KR960000927B1 - High density bipolar 3 code - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 본 발명의 전체적인 블럭도 이다.1 is an overall block diagram of the present invention.
제2도의 (a)는 제1도의 클럭발생부(10)의 상세회로도 이다.FIG. 2A is a detailed circuit diagram of the clock generator 10 of FIG.
(b)는 제1도의 의사신호발생부(20)의 상세회로도 이다.(b) is a detailed circuit diagram of the pseudo signal generator 20 of FIG.
(c)는 제1도의 오류신호발생부(30)의 상세회로도 이다.(c) is a detailed circuit diagram of the error signal generator 30 of FIG.
(d)는 제1도의 오류율선택 및 표시부(40)의 상세한 회로도 이다.(d) is a detailed circuit diagram of the error rate selection and display unit 40 of FIG.
(e)는 제1도의 오류신호 삽입여부 선택부(50)의 상세한 회로도 이다.(e) is a detailed circuit diagram of the error signal insertion selector 50 of FIG.
(f)는 제1도의 코드변환부(60)의 상세한 회로도 이다.(f) is a detailed circuit diagram of the code conversion unit 60 of FIG.
(g)는 제1도의 출력부(70)의 상세한 회로도 이다.(g) is a detailed circuit diagram of the output unit 70 of FIG.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
10 : 클럭발생부 20 : 의사신호발생부10: clock generator 20: pseudo signal generator
30 : 오류신호발생부 40 : 오류율선택 및 표시부30: error signal generator 40: error rate selection and display unit
50 : 오류신호 삽입여부 선택부 60 : HDB3 부호화부50: Error signal insertion selector 60: HDB3 encoder
70 : 출력부 11 : 멀티바이브레이터70: output unit 11: multivibrator
12, 13 : D플립플롭 21, 23 : XOR게이트12, 13: D flip-flop 21, 23: XOR gate
22 : 오아게이트 24, 25 : 카운터22: Oagate 24, 25: counter
31-36 : 카운터 37-42 : D플립플롭31-36: Counter 37-42: D flip flop
43-49 : 낸드게이트 50-55 : 앤드게이트43-49: NANDGATE 50-55: ANDGATE
401 : 셀렉터 SW2 : 스위치401: selector SW2: switch
LED1-LED3 : 발광다이오드 501 : 멀티바이브레이터LED1-LED3: Light Emitting Diode 501: Multivibrator
502 : D플립플롭 503 : 앤드게이트502: D flip-flop 503: end gate
505, 506 : 낸드게이트 504, 508 : 반전게이트505, 506: NAND gate 504, 508: inverted gate
507 : 오아게이트 60 : HDB3 코드변환기507: Oagate 60: HDB3 Code Converter
71, 72 : XOR게이트 73, 74 : D플립플롭71, 72: XOR gate 73, 74: D flip flop
75 : 트랜스미터 C1-C7 : 콘덴서75 Transmitter C1-C7 Capacitor
VR1 : 가변저항 X1 : 크리스탈VR1: Variable resistance X1: Crystal
L1 : 인덕터 R1-R5 : 저항L1: Inductor R1-R5: Resistance
본 발명은 하이-덴시티-바이폴라 3(HIGH DENSITY BIPOLAR 3, 이하 HDB3라 함)코드를 이용하는 통신송수신장치에 있어서, 입력신호 수신단에서 수신단의 수신성능을 측정하기 위하여 계측기를 사용하지 않고 HDB3코드에 오류를 삽입할 수 있도록 한 HDB3코드 오류발생기에 관한 것이다.The present invention provides a communication transmitter and receiver using a high density bipolar 3 (HDB3) code, in which an input signal receiver does not use a measuring instrument to measure the reception performance of the receiver. It's about an HDB3 code error generator that allows you to insert errors.
HDB3코드란, 'HIGH DENSITY BIPOLAR 3'의 약어로서 어떤 데이타에서 '0'이 4개 이상 연속적으로 나오면 일정한 규칙에 의하여 '1'을 삽입하여서 발생된 코드로써 주로 유럽방식의 통신장치 즉, 단국장치, 중계장치, 다중화 장치등에서 사용된다.HDB3 code is an abbreviation of 'HIGH DENSITY BIPOLAR 3'. It is a code generated by inserting '1' according to a certain rule when more than four '0's appear in a certain data. Used in relays, multiplexers, etc.
