KR970004977Y1 - 핸들러의 디바이스 이송장치 - Google Patents

Abstract

내용없음

Description

핸들러의 디바이스 이송장치

제1도는 본 고안의 장치의 평면도

제2도는 본 고안 장치의 측면도

제3도는 종래장치의 평면도

제4도는 종래장치의 측면도

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1, 2 : 이송트랙 3 : 챔버

4, 5 : 접속트랙 6 : 연장트랙

본 고안은 디바이스를 검사하기 위한 핸들러의 디바이스 이송장치에 관한 것으로서, 디바이스의 상온검사시 디바이스가 빠른 시간내에 이송트랙을 통과하여 테스터부로 공급될 수 있도록 한 것이다.

일반적으로 생산라인서 제조 생산된 디바이스를 검사하기 위한 핸들러는 투입부와 테스터부 그리고 송출부로 구성되어 있다.

따라서, 슬리이브내에 삽입된 디바이스를 투입구에 쏟아부으면 디바이스가 자중 또는 공기압에의해 테스터부로 이송되어 테스터부에서 검사를 실시하게 되고, 검사가 완료된 디바이스는 자동으로 분류되어 송출트랙을 따라 송출부로 송출되도록 되어 있다.

종래에는 제3도 및 제4도에 도시한 바와같이 투입구로 투입된 디바이스를 테스터부로 이송시키기 위한 이송트랙(11), (13)사이에 달팽이 형상으로 권회된 챔버(12)가 연결되어 있고 챔버(12)의 외주면이나 하부에는 디바이스의 고온시험이나 저온시험을 하기위한 히터나 쿨링장치가 설치되어 있다.

따라서 투입구를 통해 디바이스가 챔버(12)를 따라 이송되면서 일정시간(대략 5분정도)동안 가열 또는 냉각되어 테스터부로 이송된다.

그러나 이러한 종래의 장치는 디바이스를 고온 또는 저온시험을 하다가 상온시험을 할 경우에는 디바이스가 달팽이 형상으로 권회된 챔버(12)를 순환하여 테스터부로 이송되기 때문에 검사시간이 지연되고, 이에따라 작업능률이 저하되는 결점이 있었다.

본 고안은 종래의 이와같은 결점을 감안하여 안출한 것으로서, 상온시험시 디바이스를 다이렉트(direct)로 테스터부로 공급시킬 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.

상기한 목적을 달성하기 위해 본 고안은 이송트랙과 챔버를 접속트랙으로 상호 연결되도록 함과함께 연장트랙을 별도로 형성하여 상온검사시 이송트랙과 연장트랙을 상호 연결시킬 수 있도록 하여서된 핸들러의 디바이스 이송장치가 제공된다.

이하, 본 고안을 일실시예로 도시한 첨부된 도면 제1도 및 제2도를 참고로하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.

첨부도면 제1도는 본 고안장치의 평면도이고, 제2도는 측면도로서, 디바이스를 이송시키기 위한 이송트랙(1), (2)과 디바이스를 가열 또는 냉각시키기 위한 챔버(3)가 접속트랙(4), (5)으로 상호 연결되어 있어 디바이스를 고온 또는 저온테스트를 하기위해 투입구를 통해 투입하면 디바이스가 이송트랙(1)과 접속트랙(4)을 통해 챔버(3)로 이송되어 가열 또는 냉각된 후, 접속트랙(5)과 이송트랙(2)을 따라 테스터부로 공급되어 디바이스의 성능검사를 실시하게 된다.

이와같이 이송트랙(1), (2)과 챔버(3)를 접속트랙(4)(5)으로 연결하여 디바이스를 고온 또는 저온테스트하다가 상온에서 또다른 테스트를 하고자 할 경우에는 이송트랙(1), (2)과 챔버(3)를 연결시키고 있던 접속트랙(4)(5)을 분리시키고, 이송트랙(1), (2)사이에 별도로 형성된 연장트랙(6)을 설치하면 된다.

따라서, 투입구를 통해 디바이스를 투입시키면 디바이스가 챔버(3)을 거치지않고 이송트랙(1)과 연장트랙(6)을 거쳐 이송트랙(2)으로 직접 이송되므로 검사시간을 단축시킬 수 있게 되고, 이에 따라 작업능률을 향상 시킬 수 있게 되는 효과가 있다.

Claims (1)

1. 디바이스를 이송시키기 위한 이송트랙(1), (2)사이에 챔버(3)를 설치하여 된 것에 있어서, 이송트랙(1), (2)과 챔버(3)사이에 접속트랙(4), (5)을 설치하거나 이송트랙(1), (2)사이에 연장트랙(6)을 설치하여 디바이스가 챔버(3)를 통해 테스터부로 공급되거나, 연장트랙(6)을 거쳐 직접 테스터부로 공급될 수 있도록 하여서 됨을 특징으로 하는 핸들러의 디바이스 이송장치.