KR960000100B1 - 용량형 재료 레벨 표시기 - Google Patents

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KR960000100B1 KR1019880010315A KR880010315A KR960000100B1 KR 960000100 B1 KR960000100 B1 KR 960000100B1 KR 1019880010315 A KR1019880010315 A KR 1019880010315A KR 880010315 A KR880010315 A KR 880010315A KR 960000100 B1 KR960000100 B1 KR 960000100B1
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에프. 마쉬 노르만
알. 셔트 존
더블유. 캠벨 브루스
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바인디케이터 컴파니
에프. 마쉬 노르만
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Abstract

내용 없음.

Description

용량형 재료 레벨 표시기
제1도 본 발명에 따른 용량형 재료 레벨 표시 시스템의 바람직한 시스템의 기능블록도.
제2도는 제1도에 블록형태로 표시된 시스템의 일부의 부분 전기 개략도.
제3도는 하우징 덮개를 제거한 본 발명의 일실시예의 평면도.
제4도는 제3도의 선 4-4을 따라 취한, 하우징 베이스에 부착된 하우징 덮개를 나타내는 제3도 장치의 단면도.
제5도는 제3도의 선 5-5을 따라 취한 부분적 단면도.
제6도는 본 발명의 제2실시예를 따른 장치의 부분적 단면도.
제7도는 제1도 내지 제4도에 표시된 장치의 선택적 초기설정 시험용 장치의 평면도.
제8도는 및 제9도는 본 발명의 각각 변형 실시예에 따른 교정작동장치의 부분적 개략 표시도.
제10도는 제1도 시스템에 대한 변형을 나타낸 부분적 기능 블럭도.
본 발명은 저장 용기등의 재료 레벨 표시용 표시 시스템, 특히 재료의 레벨을 재료 용량의 함수로서 표시하기 위한 기술되는 특징의 개량된 시스템에 관한 것이다.
저장용기내의 재료의 레벨을 감지하기 위한 용량형 검출 기술의 이용이 널리 제안되어 왔으며 당분야에 상당히 잘 이해되어 있다.
일반적으로 이 분야의 교정(Calibration)은 숙련 또는 반숙련 공의 노력을 필요로 하는 시간을 소비하고 힘든 프로세스 이었다.
당분야에는 숙련공에 의한 조정을 요하지 않는 자동 요구 교정을 용이하게 구체화한 시스템의 필요가 있어왔다.
미합중국 특허 제4,499,766호는 용기의 재료의 레벨을 재료 용량의 함수로서 표시하기 위한 시스템 및 프로우브를 밝히고 있다.
이 발표된 시스템은 용기내 배치가 적합한 용량형 프로우브를 갖춘 공진회로를 포함하여 재료 레벨의 함수로서 용량 변화에 응답한다. 레벨검출회로는 위상검출기의 출력과 소정재료 레벨을 나타내는 기준 신호에 응답하여 기준신호와 프로우브의 용량 상이의 차(差)의 함수로서 재료 레벨을 표시한다. 이 출원에 발표된 바람직한 실시예에서 푸시버튼 자동 교정 회로는 병렬공진회로의 공진 특성을 조정하거나 또는 소정 기준 재료 레벨을 나타내는 기준 신호를 조정한다.
미합중국 특허 제4,624,139호는 일 브리지 팔에 용량형 재료 레벨 프로우브를 갖는 브리지 회로를 포함한 재료 레벨 표시 시스템을 발표하였다. 인접 브리지팔은 브리지회로에 선택적인 접속용 피제어 전자 스위치에 연결되는 다수의 고정 콘덴서를 포함하고 있다. 브리지회로는 발진기에 의해 구동되며 차동 증폭기가 브리지 회로의 양단에 접속되어 브리지의 평형 상태를 검출한다. 푸시버튼 자동 교정회로는 전자 스위치에 출력이 접속되는 디지탈 카운터를 포함한다.
비교기는 차동 증폭기에 응답하여 미리 선택된 기준 재료 레벨에 대응하는 미리 선택된 평형 상태가 얻어질 때까지 브리지 회로에 고정 콘덴서를 선택적으로 접속시키기 위해 교정동작모드동안 계수기 동작을 구동시킨다. 그후 차동 증폭기는 기준레벨로부터의 프로우브 용량의 변화에 응답하여 재료 레벨을 표시한다.
앞에서 논의된 자동 교정 기술은 재료 레벨 제어시장에서 거의 상업적인 수용 및 성공을 얻어왔다. 제어전자장치는 측정 프로우브 일체로 돌출하는 하우징내에 설치된다.
이 어셈블리는 재료 용기벽에 제거 가능하게 설치되도록 구성되며 이 전자장치는 원격 레벨 표시회로에 대한 접속용 장치를 포함한다. 그러나 방폭 하우징을 요하는 응용에 있어서 이러한 기술은 교정 푸시버튼이 하우징상에 설치되지 않는 단점이 있다. 따라서 자동 교정은 교정 스위치를 작동시키기 위하여 하우징 덮개를 제거하는 것을 요한다. 다른 잠재적인 문제점은 용기가 비어있을때 오퍼레이터가 교정동작을 부적절하게 시작하여 레벨표시회로가 부적절하게 교정되는 점에 있다.
본 발명의 일반적 목적은 하우징 덮개의 제거를 요하지 않고 하우징의 방폭 보전을 유지하는 상기한 특징의 레벨 표시 시스템에서 교정동작을 개시시키기 위한 설비를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 용기내의 재료가 교정 목적용의 적정레벨이 아닐때 교정동작의 개시가 금지되는 시스템을 제공하는 것이다.
본 발명에 따른 용기내의 재료 레벨을 재료 용량의 함수로서 표시하기 위한 시스템은 용기에 결합되도록 적합한 프로우브를 포함하여 재료 레벨의 함수로서 용기 용량의 변화에 응답한다. 프로우브에는 전자회로가 연결되며 이 회로의 동작 특성은 프로우브의 용량의 함수로서 변한다. 교정 설비는 교정동작 개시용 스위치, 회로에 연결되어 상기 교정동작동안 회로의 동작 특성을 자동적으로 변하기 위한 수단 및 용기의 소정재료 레벨상태에 대응하여 상기 회로에 응답하여 소정 특성이 얻어질때 교정동작을 종료하는 수단을 포함한다.
검출기는 성기 용기내의 재료 레벨을 표시하기 위해 이러한 소정 동작특성으로부터 프로우브를 포함하는 회로의 동작 특성의 변화에 응답한다. 밀폐 하우징은 교정설비 및 검출기를 포함한 모든 회로를 내장 한다.
교정 개시 스위치는 하우징내에 위치되며 자동변화수단에 결합된 플럭스 응답 스위치와 밀폐된 하우징을 열지 않고 플럭스 응답 스위치의 도통 상태를 선택적으로 변화시키기 위하여 하우징 벽을 통해 닫힌 하우징의 외부로부터 플럭스 응답 스위치에 대한 플럭스 에너지를 선택적으로 조작기 위한 수단으로 구성된다.
본 발명의 바람직한 실시예에서, 플럭스 응답 스위치는 자기(magnetic)스위치, 특히 리드(reed)스위치로 구성된다. 하우징의 외부에 자석이 선택적으로 위치되어 스위치를 닫아 교정동작을 개시시킨다. 이 자석은 스프링에 의해 하우징에 설치되거나 또는 허용된 오퍼레이터에 의해 이동될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 있어서 플럭스 응답 스위치는 하우징 벽을 통한 광비임에 응답하는 선택적인 스위치로 구성된다. 이 광 비임은 우연한 또는 승인되지 않은 사용을 방지하기 위해 코우팅 된다.
본 발명의 부가적인 목적, 특징 및 이점과 함께 본 발명은 다음 설명, 첨부된 청구범위 및 첨부도면으로부터 잘 이해될 것이다.
