KR970017280A - 광 픽업장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 광 픽업장치에 관한 것으로서, 특히 빔 스플리트의 하부에 나이프 에지(Knife edge)의 기능을 갖도록 미러 코팅(mirror coating)이 형성된 프리즘을 부가하여 원 빔(one beam)법으로 나이프 에지에 의해 포커스 에러를 검출토록 함으로서 구성을 간소화 한 광 픽업장치에 관한 것이다.

이를 위하여 레이저 다이오드로부터 발생되는 레이저 빔을 일정한 비의 반사광과 투과광으로 분리하는 빔 스플리트, 상기 분리된 빔을 집광하여 디스크상에 포커싱시키는 대물렌즈, 상기 대물렌즈를 통해 디스크상에 기록된 광정보를 검출하는 광검출기가 포함된 광 픽업장치에 있어서, 상기 빔 스플리트의 하부에 소정간격을 두고 설치되어 상기 빔 스플리트를 경유한 디스크의 광정보를 투과하는 프리즘, 상기 프리즘의 상부 일측에 형성되어 상기 빔 스플리트를 경유한 광정보의 일부를 차단하는 나이프 에지 기능의 미러 코팅, 상기 프리즘의 하부 중앙부에 상기 광검출기를 일체로 형성하여 원 빔으로 미러 코팅에 의해 포커스 에러를 검출토록 한 것이다.

Description

광 픽업장치

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제2도는 본 발명에 광 픽업장치의 구성도.

Claims (1)

1. 레이저 다이오드(51)로부터 발생되는 레이저 빔을 인정한 비의 반사광과 투과광으로 분리하는 빔 스플리트(53), 상기 분리된 빔을 집광하여 디스크(55)상에 포커싱시키는 대물렌즈(54), 상기 대물렌즈(54)를 통해 디스크(55)상에 기록된 광정보를 검출하는 광검출기(56)가 포함된 광 픽업장치에 있어서, 상기 빔 스플리트(53)의 하부에 소정간격을 두고 설치되어 상기 빔 스플리트(53)를 경유한 디스크(55)의 광정보를 투과하는 프리즘(57), 상기 프리즘(57)의 상부 일측에 형성되어 상기 빔 스플리트(53)를 경유한 광정보의 일부를 차단하는 나이프 에지 기능의 미러 코팅(58), 상기 프리즘(57)의 하부 중앙부에 상기 광검출기(56)를 일체로 형성하여 원 빔(one beam)으로 미러 코팅에 의해 포커스 에러를 검출토록 한 것을 특징으로 하는 광 픽업장치.

   ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.