따라서, 상기와 같은 유럽방식의 통신장비를 이용하여 설치된 통신선로는 송수신 선로의 이상유무를 체크하기 위하여 송신측에서 HDB3 오류코드를 발생시킨 후 상기 오류코드가 수신단에서 수신되는 상황을 판단하여 송수신 선로의 이상유무를 판단하게 되는데, 이때 종래에는 복잡한 계측기등을 이용하여 오류코드를 발생시켰으나, 계측장비 자체가 상당히 고가이고, 사용방식면에서도 상당히 복잡하여 사용자를 무척 번거롭게 하는 문제점이 있었다.Therefore, the communication line installed by using the European-type communication equipment as described above generates an HDB3 error code at the transmitting side in order to check whether there is an abnormality in the transmission / reception line, and then determines the situation where the error code is received at the receiving end. In this case, conventionally, an error code is generated by using a complicated measuring instrument, but the measuring equipment itself is quite expensive, and there is a problem in that it is very complicated in terms of usage.
이에 본 발명의 목적은 상기와 같은 제반적인 문제점을 감안하여 다수개의 IC소자 및 전자부품을 사용한 HDB3코드 오류발생기를 설계 및 구성하므로써 고가의 계측장비를 국산화시키고 손쉽게 사용할 수 있는 HDB3코드 오류발생기를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to design and configure an HDB3 code error generator using a plurality of IC devices and electronic components in view of the above-described problems, and to provide an HDB3 code error generator that can easily localize expensive measurement equipment and use it. Is in.
이하 본 발명을 첨부된 도면을 참고로 하여 좀 더 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
제1도는 본 발명의 HDB3코드 오류발생기의 개략적인 블럭도로써, HDB3코드 오류발생기에 필요한 표준클럭(2048kbps+50ppm)을 발생하는 클럭발생부(10)와, 상기 클럭발생부(10)로부터의 클럭신호를 입력으로 하여 오류를 발생하는데 필요한 기준 데이타로 사용될 임의 신호를 발생하는 의사(PSEUDO)신호발생부(20)와, 상기 클럭발생부(10)로부터의 클럭신호를 입력으로 하여 10의 임의 (10e-1-10e-6)로 분주하여 상부 의사신호발생부(20)로부터 출력된 임의 데이타에 대비 임의 배율의 오류신호를 발생하는 오류신호발생부(30)와, 상기 오류신호발생부(30)에서 발생된 임의 율의 오류신호중에서 오류를 선택하고 상기 선택된 오류율을 발광다이오드(LED1-LED3)를 이용하여 외부에 알리는 오류율선택 및 표시부(40)와, 상기 오류율선택 및 표시부(40)에서 결정된 오류율의 오류신호를 삽입할 것인가를 결정하게 되는 오류신호 삽입여부 선택부(50)와, 상기 의사신호발생부(20)로부터 출력되는 임의 신호를 HDB3코드로 변환하는 코드변환부(60)와, 상기 코드화된 임의 데이타에 오류신호를 실어 단극성의 HDB3코드를 양극성 데이타로 변환하여 송신라인에 출력하는 출력부(70)로 구성된다.1 is a schematic block diagram of the HDB3 code error generator of the present invention, which includes a clock generator 10 for generating a standard clock (2048 kbps + 50 ppm) required for the HDB3 code error generator, and the clock generator 10 from the clock generator 10. FIG. A pseudo (PSEUDO) signal generator 20 for generating an arbitrary signal to be used as reference data necessary for generating an error by inputting a clock signal, and a clock signal from the clock generator 10 as an input. An error signal generator 30 for generating an error signal having an arbitrary magnification with respect to the arbitrary data output from the upper pseudo signal generator 20, divided by 10e-1-10e-6, and the error signal generator ( An error rate selection and display unit 40 which selects an error from an error signal having an arbitrary rate generated in 30) and informs the selected error rate to the outside using the light emitting diodes LED1-LED3, and in the error rate selection and display unit 40 Error signal of determined error rate An error signal insertion selector 50 for determining whether to insert a?, A code converter 60 for converting an arbitrary signal output from the pseudo signal generator 20 into an HDB3 code, and the coded random And an output unit 70 which carries an error signal to the data, converts the unipolar HDB3 code into bipolar data, and outputs it to the transmission line.