제1도는 본 발명에 따른 재료 레벨표시 시스템의 바람직한 실시예(11)를 나타내며, 위상 시프트(90도)증폭기(12)에 제1출력에서 주기신호를 공급하는 발진기(10)로 구성된다. 증폭기(12)의 사인파 출력은 조정 가능한 병렬 LC 공진회로(14)에 접속된다. 공진회로(14)는 저장용기(22)의 측면벽에 설치된 프로우브 어셈블리(20)(제1도)의 프로우브 콘덕터(18)에 접속된다. 증폭기(12)의 출력은 또한 저출력 임피던스를 갖는 단위 이득 증폭기(24)를 통하여 프로우브 어셈블리(20)의 보호시일드(26)에 접속된다. 고체재료 또는 액체 저장 탱크용 저장통일 수 있는 용기(22)의 벽은 접지된다. 당분야에 잘 알려진 바와 같이 프로우브 콘덕터(18)와 용기(22)의 접지된 벽 사이의 용량은 그내에 저장된 재료(28)의 레벨 및 재료의 유전상수에 따라 변한다. 용량의 변화는 설명되는 나머지 전자 시스템에 의해 감지되어 소망하는 재료 레벨의 표시를 제공한다.
증폭기(24)에 의해 프로우브 콘덕터(18)와 거의 동일한 전압과 위상으로 구동되는 보호 시일드(26)는 프로우브벽 위에 코팅된 재료를 통해 프로우브 에너지의 누설을 방지하여 프로우브 방사를 바깥쪽에서 용기안으로 향하도록 하여 그내에 저장된 재료의 레벨에 좀더 가깝게 응답하도록 작동한다. 증폭기(12)의 사인파 출력은 재로-교차 검출기(30)를 통하여 위상 검출기(32)의 일 입력에 공급된다.
위상 검출기(32)는 발진기(10)의 제2출력으로부터 구형파 제2입력을 수신하며 이는 증폭기(12)로 향하는 발진기 출력과 180도 위상차를 갖는다.
위상 증폭기(32)의 제1출력은 각 입력 사이에 위상관계에 비례한 레벨의 d.c. 신호이며 프로우브 용량의 변화에 따라 발진기 프로우브 구동출력의 위상각의 변화에 응답하며 이는 자동 교정회로(34)에 공급된다.
위상 검출기(32)의 제2출력은 또한 입력 위상 관계를 나타내는 d.c. 신호이며 이는 드레시홀드 검출기(36)의 일 입력에 공급된다.
위상 검출기(32)의 출력은 동일하나 상호간에 효과적으로 분리된다.
자동교정회로(34)는 조정 가능한 LC 공진회로(14)에 제어입력을 공급하며, LC 공진회로(14)는 발진기(10)로부터 조정 목적용 제2입력을 수신한다. 자동교정회로(34)는 또한 드레시홀드 검출기(36)에 기준 입력을 제공한다.
드레시 홀드 검출기(36)의 출력은 재료 레벨 표시회로(38)을 통하여 소망하는 바의 용기 재료 레벨을 제어 및/또는 표시하기 위한 외부 회로에 공급된다.
일반적으로 자동교정회로(34)는 오퍼레이터 푸시버튼(40)으로 개시되는 교정모드동작동안 공진회로(14)의 공진특성을 조정하여, 자동 교정모드동안 존재하는 용기(22)내의 미리 선택된 재료 상태를 나타내는 기준용량 레벨을 사실상 설정한다.
바람직하게는 용기(22)의 재료 레벨은 우선 프로우브 어셈블리(20)의 레벨로(표시되지 않은 수단에 의해) 상승되고, 그후 하강되어 프로우브 어셈블리와 공간이 형성되도록 한다.
만약 재료(28)가 프로우브 어셈블리를 코팅하는 종류일때 이런 코팅은 프로우브 위에 남게되며 다음번 교정동작동안 고려될 것이다.
재료 레벨이 하강될 경우 오퍼레이터는 푸시버턴(40)을 눌러서 자동 교정동작모드를 개시시킨다.
