KR950006238B1 - 잡음 산출 장치 - Google Patents

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요한 베켄브럭 헤르만
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알 씨 에이 라이센싱 코포레이션
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Abstract

내용 없음.

Description

잡음 산출 장치
제1도 및 제3도는 신호차의 1차원 배열로부터 잡음 평가치를 발생하는 본 발명을 실시하는 2개의 잡음 평가 회로의 부분 블럭도 및 부분 구성도.
제2도 및 제4도는 신호차의 2차원 배열로부터 잡음 평가치를 발생하는 본 발명을 실시하는 잡음 평가 회로망의 블럭도.
제5도는 비반복성 신호 발생의 역효과를 감소하기 위해 제공된 잡음 평가 회로망의 블럭도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 지연 소자 14 : 필터
16 : 평균 회로 18 : 평균차이 소자
62 : 스케일링 회로 140 : 잡음 산출기
본 발명은 여분 간격을 가진 신호의 전기적 잡음의 크기를 산출하기 위한 장치에 관한 것이다.
본 발명은 처리될 신호가 반복 또는 여분 정보를 포함하는 여타 다른 신호 처리 조건에 응용되어 이해될 수 있지마는, 본 발명에서는 비데오 신호 처리에 의하여 기술 될 것이다.
다수의 비데오 신호 처리 시스템은 처리되는 신호의 신호대 잡음비(SNR)에 의해 기능적으로 변하도록 설계된다. 그러한 시스템의 일예로는 크게는 프로그램 가능대역폭 색도 필터, 수평 피킹 회로 및 잡음 감소 순환 필터가 있다. 이들 시스템은 전형적으로 처리된 신호의 잡음 레벨에 상응하는 신호에 의해 제어되는 소정의 파라메터를 가진다.
텔레비젼 수상기와 같은 소비자용 제품에 사용하기 위한 그러한 시스템을 제어하는 비교적 정교한 잡음 측정 장치를 설계하는 것은 어려운 일이다. 맨 먼저, 평균 실시간 비데오 신호내의 실제 신호와 잡음간을 판별하는 것은 가능하지 않다. 둘째로 잡음이 무작위하기 때문에, 잡음 측정은 잡음의 자승 평균 평방근이어야만 한다. 자승 평균 평방근 잡음 측정을 행하기 위해 알고리즘이 알려졌지만, 그러한 알고리즘을 수행하는데 요구되는 장치는 일반적으로 매우 복잡하거나 소비자 제품에 사용하는데 비싸다. 이러한 어려움 때문에, 비데오 시스템 설계자들은 산출 잡음치에 호소한다.
비데오 신호용 잡음 산출을 하는 보다 공통적인 방법은 수직 블랭킹 간격과 같은 비데오 정보를 포함하지 않는 비데오 신호의 평균 AC 진폭부를 결정하는 것이다. 이러한 가정은 이러한 신호부의 소정 AC 변화가 잡음으로 부터 발생하는 것으로 된다. 각각의 측정으로부터 평균 진폭치는 보다 정교한 결과를 산출하는 시간 이상으로 적분된다.
잡음 측정은 적분 시간이 예를들면, 수 프레임 주기로 짧은 경우조차도 비교 안정되는 경향을 띤다. 잡음은 예를들어 재생영상의 25%를 에워싸는 짧은 버스트내에서 자극 발생하기 때문에, 이들 적정 측정에 의해 제어된 잡음 적합처리 시스템은 잡음 버스트에 반응할 수 없다. 덧붙혀, 비데오 정보를 포함하지 않는 비데오 신호의 잡음 수반부는 비데오 정보내에 포함된 잡음을 나타내지 않는다. 이 경우는 비데오 신호원이 오로지 실제 비데오를 저장하여 수직 및 수평 블랭킹 간격과 같은 비반응 신호부를 재구성하는 저장 매체인 경우에 발생한다.
스토리 등에 의한 미합중국 특허 제4,249,210호에는 비데오 신호의 활성으로부터 잡음치를 측정하기 위한 방법이 기술되어 있다. 스토리 등에 의한 특허의 장치는 연속적인 프레임으로부터 대응 픽셀의 차를 형성한다. 만일 내부 영상 운동이 있을 경우 픽셀차는 운동과 잡음 정보 양자를 함유한다. 스토리 등에 의한 시스템에 있어서, 그러한 가정은 가장 작은 크기를 가지는 픽셀차만이 오직 잡음 정보를 포함하는 것으로 된다. 잡음은 픽셀차의 각각의 수평 라인으로부터 가장 작은 픽셀차의 값을 선택하여 프레임 주기 이상으로 이들 가장 작은 픽셀차를 평균시킴에 의해8 운동으로부터 판별된다. 평균차의 값은 연속적인 프레임 주기에 대한 잡음 산출로써 사용된다.
적어도 정지 영상용의 스토리 등에 의한 잡음 측정 장치는 실제 평균 잡음치보다 작은 잡음 측정치를 산출하게 될 것이다. 둘째로 이러한 시스템은 매 프레임 간격마다 잡음 산출을 갱신하지만 영상내의 잡음 버스트에 응답하는 데 충분히 동적이지는 않다.
이토등에 의한 공기 영국 특허원 GB 2 102 65A호에는 내부 영상 픽셀차가 제공으로 되어 대략 프레임 주기 이상으로 평균되는 시스템을 기술한다. 예정된 임계치 보다 큰 진폭치를 가지는 픽셀차는 이들차가 운동 정보를 포함하는 것을 가정하는 평균치내에 포함되지 않는다. 이들 잡음 측정 시스템의 정밀도는 예정된 임계치의 선택에 의존한다. 실제로, 이들값은 영상 재조를 다르게 하기 위하여 달라야만한다. 이들 시스템에 의해 제공된 잡음 산출을 짧은 잡음 버스트에 응답하도록 충분히 동적이지 않는다.
본 발명의 목적은 비교적 작은 퍼센트의 이동 가능 신호 정보를 나타내는 것과 국부화된 잡음 버스트가 발생되는 것을 포함하는 신호부로부터 비교적 정확한 잡음 산출을 결정하는데에 있다.
본 발명에 의하면, 입력 신호를 인가하기 위한 입력 단자를 가지는 잡음 산출 장치를 제공한다. 입력 신호의 실제 여분 간격간의 차에 대응하는 차이 샘플을 산출하기 위한 입력 신호에 응답하는 장치가 제공된다. 평균 장치는 예정된 수의 차이샘플의 평균을 발생시킨다. 평균치와 평균치의 원인이 되는 차이 샘플중의 하나간의 크기 값의 차를 발생시키기 위한 장치가 제공된다. 그리고 장치는 예정된 수의 크기값의 평균에 상응하는 잡음 산출 신호를 산출하는 크기값을 발생시키기 위한 장치에 접속된다.
이하, 본 발명은 첨부된 도면을 참조로 하여 더욱 상세히 설명될 것이다.
여러 도면에 있어서, 동일 부호로 표기된 소자는 동일 기능을 수행한다. 잡음 검출용으로 처리될 신호는 데이타 신호가 샘플되는 것으로 가정되며 여기서 필수적으로 처리 소자는 샘플 비율과 동기로 클록된다. 이 신호는 아날로그나 디지탈 형태중의 하나일 수 있는데, 따라서 그 회로 소자는 기능적인 용어로 표시된다. 기능 소자의 각각은 종래의 소자이며, 양자의 아나로그 및 디지탈 형태에서 사용 가능하며, 따라서 여기에서는 상세히 설명되지 않을 것이다. 기술된 일예의 회로망을 실행하기 위해 선택된 기능 소자의 선택에 의존하여 보상 지연은 다양한 신호 경로내의 신호의 소정 기존 배열을 유지하는데 소정처리 소자간에 요구된다. 회로 설계 분야의 숙련된 자는 쉽게 이해할 것이며 그러한 보상 지연을 제공하게 될 것이다.
제1도를 참조하면, 실질적 여분의 입력 신호 간의 신호차로부터 잡음 산출을 발생하는 잡음 산출기가 도시되어 있다. 제1도에서, 입력 신호는 단자(5)에 인가되며 이로부터 지연 소자(10)의 입력 접속과 감산기(12)의 한 입력 접속에 인가된다. 지연 소자(10)의 출력 접속은 감산기(12)의 제2입력 접속에 접속된다. 감산기(12)는 지연 소자(10)로부터의 지연 신호와 입력 신호간의 차를 발생한다.
지연 소자(10)에 의해 제공된 신호 지연의 간격은 입력 신호의 여분 또는 반복의 간격을 확인하도록 선택된다. 입력 신호가 합성 비데오 신호 또는 그 비데오 성분 중의 하나와 같은 비데오 신호일 경우 실제적 신호 여분은 수평 라인 간격 및 필드 간격 그리고 수평 라인의 정수 배수 및 필드 간격에서 발생한다. 따라서, 지연 소자(10)는 하나 또는 두개의 라인 지연 소자 혹은, 하나 또는 두개의 필드 지연 소자 등이 될 수 있다. 퍼센트 여분은 프레임 간격(NTSC 비데오 영상의 2개의 간격) 이상으로 가장 크며(적어도 비이동성 영상에 대하여, 따라서 프레임 지연 소자가 앙호해 진다.
100% 신호 여분에 대하여, 감산기(12)에 의해 제공된 차샘플은 전적으로 잡음 콘트리뷰션으로 된다. 내부 프레임 신호는 여분의 퍼센트는 내부 프레임 영상 물체 동작과 함께 감소한다. 내부 프레임 운동이 발생할 경우, 감산기(12)에 의해 제공된 차이 샘플은 잡음 콘트리뷰션과 영상 운동 정보 양자로 구성된다. 잡음 산출은 시간 간격상으로 차이 샘플의 평균을 결정하여 평균 차이 샘플과 특정 다른 샘플 중의 선택된 하나간의 평균 크기의 차를 결정함에 의해 행해진다. 차이 샘플에 대한 운동 콘트리뷰션은 평균이 취해지고 잡음 산출로부터 취소하는 경항을 띠는 간격 이상으로 상호 연관되는 경향을 띤다. 잡음 콘트리뷰션은 일반적으로 상호 연관되지는 않지만 크기차에 대한 그들 기여는 합해진다. 상호 연관 운동 콘트리뷰션들간의 전이는 잡음 산출에 역으로 영향을 미치는 경향이 있다. 이러한 전이의 영향은 제5도를 참조로 이하에서 기술된 부가의 회로망에 의해 최소화 될 수 있다.
다시 제1도를 참조하면, 감산기(12)에 의해 제공된 신호 차이 샘플은 필터 (14)에 접속된다. 만일 입력 신호가 합성 비데오 신호일 경우 및 현재의 부반송파와 지연된 색도 성분이 반대위상일 경우 감산기(12)에 의해 산출된 신호차는 원래 진폭 2배의 색도 성분을 포함할 것이다. 필터(14)는 차이 샘플로부터 색도 성분을 소거하도록 설계되어 색도 부반송파 주파수에서 집중된 신호를 약하게 하는 노치필터 일 수 있거나 전체 색도 주파수대에 의해 일정하게 공유된 신호 주파수를 약하게 하는 저역 통과 필터일 수 있다. 그러나 지연 및 현재의 색도 부반송파가 동위상일 경우조차도, 색도 신호 성분을 약화시키는 필터(14)를 포함한다.
만일 입력 신호가 단독으로 비데오 신호의 명도성분으로 구성되는 경우, 필터 (14)는 포함되지 않을 수도 있다. 유사하게, 입력 신호가 오로지 비데오 신호의 색도 성분으로 구성되고, 지연 및 현재 신호가 유사한 부반송파 위상을 가질 경우, 필터(14)는 포함되지 않게 된다. 주지할 것으로는 입력 신호가 오로지 색도 성분으로 구성되고 현재 및 지연 신호가 반대 부반성파 위상을 가질 경우, 가산기는 감산기(12)로 대체될 것이며 필터(14)는 다시 제거될 것이라는 것이다.
필터(14)에 의해 통과된 차이 샘플은 간격 (N-1)
Figure kpo00001
양단에 발생하는 N샘플 평균치를 산출하는 평균 회로(16)에 접속된다 주기
Figure kpo00002
는 하나를 포함하게 되는 샘플 주기의 정수이다. 따라서 평균 회로는 N
Figure kpo00003
샘플 주기의 간격 이상으로 매 제2 또는 제3샘플들로 부터 선택된 N 연속 차이 샘플 또는 N 샘플을 평균하도록 구성될 수 있다. 수 N용 값은 바람직하게 4보다 클 것이다.
차이 샘플은 가산기(20)의 한 입력 접속점에 접속되어 지연 소자(28)의 입력 접속점에 접속된다. 지연 소자(28)는 N
Figure kpo00004
샘플 주기의 지연을 제공하고 2의 출력은 감산기(26)의 감수 입력 접속점에 접속된다. 감산기(26)의 출력은 가산기(20)의 제2입력 접속점에 접속된다. 감산기(20)에 의해 산출된 출력 신호는 N 샘플차의 합에 대응하며 지연 소자(22)의 입력 접속점에 접속된다. 지연 소자(22)는
Figure kpo00005
샘플 주기만큼 합 샘플을 지연시키고 지연된 합 샘플들은 감산기의 피감수 입력 접속점에 접속된다.
가산기(20)에 의해 제공된 출력 샘플 SA는 방정식
Figure kpo00006
로 표시될 수 있으며, 여기서 지수 n는 현재 샘플로 참조되고 지수 인자 β는 지연 주기
Figure kpo00007
내에 포함된 샘플 주기의 정수에 일치한다. 방정식 우변의 처새항 Sn은 필터(14)로부터 가산기(20)까지 인가된 콘트리뷰션이다. 괄호안의 항은 감산기(26)로부터 가산기(20)에 인가된 콘트리뷰션이다. 방정식(1)은
Figure kpo00008
이는 각각의 샘플 합 SA가 현재 차이 샘플과 N-1 선행 차이 샘플의 합에 일치함을 가리킨다.
가산기(20)로부터 샘플 합 SA는 합산율 N으로 나누어 단자 A0상에서 샘플 평균을 출력하는 분배기 또는 스케일링 회로(24)에 인가된다.
샘플 차이가 평균화되는 이상으로 간격의 길이에 의존하여, 평균치로부터 신호차의 소정 부분을 제거하는 것이 바람직하다. 실레로서 비반복 보조 디지탈 정보를 포함하는 수평 블랭킹 주기의 부분을 포함하게 된다. 이러한 실예에 있어서 지연 소자(22 및 28)는 수평 동기 신호로부터 발생되는 리세트 펄스 작용에 의해 제로로 세트될 수 있다. 다른 방도로 시스템이 클록 시스템이기 때문에 클록은 그러한 간격동안 금지된다. 제1도에서, 클록 신호는 클록 발생기(61)내에서 발생되며 평균 회로(16)에 접속된 것이 도시되어 있다. 평균 회로(16)에 있어서, 지연 소자는 전형적으로 입력 샘플 비율과 동기로 클록될 것이다. 평균 회로(16)내의 잔여 회로 소자들은 지시된 기능을 수행하는 회로 소자의 설계자 선택에 따라 클록되거나 될 수 없다.
분배기(24)로부터 차이 샘플 평균과 필터(14)로부터 차이 샘플은 차이 샘플 평균차의 크기값과 차이 샘플 평균이 되는 차이 샘플 중의 하나와의 합을 산출하는 회로망(18)에 접속된다. 차이 샘플은 (M-1) 지연 소자(30 내지 36)의 종속 접속에 접속된다. 지연 소자(30 내지 36)는 제각기 샘플 주기의 정수(하나를 포함하는)에 일치하고 지연 주기
Figure kpo00009
에 일치하게 되는 주기
Figure kpo00010
1만큼 차이 샘플을 지연시킨다. 수(M-1)는 양호하게는 N보다 작은데 왜냐하면 N보다 큰 수(M-1)는 잡음 산출에 대한 운동 콘트리뷰션을 제거하는데 역영향을 미치게 된다.
