KR960016362A - 자동시험장치에서 부품 에러 자동탐지방법 - Google Patents

자동시험장치에서 부품 에러 자동탐지방법 Download PDF

Info

Publication number
KR960016362A
KR960016362A KR1019940026240A KR19940026240A KR960016362A KR 960016362 A KR960016362 A KR 960016362A KR 1019940026240 A KR1019940026240 A KR 1019940026240A KR 19940026240 A KR19940026240 A KR 19940026240A KR 960016362 A KR960016362 A KR 960016362A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
error
automatic test
detecting
failure
automatically
Prior art date
Application number
KR1019940026240A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100293559B1 (ko
Inventor
조인식
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019940026240A priority Critical patent/KR100293559B1/ko
Publication of KR960016362A publication Critical patent/KR960016362A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100293559B1 publication Critical patent/KR100293559B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/08Indicating faults in circuits or apparatus
    • H04M3/085Fault locating arrangements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/08Indicating faults in circuits or apparatus
    • H04M3/10Providing fault- or trouble-signals
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q1/00Details of selecting apparatus or arrangements
    • H04Q1/18Electrical details
    • H04Q1/20Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
자동시험장치에서 자동시험방법에 관한 것으로, 특히 고장이 발생한 모듈내의 부품들에 대한 에러를 자동으로 탐지하는 방법에 관한 것이다.
2. 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제
고장 예상부품에 대한 고장탐지 및 수리를 위해 고장배제표를 보고 수동계측기로서 고장탐지를 한후 에러시 해당 부품을 교체하여야만 하는 것을 개선한다.
3. 발명의 해결방법의 요지
자동시험한 결과 에러 감지시 진단 대상모듈내의 고장 예상 부품을 표시하고, 고장탐지모드의 선택에 응답하여 고장 예상 부품에 대한 시험 포인트를 표시한후 고장 예상 부품의 정상 유무를 탐지하여 에러 감지시 에러 메세지를 표시함으로써 해당 부품을 교체토록 한다.
4. 발명의 중요한 용도
기능단위로 나뉘어지는 각종 모듈을 자동으로 진단하는 자동시험장치에서 부품 에러 자동으로 탐지하는데 사용한다.

Description

자동시험장치에서 부품 에러 자동탐지방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명이 적용되는 자동시험장치의 블럭구성도,
제2도는 본 발명에 따른 에러 자동탐지의 흐름도.

Claims (3)

  1. 기능단위로 나뉘어지는 각종 모듈을 자동으로 진단하는 자동시험장치에서 부품 에러 자동탐지방법에 있어서, 자동시험모드의 선택에 응답하여 진단 대상모듈의 기능을 순차적으로 동작시키는 과정과, 상기 진단 대상모듈의 동작에 따른 상태신호로부터 정상 유무를 진단하는 과정과, 상기 진단과정에서 에러 감지시 상기 진단 대상모듈내의 고장 예상 부품을 표시하는 과정과, 고장탐지모드의 선택에 응답하여 상기 고장 예상 부품에 대한 시험 포인트를 표시한 후 상기 고정 예상 부품의 정상 유무를 탐지하는 과정과, 상기 고장탐지과정에서 에러 감지시 에러 메세지를 표시하는 과정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 부품 에러 자동탐지방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 고장탐지과정이 상기 고장 예상 부품에 대한 기능을 동작시키는 과정과, 상기 고장 예상 부품의 동작에 따른 상태신호를 미리 설정된 데이타와 비교하여 정상 유무를 탐지하는 과정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 부품 에러 자동탐지방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 메세지표시과정의 상기 에러 메세지가 상기 에러 감지된 부품에 대한 교체를 요구하는 메세지인 것을 특징으로 하는 부품 에러 자동탐지방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940026240A 1994-10-13 1994-10-13 자동시험장치에서부품에러자동탐지방법 KR100293559B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940026240A KR100293559B1 (ko) 1994-10-13 1994-10-13 자동시험장치에서부품에러자동탐지방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940026240A KR100293559B1 (ko) 1994-10-13 1994-10-13 자동시험장치에서부품에러자동탐지방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960016362A true KR960016362A (ko) 1996-05-22
KR100293559B1 KR100293559B1 (ko) 2001-09-17

Family

ID=37527329

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940026240A KR100293559B1 (ko) 1994-10-13 1994-10-13 자동시험장치에서부품에러자동탐지방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100293559B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20190080552A (ko) 2017-12-28 2019-07-08 넥센타이어 주식회사 안정적 안착이 가능한 블래더 몰드

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0619666B2 (ja) * 1983-06-30 1994-03-16 富士通株式会社 故障診断処理方式
KR910010497A (ko) * 1989-11-06 1991-06-29 강진구 전자제품의 이상상태 진단방법
KR930013689A (ko) * 1991-12-24 1993-07-22 경상현 전자부품의 고장율 검출방법
KR940013033A (ko) * 1992-11-03 1994-06-24 백중영 키폰시스템의 자체고장 자동진단 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR100293559B1 (ko) 2001-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910016015A (ko) 조작자에 의해서 실행되는 작동에 의해서 일어나는 상태변화를 감시하기 위한 방법 및 시스템
KR910009009B1 (ko) 전자회로의 고장 진단 방법 및 장치
US5535330A (en) System and method for error location in printed wire assemblies by external power on self test (post) commands
JPH01196519A (ja) ヒータ内の稼動構成部品の試験方法及び装置
KR960016362A (ko) 자동시험장치에서 부품 에러 자동탐지방법
BR9902033A (pt) Assinatura de costura de fotorreceptor.
KR980003610A (ko) 무선장비 자동 시험장치와 그 방법
KR100212194B1 (ko) 휴대폰의 자기진단 방법
JP2000358029A (ja) 自動障害診断ネットワークシステム及びネットワークの自動障害診断方法
CN212301767U (zh) 一种电路板测试装置
CN109783263B (zh) 一种服务器老化测试故障的处理方法和系统
KR970019707A (ko) 디지털 시험치구를 이용한 자동시험장치 및 그 방법
KR970019709A (ko) 전원 시험치구를 이용한 자동 시험장치 및 그 방법
KR0137697B1 (ko) 자동시험장치에서 계측기를 이용한 부품 에러 자동탐지 장치 및 그 방법
KR960019891A (ko) 전력선 반송 보호 계전 시스템에서의 고장 진단 방법 및 장치
KR940022016A (ko) 기기의 고장진단에 따른 운전제어방법
KR970002323A (ko) 어뎁터 교환시 테스트 보드 손상방지 방법
KR970019206A (ko) 무선장비의 시험장치 및 그 방법
CN113900001A (zh) 一种电路板测试装置以及电路板的测试方法
JP3197523B2 (ja) 給湯機器の故障診断システム
KR940013041A (ko) 교환시스템의 자동시험장치 및 방법
JPH03151730A (ja) ネットワーク障害診断方式
JPH0460689A (ja) 情報表示装置
JPH0460688A (ja) 情報表示装置
CN115602347A (zh) 核电厂故障自诊断报警装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20050331

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee