 제6단계로 이루어짐을 특징으로하는 파형검사방법.A main controller 10 for controlling the entire apparatus and circuits and analyzing a selected signal, a power supply 20 for supplying a desired power supply, a signal generator 30 for generating a signal, and a printed circuit board A signal separator 50 for separating the signal from the remote probe 40 and a monitor 60 for displaying the waveform of the inspection signal on the screen A first step (110) of loading a standard value according to the selection of a waveform test and minimizing necessary parameters in hardware and software operation; A second step (111) of controlling the power supply (20) and the signal generator (30) through the interface control unit (17) after the first step (110) to supply power and signals to the printed circuit board; After the second step 111 the test is set with the step key 43 of the remote probe 40 and thereafter the probe 44 of the remote probe 40 is brought into contact with the corresponding test point on the printed circuit board PCB A third step 112,113; When the probe 44 is confirmed to be in contact with the test point through the data I / O board 16, the signal separator 50 is controlled, and the magnitude component received from the signal separator 50 is input to the A / D conversion board A fourth step (114,115) for converting the frequency into a digital signal through a frequency converter (13); If the measurement value converted in the fourth step (114, 115) is out of the range of the standard value, it is determined to be defective. If the measured value is not out of the range, it is determined that the measurement value is good, A fifth step (116, 117, 118) of displaying on the monitor (60) through the graphic board (12); And a sixth step of proceeding to the third step when there is an input selection of the step key (43) after the fifth step (116, 117, 118).
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: It is disclosed by the contents of the first application.