필터(14)로부터 및 각각의 지연 소자(30 내지 36)로부터의 차이 샘플은 감산기(40 내지 48)의 제1접속점에 제각기 접속된다. 분배기(24)로부터의 차이 샘플 평균은 감산기(40 내지 48)의 제각기의 제2입력 접속점에 접속된다. 감산기의 각각은 차이 샘플 평균과 평균에 원인이 되는 차이 샘플간의 차에 대웅하는 출력을 발생한다. 감산기(40 내지 48)에 의해 산출된 제각기의 차이는 여기에 인가된 제각기의 차이의 크기값을 각각 산출하는 절대치 회로(50 내지 58)에 접속된다. 각각의 크기값은 접속점(S0) 상에서 크기값의 합을 산출하는 결합 회로(60)에 접속된다. 크기값의 합은 평균 크기값을 산출하도록 값 M으로 합을 나누는 분배기 또는 스케일링 호로(62)에 접속된다. 평균 크기값은 소정의 잡음 산출에 대응한다. 잡음 산출 Sout은 방정식,
Figure kpo00011
으로 표시된다.
주지할 것으로는, 실제적인 수행에 있어서, 지연소자(28)는 소거될 수 있으며, 지연된 차이 샘플은 점선 라인내에 도시된 지연 소자(38)를 통하여 결합된 지연 소자(30 내지 36)를 통하여 감산기(26)에 공급된다. 지연 소자(38)는 지연 소자(38) 및 지연 소자(30 내지 36)의 종속 접속에 의해 제공된 지연차에 대하여 보상되는 지연
Figure kpo00012
2를 제공한다.
제1도의 잡음 산출기는 샘플 차이의 1차원 배열로부터 샘플상에서 작동한다. 비데오 신호 처리 환경에 있어서, 이러한 1차원 배열은 단일 수평 라인을 따라 발생하는 차이 샘플에 대응한다. 산출기는 제2도에 도시된 바와 같이 2차원 배열상에서 작동하도록 연장될 수 있다. 제2도에 있어서, 회로 소자(16a',16b' 및 16c')의 각각은 제1도의 평균 회로(16)에 대응하며 회로 소자(18a',18b' 및 18c')의 각각은 제1도의 평균 차이 소자(18)에 대응한다.
필터(14)로부터 차이 샘플은 평균 회로(16a')의 입력 접속부에 결합되며 종속 접속된 하나의 수평 라인 지연 소자(65 및 67)의 입력 접속점이 접속된다. 지연 소자(65 및 67)로부터 지연된 차이 샘플은 평균 회로(16b' 및 16c')의 입력 접속점에 접속된다. 평균 회로(16a',16b' 및 16c')에 인가된 차이 샘플은 따라서 3개의 연속적인 수평 영상 라인으로부터 대응 신호차에서 유도된다. 평균 회로(16a',16b' 및 16c')는 차이 샘플의 각각의 수평 라인으로부터 각각의 차이 샘플 평균치를 발생시킨다. 이들 평균치는 3개의 평균치를 합산하여 공간 차이 샘플 평균을 발생하도록 그 합산치를 3으로 분배한다. 공간 차이 샘플 평균치는 평균 차이 소자(18a',18b' 및 18c')의 샘플 평균 입력 접속점 AI에 접속된다.
필터(14)로부터 차이 샘플과 지연 소자(65 및 67)로부터 지연된 차이 샘플은 제각기 평균 차이 소자(18a',18b' 및 18c')의 차이 샘플 입력 접속점에 접속된다. 평균 차이 소자(18a',18b' 및 18c')는 공간 평균치와 그들 대응 수평 라인으로부터 선택된 차이 샘플(M의 수)간의 차의 크기값의 합을 형성한다. 평균 차이 소자(18a',18b' 및 18c')로 부터 크기값의 합은 3개의 합을 부가하여 잡음 산출을 만들도륵 3M으로 그 결과를 나누는 회로 소자(70)에 접속된다.
공간 잡음 산출 고무시키는 또다른 장치(도시 안됨)은 제1도의 장치로부터 잡음 산출을 2개의 한 수평 라인 지연 소자의 종속 접속으로 인가하는 것과 제1도의 장치에 의해 제공된 산출을 2개의 한 수평 라인 지연 소자로부터 지연된 잡음 산출로 평균하는 것을 포함한다.