회로(14)의 공진 특성은 그후 교정회로(34)에 의해 미리 선택되거나 또는 미리 프로그램된 방식으로 공진회로(14)와 용량 프로우브(18)의 병렬 결합으로부터의 귀환신호가 위상검출기(32)의 발진기 기준 입력에 대한 미리 선택된 위상관계를 지니며, 이 위상관계는 따라서 저재료 레벨을 표시하는 교정회로(34)의 유효 기준용량레벨에 대응하는 것을 위상검출기(32)의 출력이 표시할 때까지 교정회로(34)에 의해 자동으로 변화 또는 조정된다.
그후 정상동작모드동안 위상검출기(32)의 출력은 드레시홀드 검출기(36)에서 기준용량 레벨을 나타내는 교정회로(34)의 기준입력과 비교되며, 드레시홀드 검출기(34)는 감지된 재료용량이 재료 유전상수의 함수로서 선택되는 소정량 만큼 기준용량레벨을 초과할때 재료 레벨표시회로(38)에 출력을 공급한다.
만약 프로우브 어셈블리(20)가 제1도에 표시된 바와 같은 용기(22)의 상부에 위치해 있을 경우 이러한 근접은 정상적으로 탱크가 가득차 있거나 하이레벨 상태를 표시한다.
한편 프로우브 어셈블리(20)가 탱크(22)의 하부에 위치해 있는 경우는 재료가 정상적으로 프로우브 어셈블리에 접근해 있으며 실제로 프로우브 어셈블리를 덮고 있는 것이 정상이므로, 이러한 근접된 상태가 아닌 경우는 탱크가 비어 있거나 로우레벨 상태를 표시한다.
따라서 앞에서 설명된 범위까지에 제1도 내지 제3도의 회로는 앞에서 설명하고 참조한 미합중국 특허 제4,499,766에 개시된 것과 유사하며 동일한 부재번호를 채용하여 상호 관련을 용이하게 하였다.
다시 제1도에 대하여 설명하면 타이머(42)는 자동교정회로(34)로부터의 입력을 수신하여 자동교정동작의 기간을 설정 또는 측정한다.
타이머(42)의 출력은 경보회로(44) 및 미터기 등(46)과 같은 예를 들어 프로우브 어셈블리(20)에 단위 두께의 물질이 피복된 것을 경험적으로 교정될 수 있는 것에 공급된다.
경보회로(44)는 조정가능한 회로(48)로부터 가변 드레시홀드 입력을 받는다.
타이머(42)는 아날로그 또는 디지탈 클록으로 구성될 수 있다.
또한 타이머(42)는 회로(14)내에 카운터의 디지탈 출력에 입력이 연결된 D/A 변환기로 구성된다.
타이머(42)는 따라서 그위에 코팅되는 재료의 두께와 같은 프로우브 어셈블리(20)의 상태를 교정동작모드의 지속시간의 함수로서 효과적으로 결정한다.
제1도에 표시되고 제2도에 부분적으로 표시된 본 발명의 바람직한 실시예(11)에 따르면 외부 교정회로(50)는 리드스위치(50)로부터 제1입력을 받아서 리드스위치 (52)의 폐쇄에 응답하여 교정동작을 지시하기 위한 교정 회로에 출력을 제공한다.
외부 교정회로(50)는 더우기 재료가 프로우브에 입접할때 교정동작의 개시를 금지하기 위한 재료 레벨 표시회로(38)로부터 제2입력을 수신하며 교정동작의 종료시 외부 교정회로(50)를 리세트시키기 위한 자동교정회로(34)로부터 제3입력을 수신한다.
외부 교정회로(50)는 제2도에 상세히 표시되어 있으며 리드스위치(52)로부터 제1입력을 받고 재료 레벨 표시회로(38)의 릴레이 구동 트랜지스터(58)의 콜렉터로부터 반전기(56)를 통해 제2입력을 받는 게이트(54)로 구성된다.
트랜지스터(58)의 콜렉터는 또한 앞에서 설명한 바와 같이 외부회로(표시되지 않음)에 재료 레벨을 표시하기 위한 터미날 블록(66)에 접속되는 접점(64)을 갖는 표시회로(38)내의 릴레이(62)의 코일(60)에 접속된다.