상기와 같이 구성된 본 발명의 각부에 대한 상세한 회로도가 제2도의 (a) 내지 (b)에서 보여지며, 이하에서 본 발명의 작용 및 효과를 좀 더 상세히 설명한다.A detailed circuit diagram of each part of the present invention configured as described above is shown in (a) to (b) of FIG. 2, and the operation and effect of the present invention will be described in more detail below.
제2도의 (a)는 본 발명에 있어서의 클럭발생부(10)의 상세한 회로도로써, 8.19MHz의 크리스탈(X1)에 의해 안정된 발진신호를 출력하는 전압 제어 멀티바이브레이터(11)와, 상기 멀티바이브레이터(11)에서 발진된 신호를 본 발명의 각부에 필요한 2.048Mbps의 디지탈 클럭으로 분주하는 D플립플롭(12, 13)으로 구성되며, 그 동작은 상기 크리스탈(X1)로부터 발진되어 상기 멀티바이브레이터(11)로부터 출력된 8.192Mbps의 디지탈 클럭은 D플립플롭(12)에 의해 1/2분주되어 4.096Mbps의 클럭이 출력되고 상기 출력된 4.096Mbps의 클럭은 D플립플롭(13)에 의해 다시한번 1/2로 분주되어 본 발명의 각부에서 요구되는 2.048Mbps의 클럭이 형성된다.FIG. 2A is a detailed circuit diagram of the clock generation section 10 according to the present invention. The voltage controlled multivibrator 11 outputs a stable oscillation signal by a crystal X1 of 8.19 MHz, and the multivibrator. And the D flip-flops 12 and 13 for dividing the signal oscillated in (11) into a 2.048 Mbps digital clock required for each part of the present invention. The operation is oscillated from the crystal (X1) and the multivibrator (11). The digital clock of 8.192 Mbps outputted from) is divided by 1/2 by the D flip-flop 12 to output a clock of 4.096 Mbps, and the output clock of 4.096 Mbps is again 1 / d by the D flip-flop 13. Divided by 2, a clock of 2.048 Mbps required by each part of the present invention is formed.
제2도의 (b)는 본 발명에 있어서의 의사신호 발생부(20)의 상세한 회로도로써, 임의 데이타 발생의 시작을 형성하기 위한 게이트(21, 22, 23)와 상기 발생된 신호를 제2도의 (a)에 의해 발생된 디지탈 클럭에 동기하여 쉬프트(SHIFT)하고 피드백(FEEDBACK)하여 임의 데이타를 출력하는 쉬프트 레지스터(24, 25)로 구성되며, 그 동작은 상기 2M의 클럭이 상기 쉬프트 레지스터(24, 25)의 클럭단자(CLK)로 입력되어 쉬프트 레지스터(24)에서 8bit 쉬프트되고, 쉬프트 레지스터(25)의 입력단자(A, B)로 동시에 입력되어 다시 쉬프트되어 상기 쉬프트 레지스터(25)의 출력단자(01, 02)에 연결된 XOR게이트(23) 및 오아게이트(22)로 각각 (8+6)bit 및 (8+7)bit가 쉬프트된 신호가 피드백되며, 상기 쉬프트된 신호는 일측이 공급전원(+5V)에 연결된 저항(R2) 및 콘덴서(C4)가 연결된 XOR게이트(21)로부터의 출력과 논리형성되어 상기 쉬프트 레지스터(24)의 입력단자(C, D)로 다시 입력됨과 동시에 출력하므로써 임의 데이타가 발생된다.FIG. 2B is a detailed circuit diagram of the pseudo signal generator 20 according to the present invention. The gate 21, 22, 23 for forming the start of arbitrary data generation and the generated signal are shown in FIG. It consists of shift registers 24 and 25 for shifting and feeding back feedback in synchronization with the digital clock generated by (a) and outputting arbitrary data. 24 and 25 are inputted to the clock terminal CLK and shifted 8 bits in the shift register 24, and are simultaneously inputted to the input terminals A and B of the shift register 25 and shifted again. A signal shifted by (8 + 6) bits and (8 + 7) bits is fed back to the XOR gate 23 and the oragate 22 connected to the output terminals 01 and 02, respectively. From the XOR gate 21 to which the resistor R2 and capacitor C4 connected to the supply voltage (+ 5V) Logic is formed with the output of and is inputted back to the input terminals C and D of the shift register 24 and output at the same time to generate random data.
제2도의 (c)는 본 발명에 있어서의 오류신호 발생부(30)의 상세한 회로도로써, 클럭발생부(10)로부터 출력되는 2.048Mbps의 디지탈 클럭을 카운트하는 카운터(31-36)와, 상기 각 카운터(31-36)로부터의 출력을 일단 래치한 후 출력하는 D플립플롭(37-42) 및 앤드게이트(50-55)와 낸드게이트(43-49)로 구성되며, 그 동작은 다음과 같다.FIG. 2C is a detailed circuit diagram of the error signal generator 30 in the present invention, and includes counters 31-36 for counting a 2.048 Mbps digital clock output from the clock generator 10. It consists of a D flip-flop 37-42 and an AND gate 50-55 and a NAND gate 43-49 that latch and output the output from each counter 31-36 once. same.
즉 상기 클럭발생부(10)로부터 발생된 2.048Mbps의 기준클럭이 카운터(31)의 클럭입력단자(CK)에 인가되며 상기 카운터(31)는 클럭을 다지탈 1000까지 카운트한다.That is, the 2.048 Mbps reference clock generated from the clock generator 10 is applied to the clock input terminal CK of the counter 31, and the counter 31 counts the clock to digital 1000.
마침내 카운트가 1001이 되면 출력단자(A, B)가 하이가 되고 하이신호는 상기 출력단자(A, B)에 연결된 앤드게이트(51) 및 낸드게이트(44)에 인가된다.Finally, when the count reaches 1001, the output terminals A and B become high and the high signal is applied to the AND gate 51 and the NAND gate 44 connected to the output terminals A and B.
상기 앤드게이트(51)의 출력은 그 다음단의 카운터(32)의 클럭단자(CK)에 하나의 클럭으로 인가되고 낸드게이트(44)의 출력은 다시 자신의 클리어단자(CLR)에 인가되어 자신의 카운트 초기값을 클리어함과 동시에 D플립플롭(37)의 클럭단자(CLK)에 신호를 인가한다.The output of the AND gate 51 is applied to the clock terminal CK of the next counter 32 as one clock, and the output of the NAND gate 44 is applied to its clear terminal CLR again. A signal is applied to the clock terminal CLK of the D flip-flop 37 at the same time as clearing the count initial value of.
상기와 같이 하여 상기 D플립플롭(37)은 첫번째 카운터(31)에 의해 1/10 분주된 출력을 랫치하여 출력할 수 있게 되며 그 다음단의 카운터(32)로는 클럭이 인가되어 1/10 분주되어 인가된 출력이 재차 분주되고 출력되어질 수 있도록 한다.As described above, the D flip-flop 37 can output by dividing the output divided by 1/10 by the first counter 31, and the clock is applied to the counter 32 of the next stage to divide 1/10. The applied output can then be divided and output again.
따라서, 각각의 D플립플롭(37-42)의 출력에 의해 10e-1부터 10e-6까지의 배율로 분주된 클럭이 형성되며, 상기 분주된 데이타의 오류율을 결정하게 되고, 상기 분주된 클럭이 상기 오류율의 데이타를 형성하는 기초로 작용하게 된다.Therefore, the divided clocks are formed at the magnification of 10e-1 to 10e-6 by the output of each D flip-flop 37-42, and the error rate of the divided data is determined. It serves as a basis for forming the data of the error rate.
제2도의 (d)는 본 발명에 있어서의 오류율 선택 및 표시부(40)의 상세한 회로도로써, 오류율을 선택하기 위하여 세트되어지는 스위치(SW2)와, 상기 스위치(SW2)에 의해 선택된 오류율을 표기하기 위한 발광다이오우드(LED1-LED2)로 구성되며, 그 작용은 다음과 같다.FIG. 2D is a detailed circuit diagram of the error rate selection and display unit 40 according to the present invention, in which a switch SW2 set for selecting an error rate and an error rate selected by the switch SW2 are indicated. It consists of a light emitting diode (LED1-LED2), the function is as follows.
즉 사용자는 오류율 선택스위치(SW4)를 3bit의 2진값으로 하여 선택하여 세트하고, 상기 세트된 값은 상기 데이타 셀렉터(401)에 의해 해독되어 입력단에 연결되어 있는 10e-1에서부터 10e-6까지의 오류율 중에서 하나의 출력을 선택하여 출력하게 된다.That is, the user selects and sets the error rate selector switch SW4 as a binary value of 3 bits, and the set value is decoded by the data selector 401 to be connected to the input terminal of 10e-1 to 10e-6. One output is selected from the error rate.
이때 스위칭에 의해 오류율이 선택되면 상기 스위치(SW4)에 직렬 연결되어 접지된 발광다이오우드(LED1-LED3)도 온되어 스위칭된 상태를 사용자에게 알려주게 된다.In this case, when the error rate is selected by switching, the light emitting diodes LED1 to LED3 connected in series with the switch SW4 are also turned on to inform the user of the switched state.
제2도의 (e)는 본 발명에 있어서의 오류신호 삽입여부 선택부(50)로써, 상기 오류율선택 및 표시부(40)에 의해 선택된 임의률로 분주되어 출력된 클럭신호를 일정시간 지연시켜 출력하는 멀티바이브레이터(501)와 상기 클럭발생부(10)로부터의 2M의 디지탈 클럭을 1/2 분주하는 카운터(502)와, 오류삽입여부를 결정하는 스위치(SW1) 및 낸드게이트(505, 506)와, 상기 스위치(SW1)에 의해 오류삽입여부가 결정되었을때 상기 1/2 분주된 신호에 의해 지연된 데이타가 출력될 수 있는 논리를 형성하는 앤드게이트(503), 반전게이트(504, 508), 오아게이트(507)로 구성되며, 그 작용은 다음과 같다.FIG. 2E shows an error signal insertion selector 50 according to the present invention, which outputs a delayed clock signal which is divided at an arbitrary rate selected by the error rate selection and display unit 40 for a predetermined time. A counter 502 for dividing the digital clock of 2M from the multivibrator 501 and the clock generator 10 by 1/2, a switch SW1 and a NAND gate 505, 506 for determining whether an error is inserted; And an AND gate 503, inverting gates 504 and 508, which form a logic to output data delayed by the 1/2 divided signal when an error insertion is determined by the switch SW1. It consists of a gate 507, the function of which is as follows.
상기 오류율선택 및 표시부(40)에 의해 선택되어 출력된 임의 분주된 클럭은 멀티바이브레이터(501)에 입력되어 상기 멀티바이브레이터(501)에 연결된 저항(R5) 및 콘덴서(C5)에 의해 결정된 시정수만큼 지연되어 출력된다.The randomly divided clocks selected and output by the error rate selection and display unit 40 are inputted to the multivibrator 501 by a time constant determined by the resistor R5 and the capacitor C5 connected to the multivibrator 501. The output is delayed.
동시에 D플립플롭(502)에 2M 기준클럭이 인가되어 1/2 분주되어 출력되며, 상기 1/2 분주된 기준클럭과 상기 멀티바이브레이터(501)에 의해 지연되어 출력된 임의 분주된 오류율의 클럭신호가 앤드게이트(503)에서 앤딩되어 출력된 임의 분주된 오류율의 클럭신호가 실질적인 오류율의 오류신호로 작용하게 된다.At the same time, a 2M reference clock is applied to the D flip-flop 502 and divided into 1/2 outputs. The clock signal of any divided error rate is delayed and output by the 1/2 divided reference clock and the multivibrator 501. The clock signal of any divided error rate ended and output from the AND gate 503 serves as an error signal of the actual error rate.
이때 스위치(SW1)가 1번 상태이면 정상 데이타 출력상태이고, 3번 상태이면 상기 오류데이타가 삽입된다.At this time, when the switch SW1 is in the first state, the normal data output state is entered, and in the third state, the error data is inserted.
제2도의 (f)는 본 발명에 있어서의 코드변환부(60)의 상세한 회로도로써, HDB3 코드변환기(60)을 이용하여 구성되며, 상기 코드변환기(60)는 트랜스 코더로써, 기준클럭이 단자(CTX)로 인가되고, 임의 데이타가 단자(NRZ-IN)로 입력되면, HDB3 코드화하여 출력단자(HDB3 OUT+, HDB OUT-)로 출력된다.FIG. 2 (f) is a detailed circuit diagram of the code conversion unit 60 in the present invention, which is configured by using an HDB3 code converter 60. The code converter 60 is a transcoder, and the reference clock is a terminal. When supplied to (CTX) and arbitrary data is input to the terminal NRZ-IN, HDB3 is coded and output to the output terminals HDB3 OUT + and HDB OUT-.
제2도의 (g)는 본 발명에 있어서의 출력부(70)의 상세한 회로도로써, 오류신호 삽입여부 선택부(50)의 스위치(SW1)에 의해 오류신호 삽입결정시 코드변환된 임의 데이타 신호에 오류신호를 삽입하는 익스클루시브 오아(XOR)게이트(71, 72)와 상기 XOR게이트(71, 72)로부터 출력된 오류 데이타를 일단 래치한 후 출력하는 D플립플롭(73, 74)와, 상기 출력된 유니폴라 데이타를 바이폴라 데이타로 변환하여 출력하는 트랜스미터(75)로 구성되며, 그 작용은 다음과 같다.FIG. 2 (g) is a detailed circuit diagram of the output unit 70 according to the present invention, in which an arbitrary data signal coded at the time of the error signal insertion determination by the switch SW1 of the error signal insertion selection unit 50 is determined. Exclusive OR gates 71 and 72 for inserting an error signal and D flip-flops 73 and 74 for latching and outputting error data output from the XOR gates 71 and 72 once; Transmitter 75 converts the output unipolar data into bipolar data and outputs the same.
즉, 코드화된 HDB3 DATA+ 및 DATA+와 오류비트 삽입여부 선택부(50)에서 발생되어 출력된 오류신호가 XOR게이트(71, 72)에 입력되고, 상기 XOR게이트(71, 72)는 상기 오류비트 삽입여부 선택부(50)의 스위치(SW1)에 의해 오류삽입시 오류신호가 삽입된 신호를 출력하게 된다.That is, an error signal generated and output from the coded HDB3 DATA + and DATA + and the error bit insertion selector 50 is input to the XOR gates 71 and 72, and the XOR gates 71 and 72 insert the error bit. The switch SW1 of the selector 50 outputs a signal into which an error signal is inserted when an error is inserted.
상기 오류가 삽입된 HDB3 DATA+ 및 HDB3 DATA-신호는 각각의 D플립플롭(73, 74)를 통해 트랜스미터(75)에 입력되며, 상기 트랜스미터(75)는 입력된 유니폴라 데이타 신호를 바이폴라 데이타로 변환하여 출력단자(TX-OUT)를 통해 출력하므로써 HDB3 오류코드의 발생이 완성되게 된다.The error-inserted HDB3 DATA + and HDB3 DATA-signals are input to the transmitter 75 through respective D flip-flops 73 and 74, and the transmitter 75 converts the input unipolar data signal into bipolar data. By outputting through the output terminal (TX-OUT), generation of the HDB3 error code is completed.
이상에서 설명한 바와같이 본 발명의 코드오류발생기는 다수개의 소자 및 전자부품을 사용하여 설계 및 구성하므로써 고가의 계측장비를 국산화시키고, 누구라도 손쉽게 사용할 수 있게 하는 효과가 있다.As described above, the code error generator of the present invention has the effect of localizing expensive measurement equipment by designing and configuring a plurality of devices and electronic components and making it easy for anyone to use.
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KR1019920025593A KR960000927B1 (en) | 1992-12-26 | 1992-12-26 | High density bipolar 3 code |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR960000927B1 (en) |
-
1992
- 1992-12-26 KR KR1019920025593A patent/KR960000927B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR940017275A (en) | 1994-07-26 |
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