제3도는 잡음 산출 회로망의 다른 실시예를 도시한다. 이러한 실시예에 있어서, 샘플의 평균수가 결정되어, 평균과 평균에 대한 하나의 다른 샘플간의 차이의 크기값이 발생된다. 이들 크기값의 수(M+l)는 잡은 산출을 산출 하도록 평균된다.
제3도에 있어서, 필터(14)로부터 차이 샘플은 제1도의 평균 회로(16)에 대응하는 평균 회로(16')에 인가된다. 평균 회로(16')에 의해 산출된 차이 샘플 평균치는 지연 소자(75)를 통하여 차이 회로(76)의 제2입력 접속에 결합된다. 차이 회로(76)은 차이 샘플 평균치와 그 각각의 입력 접속점에 인가된 특정 차이 샘플간의 차이의 크기값을 산출한다.
지연 소자(75)는 적절히 지연되어 평균치로부터 감산된 차이 샘플은 평균에 대한 차이 샘플 콘트리뷰션의 순차 중심 근처에 발생하는(제시간에) 차이 샘플에 대응한다.
차이 회로(76)에 의해 산출된 크기값 샘플은 크기값 하산 회로(78)에 결합된다. 회로(78)에 있어서, 크기값 샘플은 지연 소자(80 내지 84)의 종속 접속에 접속되며, 이들 각각은 크기값 샘플을 샘플 주기의 정수만큼 지연시킨다. 크기값 샘플과 각각의 지연 소자(80 내지 84)로부터의 지연된 크기값 샘플은 샘플 결합 소자(86)에 접속된다. 샘플 결합 소자는 크기값 샘플과 지연된 크기값 샘플의 합을 형성한다. 이들 합계는 잡음 산출에 대응하는 평균 차이 크기값을 산출하는 합산을 분배하는 분배기(88)에 접속된다. 제3도 회로망에 의해 발생된 잡음 산출 Sout은 방정식,
Figure kpo00013
로 표시되며. 여기서 항(n-k) 내의 값 K는 지연 소자(75)에 의해 제공된 샘플 지연 주기의 수에 대응한다.
제3도 장치는 차이 샘플의 1차원 배열로부터 잡음 산출을 발생시킨다. 시스템은 제4도에 도시된 바와 같은 차이 샘플의 2차원 배열로부터 잡음 산출을 형성하도록 신장될 수 있다. 제4도에서 소자(16'd, 16'e 및 16'f)는 제1도의 평균 회로(16)에 대응하며, 소자(78')는 제3도의 크기값 합산 회로(78)에 대응한다.
필터(14)로부터 차이 샘플은 2개의 한 수평 라인 지연 소자(102 및 104)의 종속 접속으로 접속된다. 차이 샘플과 지연 소자(102 및 104)로부터 지연된 차이 샘플은 차이 샘플의 3개의 라인의 부분으로부터 평균치를 제각기 발생하는 평균 회로(16'd,16'e 및 16'f)에 인가된다. 이들 평균치는 합산되어 공간 차이 샘플 평균치를 발생하도록 회로 소자(116)내에서 평균된다. 공간 평균치는 차이 회로(110,112 및 114)의 각각의 제1입력 접속점에 접속된다. 필터(14)로부터 차이 샘플은 지연 소자(100)를 통하여 차이 회로(110)의 제2입력 접속점에 접속된다. 지연 소자(102 및 104)로부터 지연된 차이 샘플은 지연 소자(102 및 104) 각각을 통하여 차이 회로(112 및 114)의 제2입력 접속점에 접속된다. 차이 회로(110,112 및 114)는 각각의 3개의 수평 라인으로부터 공간 평균과 차이 샘플간의 차이의 크기값을 산출한다. 회로(110,112 및 14)로부터의 크기값은 3개의 크기값의 평균을 산출하는 회로(118)에 인가된다. 이들 평균 크기값은 수직 평균치에 대응하여 M+1 순차적 수직 평균 샘플의 합을 형성하는 크기값 합산 회로(78')에 결합된다. 이들 합산은 잡음 산출에 대응하는 차이 크기값의 공간 평균치를 산출하는 분배기(120)내에서 (M+l)로 분배된다.