트랜지스터(58)는 또한 외부 교정회로(50)내의 트랜지스터(68)에 접속되어 재료가 측정 프로우브에 인접하게 될때 LED(70)을 점등시킨다.
게이트(54)의 출력은 원쇼트 멀티바이브레이터(O/S : 72)를 통하여 플립플롭 (74)의 세트 입력에 공급된다.
플립플롭(74)의 출력은 구동트랜지스터(76)를 통하여 스위치(40)와 병렬로 자동교정회로(34)의 입력에 접속된다.
자동교정회로(34)의 출력은 원쇼트 멀티바이브레이터(O/S : 78)를 통하여 플립플롭(74)의 리세트 입력에 연결되며 또한 외부교정회로(50)내의 LED (80)를 구동하여 교정동작모드의 계속적인 실행을 표시한다.
동작에 있어서, 재료 레벨표시회로(38)의 트랜지스터(58)의 콜렉터는 정상적으로 로우이고 릴레이는 재료가 측정 프로우브 어셈블리(20)(제1도)와 간격을 두고 떨어져 있을때 정상적으로 여자된다.
반전기(56)는 따라서 게이트(54)에 하이레벨 구동 입력을 제공한다.
자석이 리드스위치(54)에 인접하여 위치되어 리드스위치를 폐쇄시켜 게이트(54)의 다른 입력에 정전압을 연결할때 게이트(54)의 출력의 전환은 원쇼트 멀티바이브레이터(72)를 통하여 플립플롭(74)를 세트시켜 트랜지스터 스위치(76)를 닫는다.
전환스위치(76)를 닫음에 의해 교정 스위치(40)와 병렬로, 그리고 이와 관계없이 자동 교정회로(34)에 정전압 입력을 제공한다.
그리고 만약 재료가 측정 프로우브에 인접할 경우 이는 교정동작모드가 개시된 경우 오교정을 낳을 수 있으며 반전기(56)로부터 게이트(54)에 대한 구동 입력은 로우가 되고 이에 의해 스위치(52)와 무관하게 게이트(54)의 동작을 불능상태로 한다.
만약 게이트(54)가 온 상태로 되고 자동 교정이 리드스위치(52)와 전환스위치(76)의 폐쇄에 의해 개시되면 자동교정회로(34)의 로우 출력은 회로(14)(제1도)의 동작을 작동시킬 뿐 아니라 LED(80)를 점등시키며 이에 의해 교정동작모드를 나타낸다(LED(80)는 또한 스위치(40)에 의해 개시되는 교정동작동안에도 점등되는 점에 주목하여야 한다).
자동교정회로(34)의 출력이 하이로 될때 이는 교정동작의 종료를 나타내며 플립플롭(74)은 원쇼트 멀티바이브레이터(78)를 통해 리세트되며 정상동작이 상기와 같이 진행한다.
스위치(40)는 교정동작 기간동안 폐쇄상태로 유지되어야만 하는 반면에 플립플롭(74)과 스위치(76)는 협동하여 자석(82)이 교정동작 기간동안 리드스위치(52)에 인접해 있어야 하는 어떤 요구사항을 제거한다는 점에 유의하여야 한다.
또한 수동스위치(40)의 폐쇄를 통한 교정은 레벨 표시회로(38)에 의해 개시되는 것이 아님을 주목하여야 한다.
교정은 본 발명에 따라 장치 커버를 제거하지 않고 개시될 수 있기 때문에 수동스위치(40)는 종종 수리기사들에 의해 사용되고 있는 것이 발견되고 있다.
수리기사들은 실제 재료 레벨과 관계없이 교정을 개시시킬수 있기 때문에 편리하다.
제3도 내지 5도는 현재 바람직한 본 발명의 실시예에 따른 기계적장치(11)의 상세도를 나타낸다.
제1도와 2도에 관련하여 앞에서 설명한 전자 장치들은 캐스트 알루미늄과 같은 적당한 비자성 구성의 하우징(94)의 베이스(92)에 고정되는 회로판 어셈블리(90)위에 실려 있다.
