KR960006252A - 차동증폭기 동상모드 이상 정정방법 - Google Patents

차동증폭기 동상모드 이상 정정방법 Download PDF

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비. 카슨 다니엘
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더글라스 지. 맥나이트
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    • H03F3/45479—Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection

Abstract

본 발명에 따라, 차동증폭기 동상모드 이상 정정은, 저-누설-전류측정경로를 갖는 측정회로를 사용하여 차동증폭기의 압력 및 출력을 모두 정확히 측정하고, 동상모드 이득을 연산한다. 두번의 측정이 두개의 다른 동상모드 전압들을 가함으로써 각 노드(node)에서 행해진다. 이 측정들 중의 한 세트에서 나머지 한 세트를 빼면, 전압 오프셋 이상이 소거되고, 이득연산을 위한 동상모드 이상 항이 남는다. 동상모드 이득 요소는 저장되고, 그런 후에, 동상모드 이상은 차동증폭기에 의하여 행해진 측정들로부터 감해진다.

Description

차동증폭기 동상모드 이상 정정방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동상모드 이상 조절회로를 갖는 차동증폭기의 개략적인 다이아그램.

Claims (1)

  1. 차동증폭기에 있어서, 측정회로를 저-누설전류스위치를 통하여 상기 차동증폭기의 입력노드 및 출력노드에 연결하는 단계와, 제1동상모드 입력전압을 상기 차동증폭기에 적용하는 단계와, 상기 측정회로로 상기 입력노드 및 상기 출력노드에서 제1전압 측정값을 측정하는 단계와, 제2동상모드 입력전압을 상기 차동증폭기에 적용하는 단계와, 상기 측정회로로 상기 입력노드 및 상기 출력노드에서 제2전압 측정값을 측정하는 단계와, 상기 제2전압측정값에서 상기 제1전압측정값을 감하여 동상모드 이득 및 이상요소들을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 동상모드 이상 정정방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950001142A 1994-07-01 1995-01-24 차동증폭기 동상모드 이상 정정 방법 KR0138161B1 (ko)

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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4341425B4 (de) * 1993-12-04 2004-05-06 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Bestimmen des durch eine Last in einem Kfz fließenden Stroms
SG68589A1 (en) * 1995-09-27 1999-11-16 At & T Corp Differential amplifier circuit for use in a read channel for a magnetic recording system
US6530088B1 (en) 1996-06-03 2003-03-04 Scientific-Atlanta, Inc. Apparatus for automatic sensing of line amplifier configuration for status monitoring
US5760648A (en) * 1996-08-12 1998-06-02 Motorola, Inc. Electronic circuit for converting a differential signal into a single-ended signal with common mode voltage rejection by resistor network
US6854076B2 (en) * 2001-04-03 2005-02-08 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for calibration of an electronic device
US7477704B1 (en) * 2003-04-16 2009-01-13 Apple Inc. Digital signal detection for high speed signaling systems
DE10335164B4 (de) * 2003-07-30 2007-03-22 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und Verfahren zum parallelen Testen von mehreren integrierten Schaltkreisen
US7548115B1 (en) 2006-09-21 2009-06-16 Linear Technology Corporation Common mode rejection ratio trim circuit and methodology
TWM346801U (en) * 2008-05-09 2008-12-11 Princeton Technology Corp Testing device
JP5163673B2 (ja) * 2010-03-11 2013-03-13 オムロン株式会社 制御回路、この制御回路を備えるパワーコンディショナ、ならびに太陽光発電システム
US11073544B2 (en) * 2019-05-23 2021-07-27 Advanced Energy Industries, Inc. System and method to measure and adjust a charge of a workpiece
CN114236221B (zh) * 2021-10-13 2023-09-26 北京华峰测控技术股份有限公司 差分电压测量电路、装置及方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3581198A (en) * 1969-01-08 1971-05-25 Signetics Corp Testing apparatus for electrical device where a stimulus is varied between two states
FR2557400B1 (fr) * 1983-12-21 1990-05-04 Facom Montage amplificateur differentiel a courant continu, notamment pour la mesure de faibles tensions variant lentement
US4825148A (en) * 1987-12-18 1989-04-25 Trw Inc. Resistance measurement circuit and method

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DE69511183D1 (de) 1999-09-09
EP0690565A1 (en) 1996-01-03
EP0690565B1 (en) 1999-08-04

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