지연 소자(100,106 및 108)는 공간 평균치로부터 감산된 각각의 라인으로부터 차이 샘플이 공간 평균치로 귀착되는 각각의 라인으로부터 차이 샘플 순차의 중심 근처에서 발생하는 차이 샘플에 대응하도록 선택된다. 지연소자(100,106 및 108)에 의해 제공된 샘플 지연 주기는 비슷하게 되는데 소자(110,112 및 114)에 의해 발생된 차이 크기가 수직으로 배열되도록 한다. 또한 지연 소자(100,106 및 108)는 다른 주기로 지연되어 차이의 크기는 예를들어 수직으로 비틀린 영상점으로부터 발생된다.
제5도는 차이 샘플에 대한 예를들어 신호 변화운동 콘트리뷰션의 전이에 실제적으로 무감각하게 된다. 도시된 시스템은 차이 샘플의 1차원 배열로부터 발생되는 잡음 산출에 인가하며, 2차원 시스템에 쉽게 연장될 수 있다.
필터(14)로부터의 차이 샘플은 제1도의 결합소자(16,18 및 62) 또는 제3도의 소자(16',75,76,78 및 88)에 대응하는 잡음 산출기(140)에 결합된다. 필터(14)로부터의 차이 샘플은 지연 소자(142) 및 차이 회로(144)의 하나의 입력 접속점에 역시 접속된다. 지연 소자(142)로부터의 지연된 차이 샘플은 차이 회로(144)의 제2입력 접속점에 결합된다. 지연 소자(142)는 하나 또는 작은 정수의 샘플 주기의 지연을 제공한다. 차이 회로(144)에 의해 산출된 출력은 가까이 이격된 차이 샘플의 변화 크기에 대응한다. 변화의 크기는 변화가 임계치를 초과하는 경우 펄스 출력 신호를 산출하는 비교기(146)내의 임계치에 비교된다. 비교기(146)의 출력 접속은 원-셔트(one-shot) 단안정이거나 계수 회로일 수 있는 펄스 발생기(147)에 접속된다. 비교기로부터 출력 펄스에 응답하는 펄스 발생기(147)는 N
Figure kpo00014
샘플 주기에 일치하는 기간의 출력 펄스를 발생시키며, 이 기간은 검출된 운동 전이가 평균 회로(16)를 통하여 진행되는 시간에 일치한다. 발생기(17)에 의해 제공된 펄스는 래치(148)의 제어 입력 접속점에 결합된다. 래치(148)는 74S 373형이 될 수 있으며, 이는 미합중국 텍사스주의 달락스에 있는 덱사스 인스투르먼트(TI)사에 의해 시판되는 것이다. 산출기(140)에 의해 제공된 잡음 산출은 래치(148)의 데이타 입력 접속점에 접속된다. 펄스 발생기 (147)에 의해 발생된 펄스의 부재동안에, 잡음 산출 Sout은 산출기(140)로부터 래치(148)에 의한 출력 접속점 Sout으로 계속적으로 통과된다. 그러나 차이 샘플 전이는 비교기(146)에 의해 검출되며, 펄스 발생기(147)는 전이를 선행하는 잡음 산출을 저장하고 펄스 주기동안 이 산출을 출력하는 래치(148)를 조절하는 펄스를 발생시킨다.
비교기(146)가 차이 샘플 변화를 비교하는 임계치는 ROM(149)에 의해 제공된다. 임계치는 예상되는 평균잡음 산출보다 큰 고정된 상수일 수 있다. 교호로, 임계치는 잡음 산출의 기능으로서 가변 가능하다. 이러한 실례에 있어서, 잡음 산출 S'out은 ROM(149)의 어드레스 입력 접속점에 접속된다. ROM(149)은 어드레스 코드로서 인가된 잡음 산출의 범위에 대응하는 임계치를 제공하도록 프로그램된다. 잡음 산출의 각각의 영역에 대하여, 임계치는 예를들어 비데오 신호용 8IRE의 작은 양만큼 범위를 초과하도록 선택된다.

