Claims (6)
전전자 교환기의 패킷 통합시험장치에 있어서; 전원이 인가되면 초기화되어 자동적으로 내부기능을 시험하고, 프로토콜의 레벨을 선택하여 외부데이터버스 정합시험 및 프레임전송시험을 수행하기 위한 적어도 1개이상의 패킷핸들링 제어보드; 전원이 인가되면, 초기화되어 자동적으로 내부기능을 시험하고, 상기 패킷 핸들링 제어보드로부터 외부데이타버스 정합시험을 위하여 선택된 레벨신호가 이낙되면 외부데이타버스정합시험 종류를 선택하고 상기 프레임전송시험을 위하여 선택된 레벨신호가 상기패킷 핸들링제어보드로부터 전송되면, 적어도 1개이상의 상기 패킷 핸들링제어보드중마스터보드를 선택하여 시험을 수행하는 패킷버스 인터페이스 보드; 상기 패킷버스 인터페이스보드와 상기 패킷핸들링제어보드사이에 이중화구조로 접속되어 상기 외부데이타버스 정합기능시험시 상기 패킷버스 인터페이스보드의 선택에 따른통로를 형성하여 시험을 수행하기 위한 패킷버스보드;상기 패킷 핸들링제어보드에 장착되어 시험결과를 디스플레이하기위한 제1모니터;상기 패킷버스 인터페이스보드에 장착되어 시험결과를 디플레이하기 위한 제2모니터를 포함함을 특징으로하는 전전자 교환기의 패킷 통합시험장치.In the packet integrated test apparatus of the electronic switch; At least one packet handling control board for initializing and automatically testing an internal function when power is applied, and selecting a protocol level to perform an external data bus matching test and a frame transmission test; When the power is applied, it initializes and automatically tests the internal function.If the level signal selected for the external data matching test falls from the packet handling control board, the external data matching test type is selected and selected for the frame transmission test. A packet bus interface board for performing a test by selecting a master board from at least one packet handling control board when a level signal is transmitted from the packet handling control board; A packet bus board connected between the packet bus interface board and the packet handling control board in a redundant structure to form a path according to the selection of the packet bus interface board when the external data bus matching function is tested; A first monitor mounted on a handling control board for displaying test results; a second monitor mounted on the packet bus interface board for displaying the test results;
제1항에 있어서, 상기 패킷버스보드의 상기 이중화구조에 대한 시험은 상기 외부데이터버스 정합기능시험시, 상기 패킷 핸들링제어보드에 의해 액티브사이드 체킹에 의하여 이루어짐을 특징으로 하는 전전자 교환기의 패킷 통합시험장치.2. The packet integration of an electronic switching system according to claim 1, wherein the test of the redundant structure of the packet bus board is performed by active side checking by the packet handling control board during the external data bus matching function test. Test equipment.
제1항에 있어서, 상기 패킷 핸들링제어보드는 메뉴방식에 의하여 상기 외부데이타버스 정합기능시험시 프로토콜 레벨1을 선택하고, 상기 프레임전송시험시 프로토콜 레벨2를 선택함을 특징으로하는 전전자 교환기의 패킷 통합시험장치.The apparatus of claim 1, wherein the packet handling control board selects protocol level 1 during the external data bus matching function test and selects protocol level 2 during the frame transmission test by a menu method. Packet integrated test device.
패킷데이타를 처리하기 위하여 적어도 1개이상의 패킷 핸들링제어보드, 패킷버스 인터페이스보드 및 패킷데이터 전송을 위하여 이중화구조로 이루어진 패킷버스보드를 구비한 전전자 교환기의 패킷 통합시험방법에 있어서;전원이 인가되면, 상기 패킷 핸들링 제어보드, 패킷버스 인터페이스보드 및 상기 패킷버스보드를 초기화하는 과정;상기 초기화가 이루어지면, 상기 각 보드들은 자체적으로 내부기능시험을 자동적으로 수행하는 과정;상기 내부기능시험 수행결과,에러가 발생되면 에러내용을 출력하고 시험을 종료하는 과정;상기 내부기능시험 수행결과, 에러가 발생되지 않으면 메뉴입력대기상태로 진행되어 상기 패킷버스보드를 이용한 상기 패킷 핸들링제어보드와 상기 패킷버스 인터페이스보드의 외부데이타버스 정합기능을 시험하는 과정;상기 외부데이타버스 정합기능 시험이 종료되면, 상기 적어도 1개 이상의 패킷 핸들링제어보드간의 프레임전송 시험을 수행하기 위한 과정을 포함함을 특징으로 하는 전전자 교환기의 패킷통합시험방법.A packet integrated test method for an electronic switching system having at least one packet handling control board, a packet bus interface board, and a redundant packet bus board for packet data transmission; Initializing the packet handling control board, the packet bus interface board, and the packet bus board; and when the initialization is performed, each of the boards automatically performs an internal function test; Outputting an error content and ending the test if an error occurs; if an error does not occur, the process proceeds to a menu input standby state and the packet handling control board and the packet bus interface using the packet bus board. Process of testing the external data bus matching function of the board ; When the external data bus matching function test is completed, the packet integration test method of the electronic switch, characterized in that for performing a frame transmission test between the at least one packet handling control board.
제4항에 있어서, 상기 외부데이타버스 정합기능 시험과정은, 상기 패킷버스보드의 이중와구조를 시험하기위하여 상기 패킷버스보드에 대한 액티브상태를 체킹하는 단계; 상기 패킷 핸들링 제어보드에 의하여 프로토콜 레벨을 선택하는 단계;상기 패킷버스 인터페이스 보드에 의하여 버스정합시험 종류를 선택하기 위한 단계;상기 버스정합시험 종류선택단계에서 선택된 종류에 따라 상기 패킷버스보드상의 시험통로를 형성하여 시험을 수행하는 단계;상기 시험수행단계에서 이루어진 시험결과를 디스플레이하기 위한 디스플레이단계를 포함함을 특징으로 하는 전전자 교환기의 패킷 통합시험방법.5. The method of claim 4, wherein the external data bus matching function test process comprises: checking an active state of the packet bus board to test the duplex structure of the packet bus board; Selecting a protocol level by the packet handling control board; selecting a bus matching test type by the packet bus interface board; a test path on the packet bus board according to the type selected in the bus matching test type selection step Forming and performing a test; Packet integrated test method of the electronic switch, characterized in that it comprises a display step for displaying the test results made in the test performing step.
제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 프레임전송시험 수행과정은 상기 패킷 핸들링 제어보드에 의하여 시험수행을 위한 프로토콜 레벨을 선택하는 단계; 상기 패킷버스 인터페이스 보드에 의하여 마스터 패킷 핸들링제어보드가 선택되는 단계;상기 패킷버스보드중 액티브상태로 설정된 패킷버스보드를 통해 상기 마스터 패킷 핸들링제어보드로부터 슬래이브 패킷핸들링제어보드로 상기 프레임신호를 전송하여 시험하는 단계; 및 상기 시험단계에서 수행된 시험결과를 디스플레이하기 위한 단계를 포함함을 특지으로 하는 전전자 교환기의 패키 통합시험방법.6. The method of claim 4 or 5, wherein performing the frame transmission test comprises: selecting a protocol level for performing a test by the packet handling control board; Selecting a master packet handling control board by the packet bus interface board; transmitting the frame signal from the master packet handling control board to the slave packet handling control board through a packet bus board set to an active state among the packet bus boards; Testing by; And a step for displaying a test result performed in the test step.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.