프로우브 어셈블리(20)(제1도)는 하우징(94)에서 떨어져서 위치해 있고 터미널블록(91)을 통해 어셈블리(90)의 회로에 연결된다.
LED(70,80)와 리드스위치(52)는 베이스(92)의 측벽(99)에 안쪽으로 인접하여 위치된 회로판 서브 어셈블리(96)에 의해 지지되어 있으며 LED(70,80)는 반투명 방폭렌즈(98)안으로 뻗어있다.
리드스위치(52)(제3 및 5도)는 벽(99)의 내표면에 인접한 회로판(96)에 지지되어 있으며 자석(82)은 리드스위치(52)에 밖에서 인접한 하우징 베이스(92)의 플랜지(102)위에 스프링-마운트(100)에 의해 지지되어 있다.
스프링-마운트(100)는 정상상태에서 정지 브라켓(104)과 마주보는 위치로 머물러 있으며 자석(82)은 리드스위치(52)와 간격을 두고 떨어져서 리드스위치를 폐쇄시키지 않는다.
리드스위치(52)를 폐쇄하는 것이 필요할때 이에 의해 하우징(94)의 외부에서 교정동작을 개시할때 스프링클립(100)은 자석(82)이 리드스위치(52)를 폐쇄하여 교정동작을 개시할 때까지 베이스벽(99)의 외측면을 향해 수동으로 이동되며 이러한 개시는 LED(80)의 점등을 통해 오퍼레이터가 그리고 대응하는 렌즈(98)를 통하여 그것의 관측에 의해 관측 가능하다.
커버(106)는 전술한 방폭 하우징내에 장치의 전자부품을 내장하기 위하여 베이스(92)위에 제거 가능하게 고정된다.
커버(106)는 장치회로의 보수 점검을 위해 기사에 의해 제거될 수 있다.
수동 교정스위치(40)(제1 및 2도)는 회로판 어셈블리(90)에 의해 지지되며 단기 커버(106)을 제거한때만 기사가 사용할 수 있다.
제3 내지 5도의 실시예(11)에서 회로판(96)은 리드스위치(52)에서 간격을 두고 떨어진 위치의 베이스벽(99)의 내측으로 인접한 제2리드스위치(108)를 갖추고 있다.
이 장치회로는 본 출원인에게 양도되고 본원에 참고로 결합되는 미국특허 제4,676,100호에 개시된 것과 같은 외부 시험 설비를 포함할 수 있다.
이러한 배치는 제10도에 부분적으로 도시되어 있으며 제1도의 외부교정회로 (50)가 이 특허에 개시된 외부 시험/교정회로(150)에 의해 대치되어 있다.
리드스위치(108)는 시험동작을 개시시키기 위해 구비되며, 시스템 회로의 동작 특성, 특히 공진회로(14)(제1도)의 용량은 참고 문헌의 바람직한 실시예에서 프로우브의 실제 재료 레벨과 관계없이 시스템 검출레벨의 재료의 존재를 가장한다.
리드스위치(108)는 이 명세서에 따라 시험동작을 개시시키기 위해 제공된다.
제5도에 도시된 것과 유사한 자석과 스프링 배치가 리드스위치(108)의 작동을 위해 구비될 수 있다.
또한 리드스위치(52,108)중 하나 또는 모두가 제7도에 표시된 형태의 포브 (fob)(110)에 의해 작동될 수 있으며 자석(82)이 그안에 몰딩되어 있는 플라스틱 또는 알루미늄과 같은 비자성 구성의 플래트형 플레이트(112)로 구성될 수 있다.
제7도와 같은 포브(110)를 사용하면 교정 및/또는 시험동작이 단지 이러한 포브를 소지한 승인된 사람에 의해서만 개시될 수 있다는 점에서 제3 및 5도의 자석 및 스프링 배치 이상의 이점을 얻을 수 있다.