Claims (9)

  1. 입력 신호를 인가하기 위한 입력 단자(5)를 가진 잡음 산출 회로에 있어서, 상기 입력 단자에 접속되고 상기 입력 신호의 여분 간격간의 차이에 대응하는 차이 샘플을 발생하기 위한 장치(10 및 12)와, 차이 샘플을 발생하기 위한 상기 장치에 접속되고 상기 차이 샘플의 예정된 수의 평균치를 발생하기 위한 평균 회로(16)와, 차이 샘플을 발생하기 위한 상기 장치와 상기 평균 회로에 접속되고 상기 평균치와, 상기 평균치의 원인이 되는 차이 샘플중의 하나간의 상기 차이의 크기값을 발생하기 위한 장치(18)와, 크기값을 발생하기 위한 상기 장치에 접속되고, 크기값의 예정된 수와 평균치에 대응하는 잡음 산출 신호를 발생하기 위한 장치(62)를 포함하는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  2. 상기 입력 신호가 정보의 프레임, 필드 및 라인 영상 간격으로 구성된 비데오 신호로 이루어진 제1항에 있어서, 차이 샘플을 발생하기 위한 상기 장치가, 영상 간격만큼 지연된 상기 입력 신호를 제공하기 위해 상기 입력 단자에 접속된 지연 장치와, 상기 입력 단자 및 상기 지연 장치에 접속되고 상기 입력 신호와 상기 지연된 입력 신호간의 차이에 대응하는 차이 샘플을 발생하기 위한 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 평균 장치가, 차이 샘플을 발생하기 위한 상기 장치에 접속되고 N 연속 차이 샘플(여기서 N은 예정된 정수)의 합을 발생하기 위한 장치와, 합 발생을 상기 장치에 접속되고 상기 합산치를 정수 N에 의해 분배하기 위한 분배기 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  4. 제1항에 있어서, 크기값을 발생하기 위한 상기 장치가, 차이 샘플을 발생하기 위한 상기 장치에 접속되고 샘플 주기의 다른 정수만큼 각각 지연되는 다수의 지연된 차이 샘플을 제공하기 위한 다수의 출력 접속점을 가지는 장치와, 상기 평균 회로에 접속된 각각의 제2입력접속점을 가지며 상기 다수의 출력 접속점중의 하나에 제각기 접속된 각각의 제2입력 접속점을 가지는 다수의 감산기 회로를 구비하는데 상기 감산기 회로 각각은 그들 각각의 출력 접속점에서 상기 평균치와 상기 지연된 차이 샘플중의 각각의 하나간의 차이의 크기값을 제공하는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  5. 제4항에 있어서, 잡음 산출 신호를 발생하기 위한 장치가, 상기 감산기 회로에 의해 발생된 크기값의 합산치를 산출하기 위해, 상기 다수의 감산기 회로의 출력 접속점에 제각기 접속된 입력 접속점을 가지는 신호 결정 장치와, 상기 신호 결합 장치에 접속되고 상기 다수의 감산기에 대한 수에 대응하는 값으로 상기 합산치를 분할하기 위한 분배 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  6. 제1항에 있어서, 크기값을 발생하기 위한 상기 장치가, 차이 샘플을 발생하기 위한 상기 장치에 접속되고 지연된 차이 샘플을 제공하기 위한 지연 장치와, 상기 평균 회로 및 상기 지연 장치에 접속되고 상기 평균치와 상기 지연된 차이 샘플간의 차의 크기값을 산출하기 위한 강산기 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  7. 제6항에 있어서, 잡음 산출 신호를 발생하기 위한 장치가, 상기 감산기 회로에 접속되고 서로 각각에 대하여 상대적으로 지연된 다수의 상기 크기값을 제공하기 위한 또 다른 지연 장치와, 합산 신호를 산출하는 상기 다수의 크기값을 합산 하기 위해 상기 또다른 지연 장치에 접속된 장치와, 합산용 상기 장치에 접속되고 상기 합산 신호의 원인이 되는 크기값의 수에 대응하는 수에 의해 상기 합산치를 스케일링하기 위한 분배기 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 입력 신호가 비데오 신호이며, 상기 잡음 산출 신호의 원인이 되는 상기 차이 샘플은 1차원적 배열로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
  9. 상기 입력 신호가 비데오 신호인 제1항에 있어서, 상기 잡음 산출 신호의 원인이 되는 상기 차이 샘플은 상기 차이 샘플의 2차원적 배열로부터 선택되는 것을 특징으로 하는 잡음 산출 장치.
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