제8도는 본 발명의 변형 실시예를 표시하는 것으로 벽과 리드스위치(52)사이의 하우징벽(99)내에 자석(82)이 위치해 있어 상시폐쇄 상태로 리드스위치(52)를 유지할 수 있다.
이 실시예에서 리드스위치(52)를 개방함에 의해 교정을 개시하며 자석(82)의 외부에서 인접해 있는 자기 투과 재료부(116)를 포함하는 변형 포브(114)를 이동시켜 이에 의해 리드스위치(52)로부터 자석(82)의 플럭스를 효과적으로 단락시킴에 의해 이루어질 수 있다.
제8도의 실시예는 리드스위치(52)가 상기 폐쇄되어 있으며 이에 따라 외부자계의 영향을 거의 받지 않는 이점을 갖고 있다.
본 발명의 원리는 리드스위치(52)의 사용에 제한되는 것은 아니며, 자계의 적용에 응답하는 홀(Hall)스위치와 같은 다른 장치로 쉽게 대체될 수 있음을 인식해야할 것이다.
더우기 본 발명의 원리는 하우징벽의 외부로부터 교정을 동작을 개시시키기 위해 자기 플럭스 에너지를 사용하는 것에 제한되지 않는다.
제9도는 본 발명의 변형실시예를 나타낸다.
여기에서 리드스위치(52)는 하우징벽(99)에 반투명 창(122)에 인접하여 위치한 적당한 구성의 광검출기(120)로 대체되어 있다.
펄스형 적회선 에너지의 외부광원(124)이 창(122)을 통해 검출기(120)와 교신하도록 오퍼레이터에 의해 수동으로 위치되어, 창을 통해 검출기로 펄스형 코딩된 광신호 조정한다.
검출기는 적절히 코딩된 펄스열을 검출하여 외보 교정회로(50)(제1 및 2도)에 교정동작을 개시시키기 위한 적당한 디코더(126)에 연결되어 있다.
제9도의 실시예는 교정 및 측정회로의 원격지로부터 교정을 개시시킬 수 있다는 점에서 앞에서 설명한 자기 결합 실시예 이상의 잇점을 갖고 있다.
예를 들어 장치(11)가 통 또는 용기의 상부에 설치되는 경우 광원(122)을 향하여 조정하고 펄스 광열을 발생시키는 적당한 스위치를 작동시킴에 의해 땅에서 교정을 개시시킬 수 있다.
제6도는 캐스트 알루미늄과 같은 비자성구성의 밀봉 덮개 또는 하우징내에 회로판 어셈블리(130)상에 장착된 제1도와 2도의 레벨 표시전자장치의 다른 실시예(128)를 표시한다.
측정 프로우브(18)와 보호 시일드(26)를 포함하는 프로우브 어셈블리(20)가 하우징(132)의 베이스(134)로부터 돌출하여 일체로 형성되어 있다.
프로우브 어셈블리(20)는 본 출원인에게 양도된 미합중국 특허 제4,499,641호에 보다 상세히 표시 및 설명되어 있다. LED(70 및 80)(제2도)는 하우징(132)의 제거 가능한 커버(140)에 인접한 스탠드 오프(138)에 의해 지지되는 회로판(136)에 고정되어 있다.
모울딩된 렌즈장치(142)는 커버(140)의 창을 통해 돌출해 있고 LED(70,80)를 둘러싸도록 고정장치에 의해 내측으로 고정되는 스커트(143)를 갖고 있다.
리드스위치(52)는 또한 커버(140)의 측벽에 인접한 회로판(136)에 의해 지지되며 자석(8)은 제5도와 관련하여 앞에서 설명된 바와 같은 플랜지(104)를 향해 상시 머무는 스프링 마운트(100)에 의해 지지된다.
본 발명의 상기한 원리는 참고된 미합중국 특허 제4,624,139호의 브리지형 시스템에 변경을 가하지 않고 쉽게 적용될 수 있는 것이 명확하게 될 것이다.

Claims (10)

  1. 용기(22)에 결합되어 재료(28)레벨의 함수로서 용기의 용량의 변화에 응답하는데 적합한 프로우브수단(20); 상기 프로우브수단에 연결되어 상기 프로우브수단의 용량의 함수로서 동작 특성이 변하는 회로수단(14,32); 교정동작을 개시시키기 위한 개시수단(40), 상기 회로수단에 연결되어 상기 교정동작동안 상기 회로수단의 동작특성을 자동적으로 변화시키는 수단 및 상기 교정동작동안 상기 회로수단에 응답하여 상기 용기의 소정 재료 레벨 상태에 대응하여 상기 회로수단의 소정 동작 특성을 검출하고, 상기 소정 동작 특성이 얻어질때 상기 교정동작을 종료시키기 위한 수단을 포함하는 교정수단(34,50); 상기 소정 동작 특성으로부터 상기 프로우브수단을 포함하는 상기 회로수단의 동작 특성의 변화에 응답하여 상기 용기의 재료 레벨을 표시하기 위한 수단(36,38); 및 상기 회로수단, 상기 교정수단 및 상기 변화응답수단을 둘러 싸는 밀폐하우징(94 또는 128)으로 구성되는 재료 용량의 함수로서 용기(22)의 재료 레벨을 표시하기 위한 시스템(11)에 있어서, 상기 개시수단은 상기 하우징내에 위치하고 상기 자동변화수단에 연결된 플럭스 응답 스위치수단(52 또는 120); 및 상기 밀폐 하우징을 열지 않고 상기 플럭스 응답 스위치수단의 도전상태를 선택적으로 변화시키도록 상기 하우징벽을 통하여 상기 밀폐 하우징의 외부로부터 상기 플럭스 응답 스위치수단으로 플럭스 에너지를 선택적으로 조작하기 위한 수단(82 또는 124)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 용기의 재료 레벨 표시시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 플럭스 응답스위치수단(52 또는 120)은 자기 플럭스 에너지에 응답하는 수단(52)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 플럭스 응답스위치수단은 리드스위치(52)로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  4. 제2항에 있어서, 상기 개시수단은 상시 플럭스 응답 스위치수단(52)에 인접해 위치하여 플럭스 에너지에 응답하는 상기 플럭스 응답 스위치수단을 상시 작동시키는 자석수단(82)과 상기 플럭스 응답 스위치수단과 떨어져서 상기 자석수단으로부터 플럭스 에너지를 선택적으로 조작하기 위한 수단(114)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  5. 제2항에 있어서, 상기 플럭스 조작수단은 영구자석(82)과 상기 하우징의 외부로부터 상기 스위치수단과 플럭스 통신을 위해 상기 자석을 선택적으로 위치시키기 위한 수단(110 또는 100)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  6. 제5항에 있어서, 상기 자석 위치설정수단은 상기 하우징 벽의 외부면에 인접하여 상기 자석을 탄성적으로 탑재하는 수단(100)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  7. 제1항에 있어서, 상기 플럭스 응답 스위치수단은 광 에너지에 응답하는 수단(120), 상기 하우징에 있는 반투명창(122) 및 상기 광 응답스위치수단으로 상기 창을 통하여 광에너지를 선택적으로 조작하기 위한 수단(124)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  8. 제7항에 있어서, 상기 선택적 조작수단(124)은 상기 광 응답 스위치수단으로 상기 창을 통하여 펄스 코드 광 에너지를 조작하기 위한 수단으로 구성되며, 상기 광 응답 스위치수단은 상기 펄스 코드 광 에너지를 디코딩하여 단지 미리 선택된 코드의 에너지에만 응답하여 상기 교정동작을 개시시키기 위한 수단(126)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 시스템.
  9. 제1항에 있어서, 더우기 상기 변화 응답수단(56)에 연결되어 용기내의 재료가 상기 프로우브수단에 근접할때 상기 교정수단의 동작을 금지시키기 위한 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 시스템.
  10. 제1항에 있어서, 상기 프로우브수단(20)과 상기 하우징(128)은 1편 방폭 어셈블리(제6도)를 형성하는 것을 특징으로 하는 시스템.
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